JPH06264237A - 磁気記録体の製造装置の基板ホルダー - Google Patents
磁気記録体の製造装置の基板ホルダーInfo
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- JPH06264237A JPH06264237A JP5576593A JP5576593A JPH06264237A JP H06264237 A JPH06264237 A JP H06264237A JP 5576593 A JP5576593 A JP 5576593A JP 5576593 A JP5576593 A JP 5576593A JP H06264237 A JPH06264237 A JP H06264237A
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Landscapes
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 非磁性基板にスパッタ法で合金磁性膜を形成
する際、高い保磁力を有する磁気記録体を容易に製造す
ることが出来る磁気記録体の製造装置に用いる基板ホル
ダー。 【構成】 基板ホルダーの非磁性基板を保持する基板の
受部が、基板ホルダーに開口された透孔の開口縁に設け
られた基板の端縁に4個所以上接する点状であり、各受
部の間に幅2mm以上で、長さ3mm以上の櫛形状の空
隙を有する。
する際、高い保磁力を有する磁気記録体を容易に製造す
ることが出来る磁気記録体の製造装置に用いる基板ホル
ダー。 【構成】 基板ホルダーの非磁性基板を保持する基板の
受部が、基板ホルダーに開口された透孔の開口縁に設け
られた基板の端縁に4個所以上接する点状であり、各受
部の間に幅2mm以上で、長さ3mm以上の櫛形状の空
隙を有する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は磁気記録体の製造装置の
基板ホルダーに関し、更に詳細には、高い保磁力を有す
る磁気記録体を製造する際に用いる製造装置内に設置す
る磁気記録体の非磁性基板を保持する基板ホルダーに関
する。
基板ホルダーに関し、更に詳細には、高い保磁力を有す
る磁気記録体を製造する際に用いる製造装置内に設置す
る磁気記録体の非磁性基板を保持する基板ホルダーに関
する。
【0002】
【従来の技術】従来よりスパッタ法で例えばアルミニウ
ム材からなる非磁性基板上にCo合金膜を形成した磁気
記録体および非磁性基板上にCr膜等の下地膜を形成し
てその上にCo合金膜を形成した磁気記録体がハードデ
ィスク媒体として広く知られている。
ム材からなる非磁性基板上にCo合金膜を形成した磁気
記録体および非磁性基板上にCr膜等の下地膜を形成し
てその上にCo合金膜を形成した磁気記録体がハードデ
ィスク媒体として広く知られている。
【0003】この磁気記録体の記録密度を向上させるに
は、記録媒体の保磁力が高いことと、記録体とそれに記
録再生を行う磁気ヘッドとの間隔が小さいこと、即ち記
録体表面が平滑であることが不可欠な要素である。記録
体表面が平滑であることは、即ち非磁性基板表面が非常
に平滑であることが、必要であり、例えばNiPメッキ
を施したアルミニウム基板よりもガラス基板やSi基板
の方が有利である。
は、記録媒体の保磁力が高いことと、記録体とそれに記
録再生を行う磁気ヘッドとの間隔が小さいこと、即ち記
録体表面が平滑であることが不可欠な要素である。記録
体表面が平滑であることは、即ち非磁性基板表面が非常
に平滑であることが、必要であり、例えばNiPメッキ
を施したアルミニウム基板よりもガラス基板やSi基板
の方が有利である。
【0004】しかしながら、基板ホルダーに基板を保持
して基板の表面に合金磁性膜をスパッタ法で形成する場
合、表面平滑性に優れるこれらガラス基板、Si基板は
基板が絶縁体であったり、電気抵抗が高いため、本出願
人が先に特公平4-50653 号公報で提案せる、基板に負の
バイアス電圧を印加して記録媒体の保磁力を向上させる
磁気記録体の製造方法を利用することが出来ないため、
高い保磁力が達成させることが出来ないという問題があ
る。
して基板の表面に合金磁性膜をスパッタ法で形成する場
合、表面平滑性に優れるこれらガラス基板、Si基板は
基板が絶縁体であったり、電気抵抗が高いため、本出願
人が先に特公平4-50653 号公報で提案せる、基板に負の
バイアス電圧を印加して記録媒体の保磁力を向上させる
磁気記録体の製造方法を利用することが出来ないため、
高い保磁力が達成させることが出来ないという問題があ
る。
【0005】一方、非磁性基板の表面にスパッタ法を用
いて金属下地膜や合金磁性膜を形成するには、図14な
いし図17に示すような基板ホルダーaで基板bを保持
しながら行うものである。これを更に詳しく説明すれ
ば、基板ホルダーaは板状部材から成り、該板状部材に
多数のほぼ円形状の透孔からなる基板保持部i(図示例
では12個)が穿設開口されている。そして図15示のよ
うに該基板保持部iの夫々にはその開口端縁jの一部に
円弧状の凹溝kが形成されており、該凹溝kに例えば磁
気ディスク用の円形の基板bの端縁mを図16に示すよ
うに保持させるものである。また、基板表面にスパッタ
法で合金磁性膜を形成する際に用いるスパッタ装置とし
ては例えば図1に示す装置を用いるものである。
いて金属下地膜や合金磁性膜を形成するには、図14な
いし図17に示すような基板ホルダーaで基板bを保持
しながら行うものである。これを更に詳しく説明すれ
ば、基板ホルダーaは板状部材から成り、該板状部材に
多数のほぼ円形状の透孔からなる基板保持部i(図示例
では12個)が穿設開口されている。そして図15示のよ
うに該基板保持部iの夫々にはその開口端縁jの一部に
円弧状の凹溝kが形成されており、該凹溝kに例えば磁
気ディスク用の円形の基板bの端縁mを図16に示すよ
うに保持させるものである。また、基板表面にスパッタ
法で合金磁性膜を形成する際に用いるスパッタ装置とし
ては例えば図1に示す装置を用いるものである。
【0006】そして、例えばガラス基板のような絶縁性
基板でスパッタ法を用いて磁気記録体を作製する場合、
スパッタ成膜前は基板が絶縁性であるため、バイアス電
圧が印加できないが、基板上に下地膜または合金磁性膜
の金属膜を成膜して行くと、次第に基板表面が金属膜で
被覆され、導電性を呈するようになると同時に、基板ホ
ルダーと基板表面の金属膜が電気的に短絡し、基板表面
にバイアス電圧を印加することが出来るようになる。
基板でスパッタ法を用いて磁気記録体を作製する場合、
スパッタ成膜前は基板が絶縁性であるため、バイアス電
圧が印加できないが、基板上に下地膜または合金磁性膜
の金属膜を成膜して行くと、次第に基板表面が金属膜で
被覆され、導電性を呈するようになると同時に、基板ホ
ルダーと基板表面の金属膜が電気的に短絡し、基板表面
にバイアス電圧を印加することが出来るようになる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところが、基板ホルダ
ーaは基板bを容易に着脱できるようにするために図1
7のように基板保持部材iの凹溝kの幅が基板bの厚み
より0.2 〜1mm 程度広くなっているので、数100 〜数10
00Å程度の金属膜形成では基板ホルダー面と基板面の直
接短絡は得られず、むしろ基板の端縁mに回り込んだ金
属膜を介して電気的に短絡する。
ーaは基板bを容易に着脱できるようにするために図1
7のように基板保持部材iの凹溝kの幅が基板bの厚み
より0.2 〜1mm 程度広くなっているので、数100 〜数10
00Å程度の金属膜形成では基板ホルダー面と基板面の直
接短絡は得られず、むしろ基板の端縁mに回り込んだ金
属膜を介して電気的に短絡する。
【0008】従って、従来のような基板ホルダーでは金
属膜が基板端縁へ回り込む部分が2ケ所しかないため、
基板端縁への金属膜の回り込み量が少なく、基板ホルダ
ーの保持部と基板との接触部に充分な導電性が得られな
いにもかかわらず大きなバイアス電流が流れるため、被
覆された金属膜が破壊され、異常放電が生じ、安定して
バイアス電圧を印加することが出来ない。
属膜が基板端縁へ回り込む部分が2ケ所しかないため、
基板端縁への金属膜の回り込み量が少なく、基板ホルダ
ーの保持部と基板との接触部に充分な導電性が得られな
いにもかかわらず大きなバイアス電流が流れるため、被
覆された金属膜が破壊され、異常放電が生じ、安定して
バイアス電圧を印加することが出来ない。
【0009】本発明は、かかる従来の問題点を解消し、
表面が優れた平滑性を有する非磁性基板に対しても、磁
気記録層の成膜中に安定して基板に負のバイアス電圧を
印加することが出来る磁気記録体の製造装置の基板ホル
ダーを提供することを目的とする。
表面が優れた平滑性を有する非磁性基板に対しても、磁
気記録層の成膜中に安定して基板に負のバイアス電圧を
印加することが出来る磁気記録体の製造装置の基板ホル
ダーを提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】そこで本発明者らは上記
問題点に着目し、鋭意検討した結果、基板を支持する部
分、即ち基板の端縁に接触する部分を従来の線状接触か
ら出来る限り点状、即ち多点接触とすることにより基板
の端縁を出来る限り解放させ、点状の接触部分にも充分
な膜厚の金属膜が回り込むようにすることにより、基板
と基板ホルダーとの接触部を小さくさせても接触部に流
れる単位断面積あたりのバイアス電流が小さくなり、基
板の端縁側に形成された金属膜が破壊されず、安定して
バイアスを印加することが出来、その結果磁気記録体の
保磁力を大幅に向上させることが出来ることを知見し
た。
問題点に着目し、鋭意検討した結果、基板を支持する部
分、即ち基板の端縁に接触する部分を従来の線状接触か
ら出来る限り点状、即ち多点接触とすることにより基板
の端縁を出来る限り解放させ、点状の接触部分にも充分
な膜厚の金属膜が回り込むようにすることにより、基板
と基板ホルダーとの接触部を小さくさせても接触部に流
れる単位断面積あたりのバイアス電流が小さくなり、基
板の端縁側に形成された金属膜が破壊されず、安定して
バイアスを印加することが出来、その結果磁気記録体の
保磁力を大幅に向上させることが出来ることを知見し
た。
【0011】本発明は前記知見に基づきなされたもので
あり、本発明の磁気記録体の製造装置の基板ホルダー
は、スパッタ法により非磁性基板上に5at%以上のCr
を含有するCo合金磁性膜を形成して成る磁気記録体の
製造装置であって、該装置の非磁性基板を支持する基板
ホルダーを通して基板に直流のバイアス電圧を印加する
磁気記録体の製造装置の基板ホルダーにおいて、前記基
板ホルダーの非磁性基板を保持する基板の受部は基板ホ
ルダーに開口された透孔であって、該透孔の開口縁と基
板の端縁の接触が4個所以上で、かつ該受部間に幅2m
m以上で長さ3mm以上の櫛形状の空隙を有することを
特徴とする。
あり、本発明の磁気記録体の製造装置の基板ホルダー
は、スパッタ法により非磁性基板上に5at%以上のCr
を含有するCo合金磁性膜を形成して成る磁気記録体の
製造装置であって、該装置の非磁性基板を支持する基板
ホルダーを通して基板に直流のバイアス電圧を印加する
磁気記録体の製造装置の基板ホルダーにおいて、前記基
板ホルダーの非磁性基板を保持する基板の受部は基板ホ
ルダーに開口された透孔であって、該透孔の開口縁と基
板の端縁の接触が4個所以上で、かつ該受部間に幅2m
m以上で長さ3mm以上の櫛形状の空隙を有することを
特徴とする。
【0012】また、前記基板ホルダーの基板の受部を、
先端間隔が1mm以上の鋸歯形状としてもよい。また、
前記基板ホルダーの基板の受部を、その先端側に太さ
0.5mm以下の金属線の複数本を網状に編成した網部
材を装着してもよい。また、前記基板ホルダーの基板の
受部を、直径2mm以下の金属棒とし、該金属棒を基板
ホルダーの透孔の開口縁に4個所以上装着してもよい。
また、前記基板ホルダーの基板の受部を、厚さ0.5m
m以下の金属薄板とし、該金属薄板を基板ホルダーの透
孔の開口縁に4個所以上装着してもよい。
先端間隔が1mm以上の鋸歯形状としてもよい。また、
前記基板ホルダーの基板の受部を、その先端側に太さ
0.5mm以下の金属線の複数本を網状に編成した網部
材を装着してもよい。また、前記基板ホルダーの基板の
受部を、直径2mm以下の金属棒とし、該金属棒を基板
ホルダーの透孔の開口縁に4個所以上装着してもよい。
また、前記基板ホルダーの基板の受部を、厚さ0.5m
m以下の金属薄板とし、該金属薄板を基板ホルダーの透
孔の開口縁に4個所以上装着してもよい。
【0013】
【作用】本発明の基板ホルダーは、基板と基板ホルダー
との接触部分は複数の点状であり、かつ基板と基板ホル
ダーの接触個所にスパッタ成膜中にスパッタ粒子が基板
の端縁側に回り込みやすいように一定の空隙を設けたも
のである。本発明の基板ホルダーを用いることにより、
基板と基板ホルダーとの接触部分の数が多いので、基板
の端縁と基板ホルダーとの接触確率が大きくなり、かつ
基板の端縁側にも金属膜が厚く回り込むので、点状の接
触部に流れる単位断面積あたりのバイアス電流が小さく
なり、基板の端縁に形成された金属膜が破壊されず、安
定してバイアスが印加することが出来、その結果磁気記
録体の保磁力を大幅に向上させることが出来る。
との接触部分は複数の点状であり、かつ基板と基板ホル
ダーの接触個所にスパッタ成膜中にスパッタ粒子が基板
の端縁側に回り込みやすいように一定の空隙を設けたも
のである。本発明の基板ホルダーを用いることにより、
基板と基板ホルダーとの接触部分の数が多いので、基板
の端縁と基板ホルダーとの接触確率が大きくなり、かつ
基板の端縁側にも金属膜が厚く回り込むので、点状の接
触部に流れる単位断面積あたりのバイアス電流が小さく
なり、基板の端縁に形成された金属膜が破壊されず、安
定してバイアスが印加することが出来、その結果磁気記
録体の保磁力を大幅に向上させることが出来る。
【0014】
【実施例】本発明を添付図面に従って説明する。
【0015】図1は非磁性基板の表面に例えばCo合金
磁性膜をスパッタ法で形成する際に用いるスパッタ装置
の1例を示すもので、図示例はトレイ搬送方式のスパッ
タ装置の模式図であり、該スパッタ装置はスパッタリン
グ室1、基板仕込室2、基板取出室2′から構成されて
おり、バルブ3、3′によりスパッタリング室1の両側
に基板仕込室2および基板取出室2′が夫々連通されて
おり、基板仕込室2からスパッタリング室1を経て基板
取出室2′へと基板ホルダー4に保持された基板5をキ
ャリアトレー6により搬送できるようにした。
磁性膜をスパッタ法で形成する際に用いるスパッタ装置
の1例を示すもので、図示例はトレイ搬送方式のスパッ
タ装置の模式図であり、該スパッタ装置はスパッタリン
グ室1、基板仕込室2、基板取出室2′から構成されて
おり、バルブ3、3′によりスパッタリング室1の両側
に基板仕込室2および基板取出室2′が夫々連通されて
おり、基板仕込室2からスパッタリング室1を経て基板
取出室2′へと基板ホルダー4に保持された基板5をキ
ャリアトレー6により搬送できるようにした。
【0016】スパッタリング室1内はバルブ7を介して
真空ポンプ等の真空排気系8に接続し、該真空排気系8
によってスパッタリング室1内の真空度を調整自在とす
ると共に、該スパッタリング室1内に連通されたガス導
入管9から例えばアルゴンガスのような不活性ガスをガ
ス量調節弁10でガス量を調整しながら導入出来るよう
にした。また、スパッタリング室1内には基板5の両面
に磁性膜を形成するための1対の下地膜用のCr−Xタ
ーゲット11、Co合金磁性膜用のCo−Ni−Cr合
金ターゲット12および保護膜用のCターゲット13が
夫々基板5の搬送路を挟んで対向して配設されており、
各ターゲットの背面にはターゲットをスパッタリングす
るためのDC(RF)マグネトロンカソード14或いは
DCマグネトロンカソード15を配設した。そして図示
していないがカソード14にはDC電源およびRF電源
を、また、カソード15にはDC電源を接続し、スパッ
タリング室1内でマグネトロンスパッタを行えるように
した。
真空ポンプ等の真空排気系8に接続し、該真空排気系8
によってスパッタリング室1内の真空度を調整自在とす
ると共に、該スパッタリング室1内に連通されたガス導
入管9から例えばアルゴンガスのような不活性ガスをガ
ス量調節弁10でガス量を調整しながら導入出来るよう
にした。また、スパッタリング室1内には基板5の両面
に磁性膜を形成するための1対の下地膜用のCr−Xタ
ーゲット11、Co合金磁性膜用のCo−Ni−Cr合
金ターゲット12および保護膜用のCターゲット13が
夫々基板5の搬送路を挟んで対向して配設されており、
各ターゲットの背面にはターゲットをスパッタリングす
るためのDC(RF)マグネトロンカソード14或いは
DCマグネトロンカソード15を配設した。そして図示
していないがカソード14にはDC電源およびRF電源
を、また、カソード15にはDC電源を接続し、スパッ
タリング室1内でマグネトロンスパッタを行えるように
した。
【0017】更に、Cr−Xターゲット11およびCo
−Ni−Cr合金ターゲット12をスパッタリングする
際に、基板ホルダー4を介して基板5にバイアス電圧を
印加出来るようにDCバイアス電源16が設けられてい
る。
−Ni−Cr合金ターゲット12をスパッタリングする
際に、基板ホルダー4を介して基板5にバイアス電圧を
印加出来るようにDCバイアス電源16が設けられてい
る。
【0018】また、基板仕込室2および基板取出室2′
内はバルブ17、17′を介して真空ポンプ等の真空排
気系18、18′に接続し、該真空排気系18、18′
によって夫々の室内の真空度を調整自在とした。
内はバルブ17、17′を介して真空ポンプ等の真空排
気系18、18′に接続し、該真空排気系18、18′
によって夫々の室内の真空度を調整自在とした。
【0019】尚、図中、19は基板5を加熱するための
スパッタリング室1内に配設されたヒーターである。
スパッタリング室1内に配設されたヒーターである。
【0020】前記構成の装置は従来の装置と特に変わり
はないが、本発明は基板を保持するための基板ホルダー
に特徴を有するものである。
はないが、本発明は基板を保持するための基板ホルダー
に特徴を有するものである。
【0021】次に、本発明の磁気記録体の製造装置の基
板ホルダーの具体的実施例を比較例と共に説明する。
板ホルダーの具体的実施例を比較例と共に説明する。
【0022】実施例1 本実施例は請求項1に記載の基板ホルダーの実施例であ
り、図2ないし図4は本実施例の基板ホルダーの1例を
示す。図中、4はステンレス材からなる板状の基板ホル
ダーであり、図示例では該基板ホルダー4に例えばガラ
ス製の基板5を9個保持出来るようにした。
り、図2ないし図4は本実施例の基板ホルダーの1例を
示す。図中、4はステンレス材からなる板状の基板ホル
ダーであり、図示例では該基板ホルダー4に例えばガラ
ス製の基板5を9個保持出来るようにした。
【0023】そして基板ホルダー4に基板5を着脱自在
とした大きさのほぼ円形状の透孔21を穿設し、該透孔
21の開口縁22の一部に透孔21の中心に向かって幅
1mm、長さ3mm の受部23を4個突設すると共に、各受
部23の間に少なくとも基板周方向の幅2mm 、基板径方
向の長さ3mm の櫛形状の空隙24を設けた。また、各受
部23の先端側を傾斜状に形成し、更に先端部分に凹溝
25を設け、該凹溝25で基板5の端縁26を保持出来
るようにした。
とした大きさのほぼ円形状の透孔21を穿設し、該透孔
21の開口縁22の一部に透孔21の中心に向かって幅
1mm、長さ3mm の受部23を4個突設すると共に、各受
部23の間に少なくとも基板周方向の幅2mm 、基板径方
向の長さ3mm の櫛形状の空隙24を設けた。また、各受
部23の先端側を傾斜状に形成し、更に先端部分に凹溝
25を設け、該凹溝25で基板5の端縁26を保持出来
るようにした。
【0024】そして、前記構成の基板ホルダー4の各透
孔21の受部23に夫々、直径34mmのガラス製の基板5
を保持せしめた後、図1に示すスパッタ装置を用い、ス
パッタリング室内にアルゴンガスを導入し、アルゴンガ
ス圧力を5mTorr、基板5を温度250 ℃に加熱した後、基
板5の表面にCr膜1000Å、Co−20at%Ni−10at%
Cr合金膜600 Å、C膜250 Åの順で成膜して基板表面
に磁性膜を備える磁気記録体を作成した。尚、Cr膜、
Co−Ni−Cr合金膜の成膜中に基板ホルダー4に−
300 Vのバイアス電圧を印加した。成膜後、スパッタ装
置内より磁気記録体を取出し、各磁気記録体を目視によ
る外観検査をおこなったところ、基板には異常は全く見
当たらなかった。また、磁気記録体の保持力を振動式磁
束計(VSM)で測定したところ、2010Oeであった。
孔21の受部23に夫々、直径34mmのガラス製の基板5
を保持せしめた後、図1に示すスパッタ装置を用い、ス
パッタリング室内にアルゴンガスを導入し、アルゴンガ
ス圧力を5mTorr、基板5を温度250 ℃に加熱した後、基
板5の表面にCr膜1000Å、Co−20at%Ni−10at%
Cr合金膜600 Å、C膜250 Åの順で成膜して基板表面
に磁性膜を備える磁気記録体を作成した。尚、Cr膜、
Co−Ni−Cr合金膜の成膜中に基板ホルダー4に−
300 Vのバイアス電圧を印加した。成膜後、スパッタ装
置内より磁気記録体を取出し、各磁気記録体を目視によ
る外観検査をおこなったところ、基板には異常は全く見
当たらなかった。また、磁気記録体の保持力を振動式磁
束計(VSM)で測定したところ、2010Oeであった。
【0025】本実施例の基板ホルダーのように基板の端
縁を保持する受部23を4個所以上とし、各受部23の
間に設ける空隙24の大きさを幅2mm 以上、長さ3mm 以
上とすることにより、作成された磁気記録体に高い保磁
力が得られることは、基板ホルダー4の受部23間に設
けられた空隙24よりスパッタ中に図3に矢印で示すよ
うにCr膜(スパッタ膜)の回り込みにより、基板の端
縁にも確実に回り込んでCr膜が形成されて導通が生
じ、その結果安定してバイアス電圧を印加出来たためで
あると考えられる。
縁を保持する受部23を4個所以上とし、各受部23の
間に設ける空隙24の大きさを幅2mm 以上、長さ3mm 以
上とすることにより、作成された磁気記録体に高い保磁
力が得られることは、基板ホルダー4の受部23間に設
けられた空隙24よりスパッタ中に図3に矢印で示すよ
うにCr膜(スパッタ膜)の回り込みにより、基板の端
縁にも確実に回り込んでCr膜が形成されて導通が生
じ、その結果安定してバイアス電圧を印加出来たためで
あると考えられる。
【0026】実施例2 本実施例は請求項2に記載の基板ホルダーの実施例であ
り、図5は本実施例の基板ホルダーの1例を示す。図5
では基板4に基板5を着脱自在とした大きさのほぼ円形
状の透孔31を穿設し、該透孔31の開口縁32の一部
に透孔31の中心に向かって先端の間隔が1mm であっ
て、長さ3mm の鋸歯形状の受部33を多数(図示例では
13個)を設けると共に、各受部33間に空隙34を設
けた。
り、図5は本実施例の基板ホルダーの1例を示す。図5
では基板4に基板5を着脱自在とした大きさのほぼ円形
状の透孔31を穿設し、該透孔31の開口縁32の一部
に透孔31の中心に向かって先端の間隔が1mm であっ
て、長さ3mm の鋸歯形状の受部33を多数(図示例では
13個)を設けると共に、各受部33間に空隙34を設
けた。
【0027】また、各受部33の先端部分に凹溝35を
設け、該凹溝35で基板5の端縁26を保持出来るよう
にした。また、他の符号については前記図2ないし図4
に示す基板ホルダーと同一構成のため説明を省略する。
設け、該凹溝35で基板5の端縁26を保持出来るよう
にした。また、他の符号については前記図2ないし図4
に示す基板ホルダーと同一構成のため説明を省略する。
【0028】そして、前記実施例1と同様の方法で基板
5の表面に磁性膜を備える磁気記録体を作成した。作成
された各磁気記録体を目視による外観検査をおこなった
ところ、基板には異常は全く見当たらなかった。また、
磁気記録体の保持力を振動式磁束計(VSM)で測定し
たところ、1980Oeであった。
5の表面に磁性膜を備える磁気記録体を作成した。作成
された各磁気記録体を目視による外観検査をおこなった
ところ、基板には異常は全く見当たらなかった。また、
磁気記録体の保持力を振動式磁束計(VSM)で測定し
たところ、1980Oeであった。
【0029】実施例3 本実施例は請求項3に記載の基板ホルダーの実施例であ
り、図6および図7は本実施例の基板ホルダー1例を示
す。図6および図7では、基板4に基板5を着脱自在と
した大きさのほぼ円形状の透孔41を穿設開口し、該透
孔41の開口縁42の一部に透孔41の中心に向かって
幅1mm 、長さ3mm の受部43を4個突設すると共に、各
受部43の間に少なくとも基板周方向の幅2mm 、基板径
方向の長さ3mmの空隙44を設けた。また、各受部43
の先端部分に太さ0.5mm のステンレス線を網状に編成し
た網部材45を固着した。
り、図6および図7は本実施例の基板ホルダー1例を示
す。図6および図7では、基板4に基板5を着脱自在と
した大きさのほぼ円形状の透孔41を穿設開口し、該透
孔41の開口縁42の一部に透孔41の中心に向かって
幅1mm 、長さ3mm の受部43を4個突設すると共に、各
受部43の間に少なくとも基板周方向の幅2mm 、基板径
方向の長さ3mmの空隙44を設けた。また、各受部43
の先端部分に太さ0.5mm のステンレス線を網状に編成し
た網部材45を固着した。
【0030】そして、各網部材45で基板5の端縁26
を保持するようにした。また、他の符号については前記
図2ないし図4に示す基板ホルダーと同一構成のため説
明を省略する。
を保持するようにした。また、他の符号については前記
図2ないし図4に示す基板ホルダーと同一構成のため説
明を省略する。
【0031】そして、前記実施例1と同様の方法で基板
5の表面に磁性膜を備えた磁気記録体を作成した。作成
された各磁気記録体を目視による外観検査をおこなった
ところ、基板には異常は全く見当たらなかった。また、
磁気記録体の保持力を振動式磁束計(VSM)で測定し
たところ、1950Oeであった。
5の表面に磁性膜を備えた磁気記録体を作成した。作成
された各磁気記録体を目視による外観検査をおこなった
ところ、基板には異常は全く見当たらなかった。また、
磁気記録体の保持力を振動式磁束計(VSM)で測定し
たところ、1950Oeであった。
【0032】実施例4 本実施例は請求項4に記載の基板ホルダーの実施例であ
り、図8および図9は本実施例の基板ホルダーの1例を
示す。図8および図9では、基板ホルダー4に基板5を
着脱自在とした大きさのほぼ円形状の透孔51を穿設開
口し、該透孔51の開口縁52の一部に透孔51の中心
に向かってステンレス製の太さ1.5mm 、長さ5mm の4 本
の金属棒53を少なくとも2mm 以上の間隔を開けて2mm
程度埋め込んで受部54を突設して、各受部54間に空
隙55を設けた。
り、図8および図9は本実施例の基板ホルダーの1例を
示す。図8および図9では、基板ホルダー4に基板5を
着脱自在とした大きさのほぼ円形状の透孔51を穿設開
口し、該透孔51の開口縁52の一部に透孔51の中心
に向かってステンレス製の太さ1.5mm 、長さ5mm の4 本
の金属棒53を少なくとも2mm 以上の間隔を開けて2mm
程度埋め込んで受部54を突設して、各受部54間に空
隙55を設けた。
【0033】また。各受部54の先端部分に凹溝56を
設け、該凹溝56で基板5の端縁26を保持出来るよう
にした。また、他の符号については前記図2ないし図4
に示す基板ホルダーと同一構成のため説明を省略する。
設け、該凹溝56で基板5の端縁26を保持出来るよう
にした。また、他の符号については前記図2ないし図4
に示す基板ホルダーと同一構成のため説明を省略する。
【0034】そして、前記実施例1と同様の方法で基板
5の表面に磁性膜を備えた磁気記録体を作成した。作成
された各磁気記録体を目視による外観検査をおこなった
ところ、基板には異常は全く見当たらなかった。また、
磁気記録体の保持力を振動式磁束計(VSM)で測定し
たところ、1960Oeであった。
5の表面に磁性膜を備えた磁気記録体を作成した。作成
された各磁気記録体を目視による外観検査をおこなった
ところ、基板には異常は全く見当たらなかった。また、
磁気記録体の保持力を振動式磁束計(VSM)で測定し
たところ、1960Oeであった。
【0035】実施例5 本実施例は請求項5に記載の基板ホルダーであり、図1
0および図11は本実施例の基板ホルダーの1例を示
す。図10および図11では、基板ホルダー4に基板5
を着脱自在とした大きさのほぼ円形状の透孔61を穿設
開口し、該透孔61の開口縁62の一部に透孔61の中
心に向かってステンレス製の幅2mm 、厚さ0.5mm の金属
板63から成る受部64を4個設けると共に、各受部6
4間に少なくとも基板周方向の幅2mm 以上であって、基
板径方向の長さ3mm の空隙65を設けた。
0および図11は本実施例の基板ホルダーの1例を示
す。図10および図11では、基板ホルダー4に基板5
を着脱自在とした大きさのほぼ円形状の透孔61を穿設
開口し、該透孔61の開口縁62の一部に透孔61の中
心に向かってステンレス製の幅2mm 、厚さ0.5mm の金属
板63から成る受部64を4個設けると共に、各受部6
4間に少なくとも基板周方向の幅2mm 以上であって、基
板径方向の長さ3mm の空隙65を設けた。
【0036】また、各受部64の先端部分に段差66を
設け、該段差66で基板5の端縁26を保持出来るよう
にした。
設け、該段差66で基板5の端縁26を保持出来るよう
にした。
【0037】また、他の符号については前記図2ないし
図4に示す基板ホルダーと同一構成のため説明を省略す
る。
図4に示す基板ホルダーと同一構成のため説明を省略す
る。
【0038】そして、前記実施例1と同様の方法で基板
5の表面に磁性膜を備えた磁気記録体を作成した。作成
された各磁気記録体を目視による外観検査をおこなった
ところ、基板には異常は全く見当たらなかった。また、
磁気記録体の保持力を振動式磁束計(VSM)で測定し
たところ、2010Oeであった。
5の表面に磁性膜を備えた磁気記録体を作成した。作成
された各磁気記録体を目視による外観検査をおこなった
ところ、基板には異常は全く見当たらなかった。また、
磁気記録体の保持力を振動式磁束計(VSM)で測定し
たところ、2010Oeであった。
【0039】比較例1 図12および図13は本発明の基板ホルダー(前記実施
例1)と比較するための基板ホルダーを示す。図12お
よび図13では、基板ホルダーaに基板bを着脱自在と
した大きさのほぼ円形状の透孔cを穿設開口し、該透孔
cの開口縁dの一部に透孔cの中心に向かって長さ2mm
の受部eを4個突設すると共に、各受部e間に幅1mm 、
長さ2mm の空隙fを設けた。
例1)と比較するための基板ホルダーを示す。図12お
よび図13では、基板ホルダーaに基板bを着脱自在と
した大きさのほぼ円形状の透孔cを穿設開口し、該透孔
cの開口縁dの一部に透孔cの中心に向かって長さ2mm
の受部eを4個突設すると共に、各受部e間に幅1mm 、
長さ2mm の空隙fを設けた。
【0040】また、各受部eの先端側を傾斜状に形成
し、更に先端部分に凹溝gを設け、該凹溝gで基板bの
端縁hを保持出来るようにした。
し、更に先端部分に凹溝gを設け、該凹溝gで基板bの
端縁hを保持出来るようにした。
【0041】そして、前記実施例1と同様の方法で基板
bの表面に磁性膜を備えた磁気記録体を作成した。作成
された各磁気記録体を目視による外観検査をおこなった
ところ、基板ホルダーaの受部eと接触していた基板b
部分に長さ7mm 程度の異常放電によって生じた痕跡が2
個所、更に長さ 1〜2mm 程度の痕跡が数個所見当たり、
また、基板b表面に形成された磁性膜(スパッタ膜)の
一部がミクロ的ではあるが剥離していた。また、磁気記
録体の保持力を振動式磁束計(VSM)で測定したとこ
ろ、1530Oeであった。
bの表面に磁性膜を備えた磁気記録体を作成した。作成
された各磁気記録体を目視による外観検査をおこなった
ところ、基板ホルダーaの受部eと接触していた基板b
部分に長さ7mm 程度の異常放電によって生じた痕跡が2
個所、更に長さ 1〜2mm 程度の痕跡が数個所見当たり、
また、基板b表面に形成された磁性膜(スパッタ膜)の
一部がミクロ的ではあるが剥離していた。また、磁気記
録体の保持力を振動式磁束計(VSM)で測定したとこ
ろ、1530Oeであった。
【0042】比較例2 基板を保持する基板ホルダーの受部を幅1mm 、長さ4mm
の2個とし、2個所の受部間に基板周囲方向に幅3mm 、
基板径方向に長さ4mm の空隙を設けた以外は実施例1と
同様の構成とした。
の2個とし、2個所の受部間に基板周囲方向に幅3mm 、
基板径方向に長さ4mm の空隙を設けた以外は実施例1と
同様の構成とした。
【0043】そして、前記実施例1と同様の方法で基板
の表面に磁性膜を備えた磁気記録体を作成した。作成さ
れた各磁気記録体を目視による外観検査をおこなったと
ころ、基板ホルダーの受部と接触していた基板部分に長
さ 2〜3mm 程度の異常放電によって生じた痕跡が数個所
見当たった。また、磁気記録体の保持力を振動式磁束計
(VSM)で測定したところ、1490Oeであった。
の表面に磁性膜を備えた磁気記録体を作成した。作成さ
れた各磁気記録体を目視による外観検査をおこなったと
ころ、基板ホルダーの受部と接触していた基板部分に長
さ 2〜3mm 程度の異常放電によって生じた痕跡が数個所
見当たった。また、磁気記録体の保持力を振動式磁束計
(VSM)で測定したところ、1490Oeであった。
【0044】前記実施例と比較例の結果から明らかなよ
うに、本発明の実施例では、基板ホルダーと基板の接触
部分は複数の点状であり、接触部分の周りに充分な空隙
が形成されているので、スパッタ時に金属膜(スパッタ
膜)が基板の端縁にも回り込みやすいため、基板が例え
ばガラス材のような絶縁体であっても、基板表面だけで
はなく基板の端縁にも充分な膜厚の金属膜が形成され、
金属膜が破壊されることなく基板ホルダーを介して基板
にバイアス電圧を印加出来るようになり、その結果合金
磁性膜に損傷を与えずに、保磁力を増加させた合金磁性
膜を備える磁気記録体を製造することが出来ることが確
認された。
うに、本発明の実施例では、基板ホルダーと基板の接触
部分は複数の点状であり、接触部分の周りに充分な空隙
が形成されているので、スパッタ時に金属膜(スパッタ
膜)が基板の端縁にも回り込みやすいため、基板が例え
ばガラス材のような絶縁体であっても、基板表面だけで
はなく基板の端縁にも充分な膜厚の金属膜が形成され、
金属膜が破壊されることなく基板ホルダーを介して基板
にバイアス電圧を印加出来るようになり、その結果合金
磁性膜に損傷を与えずに、保磁力を増加させた合金磁性
膜を備える磁気記録体を製造することが出来ることが確
認された。
【0045】これに対し、比較例1の基板ホルダーを用
いた場合は、受部は4個あるが基板ホルダーと基板の接
触部分が多く、受部間の空隙が狭いためスパッタ膜が基
板の端縁に回り込みにくく、その結果、基板が絶縁体の
場合はその表面に金属膜が形成されても、基板ホルダー
に接触する基板の端縁は依然として絶縁状態のままであ
るか、もしくはごく薄い金属膜しか形成されないので、
金属膜の抵抗が高く、絶縁破壊やアーキングを起こし、
基板ホルダーとの接触部分近傍の金属膜が破壊され、安
定してバイアス電圧を印加出来ないため、磁気記録体の
保磁力を増加させることが出来ない。
いた場合は、受部は4個あるが基板ホルダーと基板の接
触部分が多く、受部間の空隙が狭いためスパッタ膜が基
板の端縁に回り込みにくく、その結果、基板が絶縁体の
場合はその表面に金属膜が形成されても、基板ホルダー
に接触する基板の端縁は依然として絶縁状態のままであ
るか、もしくはごく薄い金属膜しか形成されないので、
金属膜の抵抗が高く、絶縁破壊やアーキングを起こし、
基板ホルダーとの接触部分近傍の金属膜が破壊され、安
定してバイアス電圧を印加出来ないため、磁気記録体の
保磁力を増加させることが出来ない。
【0046】また、比較例2の基板ホルダーを用いた場
合は、基板ホルダーと基板の接触点数が少ないため、基
板端縁と基板ホルダーとの接触において電気的に安定し
て短絡する確率は小さく、その結果、時々接触点におい
てアーキング等の異常放電が生じ、金属膜を破壊して安
定してバイアスがかからないため、磁気記録体の保磁力
を増加させることが出来ない。
合は、基板ホルダーと基板の接触点数が少ないため、基
板端縁と基板ホルダーとの接触において電気的に安定し
て短絡する確率は小さく、その結果、時々接触点におい
てアーキング等の異常放電が生じ、金属膜を破壊して安
定してバイアスがかからないため、磁気記録体の保磁力
を増加させることが出来ない。
【0047】前記実施例では基板を保持する受部が形成
された透孔の形状は基板を着脱自在とし得る形状であれ
ばよく、円形状に限定されるものではない。
された透孔の形状は基板を着脱自在とし得る形状であれ
ばよく、円形状に限定されるものではない。
【0048】また、前記実施例ではCr膜を下地膜と
し、その上にCo合金膜を連続して形成する面内記録型
のハードディスク媒体の製造に用いたが、基板にバイア
ス電圧を印加することにより磁性特性が向上する例えば
Cr下地膜を設けない垂直記録媒体についても絶縁性基
板を用いる場合に同様に適用することが出来る。
し、その上にCo合金膜を連続して形成する面内記録型
のハードディスク媒体の製造に用いたが、基板にバイア
ス電圧を印加することにより磁性特性が向上する例えば
Cr下地膜を設けない垂直記録媒体についても絶縁性基
板を用いる場合に同様に適用することが出来る。
【0049】また、前記実施例では基板の端縁を保持す
る個所が基板外周縁としたが、本発明はこれに限定され
るものではなく、同様の原理で基板内周縁を保持しても
よい。
る個所が基板外周縁としたが、本発明はこれに限定され
るものではなく、同様の原理で基板内周縁を保持しても
よい。
【0050】また、基板により安定にバイアス電圧を印
加するために、基板表面に下地のCr膜を形成する初期
段階では基板ホルダーに印加せずに、基板の端縁にCr
膜がある程度充分な膜厚として回り込みが得られた時点
で、基板ホルダーにバイアス電圧を印加するようにして
もよい。
加するために、基板表面に下地のCr膜を形成する初期
段階では基板ホルダーに印加せずに、基板の端縁にCr
膜がある程度充分な膜厚として回り込みが得られた時点
で、基板ホルダーにバイアス電圧を印加するようにして
もよい。
【0051】
【発明の効果】本発明の基板ホルダーによるときは、磁
気記録体の製造装置における非磁性基板を保持し、基板
ホルダーを介して基板にバイアス電圧を印加する際、基
板ホルダーの基板の受部周辺に充分な多数の点接触と、
点接触周囲の基板の端縁にも基板表面に堆積する金属膜
が回り込みやすいように充分な空隙を備えた基板ホルダ
ーを用いるようにしたので、基板が絶縁性の非磁性基板
であっても基板にバイアス電圧を印加することが出来
て、保磁力の向上した磁気記録体を極めて容易に製造す
ることが出来る効果がある。
気記録体の製造装置における非磁性基板を保持し、基板
ホルダーを介して基板にバイアス電圧を印加する際、基
板ホルダーの基板の受部周辺に充分な多数の点接触と、
点接触周囲の基板の端縁にも基板表面に堆積する金属膜
が回り込みやすいように充分な空隙を備えた基板ホルダ
ーを用いるようにしたので、基板が絶縁性の非磁性基板
であっても基板にバイアス電圧を印加することが出来
て、保磁力の向上した磁気記録体を極めて容易に製造す
ることが出来る効果がある。
【図1】 本発明の基板ホルダーを用いたスパッタ装置
の1例の模式図、(A)はその正面断面図、(B)はそ
の側面断面図、
の1例の模式図、(A)はその正面断面図、(B)はそ
の側面断面図、
【図2】 本発明の基板ホルダーの1例を示す全体説明
図、
図、
【図3】 本発明の基板ホルダーの受部の拡大平面図、
【図4】 図3のIV−IV線の截断面図、
【図5】 本発明の基板ホルダーの他の実施例の受部の
拡大平面図、
拡大平面図、
【図6】 本発明の基板ホルダーの更に他の実施例の受
部の拡大平面図、
部の拡大平面図、
【図7】 図6のVII−VII線の截断面図、
【図8】 本発明の基板ホルダーの変形例の実施例の受
部の拡大平面図、
部の拡大平面図、
【図9】 図8のIX−IX線の截断面図、
【図10】 本発明の基板ホルダーの他の変形例の受部
の拡大平面図、
の拡大平面図、
【図11】 図10のXI−XI線截断面図、
【図12】 比較例の基板ホルダーの受部の拡大平面
図、
図、
【図13】 図12のXIII−XIII線截断面図、
【図14】 従来の基板ホルダーの全体説明図、
【図15】 従来の基板ホルダーの受部の拡大平面図、
【図16】 図15のXVI−XVI線の拡大截断面
図、
図、
【図17】 図16の要部の拡大図。
4 基板ホルダー、 5 基板、21,31,4
1,51,61 透孔、22,32,42,52,6
2 開口縁、23,33,43,54,64 受
部、24,34,44,55,65 空隙、26
基板の端縁、 44 網部材、53 金属棒、
63 金属薄板。
1,51,61 透孔、22,32,42,52,6
2 開口縁、23,33,43,54,64 受
部、24,34,44,55,65 空隙、26
基板の端縁、 44 網部材、53 金属棒、
63 金属薄板。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 郁生 千葉県山武郡山武町横田523 日本真空技 術株式会社千葉超材料研究所内 (72)発明者 白 忠烈 千葉県山武郡山武町横田523 日本真空技 術株式会社千葉超材料研究所内
Claims (5)
- 【請求項1】 スパッタ法により非磁性基板上に5at%
以上のCrを含有するCo合金磁性膜を形成して成る磁
気記録体の製造装置であって、該装置の非磁性基板を支
持する基板ホルダーを通して基板に直流のバイアス電圧
を印加する磁気記録体の製造装置の基板ホルダーにおい
て、前記基板ホルダーの非磁性基板を保持する基板の受
部は基板ホルダーに開口された透孔であって、該透孔の
開口縁と基板の端縁の接触が4個所以上で、かつ該受部
間に幅2mm以上で長さ3mm以上の櫛形状の空隙を有
することを特徴とする磁気記録体の製造装置の基板ホル
ダー。 - 【請求項2】 前記基板ホルダーの基板の受部は、先端
間隔が1mm以上の鋸歯形状であることを特徴とする請
求項1に記載の磁気記録体の製造装置の基板ホルダー。 - 【請求項3】 前記基板ホルダーの基板の受部は、その
先端側に太さ0.5mm以下の金属線の複数本を網状に
編成した網部材を装着したことを特徴とする請求項1に
記載の磁気記録体の製造装置の基板ホルダー。 - 【請求項4】 前記基板ホルダーの基板の受部は、直径
2mm以下の金属棒であって、かつ該金属棒が基板ホル
ダーの透孔の開口縁に4個所以上装着されていることを
特徴とする請求項1に記載の磁気記録体の製造装置の基
板ホルダー。 - 【請求項5】 前記基板ホルダーの基板の受部は、厚さ
0.5mm以下の金属薄板であって、かつ該金属薄板が
基板ホルダーの透孔の開口縁に4個所以上装着されてい
ることを特徴とする請求項1に記載の磁気記録体の製造
装置の基板ホルダー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5576593A JPH06264237A (ja) | 1993-03-16 | 1993-03-16 | 磁気記録体の製造装置の基板ホルダー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5576593A JPH06264237A (ja) | 1993-03-16 | 1993-03-16 | 磁気記録体の製造装置の基板ホルダー |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06264237A true JPH06264237A (ja) | 1994-09-20 |
Family
ID=13007958
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5576593A Pending JPH06264237A (ja) | 1993-03-16 | 1993-03-16 | 磁気記録体の製造装置の基板ホルダー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06264237A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006216216A (ja) * | 2005-01-07 | 2006-08-17 | Fujitsu Ltd | 磁気ディスク、その製造方法および磁気記憶装置 |
| WO2007114190A1 (ja) * | 2006-03-30 | 2007-10-11 | Hoya Corporation | 成膜装置及び磁気ディスクの製造方法 |
| US20100072056A1 (en) * | 2008-09-25 | 2010-03-25 | Seagate Technology Llc | Substrate holders for uniform reactive sputtering |
-
1993
- 1993-03-16 JP JP5576593A patent/JPH06264237A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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