JPH0625782B2 - 周波数判別回路 - Google Patents
周波数判別回路Info
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- JPH0625782B2 JPH0625782B2 JP16694187A JP16694187A JPH0625782B2 JP H0625782 B2 JPH0625782 B2 JP H0625782B2 JP 16694187 A JP16694187 A JP 16694187A JP 16694187 A JP16694187 A JP 16694187A JP H0625782 B2 JPH0625782 B2 JP H0625782B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 9
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
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- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、短時間で周波数の判別が可能な周波数判別
回路に関するものである。
回路に関するものである。
外部からの設定により同一回路で複数の周波数を識別す
る回路では、従来、一定時間内に含まれるパルス数を計
数することによって行っていた。
る回路では、従来、一定時間内に含まれるパルス数を計
数することによって行っていた。
しかし、上記のような従来の識別方法は、パルス数を計
数する時間を長く取る必要があるうえ、信号にノイズが
重畳した場合等にパルス数が誤って計数されるため、十
分な精度を得られないという問題点があった。
数する時間を長く取る必要があるうえ、信号にノイズが
重畳した場合等にパルス数が誤って計数されるため、十
分な精度を得られないという問題点があった。
この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので、短時間で精度よく周波数の判別を行える周波数判
別回路を得ることを目的とする。
ので、短時間で精度よく周波数の判別を行える周波数判
別回路を得ることを目的とする。
この発明の第1の発明に係る周波数判別回路は、判別を
行う周波数を設定する周波数設定部と;入力信号のパル
スの山または谷の中心部分に対応するトリガパルスを出
力するパルス頭出し手段と;入力信号のサンプリングを
行うサンプリング手段と、トリガパルスによって起動さ
れて周波数設定部で設定された周波数に対応して前記サ
ンプリング手段でサンプリングを行うタイミングを制御
するタイミング設定手段と、サンプリング手段によって
取り込んだレベルがパルスの山または谷に対応する基準
値と異なる場合にエラーパルスを出力するレベル判定手
段とからなるサンプリングレベル判定手段と;トリガパ
ルスによって起動されて周波数設定部で設定された周波
数に対応した測定時間を計時するタイマと、このタイマ
による1回の測定時間毎に、周波数設定部で設定された
周波数に対応したエラー限界値を設定し、このエラー限
界値とエラーパルスのカウント値との比較を行って判別
信号を出力する演算処理手段とから構成したものであ
る。
行う周波数を設定する周波数設定部と;入力信号のパル
スの山または谷の中心部分に対応するトリガパルスを出
力するパルス頭出し手段と;入力信号のサンプリングを
行うサンプリング手段と、トリガパルスによって起動さ
れて周波数設定部で設定された周波数に対応して前記サ
ンプリング手段でサンプリングを行うタイミングを制御
するタイミング設定手段と、サンプリング手段によって
取り込んだレベルがパルスの山または谷に対応する基準
値と異なる場合にエラーパルスを出力するレベル判定手
段とからなるサンプリングレベル判定手段と;トリガパ
ルスによって起動されて周波数設定部で設定された周波
数に対応した測定時間を計時するタイマと、このタイマ
による1回の測定時間毎に、周波数設定部で設定された
周波数に対応したエラー限界値を設定し、このエラー限
界値とエラーパルスのカウント値との比較を行って判別
信号を出力する演算処理手段とから構成したものであ
る。
この発明の第2の発明に係る周波数判別回路は、入力信
号のサンプリングを行うサンプリング手段と、サンプリ
ング手段によって取り込んだレベルが基準値と異なる場
合にエラーパルスを出力するレベル判定手段とからなる
サンプリングレベル判定手段と;こきざみなサンプリン
グにより取り込まれるレベルからおおよその周波数範囲
を推定する周波数範囲推定手段と;こきざみなサンプリ
ングにより取り込まれたレベルからデューティ比を測定
してパルスのエッジから山または谷の中心部分までの間
隔を求めるパルス頭出し手段と;少なくとも周波数範囲
推定手段の出力から求まる複数個の周期に各々対応する
サンプリング幅を設定するサンプリング幅設定手段と;
起動時にサンプリングレベル判定手段を起動してこきざ
みなサンプリングを行い、その後、サンプリング幅設定
手段によってサンプリング幅が設定された時点で前記パ
ルスの山または谷の中心部分を起点として複数個のサン
プリング幅でサンプリングを行い、エラーパルス数の最
も少ないサンプリング幅によって周波数を算出する演算
処理手段とから構成したものである。
号のサンプリングを行うサンプリング手段と、サンプリ
ング手段によって取り込んだレベルが基準値と異なる場
合にエラーパルスを出力するレベル判定手段とからなる
サンプリングレベル判定手段と;こきざみなサンプリン
グにより取り込まれるレベルからおおよその周波数範囲
を推定する周波数範囲推定手段と;こきざみなサンプリ
ングにより取り込まれたレベルからデューティ比を測定
してパルスのエッジから山または谷の中心部分までの間
隔を求めるパルス頭出し手段と;少なくとも周波数範囲
推定手段の出力から求まる複数個の周期に各々対応する
サンプリング幅を設定するサンプリング幅設定手段と;
起動時にサンプリングレベル判定手段を起動してこきざ
みなサンプリングを行い、その後、サンプリング幅設定
手段によってサンプリング幅が設定された時点で前記パ
ルスの山または谷の中心部分を起点として複数個のサン
プリング幅でサンプリングを行い、エラーパルス数の最
も少ないサンプリング幅によって周波数を算出する演算
処理手段とから構成したものである。
この発明の第1の発明においては、パルス頭出し手段が
入力信号のパルスの山または谷の中心部分を検出してト
リガパルスを出力する。このトリガパルスは、サンプリ
ングレベル判定手段およびタイマへ供給され、サンプリ
ングレベル判定手段はこれによりサンプリングを開始す
るとともに、取り込んだレベルが基準値と異なる場合に
エラーパルスを出力する。また、タイマもトリガパルス
により計時を開始し、タイマがタイムアウトとなった時
に、演算処理手段がエラー限界値とエラーパルスのカウ
ント値とを比較して、判別信号を出力する。
入力信号のパルスの山または谷の中心部分を検出してト
リガパルスを出力する。このトリガパルスは、サンプリ
ングレベル判定手段およびタイマへ供給され、サンプリ
ングレベル判定手段はこれによりサンプリングを開始す
るとともに、取り込んだレベルが基準値と異なる場合に
エラーパルスを出力する。また、タイマもトリガパルス
により計時を開始し、タイマがタイムアウトとなった時
に、演算処理手段がエラー限界値とエラーパルスのカウ
ント値とを比較して、判別信号を出力する。
また、この発明の第2の発明においては、まず演算処理
手段がこきざみなサンプリングを行い、この時、周波数
範囲推定手段が取り込まれるレベルからおおよその周波
数範囲を推定する。また、パルス頭出し手段は、取り込
まれるレベルからデューティ比を測定してパルスのエッ
ジから中心までの間隔を求める。そして、サンプリング
幅設定手段が周波数範囲推定手段の出力から求まる複数
個の周期に各々対応するサンプリング幅を設定し、演算
処理手段はこれらのサンプリング幅でサンプリングを行
い、エラーパルス数の最も少ないサンプリング幅によっ
て周波数を算出する。
手段がこきざみなサンプリングを行い、この時、周波数
範囲推定手段が取り込まれるレベルからおおよその周波
数範囲を推定する。また、パルス頭出し手段は、取り込
まれるレベルからデューティ比を測定してパルスのエッ
ジから中心までの間隔を求める。そして、サンプリング
幅設定手段が周波数範囲推定手段の出力から求まる複数
個の周期に各々対応するサンプリング幅を設定し、演算
処理手段はこれらのサンプリング幅でサンプリングを行
い、エラーパルス数の最も少ないサンプリング幅によっ
て周波数を算出する。
第1図はこの発明の第1の発明の周波数判別回路の一実
施例を説明するための図である。
施例を説明するための図である。
この図において、1は周波数設定部、2はパルス頭出し
手段、3はサンプリングレベル判定手段、3aはサンプ
リング手段、3bはレベル判定手段、3cはサンプリン
グを設定するためのタイミング設定手段、4は測定時間
中の演算処理を抑止するためのタイマ、5は演算処理手
段、5aはデコーダ、5bはエラーカウンタ、5cは比
較器である。
手段、3はサンプリングレベル判定手段、3aはサンプ
リング手段、3bはレベル判定手段、3cはサンプリン
グを設定するためのタイミング設定手段、4は測定時間
中の演算処理を抑止するためのタイマ、5は演算処理手
段、5aはデコーダ、5bはエラーカウンタ、5cは比
較器である。
次に、動作について説明する。
まず、周波数設定部1に判別したい周波数を設定してお
く。次いで入力パルスがあると、パルス頭出し手段2が
起動し、入力パルスのこきざみなサンプリングを行い、
例えば、入力パルスの立上り点と立下がりを検出するこ
とでパルスの山の間隔を測定し、パルスの立上りから中
心までの間隔を計算する。そして、以後、パルスの山の
中心の位置のところでトリガパルスを発生する。なお、
パルスの立上りから中心までの間隔の求め方は、これに
限定されず、例えば、周波数設定部1で設定される周波
数に基づいてパルスの山(または谷)の中心を計算によ
り求める方法で推定してもよい。
く。次いで入力パルスがあると、パルス頭出し手段2が
起動し、入力パルスのこきざみなサンプリングを行い、
例えば、入力パルスの立上り点と立下がりを検出するこ
とでパルスの山の間隔を測定し、パルスの立上りから中
心までの間隔を計算する。そして、以後、パルスの山の
中心の位置のところでトリガパルスを発生する。なお、
パルスの立上りから中心までの間隔の求め方は、これに
限定されず、例えば、周波数設定部1で設定される周波
数に基づいてパルスの山(または谷)の中心を計算によ
り求める方法で推定してもよい。
一方、周波数設定部1の出力は、サンプリングレベル判
定手段3内のタイミング設定手段3cにも入力されてお
り、このタイミング設定手段3cは、パルス頭出し手段
2からのトリガパルスを受けて設定された周波数と等し
い周波数(または周期が整数倍)のサンプリングパルス
をサンプリング手段3aに送出する。このサンプリング
手段3aはサンプリングパルスによりサンプリングを行
い、レベル判定手段3bは取り込んだレベルが“H”か
“L”かの判定を行う。
定手段3内のタイミング設定手段3cにも入力されてお
り、このタイミング設定手段3cは、パルス頭出し手段
2からのトリガパルスを受けて設定された周波数と等し
い周波数(または周期が整数倍)のサンプリングパルス
をサンプリング手段3aに送出する。このサンプリング
手段3aはサンプリングパルスによりサンプリングを行
い、レベル判定手段3bは取り込んだレベルが“H”か
“L”かの判定を行う。
この実施例ではパルス頭出し手段2において、パルスの
山(“H”)の中心部分の検出を行い、これによってト
リガパルスを出力しているので、サンプリング手段3a
に少なくとも周波数設定部1で設定された周波数の信号
が入力された場合、取り込まれるレベルは、例えば第2
図(a)に示すように時間の経過によらず常に基準値
“H”となるはずである。
山(“H”)の中心部分の検出を行い、これによってト
リガパルスを出力しているので、サンプリング手段3a
に少なくとも周波数設定部1で設定された周波数の信号
が入力された場合、取り込まれるレベルは、例えば第2
図(a)に示すように時間の経過によらず常に基準値
“H”となるはずである。
また、第2図(b)に示すように、取り込まれるレベル
が常に“H”とならない場合には、その都度、レベル判
定手段3bからエラーパルスが出力され、演算処理手段
5内のエラーカウンタ5bに入力される。これは、実際
には、ノイズ等による悪影響を加味しなければならず、
エラーパルスが出力されたから即座に異なる周波数であ
ると判定できないためである。このため、この演算処理
手段5は最初に判別する周波数が設定された時にデコー
ダ5aによってエラー限界値が設定されるとともに、判
別する周波数に対応した測定時間中タイマ4から出力さ
れる演算処理を抑止するためのラッチ信号によって比較
器5cがラッチされるように構成されている。
が常に“H”とならない場合には、その都度、レベル判
定手段3bからエラーパルスが出力され、演算処理手段
5内のエラーカウンタ5bに入力される。これは、実際
には、ノイズ等による悪影響を加味しなければならず、
エラーパルスが出力されたから即座に異なる周波数であ
ると判定できないためである。このため、この演算処理
手段5は最初に判別する周波数が設定された時にデコー
ダ5aによってエラー限界値が設定されるとともに、判
別する周波数に対応した測定時間中タイマ4から出力さ
れる演算処理を抑止するためのラッチ信号によって比較
器5cがラッチされるように構成されている。
そして、測定時間が終了してタイマ4がタイムアップと
なった時点で比較器5cのラッチが解かれて比較が行わ
れ、この時、エラーカウンタ5bから出力されるエラー
パルスのカウント値がデコーダ5aから出力されるエラ
ー限界値よりも大となっていると、比較器5cから設定
された周波数と異なる信号が入力されている旨を示す判
別信号が得られる。したがって、この判別信号から周波
数の判別を行うことができる。
なった時点で比較器5cのラッチが解かれて比較が行わ
れ、この時、エラーカウンタ5bから出力されるエラー
パルスのカウント値がデコーダ5aから出力されるエラ
ー限界値よりも大となっていると、比較器5cから設定
された周波数と異なる信号が入力されている旨を示す判
別信号が得られる。したがって、この判別信号から周波
数の判別を行うことができる。
いま、例えば100Hzの信号の判別を行う場合で、10
1Hzの信号が入力されたものとする。この場合、従来の
パルスカウント方式では1秒間測定してもその差は1カ
ウントしかなく、ノイズの影響を加味すると精度の良い
判定を行うことは容易ではない。
1Hzの信号が入力されたものとする。この場合、従来の
パルスカウント方式では1秒間測定してもその差は1カ
ウントしかなく、ノイズの影響を加味すると精度の良い
判定を行うことは容易ではない。
しかし、この発明の方法によれば、サンプリングレベル
判定手段3から1秒間に出力されるエラーパルスのカウ
ント値が、100Hzの信号の場合に0個であるのに対し
て、101Hzの信号の場合にエラーパルスのカウント値
が全サンプル数の約半分(約50個)となる。このた
め、接近した周波数の信号を精度よく判別できるうえ、
短時間での判別も可能になる。
判定手段3から1秒間に出力されるエラーパルスのカウ
ント値が、100Hzの信号の場合に0個であるのに対し
て、101Hzの信号の場合にエラーパルスのカウント値
が全サンプル数の約半分(約50個)となる。このた
め、接近した周波数の信号を精度よく判別できるうえ、
短時間での判別も可能になる。
なお、第1図における各ブロックは必ずしもハード構成
である必要はなく、プログラムを用いるソフト構成とし
てもよい。
である必要はなく、プログラムを用いるソフト構成とし
てもよい。
ただし、この実施例に示した構成のものでは、入力信号
が設定された周波数の整数倍のものであっても同一と判
別されるため、入力信号がまったく未知の場合には何ら
かの対策が必要となる。
が設定された周波数の整数倍のものであっても同一と判
別されるため、入力信号がまったく未知の場合には何ら
かの対策が必要となる。
第3図はこの発明の第2の発明の周波数判別回路の一実
施例を説明するための図である。
施例を説明するための図である。
この図において、第1図と同一符号は同一部分を示し、
6は演算処理手段、6aはパルス頭出し手段、6bは周
波数範囲推定手段、6cはサンプリング幅設定手段、7
は表示器である。
6は演算処理手段、6aはパルス頭出し手段、6bは周
波数範囲推定手段、6cはサンプリング幅設定手段、7
は表示器である。
次に動作について説明する。
まず、演算処理手段6が起動されると、演算処理手段6
はサンプリングレベル判別手段3を起動して、第4図
(a)に示すようなこきざみなサンプリングを行う。
はサンプリングレベル判別手段3を起動して、第4図
(a)に示すようなこきざみなサンプリングを行う。
次に、周波数範囲推定手段6bが取り込まれた入力パル
ス(正確な周波数は1005.5Hzであるが、この時点
ではまだわからない)のこきざみなサンプリングを行
い、立上り点,立下がり点を検出することで周期を測定
し、おおよその周波数範囲、例えば、1000〜101
0Hzの範囲内にあると推定する。一方、パルス頭出し手
段6aは、前述した第1図のパルス頭出し手段2と同様
にして入力パルスの山の間隔を測定し、第4図(b)に
示すようなパルスの立上りから中心までの間隔を計算す
る。
ス(正確な周波数は1005.5Hzであるが、この時点
ではまだわからない)のこきざみなサンプリングを行
い、立上り点,立下がり点を検出することで周期を測定
し、おおよその周波数範囲、例えば、1000〜101
0Hzの範囲内にあると推定する。一方、パルス頭出し手
段6aは、前述した第1図のパルス頭出し手段2と同様
にして入力パルスの山の間隔を測定し、第4図(b)に
示すようなパルスの立上りから中心までの間隔を計算す
る。
次に、さらに、入力パルスの周波数範囲を絞り込む動作
について説明する。
について説明する。
サンプリング幅設定手段6cが周波数範囲推定手段6b
の出力である1000〜1010HzとHzオーダが等しい
周期の大きな範囲のサンプリング幅、例えば、100
0,1001,1002,……,1008,1009Hz
の10種類を計算して設定する。
の出力である1000〜1010HzとHzオーダが等しい
周期の大きな範囲のサンプリング幅、例えば、100
0,1001,1002,……,1008,1009Hz
の10種類を計算して設定する。
次に、演算処理手段6はパルス頭出し手段6aの出力と
サンプリング幅設定手段6cの出力を用いて、上記第1
の発明の実施例に示したのと同様に、パルスの山の中心
部分を起点として10回の周波数判別(サンプリング)
を行って周波数範囲を、例えば第4図(c)に示すよう
な最もエラーパルスの少ない1005〜1006Hz程度
に限定する。
サンプリング幅設定手段6cの出力を用いて、上記第1
の発明の実施例に示したのと同様に、パルスの山の中心
部分を起点として10回の周波数判別(サンプリング)
を行って周波数範囲を、例えば第4図(c)に示すよう
な最もエラーパルスの少ない1005〜1006Hz程度
に限定する。
次に、再度サンプリング幅設定手段6cにより1005
〜1006Hzの周波数範囲について、例えば0.1Hzオ
ーダでサンプリング幅が10種類程度設定されたのち、
10回の周波数判別が行われて、第4図(d)に示すよ
うな最もエラーパルスの少ない、例えば1005.5Hz
の周波数が求められ、表示器7に表示される。
〜1006Hzの周波数範囲について、例えば0.1Hzオ
ーダでサンプリング幅が10種類程度設定されたのち、
10回の周波数判別が行われて、第4図(d)に示すよ
うな最もエラーパルスの少ない、例えば1005.5Hz
の周波数が求められ、表示器7に表示される。
したがって、入力信号の周波数が1005.5Hzである
ことがわかる。
ことがわかる。
この発明の第1の発明は以上説明したとおり、判別を行
う周波数を設定する周波数設定部と;入力信号のパルス
の山または谷の中心部分に対応するトリガパルスを出力
するパルス頭出し手段と;入力信号のサンプリングを行
うサンプリング手段と、トリガパルスによって起動され
て周波数設定部で設定された周波数に対応してサンプリ
ング手段でサンプリングを行うタイミングを制御するタ
イミング設定手段と、サンプリング手段によって取り込
んだレベルがパルスの山または谷に対応する基準値と異
なる場合にエラーパルスを出力するレベル判定手段とか
らなるサンプリングレベル判定手段と;トリガパルスに
よって起動されて周波数設定部で設定された周波数に対
応した測定時間を計時するタイマと、このタイマによる
1回の測定時間毎に、周波数設定部で設定された周波数
に対応したエラー限界値を設定し、このエラー限界値と
エラーパルスのカウント値との比較を行って判別信号を
出力する演算処理手段とから構成したので、簡単な構成
の回路で精度よく、かつ短時間で周波数の判別を行うこ
とができるという効果がある。
う周波数を設定する周波数設定部と;入力信号のパルス
の山または谷の中心部分に対応するトリガパルスを出力
するパルス頭出し手段と;入力信号のサンプリングを行
うサンプリング手段と、トリガパルスによって起動され
て周波数設定部で設定された周波数に対応してサンプリ
ング手段でサンプリングを行うタイミングを制御するタ
イミング設定手段と、サンプリング手段によって取り込
んだレベルがパルスの山または谷に対応する基準値と異
なる場合にエラーパルスを出力するレベル判定手段とか
らなるサンプリングレベル判定手段と;トリガパルスに
よって起動されて周波数設定部で設定された周波数に対
応した測定時間を計時するタイマと、このタイマによる
1回の測定時間毎に、周波数設定部で設定された周波数
に対応したエラー限界値を設定し、このエラー限界値と
エラーパルスのカウント値との比較を行って判別信号を
出力する演算処理手段とから構成したので、簡単な構成
の回路で精度よく、かつ短時間で周波数の判別を行うこ
とができるという効果がある。
また、この発明の第2の発明は以上説明したとおり、入
力信号のサンプリングを行うサンプリング手段と、サン
プリング手段によって取り込んだレベルが基準値と異な
る場合にエラーパルスを出力するレベル判定手段とから
なるサンプリング判定手段と;こきざみなサンプリング
により取り込まれるレベルからおおよその周波数範囲を
推定する周波数範囲推定手段と;こきざみなサンプリン
グにより取り込まれたレベルからデューティ比を測定し
てパルスのエッジから山または谷の中心部分までの間隔
を求めるパルス頭出し手段と;少なくとも周波数範囲推
定手段の出力から求まる複数個の周期に各々対応するサ
ンプリング幅を設定するサンプリング幅設定手段と;起
動時にサンプリングレベル判定手段を起動してこきざみ
なサンプリングを行い、その後、サンプリング幅設定手
段によってサンプリング幅が設定された時点でパルスの
山または谷の中心部分を起点として複数個のサンプリン
グ幅でサンプリングを行い、エラーパルス数の最も少な
いサンプリング幅によって周波数を算出する演算処理手
段とから構成したので、未知の入力信号の周波数を容易
に知ることができるという効果がある。
力信号のサンプリングを行うサンプリング手段と、サン
プリング手段によって取り込んだレベルが基準値と異な
る場合にエラーパルスを出力するレベル判定手段とから
なるサンプリング判定手段と;こきざみなサンプリング
により取り込まれるレベルからおおよその周波数範囲を
推定する周波数範囲推定手段と;こきざみなサンプリン
グにより取り込まれたレベルからデューティ比を測定し
てパルスのエッジから山または谷の中心部分までの間隔
を求めるパルス頭出し手段と;少なくとも周波数範囲推
定手段の出力から求まる複数個の周期に各々対応するサ
ンプリング幅を設定するサンプリング幅設定手段と;起
動時にサンプリングレベル判定手段を起動してこきざみ
なサンプリングを行い、その後、サンプリング幅設定手
段によってサンプリング幅が設定された時点でパルスの
山または谷の中心部分を起点として複数個のサンプリン
グ幅でサンプリングを行い、エラーパルス数の最も少な
いサンプリング幅によって周波数を算出する演算処理手
段とから構成したので、未知の入力信号の周波数を容易
に知ることができるという効果がある。
第1図はこの発明の第1の発明の周波数判別回路の一実
施例を説明するための図、第2図(a),(b)は動作
を説明するための波形図、第3図はこの発明の第2の発
明の周波数判別回路の一実施例を説明するための図、第
4図(a)〜(d)は動作を説明するための波形図であ
る。 図中、1は周波数設定部、2はパルス頭出し手段、3は
サンプリングレベル判定手段、3aはサンプリング手
段、3bはレベル判定手段、3cはタイミング設定手
段、4はタイマ、5は演算処理手段、5aはデコーダ、
5bはエラーカウンタ、5cは比較器、6は演算処理手
段、6aはパルス頭出し手段、6bは周波数範囲推定手
段、6cはサンプリング幅設定手段、7は表示器であ
る。
施例を説明するための図、第2図(a),(b)は動作
を説明するための波形図、第3図はこの発明の第2の発
明の周波数判別回路の一実施例を説明するための図、第
4図(a)〜(d)は動作を説明するための波形図であ
る。 図中、1は周波数設定部、2はパルス頭出し手段、3は
サンプリングレベル判定手段、3aはサンプリング手
段、3bはレベル判定手段、3cはタイミング設定手
段、4はタイマ、5は演算処理手段、5aはデコーダ、
5bはエラーカウンタ、5cは比較器、6は演算処理手
段、6aはパルス頭出し手段、6bは周波数範囲推定手
段、6cはサンプリング幅設定手段、7は表示器であ
る。
Claims (3)
- 【請求項1】判別を行う周波数を設定する周波数設定部
と;入力信号のパルスの山または谷の中心部分に対応す
るトリガパルスを出力するパルス頭出し手段と;前記入
力信号のサンプリングを行うサンプリング手段と、前記
トリガパルスによって起動されて前記周波数設定部で設
定された周波数に対応して前記サンプリング手段でサン
プリングを行うタイミングを制御するタイミング設定手
段と、前記サンプリング手段によって取り込んだレベル
が前記パルスの山または谷に対応する基準値と異なる場
合にエラーパルスを出力するレベル判定手段とからなる
サンプリングレベル判定手段と;前記トリガパルスによ
って起動されて前記周波数設定部で設定された周波数に
対応した測定時間を計時するタイマと、このタイマによ
る1回の測定時間毎に、前記周波数設定部で設定された
周波数に対応したエラー限界値を設定し、このエラー限
界値と前記エラーパルスのカウント値との比較を行って
判別信号を出力する演算処理手段とから構成したことを
特徴とする周波数判別回路。 - 【請求項2】サンプリングレベル判定手段は、サンプリ
ングを判別を行う周波数で行うものであることを特徴と
する特許請求の範囲第(1)項記載の周波数判別回路。 - 【請求項3】入力信号のサンプリングを行うサンプリン
グ手段と、前記サンプリング手段によって取り込んだレ
ベルが基準値と異なる場合にエラーパルスを出力するレ
ベル判定手段とからなるサンプリングレベル判定手段
と;こきざみなサンプリングにより取り込まれるレベル
からおおよその周波数範囲を推定する周波数範囲推定手
段と;前記こきざみなサンプリングにより取り込まれた
レベルからデューティ比を測定してパルスのエッジから
山または谷の中心部分までの間隔を求めるパルス頭出し
手段と;少なくとも前記周波数範囲推定手段の出力から
求まる複数個の周期に各々対応するサンプリング幅を設
定するサンプリング幅設定手段と;起動時に前記サンプ
リングレベル判定手段を起動してこきざみなサンプリン
グを行い、その後、前記サンプリング幅設定手段によっ
てサンプリング幅が設定された時点で前記パルスの山ま
たは谷の中心部分を起点として前記複数個のサンプリン
グ幅でサンプリングを行い、前記エラーパルス数の最も
少ないサンプリング幅によって周波数を算出する演算処
理手段とから構成したことを特徴とする周波数判別回
路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16694187A JPH0625782B2 (ja) | 1987-07-06 | 1987-07-06 | 周波数判別回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16694187A JPH0625782B2 (ja) | 1987-07-06 | 1987-07-06 | 周波数判別回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6412276A JPS6412276A (en) | 1989-01-17 |
| JPH0625782B2 true JPH0625782B2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
ID=15840478
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16694187A Expired - Fee Related JPH0625782B2 (ja) | 1987-07-06 | 1987-07-06 | 周波数判別回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0625782B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0980169A (ja) * | 1995-09-18 | 1997-03-28 | Seikosha Co Ltd | 内照式時計装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5126798A (en) * | 1991-09-30 | 1992-06-30 | Eastman Kodak Company | Cleaning assembly for an electrostatographic reproduction apparatus |
-
1987
- 1987-07-06 JP JP16694187A patent/JPH0625782B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0980169A (ja) * | 1995-09-18 | 1997-03-28 | Seikosha Co Ltd | 内照式時計装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6412276A (en) | 1989-01-17 |
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