JPH06254756A - 磁気デイスク基板のテクスチヤリング方法及びその装置 - Google Patents
磁気デイスク基板のテクスチヤリング方法及びその装置Info
- Publication number
- JPH06254756A JPH06254756A JP6614593A JP6614593A JPH06254756A JP H06254756 A JPH06254756 A JP H06254756A JP 6614593 A JP6614593 A JP 6614593A JP 6614593 A JP6614593 A JP 6614593A JP H06254756 A JPH06254756 A JP H06254756A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic disk
- disk substrate
- tape
- board
- wrapping tape
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 8
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 29
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 80
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 18
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 abstract description 15
- 238000005498 polishing Methods 0.000 abstract description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 3
- 238000004804 winding Methods 0.000 abstract 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 abstract 1
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010410 dusting Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 磁気デイスク基板を保持回転可能な回転機構
と、該回転中の磁気デイスク基板の表面の接線方向にラ
ッピングテープを移送させるテープ移送機構と、該ラッ
ピングテープを磁気デイスク基板の表面に押し付ける加
圧部材とを備えてなり、上記加圧部材を磁気デイスク基
板の半径方向に傾動調節可能な傾動調節機構を具備して
なる。 【効果】 磁気デイスク基板の半径方向内側と外側とで
必然的に生ずる表面の摩擦相対速度の相違に応じて、磁
気デイスク基板の半径方向内側と外側の押し付け力を可
変調整することにより磁気デイスク基板の表面の全面に
亙って、均質にテクスチヤリング加工を行うことができ
る。
と、該回転中の磁気デイスク基板の表面の接線方向にラ
ッピングテープを移送させるテープ移送機構と、該ラッ
ピングテープを磁気デイスク基板の表面に押し付ける加
圧部材とを備えてなり、上記加圧部材を磁気デイスク基
板の半径方向に傾動調節可能な傾動調節機構を具備して
なる。 【効果】 磁気デイスク基板の半径方向内側と外側とで
必然的に生ずる表面の摩擦相対速度の相違に応じて、磁
気デイスク基板の半径方向内側と外側の押し付け力を可
変調整することにより磁気デイスク基板の表面の全面に
亙って、均質にテクスチヤリング加工を行うことができ
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は例えばコンピュータの記
憶装置に使用されるハードデイスク等の磁気デイスク基
板のテクスチヤリング方法及びその装置に関するもので
ある。
憶装置に使用されるハードデイスク等の磁気デイスク基
板のテクスチヤリング方法及びその装置に関するもので
ある。
【0002】ここにテクスチヤリング法とは、アルミニ
ューム等からなる磁気デイスク基板の表面を平滑に研磨
すると共にデイスク基板の表面に微細な溝を形成し、磁
気ヘッド浮上特性を向上させるために行われる加工方法
である。
ューム等からなる磁気デイスク基板の表面を平滑に研磨
すると共にデイスク基板の表面に微細な溝を形成し、磁
気ヘッド浮上特性を向上させるために行われる加工方法
である。
【0003】
【従来の技術】従来この種のテクスチヤリング装置とし
て、例えば特開昭62−236664号公報の如く、回
転中の磁気デイスク基板に低速度で送られるラッピング
テープを押し付けるように構成し、このラッピングテー
プでデイスク基板の表面を摩擦することによってその表
面を研磨仕上げしつつその表面に微細な溝を形成するよ
うにしたものが知られている。
て、例えば特開昭62−236664号公報の如く、回
転中の磁気デイスク基板に低速度で送られるラッピング
テープを押し付けるように構成し、このラッピングテー
プでデイスク基板の表面を摩擦することによってその表
面を研磨仕上げしつつその表面に微細な溝を形成するよ
うにしたものが知られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来構造の場合、回転中の磁気デイスク基板にラッピング
テープを押し付ける際に、磁気デイスク基板の半径方向
内側と外側とでは必然的に表面の面速度が相違し、この
ためラッピングテープと磁気デイスク基板の表面との摩
擦相対速度が相違することになり、この相対速度の相違
により磁気デイスク基板の表面の全面に亙って、均質に
仕上げることが困難であるという不都合を有している。
来構造の場合、回転中の磁気デイスク基板にラッピング
テープを押し付ける際に、磁気デイスク基板の半径方向
内側と外側とでは必然的に表面の面速度が相違し、この
ためラッピングテープと磁気デイスク基板の表面との摩
擦相対速度が相違することになり、この相対速度の相違
により磁気デイスク基板の表面の全面に亙って、均質に
仕上げることが困難であるという不都合を有している。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明はこのような不都
合を解決することを目的とするもので、その磁気デイス
ク基板のテクスチヤリング方法は、回転中の磁気デイス
ク基板の表面に、その表面の接線方向に移送されるラッ
ピングテープを加圧部材により押し付ける際に、上記加
圧部材を磁気デイスク基板の半径方向に傾動調節するこ
とにより、上記ラッピングテープの磁気デイスク基板の
半径方向内側と外側の押し付け力を調整することを特徴
とするものである。
合を解決することを目的とするもので、その磁気デイス
ク基板のテクスチヤリング方法は、回転中の磁気デイス
ク基板の表面に、その表面の接線方向に移送されるラッ
ピングテープを加圧部材により押し付ける際に、上記加
圧部材を磁気デイスク基板の半径方向に傾動調節するこ
とにより、上記ラッピングテープの磁気デイスク基板の
半径方向内側と外側の押し付け力を調整することを特徴
とするものである。
【0006】また、その磁気デイスク基板のテクスチヤ
リング装置は、磁気デイスク基板を保持回転可能な回転
機構と、該回転中の磁気デイスク基板の表面の接線方向
にラッピングテープを移送させるテープ移送機構と、該
ラッピングテープを磁気デイスク基板の表面に押し付け
る加圧部材とを備えてなり、上記加圧部材を磁気デイス
ク基板の半径方向に傾動調節可能な傾動調節機構を具備
して構成したことを特徴とするものである。
リング装置は、磁気デイスク基板を保持回転可能な回転
機構と、該回転中の磁気デイスク基板の表面の接線方向
にラッピングテープを移送させるテープ移送機構と、該
ラッピングテープを磁気デイスク基板の表面に押し付け
る加圧部材とを備えてなり、上記加圧部材を磁気デイス
ク基板の半径方向に傾動調節可能な傾動調節機構を具備
して構成したことを特徴とするものである。
【0007】
【作用】回転中の磁気デイスク基板の表面に、その表面
の接線方向に移送されるラッピングテープを加圧部材に
より押し付ける際に、上記加圧部材を磁気デイスク基板
の半径方向に傾動調節することにより、上記ラッピング
テープの磁気デイスク基板の半径方向内側と外側の押し
付け力を調整する。
の接線方向に移送されるラッピングテープを加圧部材に
より押し付ける際に、上記加圧部材を磁気デイスク基板
の半径方向に傾動調節することにより、上記ラッピング
テープの磁気デイスク基板の半径方向内側と外側の押し
付け力を調整する。
【0008】
【実施例】図1乃至図7は本発明の実施例を示し、1は
回転機構であって、この場合機台2に取付筒体3を取付
け、取付筒体3に負圧吸着穴4を有する位置決め筒体5
を進退自在に設け、位置決め筒体5に拡開式チャック6
を進退自在に内装し、拡開式チャック6を軸心Mを中心
に回転させる図示省略のモータを配設して構成してい
る。
回転機構であって、この場合機台2に取付筒体3を取付
け、取付筒体3に負圧吸着穴4を有する位置決め筒体5
を進退自在に設け、位置決め筒体5に拡開式チャック6
を進退自在に内装し、拡開式チャック6を軸心Mを中心
に回転させる図示省略のモータを配設して構成してい
る。
【0009】しかして、図示省略の供給部材により磁気
デイスク基板Wを位置決め筒体5の前方対向位置に一枚
供給し、位置決め筒体5は前進して磁気デイスク基板W
に当接し、当接した状態で負圧吸着穴4の吸着作用で位
置決め筒体5の前面に磁気デイスク基板Wは吸着され、
この吸着状態で拡開式チャック6は前進して磁気デイス
ク基板Wの中心穴W1に挿入され、この挿入により位置
決めされた状態で拡開式チャック6は外方に向けて拡開
動作し、この拡開動作により磁気デイスク基板Wは拡開
式チャック6に保持され、その後、図6の如く、位置決
め筒体4は後退し、この磁気デイスク基板Wを保持した
状態で拡開式チャック6は回転して加工が行われ、加工
後は拡開式チャック6は縮小動作して磁気デイスク基板
Wを釈放し、釈放後、拡開式チャック6は後退すること
になる。
デイスク基板Wを位置決め筒体5の前方対向位置に一枚
供給し、位置決め筒体5は前進して磁気デイスク基板W
に当接し、当接した状態で負圧吸着穴4の吸着作用で位
置決め筒体5の前面に磁気デイスク基板Wは吸着され、
この吸着状態で拡開式チャック6は前進して磁気デイス
ク基板Wの中心穴W1に挿入され、この挿入により位置
決めされた状態で拡開式チャック6は外方に向けて拡開
動作し、この拡開動作により磁気デイスク基板Wは拡開
式チャック6に保持され、その後、図6の如く、位置決
め筒体4は後退し、この磁気デイスク基板Wを保持した
状態で拡開式チャック6は回転して加工が行われ、加工
後は拡開式チャック6は縮小動作して磁気デイスク基板
Wを釈放し、釈放後、拡開式チャック6は後退すること
になる。
【0010】7はテープ移送機構であって、この場合、
図3の如く、ラッピングテープTを回転中の磁気デイス
ク基板Wの表面の接線方向に移送させるテープ移送機構
7に加えて、クリーニングテープDを回転中の磁気デイ
スク基板Wの表面の接線方向に移送させるテープ移送機
構8が配設され、テープ移送機構7とテープ移送機構8
とは左右対称の外は同一構造になっており、上記機台1
に磁気デイスク基板Wの半径方向に図示省略の揺振機構
により案内部9によって揺振可能な二個の揺振台10・
11を配設し、この揺振台10にテープ移送機構7を配
設するとともに揺振台11にテープ移送機構7を配設し
て構成している。
図3の如く、ラッピングテープTを回転中の磁気デイス
ク基板Wの表面の接線方向に移送させるテープ移送機構
7に加えて、クリーニングテープDを回転中の磁気デイ
スク基板Wの表面の接線方向に移送させるテープ移送機
構8が配設され、テープ移送機構7とテープ移送機構8
とは左右対称の外は同一構造になっており、上記機台1
に磁気デイスク基板Wの半径方向に図示省略の揺振機構
により案内部9によって揺振可能な二個の揺振台10・
11を配設し、この揺振台10にテープ移送機構7を配
設するとともに揺振台11にテープ移送機構7を配設し
て構成している。
【0011】この場合テープ移送機構7は、上記揺振台
10に磁気デイスク基板Wを境にした位置で二個の巻取
リール12及び二個の実巻リール13を配置し、揺振台
10に磁気デイスク基板Wを境にした位置で案内部14
により互いに接近離反移動自在に移動台15・15を配
設し、一方の移動台15に揺振台10に形成された長穴
16を貫通してブラケット17を取付け、このブラケッ
ト17に開閉用シリンダ18を取付け、開閉用シリンダ
18のロッドに押動杆19を取付け、押動杆19に径小
ロッド部20を形成し、他方の移動台15に揺振台10
に形成された長穴16を貫通してブラケット21を取付
け、このブラケット21に径小ロッド部18を遊貫挿
し、径小ロッド部18に螺着されたナット22とブラケ
ット21との間に緩衝用バネ23を介在し、各移動台1
5・15の開口動作限度を決めるストッパ24・24を
揺振台10に配設して構成している。
10に磁気デイスク基板Wを境にした位置で二個の巻取
リール12及び二個の実巻リール13を配置し、揺振台
10に磁気デイスク基板Wを境にした位置で案内部14
により互いに接近離反移動自在に移動台15・15を配
設し、一方の移動台15に揺振台10に形成された長穴
16を貫通してブラケット17を取付け、このブラケッ
ト17に開閉用シリンダ18を取付け、開閉用シリンダ
18のロッドに押動杆19を取付け、押動杆19に径小
ロッド部20を形成し、他方の移動台15に揺振台10
に形成された長穴16を貫通してブラケット21を取付
け、このブラケット21に径小ロッド部18を遊貫挿
し、径小ロッド部18に螺着されたナット22とブラケ
ット21との間に緩衝用バネ23を介在し、各移動台1
5・15の開口動作限度を決めるストッパ24・24を
揺振台10に配設して構成している。
【0012】さらに、上記各移動台15・15に磁気デ
イスク基板Wの半径方向に調節用ボルト25により移動
調節自在な調節板26を設け、調節板26に縦軸27を
中心に進退調節部材28により水平旋回調節自在にして
ボルト29により固定される旋回調節板30を取付け、
旋回調節板30に磁気デイスクWに対して案内部31に
より接近離反方向に進退調節部材32によって進退調節
自在な取付部材33を取付け、取付部材33に支点軸3
4を縦設し、支点軸34に傾動部材35を水平傾動自在
に枢着し、傾動部材35にこの場合ローラー状の加圧部
材36を横設するとともに案内ローラー37・38を横
設し、加圧部材36を傾動調節機構39により磁気デイ
スク基板Wの半径方向に傾動調節可能に設け、実巻リー
ル13に巻回されたラッピングテープTを引き出して揺
振台10に設けたローラー40・41を介して上記案内
ローラー37、加圧部材36、案内ローラー38を迂回
して一対の送りローラー42、案内ローラー43を経て
巻取リール12に巻回し、ラッピングテープTを磁気デ
イスク基板Wの接線方向に移送するように構成してい
る。
イスク基板Wの半径方向に調節用ボルト25により移動
調節自在な調節板26を設け、調節板26に縦軸27を
中心に進退調節部材28により水平旋回調節自在にして
ボルト29により固定される旋回調節板30を取付け、
旋回調節板30に磁気デイスクWに対して案内部31に
より接近離反方向に進退調節部材32によって進退調節
自在な取付部材33を取付け、取付部材33に支点軸3
4を縦設し、支点軸34に傾動部材35を水平傾動自在
に枢着し、傾動部材35にこの場合ローラー状の加圧部
材36を横設するとともに案内ローラー37・38を横
設し、加圧部材36を傾動調節機構39により磁気デイ
スク基板Wの半径方向に傾動調節可能に設け、実巻リー
ル13に巻回されたラッピングテープTを引き出して揺
振台10に設けたローラー40・41を介して上記案内
ローラー37、加圧部材36、案内ローラー38を迂回
して一対の送りローラー42、案内ローラー43を経て
巻取リール12に巻回し、ラッピングテープTを磁気デ
イスク基板Wの接線方向に移送するように構成してい
る。
【0013】この傾動調節機構39は、上記旋回調節板
30にシリンダ筒体44・44を二個取付け、シリンダ
筒体44・44内にプランジャ45・45を内装し、該
各々のプランジャ45・45を上記傾動部材35の支点
軸34を境にした対向位置に当接可能に設け、各シリン
ダ筒体44・44内に図外の圧力調整弁を介して空圧源
に接続し、この圧力調整弁により供給空気圧を可変し、
各プランジャ45・45の突出量を調整して傾動部材3
4及び加圧部材36を磁気デイスク基板Wの半径方向に
傾動調節可能に設け、この調節によりラッピングテープ
Tの磁気デイスク基板Wの半径方向内側P2と外側の押
し付け力P1を可変し得るように構成している。
30にシリンダ筒体44・44を二個取付け、シリンダ
筒体44・44内にプランジャ45・45を内装し、該
各々のプランジャ45・45を上記傾動部材35の支点
軸34を境にした対向位置に当接可能に設け、各シリン
ダ筒体44・44内に図外の圧力調整弁を介して空圧源
に接続し、この圧力調整弁により供給空気圧を可変し、
各プランジャ45・45の突出量を調整して傾動部材3
4及び加圧部材36を磁気デイスク基板Wの半径方向に
傾動調節可能に設け、この調節によりラッピングテープ
Tの磁気デイスク基板Wの半径方向内側P2と外側の押
し付け力P1を可変し得るように構成している。
【0014】尚、テープ移送機構8は、上記のとおり、
テープ移送機構と左右対称の構造であるため、揺振台1
0を揺振台11に変えると共にラッピングテープTをク
リーニングテープDにより変えることによりその構造が
理解できるので、説明を省略する。しかしてクリーニン
グテープTにより磁気デイスク基板Wの両表面に存在す
るラッピングテープTの脱落砥粒等を除塵することにな
る。
テープ移送機構と左右対称の構造であるため、揺振台1
0を揺振台11に変えると共にラッピングテープTをク
リーニングテープDにより変えることによりその構造が
理解できるので、説明を省略する。しかしてクリーニン
グテープTにより磁気デイスク基板Wの両表面に存在す
るラッピングテープTの脱落砥粒等を除塵することにな
る。
【0015】この実施例は上記構成であるから、磁気デ
イスク基板Wが拡開式チャック6に供給され、回転を開
始し、テープ移送機構7及びテープ移送機構8が作動
し、実巻リール13に巻回されたラッピングテープT及
びクリーニングテープDはローラー40・41を介して
案内ローラー37、加圧部材36、案内ローラー38を
迂回して一対の送りローラー42、案内ローラー43を
経て巻取リール12に巻き取られ、ラッピングテープT
及びクリーニングテープDは磁気デイスク基板Wの接線
方向に低速でS方向に移送されることになり、この状態
で開閉用シリンダ18が作動し、両側の移動台15・1
5は互いに接近動作し、図示の如く、磁気デイスク基板
Wの両表面はラッピングテープTにより挟み付けられる
ことになり、かつ磁気デイスク基板Wの他方側の両表面
はクリーニングテープDにより挟み付けられることにな
り、しかもこの場合揺振台10・11が磁気デイスク基
板Wの半径方向であるO方向に揺振運動し、このため磁
気デイスク基板Wの両表面に、ラッピングテープTが押
し付けられた状態で、磁気デイスク基板WのR方向への
回転、ラッピングテープTの磁気デイスク基板Wの接線
方向であるS方向への移送並びにラッピングテープTの
磁気デイスク基板Wの半径方向であるO方向の揺振運動
の複合動作が加えられ、この複合動作を伴って、磁気デ
イスク基板Wの両表面はラッピングテープTにより摩擦
され、このラッピングテープTでデイスク基板Wの表面
を摩擦することによってその表面を研磨仕上げしつつそ
の表面に微細な溝を形成することができる。
イスク基板Wが拡開式チャック6に供給され、回転を開
始し、テープ移送機構7及びテープ移送機構8が作動
し、実巻リール13に巻回されたラッピングテープT及
びクリーニングテープDはローラー40・41を介して
案内ローラー37、加圧部材36、案内ローラー38を
迂回して一対の送りローラー42、案内ローラー43を
経て巻取リール12に巻き取られ、ラッピングテープT
及びクリーニングテープDは磁気デイスク基板Wの接線
方向に低速でS方向に移送されることになり、この状態
で開閉用シリンダ18が作動し、両側の移動台15・1
5は互いに接近動作し、図示の如く、磁気デイスク基板
Wの両表面はラッピングテープTにより挟み付けられる
ことになり、かつ磁気デイスク基板Wの他方側の両表面
はクリーニングテープDにより挟み付けられることにな
り、しかもこの場合揺振台10・11が磁気デイスク基
板Wの半径方向であるO方向に揺振運動し、このため磁
気デイスク基板Wの両表面に、ラッピングテープTが押
し付けられた状態で、磁気デイスク基板WのR方向への
回転、ラッピングテープTの磁気デイスク基板Wの接線
方向であるS方向への移送並びにラッピングテープTの
磁気デイスク基板Wの半径方向であるO方向の揺振運動
の複合動作が加えられ、この複合動作を伴って、磁気デ
イスク基板Wの両表面はラッピングテープTにより摩擦
され、このラッピングテープTでデイスク基板Wの表面
を摩擦することによってその表面を研磨仕上げしつつそ
の表面に微細な溝を形成することができる。
【0016】この際に、傾動調節機構39により傾動部
材35を支点軸34中心に傾動調節することができ、こ
れによって加圧部材36を磁気デイスク基板Wの半径方
向に傾動調節でき、この傾動調節によりラッピングテー
プTの磁気デイスク基板Wの半径方向内側P2と外側の
押し付け力P1を可変調整することができ、このため磁
気デイスク基板Wの半径方向内側と外側とで必然的に生
ずる表面の摩擦相対速度の相違に応じて、磁気デイスク
基板Wの半径方向内側P2と外側の押し付け力P1を可変
調整することにより磁気デイスク基板Wの表面の全面に
亙って、均質にテクスチヤリング加工を行うことができ
る。
材35を支点軸34中心に傾動調節することができ、こ
れによって加圧部材36を磁気デイスク基板Wの半径方
向に傾動調節でき、この傾動調節によりラッピングテー
プTの磁気デイスク基板Wの半径方向内側P2と外側の
押し付け力P1を可変調整することができ、このため磁
気デイスク基板Wの半径方向内側と外側とで必然的に生
ずる表面の摩擦相対速度の相違に応じて、磁気デイスク
基板Wの半径方向内側P2と外側の押し付け力P1を可変
調整することにより磁気デイスク基板Wの表面の全面に
亙って、均質にテクスチヤリング加工を行うことができ
る。
【0017】この場合、上記テープ移送機構7の動作に
相俟ってテープ移送機構が作動するため、磁気デイスク
基板Wの両表面に、クリーニングテープDが押し付けら
れた状態で、磁気デイスク基板WのR方向への回転、ク
リーニングテープの磁気デイスク基板Wの接線方向であ
るS方向への移送並びにクリーニングテープDの磁気デ
イスク基板Wの半径方向であるO方向の揺振運動の複合
動作が加えられ、この複合動作を伴って、磁気デイスク
基板Wの両表面はクリーニングテープDにより摩擦さ
れ、このクリーニングテープDでデイスク基板の表面を
摩擦することによってその表面に存在する脱落砥粒等を
速やかに除去でき、それだけスクラッチ等の発生を防ぐ
ことができる。
相俟ってテープ移送機構が作動するため、磁気デイスク
基板Wの両表面に、クリーニングテープDが押し付けら
れた状態で、磁気デイスク基板WのR方向への回転、ク
リーニングテープの磁気デイスク基板Wの接線方向であ
るS方向への移送並びにクリーニングテープDの磁気デ
イスク基板Wの半径方向であるO方向の揺振運動の複合
動作が加えられ、この複合動作を伴って、磁気デイスク
基板Wの両表面はクリーニングテープDにより摩擦さ
れ、このクリーニングテープDでデイスク基板の表面を
摩擦することによってその表面に存在する脱落砥粒等を
速やかに除去でき、それだけスクラッチ等の発生を防ぐ
ことができる。
【0018】尚、本発明は上記実施例に限られるもので
はなく、例えば上記実施例ではラッピングテープによる
テクスチヤリング加工と同時にクリーニングテープによ
る除塵作用をも行わせるようにしているが、別々に行う
ようにすることもあり、またラッピングテープTによる
加工中に液体を供給することにより湿式加工でき、勿論
供給しなければ乾式にもできる。
はなく、例えば上記実施例ではラッピングテープによる
テクスチヤリング加工と同時にクリーニングテープによ
る除塵作用をも行わせるようにしているが、別々に行う
ようにすることもあり、またラッピングテープTによる
加工中に液体を供給することにより湿式加工でき、勿論
供給しなければ乾式にもできる。
【0019】またラッピングテープは研磨フィルム、布
テープ等の如く、テープ基質及び砥粒の材質、粒度等は
適宜選択され、同様にクリーニングテープも繊維テープ
等適宜のものが採用される。
テープ等の如く、テープ基質及び砥粒の材質、粒度等は
適宜選択され、同様にクリーニングテープも繊維テープ
等適宜のものが採用される。
【0020】また磁気デイスク基板Wの回転を場合によ
っては図中の回転方向とは逆の回転にすることもある。
っては図中の回転方向とは逆の回転にすることもある。
【0021】
【発明の効果】本発明の磁気デイスク基板のテクスチヤ
リング方法及びその装置は、上述の如く、傾動調節機構
によりラッピングテープを磁気デイスク基板の表面に押
し付ける加圧部材を磁気デイスク基板の半径方向に傾動
調節でき、この傾動調節によりラッピングテープの磁気
デイスク基板の半径方向内側と外側の押し付け力を可変
調整することができ、このため磁気デイスク基板の半径
方向内側と外側とで必然的に生ずる表面の摩擦相対速度
の相違に応じて、磁気デイスク基板の半径方向内側と外
側の押し付け力を可変調整することにより磁気デイスク
基板の表面の全面に亙って、均質にテクスチヤリング加
工を行うことができる。
リング方法及びその装置は、上述の如く、傾動調節機構
によりラッピングテープを磁気デイスク基板の表面に押
し付ける加圧部材を磁気デイスク基板の半径方向に傾動
調節でき、この傾動調節によりラッピングテープの磁気
デイスク基板の半径方向内側と外側の押し付け力を可変
調整することができ、このため磁気デイスク基板の半径
方向内側と外側とで必然的に生ずる表面の摩擦相対速度
の相違に応じて、磁気デイスク基板の半径方向内側と外
側の押し付け力を可変調整することにより磁気デイスク
基板の表面の全面に亙って、均質にテクスチヤリング加
工を行うことができる。
【0022】以上、所期の目的を充分達成することがで
きる。
きる。
【図1】本発明の実施例のラッピングテープ側の側面図
である。
である。
【図2】図1で示す本発明の実施例の全体平面図であ
る。
る。
【図3】図1で示す本発明の実施例の部分正面図であ
る。
る。
【図4】図1で示す本発明の実施例の部分拡大側断面図
である。
である。
【図5】図1で示す本発明の実施例の部分拡大側面図で
ある。
ある。
【図6】図1で示す本発明の実施例の部分拡大平面図で
ある。
ある。
【図7】図1で示す本発明の実施例の説明斜視図であ
る。
る。
W 磁気デイスク基板 T ラッピングテープ 1 回転機構 7 テープ移送機構 36 加圧部材 39 傾動調節機構
Claims (2)
- 【請求項1】 回転中の磁気デイスク基板の表面に、そ
の表面の接線方向に移送されるラッピングテープを加圧
部材により押し付ける際に、上記加圧部材を磁気デイス
ク基板の半径方向に傾動調節することにより、上記ラッ
ピングテープの磁気デイスク基板の半径方向内側と外側
の押し付け力を調整することを特徴とする磁気デイスク
基板のテクスチヤリング方法。 - 【請求項2】 磁気デイスク基板を保持回転可能な回転
機構と、該回転中の磁気デイスク基板の表面の接線方向
にラッピングテープを移送させるテープ移送機構と、該
ラッピングテープを磁気デイスク基板の表面に押し付け
る加圧部材とを備えてなり、上記加圧部材を磁気デイス
ク基板の半径方向に傾動調節可能な傾動調節機構を具備
して構成したことを特徴とする磁気デイスク基板のテク
スチヤリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6614593A JPH06254756A (ja) | 1993-03-02 | 1993-03-02 | 磁気デイスク基板のテクスチヤリング方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6614593A JPH06254756A (ja) | 1993-03-02 | 1993-03-02 | 磁気デイスク基板のテクスチヤリング方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06254756A true JPH06254756A (ja) | 1994-09-13 |
Family
ID=13307410
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6614593A Pending JPH06254756A (ja) | 1993-03-02 | 1993-03-02 | 磁気デイスク基板のテクスチヤリング方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06254756A (ja) |
-
1993
- 1993-03-02 JP JP6614593A patent/JPH06254756A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6179690B1 (en) | Substrate polishing apparatus | |
| US5486134A (en) | System and method for texturing magnetic data storage disks | |
| US6773335B2 (en) | Apparatus for polishing periphery of device wafer and polishing method | |
| US4514937A (en) | Method for the surface treatment of magnetic recording media | |
| JPH057146B2 (ja) | ||
| US10414013B2 (en) | Polishing method and polishing apparatus | |
| US4736475A (en) | Abrading machine for disk shaped surfaces | |
| JP5464497B2 (ja) | 基板研磨方法及びその装置 | |
| US6458021B1 (en) | Polishing apparatus with a balance adjusting unit | |
| US5820446A (en) | Apparatus and method for texturing rigid-disk substrates | |
| JPH05329759A (ja) | ウエハー材縁端面研磨装置 | |
| JPH06254756A (ja) | 磁気デイスク基板のテクスチヤリング方法及びその装置 | |
| US6908369B2 (en) | Apparatus for and method of smoothing substrate surface | |
| US6129612A (en) | Advanced mechanical texture process for high density magnetic recording media | |
| JPH0618771Y2 (ja) | 超仕上装置 | |
| JPH0613823Y2 (ja) | 超仕上装置 | |
| JP3764979B2 (ja) | 研磨加工方法及びその装置 | |
| JP2001062697A (ja) | 可撓管研磨機 | |
| JPH07246555A (ja) | 金属製円筒物の表面加工方法及び装置 | |
| JP2003175448A (ja) | ロッド端面加工装置 | |
| JP2653126B2 (ja) | ディスク研摩装置 | |
| JPH0754583B2 (ja) | 磁気記録媒体の製造方法及び装置 | |
| JPH05166177A (ja) | 磁気ディスク板の研磨装置 | |
| JPH04135156A (ja) | ワーク研摩機 | |
| JPH11129151A (ja) | 薄板状部材研磨装置 |