JPH06258017A - 微小変位素子及びそれを用いたマルチ微小変位素子、トンネル電流検出装置、情報処理装置 - Google Patents
微小変位素子及びそれを用いたマルチ微小変位素子、トンネル電流検出装置、情報処理装置Info
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- JPH06258017A JPH06258017A JP5065925A JP6592593A JPH06258017A JP H06258017 A JPH06258017 A JP H06258017A JP 5065925 A JP5065925 A JP 5065925A JP 6592593 A JP6592593 A JP 6592593A JP H06258017 A JPH06258017 A JP H06258017A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 トンネル電流検出装置や情報処理装置等に用
いられ、制御性が良く且つ耐久性に富んだ微小変位素子
を提供する。 【構成】 絶縁性薄膜4と該薄膜を電磁力により変位さ
せるための電極3とで構成される薄膜カンチレバーの自
由部に情報入出力用のマイクロティップ5を有すると共
に、該薄膜カンチレバーの周囲に磁界発生用コイル7を
配置した微小変位素子。
いられ、制御性が良く且つ耐久性に富んだ微小変位素子
を提供する。 【構成】 絶縁性薄膜4と該薄膜を電磁力により変位さ
せるための電極3とで構成される薄膜カンチレバーの自
由部に情報入出力用のマイクロティップ5を有すると共
に、該薄膜カンチレバーの周囲に磁界発生用コイル7を
配置した微小変位素子。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、トンネル電流検出装置
や走査型トンネル顕微鏡等に用いられる微小変位素子、
及びそれを応用した大容量、高密度の情報処理装置に関
する。
や走査型トンネル顕微鏡等に用いられる微小変位素子、
及びそれを応用した大容量、高密度の情報処理装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体プロセス技術を背景にして
半導体を機械的構造体として用いた半導体圧力センサ
ー、半導体加速度センサー、マイクロアクチュエーター
等の機械的電気素子(マイクロメカニクス)が脚光を浴
びるようになってきた。
半導体を機械的構造体として用いた半導体圧力センサ
ー、半導体加速度センサー、マイクロアクチュエーター
等の機械的電気素子(マイクロメカニクス)が脚光を浴
びるようになってきた。
【0003】かかる素子の特徴として、小型でかつ高精
度の機械機構部品を提供でき、かつ半導体ウエハを用い
るためにSiウエハ上に素子と電気回路を一体化できる
ことが挙げられる。また、半導体プロセスをベースに作
製することで、半導体プロセスのバッチ処理による生産
性の向上を期待できる。特に微小変位素子としては、圧
電体薄膜を利用したカンチレバー状(片もちばり)のも
のが挙げられ、これは非常に微細な動きを制御すること
が可能なので、原子レベル、分子レベルを直接観察でき
る走査型トンネル顕微鏡(以下、STMと称す。)に応
用されている。
度の機械機構部品を提供でき、かつ半導体ウエハを用い
るためにSiウエハ上に素子と電気回路を一体化できる
ことが挙げられる。また、半導体プロセスをベースに作
製することで、半導体プロセスのバッチ処理による生産
性の向上を期待できる。特に微小変位素子としては、圧
電体薄膜を利用したカンチレバー状(片もちばり)のも
のが挙げられ、これは非常に微細な動きを制御すること
が可能なので、原子レベル、分子レベルを直接観察でき
る走査型トンネル顕微鏡(以下、STMと称す。)に応
用されている。
【0004】一方、STMの手法を用いて、半導体ある
いは高分子材料等の原子オーダー、分子オーダーの観察
評価、微細加工(E.E.Ehrichs,4th,I
nternational,Conference,o
n,Scanning,Tunneling,Micr
oscopy/spectroscopy,’89,S
13−3)、及び記録再生装置等の様々な分野への応用
が研究されている。
いは高分子材料等の原子オーダー、分子オーダーの観察
評価、微細加工(E.E.Ehrichs,4th,I
nternational,Conference,o
n,Scanning,Tunneling,Micr
oscopy/spectroscopy,’89,S
13−3)、及び記録再生装置等の様々な分野への応用
が研究されている。
【0005】なかでも、コンピューターの計算情報等で
は大容量を有する記録装置の要求に対してSTMの応用
技術の研究熱はますます高まっており、半導体プロセス
技術の進展により、マイクロプロセッサが小型化し、計
算能力が向上したために記録装置の小型化が望まれてい
る。これらの要求を満たす目的で、記録媒体との間隔が
微調整可能な駆動手段上に存在するトンネル電流発生用
プローブからなる変換器から電圧印加することで記録媒
体表面の形状を変化させる事により記録書き込みし、形
状の変化によるトンネル電流の変化を検知することによ
り情報の読みだしを行い最小記録面積が10-4μm2と
なる記録再生装置が提案されている。
は大容量を有する記録装置の要求に対してSTMの応用
技術の研究熱はますます高まっており、半導体プロセス
技術の進展により、マイクロプロセッサが小型化し、計
算能力が向上したために記録装置の小型化が望まれてい
る。これらの要求を満たす目的で、記録媒体との間隔が
微調整可能な駆動手段上に存在するトンネル電流発生用
プローブからなる変換器から電圧印加することで記録媒
体表面の形状を変化させる事により記録書き込みし、形
状の変化によるトンネル電流の変化を検知することによ
り情報の読みだしを行い最小記録面積が10-4μm2と
なる記録再生装置が提案されている。
【0006】また、STMの探針(プローブ)をカンチ
レバーの自由端側に形成し、それぞれ独立に変位するカ
ンチレバーをマルチ化し、されに半導体プロセスと一体
化して同一基板上にトンネル電流検知用のプローブ付き
カンチレバーと、そのトンネル電流を増幅処理するアン
プ、カンチレバー駆動とトンネル電流の選択のためのマ
ルチプレクサ、シフトレジスタ、等を積載する記録再生
装置が提案されている。
レバーの自由端側に形成し、それぞれ独立に変位するカ
ンチレバーをマルチ化し、されに半導体プロセスと一体
化して同一基板上にトンネル電流検知用のプローブ付き
カンチレバーと、そのトンネル電流を増幅処理するアン
プ、カンチレバー駆動とトンネル電流の選択のためのマ
ルチプレクサ、シフトレジスタ、等を積載する記録再生
装置が提案されている。
【0007】このような微小変位素子を用いたSTMプ
ローブとしては、例えばスタンフォード大学のクェート
等により提案されたSTMプローブ(IEEE,Mic
ro,Electro,Mechanical,Sys
tems,p188−199,Feb.1990)があ
る。かかるSTMプローブの製造方法を図10を用いて
説明する。
ローブとしては、例えばスタンフォード大学のクェート
等により提案されたSTMプローブ(IEEE,Mic
ro,Electro,Mechanical,Sys
tems,p188−199,Feb.1990)があ
る。かかるSTMプローブの製造方法を図10を用いて
説明する。
【0008】先ず、(100)Si基板1の両面にLP
CVD装置でSi3N 4膜8を1000Å成膜して裏面の
みをパターニングし(図10(a))、KOH水溶液等
を用いSi3N4膜8をマスクとしカンチレバー領域のS
iの異方性エッチングを行い、数10μm 厚のSiメン
ブレンを形成する(図10(b))。次に表面にA1等
の電極層3を成膜してパターニングし、同様にしてZn
Oのような圧電体薄膜層9をスパッタで成膜しパターニ
ングを行い、それらを繰り返す(図10(c))。次い
で、マイクロティップ5をマスク形成後、基板を傾斜さ
せて成膜あるいは成膜後マスク形成し等方性エッチ等に
より形成する(図10(d))。最後に、ポリイミド等
で表面を覆いSiとSi3N4をエッチングし、ポリイミ
ドを除去する(図10(e))。
CVD装置でSi3N 4膜8を1000Å成膜して裏面の
みをパターニングし(図10(a))、KOH水溶液等
を用いSi3N4膜8をマスクとしカンチレバー領域のS
iの異方性エッチングを行い、数10μm 厚のSiメン
ブレンを形成する(図10(b))。次に表面にA1等
の電極層3を成膜してパターニングし、同様にしてZn
Oのような圧電体薄膜層9をスパッタで成膜しパターニ
ングを行い、それらを繰り返す(図10(c))。次い
で、マイクロティップ5をマスク形成後、基板を傾斜さ
せて成膜あるいは成膜後マスク形成し等方性エッチ等に
より形成する(図10(d))。最後に、ポリイミド等
で表面を覆いSiとSi3N4をエッチングし、ポリイミ
ドを除去する(図10(e))。
【0009】このようにして作製した微小変位素子の部
分斜視図を図11に示す。同図において、2はSi基板
1の異方性エッチングで残った面であり、6はトンネル
電流の取り出し電極である。かかる素子は電極にA1、
圧電体にZnO、トンネル電流検出用マイクロティップ
5にはAuを用いており、電極に電圧を加えることによ
って、自由端先端部が微小変位することができる。
分斜視図を図11に示す。同図において、2はSi基板
1の異方性エッチングで残った面であり、6はトンネル
電流の取り出し電極である。かかる素子は電極にA1、
圧電体にZnO、トンネル電流検出用マイクロティップ
5にはAuを用いており、電極に電圧を加えることによ
って、自由端先端部が微小変位することができる。
【0010】カンチレバー型圧電素子をトンネル顕微鏡
のSTMプローブとして使用する際は、その変位量及び
作動力は非常に重要となってくる。即ち、トンネル顕微
鏡は針先を数Åまで試料に近づけ、その間を流れるトン
ネル電流をモニターすることによって試料の凹凸を観察
するものであるため、STMプローブは、高速でかつ精
度良く微小変位することが望ましい。
のSTMプローブとして使用する際は、その変位量及び
作動力は非常に重要となってくる。即ち、トンネル顕微
鏡は針先を数Åまで試料に近づけ、その間を流れるトン
ネル電流をモニターすることによって試料の凹凸を観察
するものであるため、STMプローブは、高速でかつ精
度良く微小変位することが望ましい。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上記従来例のカンチレ
バー型圧電素子は、酸化亜鉛膜のような圧電体薄膜を逆
圧電効果により変位させているので、酸化亜鉛膜の圧電
性を制御しなければならない。また、精度の高い変位を
得るためには、カンチレバーにある程度の剛性を持たせ
る必要があるが、カンチレバーの変位量と剛性は相反し
ており、ある程度の剛性を持たせた上に大きい変位を得
るには圧電体薄膜に大きな電圧をかけなくてはならな
い。さらに、酸化亜鉛膜は大気に放置すると、水分の吸
着により圧電性が低下し精度の良い変位が得られなくな
る。また、カンチレバー作製工程において、酸化亜鉛膜
を成膜後は高温での処理(300℃以上)が行えないこ
とや、酸化亜鉛膜は酸やアルカリ等あらゆる溶剤に易溶
であり作製プロセス上に多くの制約がある等の問題があ
った。
バー型圧電素子は、酸化亜鉛膜のような圧電体薄膜を逆
圧電効果により変位させているので、酸化亜鉛膜の圧電
性を制御しなければならない。また、精度の高い変位を
得るためには、カンチレバーにある程度の剛性を持たせ
る必要があるが、カンチレバーの変位量と剛性は相反し
ており、ある程度の剛性を持たせた上に大きい変位を得
るには圧電体薄膜に大きな電圧をかけなくてはならな
い。さらに、酸化亜鉛膜は大気に放置すると、水分の吸
着により圧電性が低下し精度の良い変位が得られなくな
る。また、カンチレバー作製工程において、酸化亜鉛膜
を成膜後は高温での処理(300℃以上)が行えないこ
とや、酸化亜鉛膜は酸やアルカリ等あらゆる溶剤に易溶
であり作製プロセス上に多くの制約がある等の問題があ
った。
【0012】以上のような従来例の問題に鑑み、本発明
の目的とするところは、制御性が良く精度の高い大きな
変位が得られ、さらには耐久性に富み且つ製造が容易な
微小変位素子を提供することにある。
の目的とするところは、制御性が良く精度の高い大きな
変位が得られ、さらには耐久性に富み且つ製造が容易な
微小変位素子を提供することにある。
【0013】また、本発明の他の目的は、上記微小変位
素子を用いた高速且つ信頼性の高いトンネル電流検出装
置、及び情報の記録・再生等を行う情報処理装置を提供
することにある。
素子を用いた高速且つ信頼性の高いトンネル電流検出装
置、及び情報の記録・再生等を行う情報処理装置を提供
することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段及び作用】上記目的を達成
すべく成された本発明は、第1に、薄膜カンチレバー
(片持ち梁)の自由端部に情報入出力用マイクロティッ
プを有する微小変位素子であって、上記薄膜カンチレバ
ーは少なくとも絶縁体薄膜と該薄膜を電磁力により変位
させるための電極を含み、該薄膜カンチレバーの周囲に
磁界発生用コイルが配置されていることを特徴とする微
小変位素子である。
すべく成された本発明は、第1に、薄膜カンチレバー
(片持ち梁)の自由端部に情報入出力用マイクロティッ
プを有する微小変位素子であって、上記薄膜カンチレバ
ーは少なくとも絶縁体薄膜と該薄膜を電磁力により変位
させるための電極を含み、該薄膜カンチレバーの周囲に
磁界発生用コイルが配置されていることを特徴とする微
小変位素子である。
【0015】第2に、前記磁界発生用コイルは前記薄膜
カンチレバーの自由端部から根元方向の磁界及び/また
は逆方向の磁界を発生できるものであり、前記電極は該
磁界と直交する向きの電流を流すことができるものであ
ることを特徴とする上記第1の微小変位素子である。
カンチレバーの自由端部から根元方向の磁界及び/また
は逆方向の磁界を発生できるものであり、前記電極は該
磁界と直交する向きの電流を流すことができるものであ
ることを特徴とする上記第1の微小変位素子である。
【0016】第3に、上記第1又は第2の微小変位素子
を同一基板上に複数設けたことを特徴とするマルチ微小
変位素子である。
を同一基板上に複数設けたことを特徴とするマルチ微小
変位素子である。
【0017】第4に、マイクロティップを有する微小変
位素子を電気導電体に対向配置し、電気導電体とマイク
ロティップ間に流れるトンネル電流に基づき、電気導電
体表面の情報を出力するトンネル電流検出装置におい
て、上記微小変位素子に上記第1〜第3いずれかの微小
変位素子を用いたことを特徴とするトンネル電流検出装
置である。
位素子を電気導電体に対向配置し、電気導電体とマイク
ロティップ間に流れるトンネル電流に基づき、電気導電
体表面の情報を出力するトンネル電流検出装置におい
て、上記微小変位素子に上記第1〜第3いずれかの微小
変位素子を用いたことを特徴とするトンネル電流検出装
置である。
【0018】第5に、マイクロティップを有する微小変
位素子を記録媒体に対向配置し、記録媒体とマイクロテ
ィップ間に情報再生用バイアス電圧を印加することで情
報の再生を行う情報処理装置において、上記微小変位素
子に上記第1〜第3いずれかの微小変位素子を用いたこ
とを特徴とする情報処理装置である。
位素子を記録媒体に対向配置し、記録媒体とマイクロテ
ィップ間に情報再生用バイアス電圧を印加することで情
報の再生を行う情報処理装置において、上記微小変位素
子に上記第1〜第3いずれかの微小変位素子を用いたこ
とを特徴とする情報処理装置である。
【0019】第6に、マイクロティップを有する微小変
位素子を記録媒体に対向配置し、記録媒体とマイクロテ
ィップ間に情報記録用パルス電圧を印加することで情報
の記録を行う情報処理装置において、上記微小変位素子
に上記第1〜第3いずれかの微小変位素子を用いたこと
を特徴とする情報処理装置である。
位素子を記録媒体に対向配置し、記録媒体とマイクロテ
ィップ間に情報記録用パルス電圧を印加することで情報
の記録を行う情報処理装置において、上記微小変位素子
に上記第1〜第3いずれかの微小変位素子を用いたこと
を特徴とする情報処理装置である。
【0020】第7に、前記記録媒体とマイクロティップ
間に流れるトンネル電流に基づき、前記微小変位素子の
駆動を制御することを特徴とする上記第5又は第6の情
報処理装置である。
間に流れるトンネル電流に基づき、前記微小変位素子の
駆動を制御することを特徴とする上記第5又は第6の情
報処理装置である。
【0021】以下、本発明を実施態様例を参考にしなが
ら説明する。
ら説明する。
【0022】図1は本発明の一実施態様を示す微小変位
素子の部分斜視図である。本素子はSi基板1上に、電
磁力を発生させるための電極3と絶縁体薄膜4で構成さ
れる薄膜カンチレバーを形成している。2はSi基板1
の異方性エッチングで残った面、5はトンネル電流検出
用マイクロティップ、6はそのトンネル電流の取り出し
電極である。
素子の部分斜視図である。本素子はSi基板1上に、電
磁力を発生させるための電極3と絶縁体薄膜4で構成さ
れる薄膜カンチレバーを形成している。2はSi基板1
の異方性エッチングで残った面、5はトンネル電流検出
用マイクロティップ、6はそのトンネル電流の取り出し
電極である。
【0023】図2に微小変位素子のカンチレバーとその
周囲に配置する磁界発生用コイルの配置図を示す。本素
子ではコイル7に電流を流してカンチレバーの長手方向
(X方向)に磁界をかけ、カンチレバーの電極3にY方
向の電流をながすことによって磁界と直交する電極部分
に電磁力が作用し、カンチレバーの自由端先端部がZ方
向に微小変位する。このため、磁界と直交する電極部分
はカンチレバーの自由端側に設けることにより、より大
きな変位を得ることができる。また、この変位は磁界の
強さや、電流の大きさにより精度良く制御することがで
きる。
周囲に配置する磁界発生用コイルの配置図を示す。本素
子ではコイル7に電流を流してカンチレバーの長手方向
(X方向)に磁界をかけ、カンチレバーの電極3にY方
向の電流をながすことによって磁界と直交する電極部分
に電磁力が作用し、カンチレバーの自由端先端部がZ方
向に微小変位する。このため、磁界と直交する電極部分
はカンチレバーの自由端側に設けることにより、より大
きな変位を得ることができる。また、この変位は磁界の
強さや、電流の大きさにより精度良く制御することがで
きる。
【0024】電極3の材料は通常用いられるものでよ
く、例えばAl、Au、Pt等を用いることができ特に
限定されない。
く、例えばAl、Au、Pt等を用いることができ特に
限定されない。
【0025】絶縁体薄膜4の材料も、薄膜の形成が容易
なものであれば特に限定されるものではないが、熱的、
化学的に安定な材料が好ましく、例えばSiO2、Si3
N4、PSG、BPSG等の絶縁材料を用いることがで
きる。
なものであれば特に限定されるものではないが、熱的、
化学的に安定な材料が好ましく、例えばSiO2、Si3
N4、PSG、BPSG等の絶縁材料を用いることがで
きる。
【0026】このように本発明の微小変位素子は、電磁
力発生用の電極と絶縁材料を積層した薄膜カンチレバー
で構成されるため、その製造が容易である。
力発生用の電極と絶縁材料を積層した薄膜カンチレバー
で構成されるため、その製造が容易である。
【0027】また、従来素子のように熱的、化学的に不
安定で配向性を制御しなければならないZnOのような
圧電材料を使用せずに作製できるため、耐久性に富み、
より精度の高い変位素子とすることができる。
安定で配向性を制御しなければならないZnOのような
圧電材料を使用せずに作製できるため、耐久性に富み、
より精度の高い変位素子とすることができる。
【0028】
【実施例】以下、実施例を用いて本発明を具体的に詳述
する。
する。
【0029】実施例1 本実施例では、まず図3〜5に示されるような本発明の
微小変位素子を構成する薄膜カンチレバーを作製した。
図3はその縦断面図、図4はその横断面図、図5は裏面
からの斜視図である。以下にその作製方法を説明する。
微小変位素子を構成する薄膜カンチレバーを作製した。
図3はその縦断面図、図4はその横断面図、図5は裏面
からの斜視図である。以下にその作製方法を説明する。
【0030】図6は薄膜カンチレバー作製前の基板製造
工程を示す図である。先ず、(100)Siウエハー1
の両面にLPCVD装置でSi3N4膜8を5000Å成
膜した(図6(a))。次にKOH水溶液等を用いての
エッチング時のマスクとして、Si3N4膜8の裏面にマ
スクパターンを形成した(図6(b))。その後、KO
HによるSiの異方性エッチングを行い、数10μm厚
のSiメンブレンを形成した(図6(c))。
工程を示す図である。先ず、(100)Siウエハー1
の両面にLPCVD装置でSi3N4膜8を5000Å成
膜した(図6(a))。次にKOH水溶液等を用いての
エッチング時のマスクとして、Si3N4膜8の裏面にマ
スクパターンを形成した(図6(b))。その後、KO
HによるSiの異方性エッチングを行い、数10μm厚
のSiメンブレンを形成した(図6(c))。
【0031】次に、上記のように作製したSi基板上
に、電極3としてスパッタ法によりA1−Si(2%)
を10000Å積層し、パターニングした。さらに常圧
CVD法(SiH4+O2、300〜500℃)によりS
iO2薄膜4を10000Å積層し、パターニングし
た。さらに抵抗加熱法によりAuを取り出し電極6とし
て1000Å堆積し、パターニングを行った。次にマイ
クロティップ用電極材として再度Auを抵抗加熱法で成
膜し、フォトリソグラフィーとリフトオフによりマイク
ロティップ5を作製した。その後KOH溶液によるSi
の異方性エッチングを行った。最後に、反応性イオンエ
ッチング法により、シリコン窒化膜8を除去し、カンチ
レバーを作製した。
に、電極3としてスパッタ法によりA1−Si(2%)
を10000Å積層し、パターニングした。さらに常圧
CVD法(SiH4+O2、300〜500℃)によりS
iO2薄膜4を10000Å積層し、パターニングし
た。さらに抵抗加熱法によりAuを取り出し電極6とし
て1000Å堆積し、パターニングを行った。次にマイ
クロティップ用電極材として再度Auを抵抗加熱法で成
膜し、フォトリソグラフィーとリフトオフによりマイク
ロティップ5を作製した。その後KOH溶液によるSi
の異方性エッチングを行った。最後に、反応性イオンエ
ッチング法により、シリコン窒化膜8を除去し、カンチ
レバーを作製した。
【0032】本実施例のカンチレバーは図11に示した
従来の圧電バイモルフ型カンチレバーより層構成が複雑
でなく作製プロセスも簡略化できる上、高温で行うプロ
セスも組み入れることが可能である。
従来の圧電バイモルフ型カンチレバーより層構成が複雑
でなく作製プロセスも簡略化できる上、高温で行うプロ
セスも組み入れることが可能である。
【0033】本実施例で作製したカンチレバーは幅10
0μm、長さ350μmであり、そのバネ定数は0.3
3N/mである。
0μm、長さ350μmであり、そのバネ定数は0.3
3N/mである。
【0034】次に、上記カンチレバーの周囲に図2と同
様に磁界発生用コイルを配置して微小変位素子を構成
し、その変位量を測定したところ、電極3に100mA
の電流を流して、コイルでカンチレバーの長手方向に磁
束密度が3.3×10-2Wb/m2の磁界をかけた時の
変位量は約1.0μmであった。
様に磁界発生用コイルを配置して微小変位素子を構成
し、その変位量を測定したところ、電極3に100mA
の電流を流して、コイルでカンチレバーの長手方向に磁
束密度が3.3×10-2Wb/m2の磁界をかけた時の
変位量は約1.0μmであった。
【0035】図7は、コイルでカンチレバーの長手方向
に磁束密度が3.3×10-2Wb/m2の磁界をかけた
まま、カンチレバーの電極3の電流値を変化させた時の
カンチレバーの変位量を測定した結果である。
に磁束密度が3.3×10-2Wb/m2の磁界をかけた
まま、カンチレバーの電極3の電流値を変化させた時の
カンチレバーの変位量を測定した結果である。
【0036】図8は、カンチレバーの電極3に100m
Aの電流を流して、コイルでカンチレバーの長手方向の
磁力(磁束密度)を変化させた時の変位量を測定した結
果である。
Aの電流を流して、コイルでカンチレバーの長手方向の
磁力(磁束密度)を変化させた時の変位量を測定した結
果である。
【0037】この様に、カンチレバーの電極3に流す電
流値でも、カンチレバーの長手方向へかける磁界の強さ
によっても精度良く大きい変位量を得るカンチレバー型
変位素子を形成することができた。また、この変位素子
を大気中で数カ月放置したままでも、変位量は全く変化
しなかった。さらに所望の変位量、剛性を必要とする場
合は、絶縁体薄膜の材料を変えたり、カンチレバーの長
さや厚さを変える等の設計を行えばよい。
流値でも、カンチレバーの長手方向へかける磁界の強さ
によっても精度良く大きい変位量を得るカンチレバー型
変位素子を形成することができた。また、この変位素子
を大気中で数カ月放置したままでも、変位量は全く変化
しなかった。さらに所望の変位量、剛性を必要とする場
合は、絶縁体薄膜の材料を変えたり、カンチレバーの長
さや厚さを変える等の設計を行えばよい。
【0038】実施例2 本実施例では、本発明の微小変位素子を用いて情報の記
録、再生等を行う情報処理装置について述べる。
録、再生等を行う情報処理装置について述べる。
【0039】先ず、図3〜図5に示したようなカンチレ
バーを同一Si基板上に2次元的に5×6=30個作製
した。その作製は実施例1で説明した作製方法において
パターニングのパターンを拡張することにより同時に行
うことができる。
バーを同一Si基板上に2次元的に5×6=30個作製
した。その作製は実施例1で説明した作製方法において
パターニングのパターンを拡張することにより同時に行
うことができる。
【0040】このように同一の基板上に複数のカンチレ
バーを一括して形成することにより、各カンチレバー間
のばらつきを非常に小さく抑えることができる。
バーを一括して形成することにより、各カンチレバー間
のばらつきを非常に小さく抑えることができる。
【0041】また基板としてSi単結晶を用いることに
より、トランジスタやダイオード等の半導体素子も同一
基板上へ集積化することも可能となり、トンネル電流の
増幅回路やカンチレバー駆動用のアンプ等を一体化する
ことができる。
より、トランジスタやダイオード等の半導体素子も同一
基板上へ集積化することも可能となり、トンネル電流の
増幅回路やカンチレバー駆動用のアンプ等を一体化する
ことができる。
【0042】次に、上記の様にして作製したマルチ微小
変位素子を図9に示される構成の情報処理装置に取り付
けた。同図において、101は記録媒体の基板、102
は金属電極層、103は記録層である。201はXYス
テージ、202はマルチ微小変位素子のプローブ(マイ
クロティップ)、203は微小変位素子の支持体、20
4は微小変位素子をZ軸方向に駆動するリニアアクチュ
エーター、205,206はXYステージをそれぞれ
X,Y軸方向に駆動するリニアアクチュエーター、20
7は記録・再生用のバイアス回路である。301はプロ
ーブ202から記録層103を介して電極層102へ流
れる電流を検出する記録再生用のトンネル電流検出器で
ある。302はカンチレバーをZ軸方向に移動させるた
めのサーボ回路である。304は複数のカンチレバーを
Z軸方向に動かすための駆動回路であり、これは、微小
変位素子を駆動する電流値を独立に制御することがで
き、これにより各微小変位素子のZ軸方向の位置を制御
することができる。305は微小変位素子のプローブ2
02,支持体203,リニアアクチュエーター204全
体のZ軸方向の位置制御を行う駆動回路である。306
は、これらの操作を制御するコンピューターである。こ
の情報処理装置全体を覆う形で電磁力発生用のコイル7
が巻かれており、Y方向に磁界が形成されている。
変位素子を図9に示される構成の情報処理装置に取り付
けた。同図において、101は記録媒体の基板、102
は金属電極層、103は記録層である。201はXYス
テージ、202はマルチ微小変位素子のプローブ(マイ
クロティップ)、203は微小変位素子の支持体、20
4は微小変位素子をZ軸方向に駆動するリニアアクチュ
エーター、205,206はXYステージをそれぞれ
X,Y軸方向に駆動するリニアアクチュエーター、20
7は記録・再生用のバイアス回路である。301はプロ
ーブ202から記録層103を介して電極層102へ流
れる電流を検出する記録再生用のトンネル電流検出器で
ある。302はカンチレバーをZ軸方向に移動させるた
めのサーボ回路である。304は複数のカンチレバーを
Z軸方向に動かすための駆動回路であり、これは、微小
変位素子を駆動する電流値を独立に制御することがで
き、これにより各微小変位素子のZ軸方向の位置を制御
することができる。305は微小変位素子のプローブ2
02,支持体203,リニアアクチュエーター204全
体のZ軸方向の位置制御を行う駆動回路である。306
は、これらの操作を制御するコンピューターである。こ
の情報処理装置全体を覆う形で電磁力発生用のコイル7
が巻かれており、Y方向に磁界が形成されている。
【0043】本実施例では、記録媒体の基板101とし
てガラス基板を用い、この上に電極層102としてCr
/Auを蒸着し、その上部に記録層103としてポリイ
ミドLB膜を4層(約15Å)成膜したものを用いた。
尚、この記録媒体には、パルス電圧を加えると抵抗率が
2桁程度変化する特徴がある。記録媒体の電極102と
微小変位素子のプローブ202に1Vの電圧を印加し
た。30本全てのプローブが、それぞれ1nA程度のト
ンネル電流になるように各カンチレバーを構成している
駆動用電極に電流を流してプローブの位置をZ軸方向に
移動させた。この際30本のカンチレバーに各々独立し
て流した電流の値のばらつきは±5%以内でありほぼ均
一であった。
てガラス基板を用い、この上に電極層102としてCr
/Auを蒸着し、その上部に記録層103としてポリイ
ミドLB膜を4層(約15Å)成膜したものを用いた。
尚、この記録媒体には、パルス電圧を加えると抵抗率が
2桁程度変化する特徴がある。記録媒体の電極102と
微小変位素子のプローブ202に1Vの電圧を印加し
た。30本全てのプローブが、それぞれ1nA程度のト
ンネル電流になるように各カンチレバーを構成している
駆動用電極に電流を流してプローブの位置をZ軸方向に
移動させた。この際30本のカンチレバーに各々独立し
て流した電流の値のばらつきは±5%以内でありほぼ均
一であった。
【0044】次に30本のカンチレバーの各々に流す電
流を同じにしたところ、それぞれのプローブのトンネル
電流値は0.1nA〜5nAの範囲内におさまってい
た。
流を同じにしたところ、それぞれのプローブのトンネル
電流値は0.1nA〜5nAの範囲内におさまってい
た。
【0045】その後、マイクロティップにパルス電圧
(5V,1μsec)を加え、所望の位置に情報を記録
した。尚、その領域は約100Å×100Å程度と非常
に小さく、超高密度の記録を行うことができた。
(5V,1μsec)を加え、所望の位置に情報を記録
した。尚、その領域は約100Å×100Å程度と非常
に小さく、超高密度の記録を行うことができた。
【0046】次に、マイクロティップと記録媒体の電極
間に1Vの電圧を印加し、トンネル電流の変化をみたと
ころ、先ほど記録した領域に抵抗値が変化した部分を検
出した。このように、本実施例においては、記録情報の
書き込み、読みだしが行えることを確認した。
間に1Vの電圧を印加し、トンネル電流の変化をみたと
ころ、先ほど記録した領域に抵抗値が変化した部分を検
出した。このように、本実施例においては、記録情報の
書き込み、読みだしが行えることを確認した。
【0047】実施例3 本実施例では、図9に示したような装置をSTMとして
用い、被観察物の表面観察を行った結果について述べ
る。
用い、被観察物の表面観察を行った結果について述べ
る。
【0048】先ず、図9の装置において、記録媒体の代
りに被観察物としてのHOPGをXYステージ上に搭載
し、マイクロティップで被観察物表面を走査しながら、
これらの間に電圧を印加し、トンネル電流値の結果を出
力することによりSTM像を得た。
りに被観察物としてのHOPGをXYステージ上に搭載
し、マイクロティップで被観察物表面を走査しながら、
これらの間に電圧を印加し、トンネル電流値の結果を出
力することによりSTM像を得た。
【0049】その結果、広範囲にわたって像を原子オー
ダーで観察でき、また再現性良く安定な像が得られた。
ダーで観察でき、また再現性良く安定な像が得られた。
【0050】さらに、装置の耐久性も向上し、長時間に
わたって良好な像観察を行うことができた。
わたって良好な像観察を行うことができた。
【0051】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の微小変位
素子は以下の効果を奏する。
素子は以下の効果を奏する。
【0052】(1)ZnOのように熱的、化学的に不安
定で配向性を制御しなければならない圧電材料を使用せ
ずに作製できるため、耐久性に富み、より一層精度の高
い変位素子となる。
定で配向性を制御しなければならない圧電材料を使用せ
ずに作製できるため、耐久性に富み、より一層精度の高
い変位素子となる。
【0053】(2)電磁力発生用の電極と絶縁材料だけ
でカンチレバーを構成でき、カンチレバーの製造工程が
簡略化される。
でカンチレバーを構成でき、カンチレバーの製造工程が
簡略化される。
【0054】(3)カンチレバーの駆動をカンチレバー
上で流す電流あるいはその電流と直交する磁界強度で制
御することができる。したがって所望の変位を得るのに
カンチレバーの形状や剛性だけに規制されず、電流値や
磁力を変えることによっても制御でき、制御性が良く、
より一層大きな変位を得ることができる。
上で流す電流あるいはその電流と直交する磁界強度で制
御することができる。したがって所望の変位を得るのに
カンチレバーの形状や剛性だけに規制されず、電流値や
磁力を変えることによっても制御でき、制御性が良く、
より一層大きな変位を得ることができる。
【0055】また、本発明の微小変位素子を用いたトン
ネル電流検出装置並びに情報処理装置は、高速且つ信頼
性の高い装置となる。
ネル電流検出装置並びに情報処理装置は、高速且つ信頼
性の高い装置となる。
【図1】本発明の微小変位素子の一実施態様例を示す部
分斜視図である。
分斜視図である。
【図2】図1の微小変位素子におけるコイルの配置図で
ある。
ある。
【図3】実施例1の微小変位素子の縦断面図である。
【図4】実施例1の微小変位素子の横断面図である。
【図5】実施例1の微小変位素子の裏面からの斜視図で
ある。
ある。
【図6】実施例1の微小変位素子の作製工程の一部を説
明するための図である。
明するための図である。
【図7】実施例1の微小変位素子を用いて測定した変位
特性である。
特性である。
【図8】実施例1の微小変位素子を用いて測定した変位
特性である。
特性である。
【図9】実施例2の情報処理装置のブロック図である。
【図10】従来例の微小変位素子の作製工程を示す模式
図である。
図である。
【図11】従来例の圧電薄膜を用いた微小変位素子の斜
視図である。
視図である。
1 Si基板 2 エッチング面 3 下部電極 4 絶縁体薄膜 5 マイクロティップ 6 取り出し電極 7 コイル 8 Si3N4薄膜 9 圧電体薄膜 10 中電極 11 圧電体薄膜 12 上部電極 101 記録媒体基板 102 金属電極層 103 記録層 201 XYステージ 202 プローブ(マイクロティップ) 203 支持体 204 Z軸方向リニアアクチュエーター 205 X軸方向リニアアクチュエーター 206 Y軸方向リニアアクチュエーター 207 記録再生用バイアス回路 301 トンネル電流検出器 302 サーボ回路 303 サーボ回路 304 駆動回路 305 駆動回路 306 コンピューター
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 柳沢 芳浩 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内
Claims (7)
- 【請求項1】 薄膜カンチレバー(片持ち梁)の自由端
部に情報入出力用マイクロティップを有する微小変位素
子であって、上記薄膜カンチレバーは少なくとも絶縁体
薄膜と該薄膜を電磁力により変位させるための電極を含
み、該薄膜カンチレバーの周囲に磁界発生用コイルが配
置されていることを特徴とする微小変位素子。 - 【請求項2】 前記磁界発生用コイルは前記薄膜カンチ
レバーの自由端部から根元方向の磁界及び/またはその
逆方向の磁界を発生できるものであり、前記電極は該磁
界と直交する向きの電流を流すことができるものである
ことを特徴とする請求項1記載の微小変位素子。 - 【請求項3】 請求項1又は2に記載の微小変位素子を
同一基板上に複数設けたことを特徴とするマルチ微小変
位素子。 - 【請求項4】 マイクロティップを有する微小変位素子
を電気導電体に対向配置し、電気導電体とマイクロティ
ップ間に流れるトンネル電流に基づき、電気導電体表面
の情報を出力するトンネル電流検出装置において、上記
微小変位素子に請求項1〜3いずれかに記載の微小変位
素子を用いたことを特徴とするトンネル電流検出装置。 - 【請求項5】 マイクロティップを有する微小変位素子
を記録媒体に対向配置し、記録媒体とマイクロティップ
間に情報再生用バイアス電圧を印加することで情報の再
生を行う情報処理装置において、上記微小変位素子に請
求項1〜3いずれかに記載の微小変位素子を用いたこと
を特徴とする情報処理装置。 - 【請求項6】 マイクロティップを有する微小変位素子
を記録媒体に対向配置し、記録媒体とマイクロティップ
間に情報記録用パルス電圧を印加することで情報の記録
を行う情報処理装置において、上記微小変位素子に請求
項1〜3いずれかに記載の微小変位素子を用いたことを
特徴とする情報処理装置。 - 【請求項7】 前記記録媒体とマイクロティップ間に流
れるトンネル電流に基づき、前記微小変位素子の駆動を
制御することを特徴とする請求項5又は6に記載の情報
処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5065925A JPH06258017A (ja) | 1993-03-03 | 1993-03-03 | 微小変位素子及びそれを用いたマルチ微小変位素子、トンネル電流検出装置、情報処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5065925A JPH06258017A (ja) | 1993-03-03 | 1993-03-03 | 微小変位素子及びそれを用いたマルチ微小変位素子、トンネル電流検出装置、情報処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06258017A true JPH06258017A (ja) | 1994-09-16 |
Family
ID=13301040
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5065925A Withdrawn JPH06258017A (ja) | 1993-03-03 | 1993-03-03 | 微小変位素子及びそれを用いたマルチ微小変位素子、トンネル電流検出装置、情報処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06258017A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109591525A (zh) * | 2018-11-29 | 2019-04-09 | 吉林大学 | 一种悬臂式多参量独立检测装置及检测方法 |
| WO2021093123A1 (zh) * | 2019-11-15 | 2021-05-20 | 山东科技大学 | 一种巷道帮部位移测量设备及方法 |
-
1993
- 1993-03-03 JP JP5065925A patent/JPH06258017A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109591525A (zh) * | 2018-11-29 | 2019-04-09 | 吉林大学 | 一种悬臂式多参量独立检测装置及检测方法 |
| WO2021093123A1 (zh) * | 2019-11-15 | 2021-05-20 | 山东科技大学 | 一种巷道帮部位移测量设备及方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000509 |