JPH0625698B2 - 物体表面の温度を放射率と無関係に無接触測定する放射センサ - Google Patents

物体表面の温度を放射率と無関係に無接触測定する放射センサ

Info

Publication number
JPH0625698B2
JPH0625698B2 JP60278112A JP27811285A JPH0625698B2 JP H0625698 B2 JPH0625698 B2 JP H0625698B2 JP 60278112 A JP60278112 A JP 60278112A JP 27811285 A JP27811285 A JP 27811285A JP H0625698 B2 JPH0625698 B2 JP H0625698B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor
radiation
temperature
shield
emissivity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP60278112A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS61144519A (ja
Inventor
ギユンター・ヘンポヴイツツ
グスタフ・マイヤー‐クレチユマー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Uranit GmbH
Original Assignee
Uranit GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Uranit GmbH filed Critical Uranit GmbH
Publication of JPS61144519A publication Critical patent/JPS61144519A/ja
Publication of JPH0625698B2 publication Critical patent/JPH0625698B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02—Constructional details
    • G01J5/06—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
    • G01J5/061—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity by controlling the temperature of the apparatus or parts thereof, e.g. using cooling means or thermostats

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、 a)被測定物体に面する面をシールドとして形成したセ
ンサケーシングを有し、 b)このシールドが孔を有し、この孔を通って、物体か
ら出発する放射が断熱してセンサケーシングに設置した
放射受信器へ当り、 c)センサケーシングが制御可能の加熱装置を備え、こ
れによってシールドを含むセンサケーシングの温度を放
射受信器の温度に合わせることができ、 d)シールドの物体に面する面が物体の表面形に合わせ
られ、この面が黒化されている形式の、物体表面の温度
を放射率と無関係に無接触測定する放射センサに関す
る。
[従来の技術] この形式の放射センサは、米国特許第2837917号
明細書から公知である。この形式のセンの場合では、セ
ンサケーシングの底部は凹面鏡として形成されており、
その限りにおいて反射性である。しかしながら、それに
よりセンサケーシングの放射減結合は達成されない。こ
のことは低い放射率の被測定物体における下方温度領域
において正確な測定を困難にする。
[発明が解決しようとする課題] 発明の課題は、冒頭に述べた形式の放射センサを、室温
と約200℃の間の物体表面の温度を放射率と無関係に
高精度にもって測定することができるように改良するこ
とであった。
[課題を解決するための手段] 前記課題は、本発明により、冒頭に記載した形式のセン
サにおいて、放射受信器を包囲するセンサケーシングの
内壁が強反射性に加工されていることにより、放射受信
器が放射的に減結合されていることにより解決される。
[作用] 放射受信器を包囲するセンサケーシングの強反射性内壁
は、センサケーシングと断熱設置された放射受信器との
間で放射がフィードバックされるのを十分に阻止する。
従って、本発明は、低い放射率を有する、運動する金属
物体、例えばロータ、シャフト等の表面温度の測定のた
めに特に適する。該センサは、被測定物体の表面の放射
率の値にほとんど左右されずに動作する。
[実施例] 次に図示の実施例につき本発明を詳細に説明する。
図面は、放射センサ及び表面温度を測定する回転する金
属円筒3の断面を示す。センサケーシングはシールド1
及びソケット2からなる。シールド1はその円筒3に面
する面が黒化した円筒殻1aとして形成され、この殻と
円筒3の表面3aの間に狭いリングギャップ4が残され
る。シールド1は殻1aの中心にスリット状の孔1bを
有し、これを通って表面3aから出る熱放射が通過し、
センサケーシング1,2の内部の放射受信器として使用
するサーモカラム5の中心ストリップ5aへ当る。サー
モカラム5の参照ストリップ5bは熱放射に対しシール
ドされた領域内にある。このストリップはサーモカラム
基板5cを介して良好な熱伝導下にセンサケーシング
1,2と結合されているが、ストリップ5aと5bの間
の熱伝導は小さい。2つのストリップの温度が異なる
と、それから熱電圧ΔTが生じ、これはセンサケーシン
グ1,2の電気的加熱温度(加熱コイル6)の制御(制
御器R)に使用される。加熱電力は今や熱電圧ΔTが消
滅するように制御される。この作動状態の場合、金属セ
ンサケーシング1,2の温度センサ7で測定した温度T
は円筒3の表面3aの測定すべき温度に相当する。
リングギャップ4の幅、すなわちシールド1と円筒3の
距離は、外側からの有害な周囲放射が繰返し反射され、
黒化した殻1aによって完全に吸収されるように選択さ
れている。センサケーシング1,2内部のサーモカラム
5を包囲する壁1c,5dは金メッキによって強反射性
に加工され、それによってサーモカラム5の測定ストリ
ップ5aとセンサケーシング1,2の間の放射のフィー
ドバックが避けられる(低い放射のため)。
シールド1及びソケット2は互いに取りはずし可能に結
合されている。従って、被測定物体の種々の形に合わせ
るため、シールド1は物体1のそれぞれの表面の形に適
する他のシールドと交換することができる。
[発明の効果] 前記放射センサによる測定により低い放射率を有する光
輝金属表面でも、室温と約200℃の間の範囲内の直接
熱電対測定に比して約0.5℃の偏差しか生じなかっ
た。
【図面の簡単な説明】
図面は、本発明の放射センサ及び被測定円筒の横断面図
である。 1……シールド、2……ソケット、3……被測定円筒、
4……リングギャップ、5……サーモカラム、5a,5
b……測定ストリップ、5c……基板、6……加熱コイ
ル、7……熱電対
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭53−59479(JP,A) 特開 昭50−31889(JP,A) 特開 昭57−13786(JP,A) 実開 昭52−95474(JP,U) 実開 昭53−87185(JP,U)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】物体表面の温度を放射率と無関係に無接触
    測定する放射センサであって、 a)被測定物体(3)に面する面をシールド(1)とし
    て形成したセンサケーシング(1,2)を有し、 b)このシールド(1)が孔(1b)を有し、この孔を
    通って、物体から出発する放射が断熱してセンサケーシ
    ング(1,2)に設置した放射受信器(5a)へ当り、 c)センサケーシング(1,2)が制御可能の加熱装置
    (6)を備え、これによってシールド(1)を含むセン
    サケーシング(1,2)の温度を放射受信器(5a)の
    温度に合わせることができ、 d)シールド(1)の物体(3)に面する面(1a)が
    物体の表面形(3a)に合わせられ、この面(1a)が
    黒化されている前記センサにおいて、 e)放射受信器(5a)を包囲するセンサケーシング
    (1,2)の内壁(1c,5d)が強反射性に加工され
    ていることにより、放射受信器(5a)が放射的に減結
    合されていることを特徴とする、物体表面の温度を放射
    率と無関係に無接触測定する放射センサ。
JP60278112A 1984-12-14 1985-12-12 物体表面の温度を放射率と無関係に無接触測定する放射センサ Expired - Lifetime JPH0625698B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3445677.5 1984-12-14
DE19843445677 DE3445677A1 (de) 1984-12-14 1984-12-14 Strahlungsmesssonde zur beruehrungslosen, emissionsgradunabhaengigen temperaturmessung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61144519A JPS61144519A (ja) 1986-07-02
JPH0625698B2 true JPH0625698B2 (ja) 1994-04-06

Family

ID=6252808

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60278112A Expired - Lifetime JPH0625698B2 (ja) 1984-12-14 1985-12-12 物体表面の温度を放射率と無関係に無接触測定する放射センサ

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4679948A (ja)
JP (1) JPH0625698B2 (ja)
AU (1) AU579682B2 (ja)
CA (1) CA1258191A (ja)
DE (1) DE3445677A1 (ja)
GB (1) GB2170315B (ja)
NL (1) NL192634C (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8628610D0 (en) * 1986-11-29 1987-01-07 Emi Plc Thorn Temperature sensing arrangement
US4900162A (en) * 1989-03-20 1990-02-13 Ivac Corporation Infrared thermometry system and method
GB2266771B (en) * 1992-04-22 1995-11-01 Robert Lendrum Fyfe Heatflow balancing thermometer
US5312186A (en) * 1992-11-04 1994-05-17 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy High temperature probe
KR0133476B1 (ko) * 1994-03-18 1998-04-23 구자홍 마이크로 웨이브 오븐
DE19549311C2 (de) * 1995-12-29 1999-12-23 Deutsch Zentr Luft & Raumfahrt Infrarot-Eichstrahler und Verfahren zu dessen Herstellung sowie dessen Verwendung
DE19549310C2 (de) * 1995-12-29 1999-12-23 Deutsch Zentr Luft & Raumfahrt Infrarot-Eichstrahler mit großer Apertur und dessen Verwendung als Empfänger
US6408651B1 (en) 1999-12-30 2002-06-25 Corning Incorporated Method of manufacturing optical fibers using thermopiles to measure fiber energy
US9482583B1 (en) * 2011-10-06 2016-11-01 Esolar, Inc. Automated heliostat reflectivity measurement system
DE202015103789U1 (de) * 2015-07-17 2015-07-31 Abb Technology Ag Oberflächentemperaturfühler

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2837917A (en) * 1950-02-07 1958-06-10 Leeds & Northrup Co Radiation systems for measuring temperature
US3401263A (en) * 1965-04-15 1968-09-10 Richard C. Birkebak Apparatus and method of measuring emissivity of an object
FR2125130B1 (ja) * 1971-02-12 1974-04-26 Schlumberger Compteurs
CH557529A (de) * 1973-04-30 1974-12-31 Bbc Brown Boveri & Cie Pyrometrisches verfahren zur beruehrungslosen temperaturmessung.
JPS547467B2 (ja) * 1973-07-19 1979-04-06
US4019381A (en) * 1976-01-12 1977-04-26 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Transparent optical power meter
JPS5922501Y2 (ja) * 1976-01-16 1984-07-05 三菱重工業株式会社 放射温度計
JPS5359479A (en) * 1976-11-09 1978-05-29 Toshiba Corp Temperature detector
JPS6015145Y2 (ja) * 1976-12-20 1985-05-14 島田理化工業株式会社 レ−ザ出力計
US4435092A (en) * 1980-07-25 1984-03-06 Nippon Steel Corporation Surface temperature measuring apparatus for object within furnace
JPS57113332A (en) * 1980-12-30 1982-07-14 Horiba Ltd Compensating thermopile detector
JPS57137826A (en) * 1981-04-15 1982-08-25 Nippon Koshuha Kk Measuring device for radiation energy
NZ198264A (en) * 1981-09-03 1985-03-20 Nz Government Hand-held multispectral radiometer for remote sensing
AU3161884A (en) * 1983-08-04 1985-02-07 Unisearch Limited Pyrheliometer
DE3423494C2 (de) * 1984-06-26 1986-09-04 Deutsche Forschungs- und Versuchsanstalt für Luft- und Raumfahrt e.V., 5000 Köln Einrichtung zur Messung der aus dem Halbraum kommenden elektromagnetischen Strahlung

Also Published As

Publication number Publication date
CA1258191A (en) 1989-08-08
NL192634B (nl) 1997-07-01
JPS61144519A (ja) 1986-07-02
DE3445677A1 (de) 1986-06-19
NL192634C (nl) 1997-11-04
GB2170315A (en) 1986-07-30
NL8502666A (nl) 1986-07-01
GB8527183D0 (en) 1985-12-11
AU5001285A (en) 1986-06-19
DE3445677C2 (ja) 1989-11-23
GB2170315B (en) 1988-09-07
AU579682B2 (en) 1988-12-01
US4679948A (en) 1987-07-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3018663A (en) Furnace lining temperature-thickness measuring apparatus
KR100539205B1 (ko) 방사 체온계용의 탐침 팁
US20020021739A1 (en) Blackbody cavity for calibration of infrared thermometers
US3277715A (en) Method of and apparatus for measuring the emittance of a radiation-emitting surface
Lapshinov Temperature measurement methods in microwave heating technologies
US3884075A (en) Apparatus for measuring surface temperatures of thin elongated objects by infrared radiation therefrom
US3924469A (en) Apparatus for measuring surface temperatures of objects by infrared radiation therefrom
JPS61144519A (ja) 物体表面の温度を放射率と無関係に無接触測定する放射センサ
JPH0136049B2 (ja)
US3542123A (en) Temperature measurement apparatus
US12158379B1 (en) Sensors for systems for measuring inertial heat flux
US3285069A (en) Instrument for measuring temperature of extended surfaces
JPH037046B2 (ja)
GB2107455A (en) Apparatus for contactless measurement of temperature
Ishii et al. Radiation thermometry standards at NMIJ from− 30° C to 2800° C
JPH0458569B2 (ja)
SU911179A1 (ru) Термоэлектрический пиргелиометр
JPH07301566A (ja) 輻射熱センサ
JPS5925940B2 (ja) マイクロ波加熱炉
JPS6330890Y2 (ja)
CN215374273U (zh) 温度计
SU679823A1 (ru) Термозонд
RU2010190C1 (ru) Устройство для измерения температуры металлической полосы, движущейся в нагревательной печи
US2911456A (en) Pyrometer
KR100387591B1 (ko) 복사 가열 온도 측정 방법