JPH0625769B2 - 自動化学分析装置 - Google Patents
自動化学分析装置Info
- Publication number
- JPH0625769B2 JPH0625769B2 JP61196864A JP19686486A JPH0625769B2 JP H0625769 B2 JPH0625769 B2 JP H0625769B2 JP 61196864 A JP61196864 A JP 61196864A JP 19686486 A JP19686486 A JP 19686486A JP H0625769 B2 JPH0625769 B2 JP H0625769B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- time
- signal
- analysis
- clock
- item
- Prior art date
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、自動化学分析装置に関するものである。
［従来の技術］ 生化学分析装置では通常、１つの試料に対し複数の項目
に就いて分析出来る様に成している。この様な多項目分
析用の生化学分析装置においては、採取した試料を分析
すべき項目数に応じて分配し、各分配した試料を分析す
べき項目に応じた試薬と共に各々の反応系に送り、各反
応系において各項目の測定を行なう分析シーケンスを連
続的に繰返している。
に就いて分析出来る様に成している。この様な多項目分
析用の生化学分析装置においては、採取した試料を分析
すべき項目数に応じて分配し、各分配した試料を分析す
べき項目に応じた試薬と共に各々の反応系に送り、各反
応系において各項目の測定を行なう分析シーケンスを連
続的に繰返している。
さて、例えば、全分析項目が３２あって、これらを例え
ば４つの反応系を備えた装置により分析する場合、表に
示す様に、第１項目，第２項目，第３項目，第４項目を
夫々第１分析サイクル中に第１，第２，第３，第４反応
系により、第５項目，第６項目，第７項目，第８項目を
夫々第２分析サイクル中に第１，第２，第３，第４反応
系により、 ……、第２９項目，第３０項目，第３１項目，第３２項
目を夫々第８分析サイクル中に第１，第２，第３，第４
反応系により行なう様にしている。
ば４つの反応系を備えた装置により分析する場合、表に
示す様に、第１項目，第２項目，第３項目，第４項目を
夫々第１分析サイクル中に第１，第２，第３，第４反応
系により、第５項目，第６項目，第７項目，第８項目を
夫々第２分析サイクル中に第１，第２，第３，第４反応
系により、 ……、第２９項目，第３０項目，第３１項目，第３２項
目を夫々第８分析サイクル中に第１，第２，第３，第４
反応系により行なう様にしている。
所で、本来、分析項目に応じて反応時間が異なるので、
試料分配から測定迄の分析時間が各項目により異なって
いるが、装置の各ユニットの動作タイミングを考慮し、
全項目中一番長い分析時間を要する項目の分析時間を全
項目の分析時間として設定している。
試料分配から測定迄の分析時間が各項目により異なって
いるが、装置の各ユニットの動作タイミングを考慮し、
全項目中一番長い分析時間を要する項目の分析時間を全
項目の分析時間として設定している。
［発明が解決しようとする問題点］ 所が、実際、ユーザが生化学分析装置を使用する場合、
該装置が分析出来る様になっている全項目を分析する訳
ではなく、ユーザにより分析項目数が異なっている。
又、試料により分析項目数が異なる場合もある。例え
ば、第２７項目が全項目中一番長い分析時間（Ｔ0）を
要すると仮定し、或る試料に対し全項目（３２項目）の
内、例えば４つの項目を分析する場合、第１，第２，第
３，第４項目を分析する場合にも、第５，第６，第７，
第８項目を分析する場合にも、第１，第２，第１９，第
２４項目を分析する場合にも、Ｔ0の分析時間が掛る。
そして、分析時間は分析サイクルＮが多くなる程長くな
り、前記表の場合は８Ｔ0が必要である。
該装置が分析出来る様になっている全項目を分析する訳
ではなく、ユーザにより分析項目数が異なっている。
又、試料により分析項目数が異なる場合もある。例え
ば、第２７項目が全項目中一番長い分析時間（Ｔ0）を
要すると仮定し、或る試料に対し全項目（３２項目）の
内、例えば４つの項目を分析する場合、第１，第２，第
３，第４項目を分析する場合にも、第５，第６，第７，
第８項目を分析する場合にも、第１，第２，第１９，第
２４項目を分析する場合にも、Ｔ0の分析時間が掛る。
そして、分析時間は分析サイクルＮが多くなる程長くな
り、前記表の場合は８Ｔ0が必要である。
最近、処理すべき検体（試料）が益々増大している事か
ら、全分析時間の短縮が望まれているが、上記の如く、
全分析サイクルの内、複数（Ｎ）の分析サイクルを分析
する場合、ＮＴ0という長い全分析時間が掛るので、解
決に至っていない。
ら、全分析時間の短縮が望まれているが、上記の如く、
全分析サイクルの内、複数（Ｎ）の分析サイクルを分析
する場合、ＮＴ0という長い全分析時間が掛るので、解
決に至っていない。
更に、上述のように分析時間が全分析項目について同一
で分析サイクル（周期）が固定であると、例えば、その
後開発された特殊な分析項目で、反応時間が特別に長い
ため予め用意されたその分析サイクル（周期）では反応
が不十分で分析が不可能な項目については、対応ができ
ないという問題もあった。
で分析サイクル（周期）が固定であると、例えば、その
後開発された特殊な分析項目で、反応時間が特別に長い
ため予め用意されたその分析サイクル（周期）では反応
が不十分で分析が不可能な項目については、対応ができ
ないという問題もあった。
本発明は、この様な問題を解決する事を目的としたもの
である。
である。
［問題点を解決するための手段］ この目的を達成するため、本発明は、試料の分配から反
応及び測定に至る一連の工程を複数のユニットの一連の
動作により行なわせると共に、該複数のユニットの動作
順序と動作時間がセットされたタイムチャートメモリ
と、クロック発生手段及びクロックカウント手段からな
る時間信号発生手段を持ち、該時間信号発生回路からの
時間信号と前記タイムチャートメモリからの信号の比較
に基づいて各ユニットを動作させ、試料を分析するよう
にした自動化学分析装置において、前記クロック発生手
段からクロックカウント手段へのクロック信号の供給を
断続する手段と、予め定められた遅延時間を保持する手
段と、遅延を開始する時点を指定する遅延時点信号を発
生する手段と、該遅延時点信号と時間信号とを比較する
比較手段と、該比較手段の出力信号と前記保持手段に保
持された遅延時間の情報に基づき、該比較手段の出力信
号が発生した時点から前記保持手段に保持された遅延時
間の間前記クロックカウント手段へのクロック信号の供
給を停止させるように前記断続手段を制御する制御信号
を作成する手段とを設けたことを特徴としている。
応及び測定に至る一連の工程を複数のユニットの一連の
動作により行なわせると共に、該複数のユニットの動作
順序と動作時間がセットされたタイムチャートメモリ
と、クロック発生手段及びクロックカウント手段からな
る時間信号発生手段を持ち、該時間信号発生回路からの
時間信号と前記タイムチャートメモリからの信号の比較
に基づいて各ユニットを動作させ、試料を分析するよう
にした自動化学分析装置において、前記クロック発生手
段からクロックカウント手段へのクロック信号の供給を
断続する手段と、予め定められた遅延時間を保持する手
段と、遅延を開始する時点を指定する遅延時点信号を発
生する手段と、該遅延時点信号と時間信号とを比較する
比較手段と、該比較手段の出力信号と前記保持手段に保
持された遅延時間の情報に基づき、該比較手段の出力信
号が発生した時点から前記保持手段に保持された遅延時
間の間前記クロックカウント手段へのクロック信号の供
給を停止させるように前記断続手段を制御する制御信号
を作成する手段とを設けたことを特徴としている。
以下、図面に基づいて、本発明の一実施例を詳説する。
［実施例］ 添付図は、本発明を実施した自動化学分析装置における
ユニットの動作指令系を示している。
ユニットの動作指令系を示している。
図中１は制御系２の指令により作動する装置のユニット
系で、採取した試料を分析項目数に応じて分配する試料
分配ユニット１ａ，該各分配した試料に分析項目に応じ
た試薬を供給する試薬供給ユニット１ｂ，該試料と試薬
を反応ユニット１ｄに送る為の送液ユニット１ｃ等から
成る。尚、該反応ユニット１ｄは第１，第２，第３及び
第４反応系から成っている。３はタイムチャートメモリ
で、各ユニットの作動順序と、該各ユニットの作動時間
が予めセットされている。４はクロック発生器の如き基
準時間信号発生器である。５は該基準時間信号発生器か
らのクロックをカウントするカウンタである。６は比較
回路で、該カウンタからの出力と前記タイムチャートメ
モリからの時間信号を比較し、カウンタからの出力がタ
イムチャートメモリからの出力に等しくなったら、スイ
ッチＳＷ1を通じて前記制御系２に信号を発する。該制
御系は該信号に基づいて前記ユニット系１を作動させ
る。７は遅延時点信号発生回路で、各ユニットの内、作
動時点を遅らせたいユニット，例えば、前記反応ユニッ
ト１ｄの作動時点を指定する。８は比較器で、前記カウ
ンタ５からの出力が該遅延時点信号発生回路の出力と等
しくなったら、タイマーカウンタ９に信号を発生する。
該タイマーカウンタには作動時間を遅らせたいユニット
（反応ユニット１ｄ）の遅延時間がセットされ、該比較
器８からの信号により、前記スイッチＳＷ1と、前記基
準信号発生器４とカウンタ５を繋いでいるスイッチＳＷ
2を、該遅延時間の間オフの状態にする。該各スイッチ
は該遅延時間経った後、又オンの状態に戻る。１０は選
択すべき分析項目を指定する為のキーボード、１１は各
分析項目の各分析時間と、全分析項目中で一番分析時間
の短い項目の分析時間との差（遅延時間）が記憶された
遅延時間テーブル、１２は上記キーボードで指定された
分析項目中、一番遅延時間の大きいものを前記タイムカ
ウンタ９にセットする為の最大値セット回路である。
系で、採取した試料を分析項目数に応じて分配する試料
分配ユニット１ａ，該各分配した試料に分析項目に応じ
た試薬を供給する試薬供給ユニット１ｂ，該試料と試薬
を反応ユニット１ｄに送る為の送液ユニット１ｃ等から
成る。尚、該反応ユニット１ｄは第１，第２，第３及び
第４反応系から成っている。３はタイムチャートメモリ
で、各ユニットの作動順序と、該各ユニットの作動時間
が予めセットされている。４はクロック発生器の如き基
準時間信号発生器である。５は該基準時間信号発生器か
らのクロックをカウントするカウンタである。６は比較
回路で、該カウンタからの出力と前記タイムチャートメ
モリからの時間信号を比較し、カウンタからの出力がタ
イムチャートメモリからの出力に等しくなったら、スイ
ッチＳＷ1を通じて前記制御系２に信号を発する。該制
御系は該信号に基づいて前記ユニット系１を作動させ
る。７は遅延時点信号発生回路で、各ユニットの内、作
動時点を遅らせたいユニット，例えば、前記反応ユニッ
ト１ｄの作動時点を指定する。８は比較器で、前記カウ
ンタ５からの出力が該遅延時点信号発生回路の出力と等
しくなったら、タイマーカウンタ９に信号を発生する。
該タイマーカウンタには作動時間を遅らせたいユニット
（反応ユニット１ｄ）の遅延時間がセットされ、該比較
器８からの信号により、前記スイッチＳＷ1と、前記基
準信号発生器４とカウンタ５を繋いでいるスイッチＳＷ
2を、該遅延時間の間オフの状態にする。該各スイッチ
は該遅延時間経った後、又オンの状態に戻る。１０は選
択すべき分析項目を指定する為のキーボード、１１は各
分析項目の各分析時間と、全分析項目中で一番分析時間
の短い項目の分析時間との差（遅延時間）が記憶された
遅延時間テーブル、１２は上記キーボードで指定された
分析項目中、一番遅延時間の大きいものを前記タイムカ
ウンタ９にセットする為の最大値セット回路である。
この様なユニット動作指令系において、全分析項目数が
３２あって、例えば、第２７項目の分析時間が全項目中
一番長い時間（Ｔ0）とし、第１８項目の分析時間が一
番短い時間（Ｔ′）とした時に、予めタイムチャートメ
モリに該一番短い分析時間の分析シーケンスをセットし
ておく。例えば、作動ユニット順に、試料分配ユニット
１ａの作動時間はＴａ秒，試薬供給ユニット１ｂの作動
時間はＴｂ秒，送液ユニット１ｃの作動時間はＴｃ秒、
反応ユニット１ｄの作動時間はＴｄ秒と設定されてい
る。さて、或る試料に対し全項目（３２項目）の内、例
えば第１，第２，第３，第４項目について分析する場
合、これらの分析項目の内、第２項目の分析時間
（Ｔ″）が一番長い時、反応ユニット１ｄの作動開始時
間をｔ秒遅延する事によりこれらの項目の分析時間が
Ｔ″になる様に、タイマーカウンタ９にこの遅延時間
（ｔ）が自動的にセットされる。そして、遅延時点信号
発生回路７には試料分配ユニット１ａの作動スタート時
点から反応ユニット１ｄが作動開始する時点迄の時間
｛（Ｔａ＋Ｔｂ＋Ｔｃ）｝秒が予めセットされている。
３２あって、例えば、第２７項目の分析時間が全項目中
一番長い時間（Ｔ0）とし、第１８項目の分析時間が一
番短い時間（Ｔ′）とした時に、予めタイムチャートメ
モリに該一番短い分析時間の分析シーケンスをセットし
ておく。例えば、作動ユニット順に、試料分配ユニット
１ａの作動時間はＴａ秒，試薬供給ユニット１ｂの作動
時間はＴｂ秒，送液ユニット１ｃの作動時間はＴｃ秒、
反応ユニット１ｄの作動時間はＴｄ秒と設定されてい
る。さて、或る試料に対し全項目（３２項目）の内、例
えば第１，第２，第３，第４項目について分析する場
合、これらの分析項目の内、第２項目の分析時間
（Ｔ″）が一番長い時、反応ユニット１ｄの作動開始時
間をｔ秒遅延する事によりこれらの項目の分析時間が
Ｔ″になる様に、タイマーカウンタ９にこの遅延時間
（ｔ）が自動的にセットされる。そして、遅延時点信号
発生回路７には試料分配ユニット１ａの作動スタート時
点から反応ユニット１ｄが作動開始する時点迄の時間
｛（Ｔａ＋Ｔｂ＋Ｔｃ）｝秒が予めセットされている。
而して、第１分析項目〜第４分析項目の分析は以下の動
作によって行なわれる。
作によって行なわれる。
先ず、キーボード１０により第１，第２，第３及び第４
項目を指定すると、遅延時間テーブル１１及び最大値セ
ット回路１２の作動により、タイマーカウンタ９に上記
遅延時間（ｔ）が自動的にセットされる。そして、制御
系２から分析開始のスタート信号がタイムチャートメモ
リ３とカウンタ５に入ると、該カウンタとタイムチャー
トメモリは初期化され、分析装置の試料分配ユニット１
ａが作動し始める。そして、比較器６はカウンタ５の出
力とタイムチャートメモリ３の出力を比較し始める。こ
の時に、カウンタ５の出力がタイムチャートメモリ３の
出力（時間Ｔａに対応した信号）に等しくなったら、前
記制御系２は試薬供給ユニット１ｂを作動させる。そし
て、該比較器において、カウンタ５の出力がタイムチャ
ートメモリ３の出力｛時間（Ｔａ＋Ｔｂ）に対応した信
号｝に等しくなったら、前記制御系２は送液ユニット１
ｃを作動させる。この間、別の比較器８ではカウンタ５
の出力と遅延時点信号発生回路７の出力｛時間（Ｔａ＋
Ｔｂ＋Ｔｃ）に対応した信号｝とを比較している。そし
て、カウンタ５の出力が、タイムチャートメモリ３の出
力及び遅延時点信号発生回路７の出力｛共に、時間（Ｔ
ａ＋Ｔｂ＋Ｔｃ）に対応した信号｝と等しくなった時、
タイマーカウンタ９はスイッチＳＷ1とＳＷ2をｔ秒の間
オフの状態にする。この為、前記カウンタ５は基準時間
信号発生器４からの信号のカウントを該ｔ秒間停止し、
前記比較器６からの信号が制御系２へ送られるのが遮断
されるので、反応ユニット１ｄの作動開始がｔ秒間遅れ
る。該ｔ秒後、各スイッチＳＷ1，ＳＷ2は元のオンの状
態に戻るので、前記比較器６から制御系２に信号が送ら
れ、反応ユニット１ｄの動作が開始される。そして、Ｔ
ｄ秒後、第１，第２，第３，第４分析項目が夫々反応ユ
ニット１ｄの各第１，第２，第３，第４反応系において
並行して測定（分析）される。この様にして選択された
分析項目はＴ″秒で分析される。
項目を指定すると、遅延時間テーブル１１及び最大値セ
ット回路１２の作動により、タイマーカウンタ９に上記
遅延時間（ｔ）が自動的にセットされる。そして、制御
系２から分析開始のスタート信号がタイムチャートメモ
リ３とカウンタ５に入ると、該カウンタとタイムチャー
トメモリは初期化され、分析装置の試料分配ユニット１
ａが作動し始める。そして、比較器６はカウンタ５の出
力とタイムチャートメモリ３の出力を比較し始める。こ
の時に、カウンタ５の出力がタイムチャートメモリ３の
出力（時間Ｔａに対応した信号）に等しくなったら、前
記制御系２は試薬供給ユニット１ｂを作動させる。そし
て、該比較器において、カウンタ５の出力がタイムチャ
ートメモリ３の出力｛時間（Ｔａ＋Ｔｂ）に対応した信
号｝に等しくなったら、前記制御系２は送液ユニット１
ｃを作動させる。この間、別の比較器８ではカウンタ５
の出力と遅延時点信号発生回路７の出力｛時間（Ｔａ＋
Ｔｂ＋Ｔｃ）に対応した信号｝とを比較している。そし
て、カウンタ５の出力が、タイムチャートメモリ３の出
力及び遅延時点信号発生回路７の出力｛共に、時間（Ｔ
ａ＋Ｔｂ＋Ｔｃ）に対応した信号｝と等しくなった時、
タイマーカウンタ９はスイッチＳＷ1とＳＷ2をｔ秒の間
オフの状態にする。この為、前記カウンタ５は基準時間
信号発生器４からの信号のカウントを該ｔ秒間停止し、
前記比較器６からの信号が制御系２へ送られるのが遮断
されるので、反応ユニット１ｄの作動開始がｔ秒間遅れ
る。該ｔ秒後、各スイッチＳＷ1，ＳＷ2は元のオンの状
態に戻るので、前記比較器６から制御系２に信号が送ら
れ、反応ユニット１ｄの動作が開始される。そして、Ｔ
ｄ秒後、第１，第２，第３，第４分析項目が夫々反応ユ
ニット１ｄの各第１，第２，第３，第４反応系において
並行して測定（分析）される。この様にして選択された
分析項目はＴ″秒で分析される。
ここで、従来と本実施例の場合の分析時間の比較を行な
うと、複数（Ｎ）の分析サイクルを分析する場合（但
し、前記の如く複数の分析項目に跨がっても、例えば、
第２５，第２６，第３１項目の分析の様に同時に同一分
析系の使用が重ならない場合を除く）、従来ではＮＴ0
の分析時間が掛る。これに対し、本実施例では、分析す
べき項目の分析時間中一番長い時間をＴ＊とすれば、Ｎ
Ｔ＊の分析時間が掛る。この時、Ｔ＊＜Ｔ0なので、Ｔ
＊とＴ0の差が大きい程及びＮが大きい程、本実施例の
方が大幅に全分析時間が短縮される。但し、分析すべき
項目の中に、一番長い分析時間（Ｔ0）の項目が含まれ
ている場合は従来と同じ分析時間が掛る。
うと、複数（Ｎ）の分析サイクルを分析する場合（但
し、前記の如く複数の分析項目に跨がっても、例えば、
第２５，第２６，第３１項目の分析の様に同時に同一分
析系の使用が重ならない場合を除く）、従来ではＮＴ0
の分析時間が掛る。これに対し、本実施例では、分析す
べき項目の分析時間中一番長い時間をＴ＊とすれば、Ｎ
Ｔ＊の分析時間が掛る。この時、Ｔ＊＜Ｔ0なので、Ｔ
＊とＴ0の差が大きい程及びＮが大きい程、本実施例の
方が大幅に全分析時間が短縮される。但し、分析すべき
項目の中に、一番長い分析時間（Ｔ0）の項目が含まれ
ている場合は従来と同じ分析時間が掛る。
なお、上記実施例において、タイマーカウンタ９は、セ
ット回路１２にセットされた遅延時間情報と、比較回路
８から送られる遅延開始のタイミング信号に基づいてＳ
Ｗ１を制御し、基準時間信号発生器４からカウンタ５へ
のクロック信号の供給を、タイミング信号発生時点から
セットされた遅延時間の間停止されるので、その間予め
タイムチャートに従って動作開始するはずであった次の
ユニットの動作が開始されない。このことは、分析サイ
クルの周期が遅延時間分延びたことに相当する。そのた
め、セット回路１２に適宜な遅延時間をセットすること
により、分析サイクルの周期を通常よりも適宜長く設定
することができ、従って、分析サイクルの周期が固定の
従来の装置では対応することができなかった特別に反応
時間が長く必要な測定項目についても測定が可能とな
る。
ット回路１２にセットされた遅延時間情報と、比較回路
８から送られる遅延開始のタイミング信号に基づいてＳ
Ｗ１を制御し、基準時間信号発生器４からカウンタ５へ
のクロック信号の供給を、タイミング信号発生時点から
セットされた遅延時間の間停止されるので、その間予め
タイムチャートに従って動作開始するはずであった次の
ユニットの動作が開始されない。このことは、分析サイ
クルの周期が遅延時間分延びたことに相当する。そのた
め、セット回路１２に適宜な遅延時間をセットすること
により、分析サイクルの周期を通常よりも適宜長く設定
することができ、従って、分析サイクルの周期が固定の
従来の装置では対応することができなかった特別に反応
時間が長く必要な測定項目についても測定が可能とな
る。
［発明の効果］ 以上詳述した如く、本発明は、試料の分配から反応及び
測定に至る一連の工程を複数のユニットの一連の動作に
より行なわせると共に、該複数のユニットの動作順序と
動作時間がセットされたタイムチャートメモリと、クロ
ック発生手段及びクロックカウント手段からなる時間信
号発生手段を持ち、該時間信号発生回路からの時間信号
と前記タイムチャートメモリからの信号の比較に基づい
て各ユニットを動作させ、試料を分析するようにした自
動化学分析装置において、前記クロック発生手段からク
ロックカウント手段へのクロック信号の供給を断続する
手段と、予め定められた遅延時間を保持する手段と、遅
延を開始する時点を指定する遅延時点信号を発生する手
段と、該遅延時点信号と時間信号とを比較する比較手段
と、該比較手段の出力信号と前記保持手段に保持された
遅延時間の情報に基づき、該比較手段の出力信号が発生
した時点から前記保持手段に保持された遅延時間の間前
記クロックカウント手段へのクロック信号の供給を停止
させるように前記断続手段を制御する制御信号を作成す
る手段とを設けたので、従来に比べ全分析時間を著しく
短縮することができ、更には、従来測定不可能であった
特別に反応時間の長い測定項目についても、測定を実施
することが可能となるという効果が得られる。
測定に至る一連の工程を複数のユニットの一連の動作に
より行なわせると共に、該複数のユニットの動作順序と
動作時間がセットされたタイムチャートメモリと、クロ
ック発生手段及びクロックカウント手段からなる時間信
号発生手段を持ち、該時間信号発生回路からの時間信号
と前記タイムチャートメモリからの信号の比較に基づい
て各ユニットを動作させ、試料を分析するようにした自
動化学分析装置において、前記クロック発生手段からク
ロックカウント手段へのクロック信号の供給を断続する
手段と、予め定められた遅延時間を保持する手段と、遅
延を開始する時点を指定する遅延時点信号を発生する手
段と、該遅延時点信号と時間信号とを比較する比較手段
と、該比較手段の出力信号と前記保持手段に保持された
遅延時間の情報に基づき、該比較手段の出力信号が発生
した時点から前記保持手段に保持された遅延時間の間前
記クロックカウント手段へのクロック信号の供給を停止
させるように前記断続手段を制御する制御信号を作成す
る手段とを設けたので、従来に比べ全分析時間を著しく
短縮することができ、更には、従来測定不可能であった
特別に反応時間の長い測定項目についても、測定を実施
することが可能となるという効果が得られる。
添付図面は、本発明を実施した自動化学分析装置のユニ
ットの動作指令系を示す図である。 １：ユニット系、２：制御系、１ａ：試料分配ユニッ
ト、１ｂ：試薬供給ユニット、１ｃ：送液ユニット、１
ｄ：反応ユニット、３：タイムチャートメモリ、４：基
準時間信号発生器、５：カウンタ、６：比較回路、７：
遅延時点信号発生回路、８：比較器、９：タイマーカウ
ンタ、ＳＷ1，ＳＷ2：スイッチ、１０：キーボード、１
１：遅延時間テーブル、１２：最大値セット回路
ットの動作指令系を示す図である。 １：ユニット系、２：制御系、１ａ：試料分配ユニッ
ト、１ｂ：試薬供給ユニット、１ｃ：送液ユニット、１
ｄ：反応ユニット、３：タイムチャートメモリ、４：基
準時間信号発生器、５：カウンタ、６：比較回路、７：
遅延時点信号発生回路、８：比較器、９：タイマーカウ
ンタ、ＳＷ1，ＳＷ2：スイッチ、１０：キーボード、１
１：遅延時間テーブル、１２：最大値セット回路
Claims (1)
- 【請求項１】試料の分配から反応及び測定に至る一連の
工程を複数のユニットの一連の動作により行なわせると
共に、該複数のユニットの動作順序と動作時間がセット
されたタイムチャートメモリと、クロック発生手段及び
クロックカウント手段からなる時間信号発生手段を持
ち、該時間信号発生回路からの時間信号と前記タイムチ
ャートメモリからの信号の比較に基づいて各ユニットを
動作させ、試料を分析するようにした自動化学分析装置
において、前記クロック発生手段からクロックカウント
手段へのクロック信号の供給を断続する手段と、予め定
められた遅延時間を保持する手段と、遅延を開始する時
点を指定する遅延時点信号を発生する手段と、該遅延時
点信号と時間信号とを比較する比較手段と、該比較手段
の出力信号と前記保持手段に保持された遅延時間の情報
に基づき、該比較手段の出力信号が発生した時点から前
記保持手段に保持された遅延時間の間前記クロックカウ
ント手段へのクロック信号の供給を停止させるように前
記断続手段を制御する制御信号を作成する手段とを設け
たことを特徴とする自動化学分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61196864A JPH0625769B2 (ja) | 1986-08-22 | 1986-08-22 | 自動化学分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61196864A JPH0625769B2 (ja) | 1986-08-22 | 1986-08-22 | 自動化学分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6352063A JPS6352063A (ja) | 1988-03-05 |
| JPH0625769B2 true JPH0625769B2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
ID=16364919
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61196864A Expired - Fee Related JPH0625769B2 (ja) | 1986-08-22 | 1986-08-22 | 自動化学分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0625769B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3514328B2 (ja) * | 1994-04-06 | 2004-03-31 | 株式会社日立製作所 | 自動検体処理装置 |
| CN112534269B (zh) * | 2018-08-22 | 2024-04-05 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置以及自动分析系统 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5769254A (en) * | 1980-10-20 | 1982-04-27 | Toshiba Corp | Automated chemical analyzing apparatus |
| JPS5961779A (ja) * | 1982-10-01 | 1984-04-09 | Toshiba Corp | 自動化学分析装置 |
| JPS60209177A (ja) * | 1984-04-02 | 1985-10-21 | Chugai Pharmaceut Co Ltd | 自動分析装置 |
-
1986
- 1986-08-22 JP JP61196864A patent/JPH0625769B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6352063A (ja) | 1988-03-05 |
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