JPH0626420B2 - 光センサアレイ装置 - Google Patents
光センサアレイ装置Info
- Publication number
- JPH0626420B2 JPH0626420B2 JP58010097A JP1009783A JPH0626420B2 JP H0626420 B2 JPH0626420 B2 JP H0626420B2 JP 58010097 A JP58010097 A JP 58010097A JP 1009783 A JP1009783 A JP 1009783A JP H0626420 B2 JPH0626420 B2 JP H0626420B2
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- Japan
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- optical sensor
- sensor
- block
- capacitor
- capacitors
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/04—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa
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- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
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- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 本発明は、複数の光センサ素子からなる光センサアレイ
装置に関するものである。
装置に関するものである。
近年、FAXの高速化、高信頼化を目的として、MO
S,CCD等のIC技術によるイメージセンサとレンズ
を組合わせた固体化画像読取り装置が種々実用化されて
いる。
S,CCD等のIC技術によるイメージセンサとレンズ
を組合わせた固体化画像読取り装置が種々実用化されて
いる。
しかしながら、これらは原稿をレンズによつてイメージ
センサに縮小結像する構成なので、原稿からイメージセ
ンサまでの光路長が大きくなり、装置が大型化すること
や、レンズ、センサの取り付け位置設定に高い精度を要
求することなど装置的に不利な点を有している。すなわ
ち、第1図に示したように螢光灯などの照明光源1によ
つて原稿2を照明し、その反射光をレンズ3によつてI
Cセンサ4のイメージセンサ面に縮小結像して光電変換
する構成において、例えば原稿2がA4サイズ(220
mm)、センササイズを20mmとすると縮率は約1/10とな
り、焦点距離50mmのレンズ3を使用した場合、原稿2
からICセンサ4までの光パスは600mmとかなり大型
化する。また、上記光学系において、焦点距離50m/m
のレンズを用い、縮率1/10とすると、焦点深度は50m/
mとなる。従つて、ICセンサ4の位置設定に対して高
精度を実現できる調整機構が必要となる。
センサに縮小結像する構成なので、原稿からイメージセ
ンサまでの光路長が大きくなり、装置が大型化すること
や、レンズ、センサの取り付け位置設定に高い精度を要
求することなど装置的に不利な点を有している。すなわ
ち、第1図に示したように螢光灯などの照明光源1によ
つて原稿2を照明し、その反射光をレンズ3によつてI
Cセンサ4のイメージセンサ面に縮小結像して光電変換
する構成において、例えば原稿2がA4サイズ(220
mm)、センササイズを20mmとすると縮率は約1/10とな
り、焦点距離50mmのレンズ3を使用した場合、原稿2
からICセンサ4までの光パスは600mmとかなり大型
化する。また、上記光学系において、焦点距離50m/m
のレンズを用い、縮率1/10とすると、焦点深度は50m/
mとなる。従つて、ICセンサ4の位置設定に対して高
精度を実現できる調整機構が必要となる。
さらに、原稿2の画面全体に対して均一に光量、分解能
を確保する必要があるが、レンズ3を使用するとCOS4
乗則や収差の影響で画面中心部に比較して周辺部の光量
が劣化する。
を確保する必要があるが、レンズ3を使用するとCOS4
乗則や収差の影響で画面中心部に比較して周辺部の光量
が劣化する。
また、ICセンサ4は高密度に集積化されているため、
感度、出力信号が極めて小さく、したがつて高性能のプ
リアンプが必要となる。
感度、出力信号が極めて小さく、したがつて高性能のプ
リアンプが必要となる。
このような問題点を改善したものとしては、第2図に示
した構造のいわゆる、密着形読取り方式の光センサアレ
イ装置が提案されている。図において、5は光源であ
り、螢光灯あるいはLEDまたはELが用いられ、6は
原稿2に対向配置され、かつ、原稿2上で反射された光
信号を受光する光入射面を備えたコンタクトフアイバ又
はセルフオツクレンズアレイ、7はアモルフアスシリコ
ンから成る光電変換部(光センサアレイ)であり、光セ
ンサ素子が線状に16コ/m/mのピツチで配列され、
隣り合う32bitごとに駆動用IC8で制御され、読取
信号はシリアルデータとして出力線9より出力される。
した構造のいわゆる、密着形読取り方式の光センサアレ
イ装置が提案されている。図において、5は光源であ
り、螢光灯あるいはLEDまたはELが用いられ、6は
原稿2に対向配置され、かつ、原稿2上で反射された光
信号を受光する光入射面を備えたコンタクトフアイバ又
はセルフオツクレンズアレイ、7はアモルフアスシリコ
ンから成る光電変換部(光センサアレイ)であり、光セ
ンサ素子が線状に16コ/m/mのピツチで配列され、
隣り合う32bitごとに駆動用IC8で制御され、読取
信号はシリアルデータとして出力線9より出力される。
この種のセンサ駆動回路は、一般に多数配列された受光
センサの出力を順次転送し、時系列で取り出す為、高速
な読み出しを行なう場合においては各センサ1bitに対
して各々1組のスイツチ回路を必要とし、シフトレジス
タによりスイツチ回路を時系列に動作して信号の転送を
行なう。第3図にセンサ駆動回路の一例を示す。第3図
において、R1,R2…R32はアモルフアスシリコン
やCdTeやCdS等の感光材料により形成された光検出部
の等価回路を示す抵抗であり、32個の光検出部R1〜
R32で光センサブロツクを構成する。光検出部は入射
光強度により抵抗値が約1桁〜2桁の幅で変化する。光
検出部(光センサ)R1〜R32の一端は電源電圧Vcc
が印加され、他端はコンデンサC1〜C32を介して接
地されている。今、R1で示される1素子に関して着目
すれば、光による抵抗値の変化はコンデンサーC1に蓄
わえられる電荷として取り出される。シフトレジフタ2
8に外部よりクロツク29が入るごとにMOSゲートか
らなるスイツチMOSSW22,23,24,25…2
6、は順次開閉を制御される。まず、第1のクロツク入
力によりMOSSW22が閉じられ、その間コンデンサ
C1に蓄えられた電荷はアンプ30で増幅され信号とし
て出力端子OUTに取り出される。次に入力されるクロ
ツクによりシフトレジスタ28のビツトがシフトされ、
MOSW22が開くと同時にMOSSW23,24が同
時に閉じ、上述のコンデンサC1の残留電荷を放電する
と同時に、コンデンサC2に蓄えられている次のセンサ
素子R2による信号をMOSSW24を通して端子OU
Tに得る。
センサの出力を順次転送し、時系列で取り出す為、高速
な読み出しを行なう場合においては各センサ1bitに対
して各々1組のスイツチ回路を必要とし、シフトレジス
タによりスイツチ回路を時系列に動作して信号の転送を
行なう。第3図にセンサ駆動回路の一例を示す。第3図
において、R1,R2…R32はアモルフアスシリコン
やCdTeやCdS等の感光材料により形成された光検出部
の等価回路を示す抵抗であり、32個の光検出部R1〜
R32で光センサブロツクを構成する。光検出部は入射
光強度により抵抗値が約1桁〜2桁の幅で変化する。光
検出部(光センサ)R1〜R32の一端は電源電圧Vcc
が印加され、他端はコンデンサC1〜C32を介して接
地されている。今、R1で示される1素子に関して着目
すれば、光による抵抗値の変化はコンデンサーC1に蓄
わえられる電荷として取り出される。シフトレジフタ2
8に外部よりクロツク29が入るごとにMOSゲートか
らなるスイツチMOSSW22,23,24,25…2
6、は順次開閉を制御される。まず、第1のクロツク入
力によりMOSSW22が閉じられ、その間コンデンサ
C1に蓄えられた電荷はアンプ30で増幅され信号とし
て出力端子OUTに取り出される。次に入力されるクロ
ツクによりシフトレジスタ28のビツトがシフトされ、
MOSW22が開くと同時にMOSSW23,24が同
時に閉じ、上述のコンデンサC1の残留電荷を放電する
と同時に、コンデンサC2に蓄えられている次のセンサ
素子R2による信号をMOSSW24を通して端子OU
Tに得る。
上述のごとくシフトレジスタ28のシフト動作により各
センサに対応した32bitの画像信号が転送された後、
シフトレジスタ28はとなりのシフトレジスタ31を起
動させ、同様にしてシフトレジスタ31の受けもつ32
bit分の次の光センサブロツクからの画像信号を転送す
ることになる。以下、同様に光センサアレイを構成する
複数の光センサブロツクが順次駆動されて、1ラインの
画像信号が端子OUTに出力される。
センサに対応した32bitの画像信号が転送された後、
シフトレジスタ28はとなりのシフトレジスタ31を起
動させ、同様にしてシフトレジスタ31の受けもつ32
bit分の次の光センサブロツクからの画像信号を転送す
ることになる。以下、同様に光センサアレイを構成する
複数の光センサブロツクが順次駆動されて、1ラインの
画像信号が端子OUTに出力される。
第3図において、破線で囲まれた部分が駆動回路として
IC化されており、ICチツプIC1及びIC2はそれ
ぞれ隣りあう32bitを分担することになる。
IC化されており、ICチツプIC1及びIC2はそれ
ぞれ隣りあう32bitを分担することになる。
第2図、第3図に示したものにおいては光センサアレイ
は約300mmに渡つて長尺化しており、全センサ素子数
は約5000個、光センサブロツクを備えたICチツプ
は約160個で構成されている。
は約300mmに渡つて長尺化しており、全センサ素子数
は約5000個、光センサブロツクを備えたICチツプ
は約160個で構成されている。
従つてセンサ各素子間及びICチツプ間に生ずる特性の
ばらつきはどうしても見逃がせなくなつて来る。特に信
号レベルのオフセツト電圧は各チツプ内に形成されたコ
ンデンサ容量、及び出力アンプの入力オフセツト電圧に
起因し、出力画像信号幅のばらつきの数割を占めること
もある。
ばらつきはどうしても見逃がせなくなつて来る。特に信
号レベルのオフセツト電圧は各チツプ内に形成されたコ
ンデンサ容量、及び出力アンプの入力オフセツト電圧に
起因し、出力画像信号幅のばらつきの数割を占めること
もある。
そこで1つの対策としてICチツプの選別により、16
0個の特性をそろえることが考えられるが、受光センサ
ブロツク間のばらつきを完全に取り除くことは出来な
い。また、そのための選別による工数も上がり、あまり
良い方法とはいえない。
0個の特性をそろえることが考えられるが、受光センサ
ブロツク間のばらつきを完全に取り除くことは出来な
い。また、そのための選別による工数も上がり、あまり
良い方法とはいえない。
従来、レンズを用いた縮小光学系とCCDによる画像信
号抽出回路に用いられていたシエーデイング補正は各ビ
ツト単位毎で行なわれており、それは主にレンズの両端
での光量低下を補正するものであつた。しかし、第2図
及び第3図に示す様な密着型センサにおいては、このよ
うな光量低下を生じるレンズを使用しないので、隣り合
うビツト間において光量低下に係わる補正の必要はな
い。また、半導体技術の進歩でICチツプ内での特性は
かなり均一化されていることを考えれば、各ICチツプ
の分担単位、つまり32bit単位の光センサブロツク間
における出力のばらつきの補正を行なえば十分であると
いえる。
号抽出回路に用いられていたシエーデイング補正は各ビ
ツト単位毎で行なわれており、それは主にレンズの両端
での光量低下を補正するものであつた。しかし、第2図
及び第3図に示す様な密着型センサにおいては、このよ
うな光量低下を生じるレンズを使用しないので、隣り合
うビツト間において光量低下に係わる補正の必要はな
い。また、半導体技術の進歩でICチツプ内での特性は
かなり均一化されていることを考えれば、各ICチツプ
の分担単位、つまり32bit単位の光センサブロツク間
における出力のばらつきの補正を行なえば十分であると
いえる。
本発明は以上の点に鑑みてなされたもので、ブロツク間
の読取出力のばらつきを補正した光センサアレイ装置を
提供することを目的とし、複数の光センサ素子からなる
光センサブロックを複数備えた光センサアレイと、 前記複数の光センサ素子の1素子毎に設けられ、各光セ
ンサ素子を介して充電される複数のコンデンサからなる
複数のコンデンサブロックと、 前記光センサ素子を介して充電された複数のコンデンサ
の充電電圧を順次取り出す駆動手段と、 複数のコンデンサのオフセット電位をコンデンサブロッ
ク単位で変化させて各光センサブロックの出力オフセッ
ト電位を補正する調整可能な補正手段とを有し、 前記コンデンサブロックと、前記駆動手段と、前記補正
手段とを各光センサブロック毎に設けたことを特徴とす
る光センサアレイ装置を提供することを目的とする。
の読取出力のばらつきを補正した光センサアレイ装置を
提供することを目的とし、複数の光センサ素子からなる
光センサブロックを複数備えた光センサアレイと、 前記複数の光センサ素子の1素子毎に設けられ、各光セ
ンサ素子を介して充電される複数のコンデンサからなる
複数のコンデンサブロックと、 前記光センサ素子を介して充電された複数のコンデンサ
の充電電圧を順次取り出す駆動手段と、 複数のコンデンサのオフセット電位をコンデンサブロッ
ク単位で変化させて各光センサブロックの出力オフセッ
ト電位を補正する調整可能な補正手段とを有し、 前記コンデンサブロックと、前記駆動手段と、前記補正
手段とを各光センサブロック毎に設けたことを特徴とす
る光センサアレイ装置を提供することを目的とする。
前述した第3図示の駆動回路において、読取出力電圧は
コンデンサの蓄積時間及びコンデンサに加わる充電電圧
で決定される。そこで、光センサブロツク間の出力のば
らつき補正のために、ICチツプ内で共通に接続された
ライン27を接地する代わりに、光センサブロツク毎に
補正のためのバイアス電位を与える。
コンデンサの蓄積時間及びコンデンサに加わる充電電圧
で決定される。そこで、光センサブロツク間の出力のば
らつき補正のために、ICチツプ内で共通に接続された
ライン27を接地する代わりに、光センサブロツク毎に
補正のためのバイアス電位を与える。
第4図は補正の為のバイアス電圧として光センサブロツ
クと同一基板上に形成した抵坑RB1,RB2でVccを分圧し
たものをバイアス電位として第2図の接地電位に置き換
えたものである光センサに一定の光量を所定時間与えた
後の出力電圧OUTをモニタしながらRB1又はRB2をチツ
プ毎にレーザトリミングすることにより各抵抗値を設定
する。以上の補正を実装後、各チツプ毎に行なうことに
より、多数チツプを選別することなく、また、長尺セン
サユニツトとして特性の光センサブロツク毎の出力の均
一化が行なえることになる。
クと同一基板上に形成した抵坑RB1,RB2でVccを分圧し
たものをバイアス電位として第2図の接地電位に置き換
えたものである光センサに一定の光量を所定時間与えた
後の出力電圧OUTをモニタしながらRB1又はRB2をチツ
プ毎にレーザトリミングすることにより各抵抗値を設定
する。以上の補正を実装後、各チツプ毎に行なうことに
より、多数チツプを選別することなく、また、長尺セン
サユニツトとして特性の光センサブロツク毎の出力の均
一化が行なえることになる。
また、別の方法としてライン27を全てのチツプ共通に
接続し、駆動選択されているチップに適正な補正電圧を
パルス的に印加してもよい。このパルス電圧は高速な転
送クロツクの1/32の周波数で制御してやればよく、ま
た、160個分の補正データを格納すれば良いので、安
価で容易な構成となる。
接続し、駆動選択されているチップに適正な補正電圧を
パルス的に印加してもよい。このパルス電圧は高速な転
送クロツクの1/32の周波数で制御してやればよく、ま
た、160個分の補正データを格納すれば良いので、安
価で容易な構成となる。
このパルス電圧による補正はライン27を接地し、セン
サ電源Vccに対して行なつても同様であることは述べる
までもない。
サ電源Vccに対して行なつても同様であることは述べる
までもない。
以上説明した様に、本願発明によれば、各光センサ素子
を介して充電される複数のコンデンサのオフセット電位
をブロック単位で変化させて各光センサブロックの出力
オフセット電位を補正するので、光センサアレイに入射
光がない状態で読み取り動作を行なわせた場合に各光セ
ンサブロックから出力される読み取り出力のばらつき、
即ち、黒レベルのブロック間のばらつきをコンデンサブ
ロック単位で補正することで各光センサブロック間の出
力オフセット電位のばらつきを解消し、高品質な読取出
力を得ることができる。
を介して充電される複数のコンデンサのオフセット電位
をブロック単位で変化させて各光センサブロックの出力
オフセット電位を補正するので、光センサアレイに入射
光がない状態で読み取り動作を行なわせた場合に各光セ
ンサブロックから出力される読み取り出力のばらつき、
即ち、黒レベルのブロック間のばらつきをコンデンサブ
ロック単位で補正することで各光センサブロック間の出
力オフセット電位のばらつきを解消し、高品質な読取出
力を得ることができる。
第1図は従来の読取り装置の概略を示す図、第2図は密
着型読取り装置の斜視図、第3図は第2図の装置の駆動
回路図、第4図は本発明の一実施例の回路図であり、2
は原稿、7は光センサアレイ、8は駆動用IC、R1〜
R32は光センサ素子、C1〜C32はコンデンサ、2
8はシフトレジスタ、RB1,RB2は抵抗である。
着型読取り装置の斜視図、第3図は第2図の装置の駆動
回路図、第4図は本発明の一実施例の回路図であり、2
は原稿、7は光センサアレイ、8は駆動用IC、R1〜
R32は光センサ素子、C1〜C32はコンデンサ、2
8はシフトレジスタ、RB1,RB2は抵抗である。
Claims (1)
- 【請求項1】複数の光センサ素子からなる光センサブロ
ックを複数備えた光センサアレイと、 前記複数の光センサ素子の1素子毎に設けられ、各光セ
ンサ素子を介して充電される複数のコンデンサからなる
複数のコンデンサブロックと、 前記光センサ素子を介して充電された複数のコンデンサ
の充電電圧を順次取り出す駆動手段と、 複数のコンデンサのオフセット電位をコンデンサブロッ
ク単位で変化させて各光センサブロックの出力オフセッ
ト電位を補正する調整可能な補正手段とを有し、 前記コンデンサブロックと、前記駆動手段と、前記補正
手段とを各光センサブロック毎に設けたことを特徴とす
る光センサアレイ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58010097A JPH0626420B2 (ja) | 1983-01-24 | 1983-01-24 | 光センサアレイ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58010097A JPH0626420B2 (ja) | 1983-01-24 | 1983-01-24 | 光センサアレイ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59134979A JPS59134979A (ja) | 1984-08-02 |
| JPH0626420B2 true JPH0626420B2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
ID=11740816
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58010097A Expired - Lifetime JPH0626420B2 (ja) | 1983-01-24 | 1983-01-24 | 光センサアレイ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0626420B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01239776A (ja) * | 1988-03-17 | 1989-09-25 | Matsushita Electric Works Ltd | 感熱発熱電線の配線基板 |
| US5023442A (en) * | 1988-06-21 | 1991-06-11 | Rohm Co., Ltd. | Apparatus for optically writing information |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5427091A (en) * | 1977-07-28 | 1979-03-01 | Sanyo Chemical Ind Ltd | Fiber treating agent with excellent heat resistance |
| JPS5481017A (en) * | 1977-12-12 | 1979-06-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Drive unit for image sensor |
| JPS56140672A (en) * | 1980-04-04 | 1981-11-04 | Hitachi Ltd | Photosensor arraying device |
-
1983
- 1983-01-24 JP JP58010097A patent/JPH0626420B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59134979A (ja) | 1984-08-02 |
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