JPH06273273A - ラマン散乱光を表示する光パルス試験器 - Google Patents
ラマン散乱光を表示する光パルス試験器Info
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- JPH06273273A JPH06273273A JP5057495A JP5749593A JPH06273273A JP H06273273 A JPH06273273 A JP H06273273A JP 5057495 A JP5057495 A JP 5057495A JP 5749593 A JP5749593 A JP 5749593A JP H06273273 A JPH06273273 A JP H06273273A
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- JP
- Japan
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- optical fiber
- light
- scattered light
- wavelength
- raman scattered
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3145—Details of the optoelectronics or data analysis
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 光ファイバ１０の近端測定の際、フレネル反
射光１３による影響を受けないようにする。 【構成】 波長λａの光パルス１１を方向性結合器２か
ら分波合波器６を通って光ファイバ１０に入射する。光
ファイバ１０からの戻り光１２のうち波長λａのフレネ
ル反射光１３とレイリー散乱光１４を方向性結合器２で
分岐し、光ファイバ１０からの戻り光１２のうち波長λ
ｂのラマン散乱光１５を分波合波器６で分波する。光フ
ァイバ１０が長いときはレイリー散乱光１４で光ファイ
バ１０の特性を表示し、光ファイバ１０の近端部分を表
示するときはラマン散乱光１５により光ファイバ１０の
特性を表示する。
射光１３による影響を受けないようにする。 【構成】 波長λａの光パルス１１を方向性結合器２か
ら分波合波器６を通って光ファイバ１０に入射する。光
ファイバ１０からの戻り光１２のうち波長λａのフレネ
ル反射光１３とレイリー散乱光１４を方向性結合器２で
分岐し、光ファイバ１０からの戻り光１２のうち波長λ
ｂのラマン散乱光１５を分波合波器６で分波する。光フ
ァイバ１０が長いときはレイリー散乱光１４で光ファイ
バ１０の特性を表示し、光ファイバ１０の近端部分を表
示するときはラマン散乱光１５により光ファイバ１０の
特性を表示する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、光ファイバに光パル
スを入射し、光ファイバからの戻り光の中からラマン散
乱光を分波して表示することにより光ファイバの近端部
分やコネクタ接続点のフレネル反射光による影響を受け
ない光パルス試験器についてのものである。
スを入射し、光ファイバからの戻り光の中からラマン散
乱光を分波して表示することにより光ファイバの近端部
分やコネクタ接続点のフレネル反射光による影響を受け
ない光パルス試験器についてのものである。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来技術による光パルス試験器の
構成を図３により説明する。図３の１は波長λａの光パ
ルス１１を出射する光パルス発生器、２は方向性結合
器、３は受光器、４は増幅器、５は表示器、１０は測定
される光ファイバである。
構成を図３により説明する。図３の１は波長λａの光パ
ルス１１を出射する光パルス発生器、２は方向性結合
器、３は受光器、４は増幅器、５は表示器、１０は測定
される光ファイバである。
【０００３】光パルス発生器１からの波長λａの光パル
ス１１は方向性結合器２を通り光ファイバ１０に入射さ
れる。光パルス１１は光ファイバ１０内でレイリー散乱
光１４やラマン散乱光１５を発生しながら進行し、散乱
光の一部は後方散乱光として入射側に戻ってくる。
ス１１は方向性結合器２を通り光ファイバ１０に入射さ
れる。光パルス１１は光ファイバ１０内でレイリー散乱
光１４やラマン散乱光１５を発生しながら進行し、散乱
光の一部は後方散乱光として入射側に戻ってくる。
【０００４】光ファイバ１０からの戻り光１２は方向性
結合器２で分岐され受光器３で受光される。受光器３は
戻り光１２の中のフレネル反射光１３とレイリー散乱光
１４を検出し、受光器３の出力は増幅器４で増幅され
る。増幅器４の出力は表示器５で表示される。
結合器２で分岐され受光器３で受光される。受光器３は
戻り光１２の中のフレネル反射光１３とレイリー散乱光
１４を検出し、受光器３の出力は増幅器４で増幅され
る。増幅器４の出力は表示器５で表示される。
【０００５】次に、図３による表示波形の一例を図４に
より説明する。図４は光ファイバ１０Ａと光ファイバ１
０Ｂを接続した場合の光ファイバ１０Ａ・１０Ｂの特性
波形図であり、縦軸は光ファイバ１０Ａ・１０Ｂの損失
を示し、横軸は距離を示す。縦軸は例えばフルスケール
で40ｄＢである。
より説明する。図４は光ファイバ１０Ａと光ファイバ１
０Ｂを接続した場合の光ファイバ１０Ａ・１０Ｂの特性
波形図であり、縦軸は光ファイバ１０Ａ・１０Ｂの損失
を示し、横軸は距離を示す。縦軸は例えばフルスケール
で40ｄＢである。
【０００６】図４では光ファイバ１０Ａの入射端でフレ
ネル反射光１３Ａが表示され、続いて横軸に対して指数
関数的に減少するレイリー散乱光が対数変換された直線
１４Ａが表示される。光ファイバ１０Ａ・１０Ｂの接続
点ではフレネル反射光１３Ｂが表示され、続いてレイリ
ー散乱光１４Ｂが表示される。光ファイバ１０Ｂの出射
端ではフレネル反射光１３Ｃが表示され、それ以降は雑
音領域になる。
ネル反射光１３Ａが表示され、続いて横軸に対して指数
関数的に減少するレイリー散乱光が対数変換された直線
１４Ａが表示される。光ファイバ１０Ａ・１０Ｂの接続
点ではフレネル反射光１３Ｂが表示され、続いてレイリ
ー散乱光１４Ｂが表示される。光ファイバ１０Ｂの出射
端ではフレネル反射光１３Ｃが表示され、それ以降は雑
音領域になる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】図４のフレネル反射光
１３Ａ・１３Ｂ・１３Ｃとレイリー散乱光１４Ａ・１４
Ｂは光パルス１１と同じ波長であり、レイリー散乱光１
４Ａ・１４Ｂを測定しようとすると、フレネル反射光は
レイリー散乱光に比べて数桁大きいので、フレネル反射
光１３Ａ・１３Ｂ・１３Ｃは、図３の増幅器４で過飽和
になることがある。
１３Ａ・１３Ｂ・１３Ｃとレイリー散乱光１４Ａ・１４
Ｂは光パルス１１と同じ波長であり、レイリー散乱光１
４Ａ・１４Ｂを測定しようとすると、フレネル反射光は
レイリー散乱光に比べて数桁大きいので、フレネル反射
光１３Ａ・１３Ｂ・１３Ｃは、図３の増幅器４で過飽和
になることがある。
【０００８】増幅器４が過飽和状態になると、回路が安
定状態になるまで不感領域が生じる。不感領域では光フ
ァイバ１０Ａ・１０Ｂの状態が不明の部分が一定時間の
幅で生じる。図４の２１・２２がフレネル反射光１３Ａ
・１３Ｂによる不感領域である。不感領域２１・２２の
部分では正確に光ファイバ１０Ａ・１０Ｂの近端部分の
状態を測定することができない。
定状態になるまで不感領域が生じる。不感領域では光フ
ァイバ１０Ａ・１０Ｂの状態が不明の部分が一定時間の
幅で生じる。図４の２１・２２がフレネル反射光１３Ａ
・１３Ｂによる不感領域である。不感領域２１・２２の
部分では正確に光ファイバ１０Ａ・１０Ｂの近端部分の
状態を測定することができない。
【０００９】図３の方向性結合器２と受光器３の間に高
速で動作する光スイッチを挿入し、フレネル反射光を受
光器３に入射しないようにし、回路を過飽和にさせない
ようにすることができるが、光スイッチの切換速度およ
びパルス幅に相当する時間は測定不能のため、不感領域
をなくす事はできない。不感領域を小さくするために、
光パルス１１を短パルスにしたり、回路の応答速度を改
善したりしている。
速で動作する光スイッチを挿入し、フレネル反射光を受
光器３に入射しないようにし、回路を過飽和にさせない
ようにすることができるが、光スイッチの切換速度およ
びパルス幅に相当する時間は測定不能のため、不感領域
をなくす事はできない。不感領域を小さくするために、
光パルス１１を短パルスにしたり、回路の応答速度を改
善したりしている。
【００１０】この発明は、波長λａの光パルス１１を光
ファイバ１０に入射し、光ファイバ１０からの戻り光１
２の中から波長λａのレイリー散乱光１４を方向性結合
器２で取り出し、波長λｂのラマン散乱光を分波合波器
６で取り出すことにより、光ファイバ１０の長距離測定
や損失を正確に測定したいときにはレイリー散乱光１４
を利用し、光ファイバ１０の近端測定およびコネクタ接
続点を不感領域なしで測定したいときにはラマン散乱光
を利用し、光ファイバ１０の近端測定およびコネクタ接
続点の測定の際、フレネル反射光による影響を受けない
光パルス試験器の提供を目的とする。
ファイバ１０に入射し、光ファイバ１０からの戻り光１
２の中から波長λａのレイリー散乱光１４を方向性結合
器２で取り出し、波長λｂのラマン散乱光を分波合波器
６で取り出すことにより、光ファイバ１０の長距離測定
や損失を正確に測定したいときにはレイリー散乱光１４
を利用し、光ファイバ１０の近端測定およびコネクタ接
続点を不感領域なしで測定したいときにはラマン散乱光
を利用し、光ファイバ１０の近端測定およびコネクタ接
続点の測定の際、フレネル反射光による影響を受けない
光パルス試験器の提供を目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、この発明では、波長λａの光パルス１１を方向性結
合器２から分波合波器６を通って光ファイバ１０に入射
し、光ファイバ１０からの戻り光１２のうち波長λａの
フレネル反射光１３とレイリー散乱光１４を方向性結合
器２で分岐し、光ファイバ１０からの戻り光１２のうち
波長λａと波長が違う波長λｂのラマン散乱光１５を分
波合波器６で分波し、光ファイバ１０が長いときあるい
は損失を正確に測定したいときはレイリー散乱光１４で
光ファイバ１０の特性を表示し、光ファイバ１０の近端
部分やコネクタ接続点を不感領域なしで表示するときは
ラマン散乱光１５で光ファイバ１０の特性を表示する。
に、この発明では、波長λａの光パルス１１を方向性結
合器２から分波合波器６を通って光ファイバ１０に入射
し、光ファイバ１０からの戻り光１２のうち波長λａの
フレネル反射光１３とレイリー散乱光１４を方向性結合
器２で分岐し、光ファイバ１０からの戻り光１２のうち
波長λａと波長が違う波長λｂのラマン散乱光１５を分
波合波器６で分波し、光ファイバ１０が長いときあるい
は損失を正確に測定したいときはレイリー散乱光１４で
光ファイバ１０の特性を表示し、光ファイバ１０の近端
部分やコネクタ接続点を不感領域なしで表示するときは
ラマン散乱光１５で光ファイバ１０の特性を表示する。
【００１２】
【作用】次に、この発明による光パルス試験器の構成を
図１により説明する。図１の６は分波合波器、７は受光
器、８は増幅器、９は切換器であり、その他は図３と同
じものである。すなわち、図１は図３に分波合波器６、
受光器７、増幅器８及び切換器９を追加したものであ
る。図１では、光パルス発生器１からの波長λａの光パ
ルス１１が方向性結合器２と分波合波器６を通って光フ
ァイバ１０に出射される。
図１により説明する。図１の６は分波合波器、７は受光
器、８は増幅器、９は切換器であり、その他は図３と同
じものである。すなわち、図１は図３に分波合波器６、
受光器７、増幅器８及び切換器９を追加したものであ
る。図１では、光パルス発生器１からの波長λａの光パ
ルス１１が方向性結合器２と分波合波器６を通って光フ
ァイバ１０に出射される。
【００１３】光ファイバ１０内では波長λａのレイリー
散乱光１４と同時に、波長λｂのラマン散乱光１５が発
生する。また、コネクタ接続点等ではフレネル反射光１
３が発生する。フレネル反射光１３とレイリー散乱光１
４は光パルス１１と同じ波長λａであるが、ラマン散乱
光１５の波長λｂは光パルス１１の波長λａと異なる。
例えば光パルス１１の波長λａが1.55μｍのとき、ラマ
ン散乱光１５の波長λｂは1.65μｍである。
散乱光１４と同時に、波長λｂのラマン散乱光１５が発
生する。また、コネクタ接続点等ではフレネル反射光１
３が発生する。フレネル反射光１３とレイリー散乱光１
４は光パルス１１と同じ波長λａであるが、ラマン散乱
光１５の波長λｂは光パルス１１の波長λａと異なる。
例えば光パルス１１の波長λａが1.55μｍのとき、ラマ
ン散乱光１５の波長λｂは1.65μｍである。
【００１４】ラマン散乱光１５は、フレネル反射光１３
やレイリー散乱光１４に比較し、レベルが約２〜３桁低
い。分波合波器６は方向性結合器２と光ファイバ１０の
間に配置され、波長λｂのラマン散乱光１５を分波して
取り出し、受光器７に導く。分波合波器６の波長選択性
により、受光器７にはフレネル反射光１３は入射されな
い。戻り光１２のうち波長λａのフレネル反射光１３と
レイリー散乱光１４は方向性結合器２で分岐され受光器
３に入る。
やレイリー散乱光１４に比較し、レベルが約２〜３桁低
い。分波合波器６は方向性結合器２と光ファイバ１０の
間に配置され、波長λｂのラマン散乱光１５を分波して
取り出し、受光器７に導く。分波合波器６の波長選択性
により、受光器７にはフレネル反射光１３は入射されな
い。戻り光１２のうち波長λａのフレネル反射光１３と
レイリー散乱光１４は方向性結合器２で分岐され受光器
３に入る。
【００１５】受光器３・７に入射された光は、それぞれ
増幅器４・８で必要なレベルまで増幅される。切換器９
は受光器３からのレイリー散乱光１４と受光器７からの
ラマン散乱光１５を選択して取り出す。長距離測定およ
び損失を正確に測定する場合は、受光器３の出力を選択
し、近端部分およびコネクタ接続点の不感領域測定の場
合は、受光器７の出力を選択する。切換器９の出力は表
示器５に導かれる。
増幅器４・８で必要なレベルまで増幅される。切換器９
は受光器３からのレイリー散乱光１４と受光器７からの
ラマン散乱光１５を選択して取り出す。長距離測定およ
び損失を正確に測定する場合は、受光器３の出力を選択
し、近端部分およびコネクタ接続点の不感領域測定の場
合は、受光器７の出力を選択する。切換器９の出力は表
示器５に導かれる。
【００１６】次に、図１の表示波形の一例を図２により
説明する。図２はラマン散乱光１５による損失波形であ
り、縦軸・横軸及び光ファイバ１０Ａ・１０Ｂの構成は
図４と同じとする。図２では、光ファイバ１０Ａの入射
端で光パルス幅に相当する不感領域２３が生じ、続い
て、時間軸に対して指数関数的に減少していくラマン散
乱光の対数変換された直線１５Ａが表示される。光ファ
イバ１０Ａと光ファイバ１０Ｂの接続点では光パルス幅
に相当する不感領域２３が表示され、再びラマン散乱光
１５Ｂが表示され、光ファイバ１０Ｂの出射端で雑音領
域になる。
説明する。図２はラマン散乱光１５による損失波形であ
り、縦軸・横軸及び光ファイバ１０Ａ・１０Ｂの構成は
図４と同じとする。図２では、光ファイバ１０Ａの入射
端で光パルス幅に相当する不感領域２３が生じ、続い
て、時間軸に対して指数関数的に減少していくラマン散
乱光の対数変換された直線１５Ａが表示される。光ファ
イバ１０Ａと光ファイバ１０Ｂの接続点では光パルス幅
に相当する不感領域２３が表示され、再びラマン散乱光
１５Ｂが表示され、光ファイバ１０Ｂの出射端で雑音領
域になる。
【００１７】図２と図４を比較すると、図４のフレネル
反射光１３Ａ・１３Ｂ・１３Ｃが図２では消えている。
すなわち、ラマン散乱光１５Ａ・Ｂとフレネル反射光１
３Ａ・１３Ｂ・１３Ｃとは波長が違うので、図１の分波
合波器６でラマン散乱光１５は取り出されるが、フレネ
ル反射光１３Ａ・１３Ｂ・１３Ｃは取り出されないため
である。ラマン散乱光１５を表示した図２ではフレネル
反射光１３による不感領域２１・２２の悪化がない。
反射光１３Ａ・１３Ｂ・１３Ｃが図２では消えている。
すなわち、ラマン散乱光１５Ａ・Ｂとフレネル反射光１
３Ａ・１３Ｂ・１３Ｃとは波長が違うので、図１の分波
合波器６でラマン散乱光１５は取り出されるが、フレネ
ル反射光１３Ａ・１３Ｂ・１３Ｃは取り出されないため
である。ラマン散乱光１５を表示した図２ではフレネル
反射光１３による不感領域２１・２２の悪化がない。
【００１８】
【発明の効果】この発明によれば、波長λａの光パルス
を光ファイバに入射し、光ファイバからの戻り光の中か
ら波長λａのレイリー散乱光を方向性結合器で取り出
し、波長λｂのラマン散乱光を分波合波器で取り出すの
で、光ファイバの長距離測定および損失を正確に測定す
る場合にはレイリー散乱光１４を利用することができ、
光ファイバ１０の近端およびコネクタ接続点の不感領域
の測定にはラマン散乱光を利用することができる。光フ
ァイバの近端測定の際、フレネル反射光による影響をな
くすことができる。
を光ファイバに入射し、光ファイバからの戻り光の中か
ら波長λａのレイリー散乱光を方向性結合器で取り出
し、波長λｂのラマン散乱光を分波合波器で取り出すの
で、光ファイバの長距離測定および損失を正確に測定す
る場合にはレイリー散乱光１４を利用することができ、
光ファイバ１０の近端およびコネクタ接続点の不感領域
の測定にはラマン散乱光を利用することができる。光フ
ァイバの近端測定の際、フレネル反射光による影響をな
くすことができる。
【図１】この発明による光パルス試験器の構成図であ
る。
る。
【図２】図１による表示波形の一例を示す図である。
【図３】従来技術による光パルス試験器の構成図であ
る。
る。
【図４】図３による表示波形の一例を示す図である。
１ 光パルス発生器 ２ 方向性結合器 ３ 受光器 ４ 増幅器 ５ 表示器 ６ 分波合波器 ７ 受光器 ８ 増幅器 ９ 切換器 １０ 光ファイバ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 俊哉 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社 (72)発明者 堀口 常雄 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社
Claims (1)
- 【請求項１】 波長λａの光パルス(11)を方向性結合器
(2) から分波合波器(6) を通って光ファイバ(10)に入射
し、 光ファイバ(10)からの戻り光(12)のうち波長λａのフレ
ネル反射光(13)とレイリー散乱光(14)を方向性結合器
(2) で分岐し、 光ファイバ(10)からの戻り光(12)のうち波長λａと波長
が違う波長λｂのラマン散乱光(15)を分波合波器(6) で
分波し、 光ファイバ(10)が長いときあるいは損失を正確に測定し
たいときはレイリー散乱光(14)で光ファイバ(10)の特性
を表示し、 光ファイバ(10)の近端部分およびコネクタ接続点を不感
領域なしで表示するときはラマン散乱光(15)で光ファイ
バ(10)の特性を表示することを特徴とするラマン散乱光
を表示する光パルス試験器。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5057495A JPH06273273A (ja) | 1993-03-17 | 1993-03-17 | ラマン散乱光を表示する光パルス試験器 |
| ITMI940490A IT1271753B (it) | 1993-03-17 | 1994-03-16 | Dispositivo di misura di impulsi ottici in grado di visualizzazione luce diffusa di raman |
| DE4408977A DE4408977C2 (de) | 1993-03-17 | 1994-03-16 | Optisches Impulsreflektometer zur Anzeige von Ramanstreulicht |
| US08/213,578 US5390018A (en) | 1993-03-17 | 1994-03-16 | Optical pulse tester capable of displaying Raman or Rayleigh scattered light |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5057495A JPH06273273A (ja) | 1993-03-17 | 1993-03-17 | ラマン散乱光を表示する光パルス試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06273273A true JPH06273273A (ja) | 1994-09-30 |
Family
ID=13057311
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5057495A Pending JPH06273273A (ja) | 1993-03-17 | 1993-03-17 | ラマン散乱光を表示する光パルス試験器 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5390018A (ja) |
| JP (1) | JPH06273273A (ja) |
| DE (1) | DE4408977C2 (ja) |
| IT (1) | IT1271753B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005195486A (ja) * | 2004-01-08 | 2005-07-21 | Fujikura Ltd | 光ファイバケーブルの劣化検知システム |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3394902B2 (ja) * | 1998-02-20 | 2003-04-07 | アンリツ株式会社 | 波長分散測定装置及び偏波分散測定装置 |
| DE602005019991D1 (de) * | 2005-06-09 | 2010-04-29 | Ap Sensing Gmbh | Detektion verschiedener Spektralkomponenten eines optischen Signals mittels eines optischen Verschlusses |
| US20110122401A1 (en) * | 2008-05-29 | 2011-05-26 | Panduit Corp | Method and Apparatus For Verifying the Termination Quality of an Optical Fiber Interface in a Fiber Optic Cable Connector |
| US11624681B2 (en) * | 2020-01-16 | 2023-04-11 | Saudi Arabian Oil Company | Overcoming OTDR dead zones using a few-mode fiber |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH069356Y2 (ja) * | 1987-11-27 | 1994-03-09 | アンリツ株式会社 | 光パルス試験器 |
| JPH02105033A (ja) * | 1988-10-14 | 1990-04-17 | Fujikura Ltd | 線路特性検出装置 |
| JPH04274724A (ja) * | 1991-03-02 | 1992-09-30 | Fujikura Ltd | Ｏｔｄｒ装置 |
-
1993
- 1993-03-17 JP JP5057495A patent/JPH06273273A/ja active Pending
-
1994
- 1994-03-16 US US08/213,578 patent/US5390018A/en not_active Expired - Fee Related
- 1994-03-16 DE DE4408977A patent/DE4408977C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-03-16 IT ITMI940490A patent/IT1271753B/it active IP Right Grant
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| ITMI940490A1 (it) | 1995-09-16 |
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