JPH069356Y2 - 光パルス試験器 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本考案は被測定ファイバに光パルスを供給し、これに伴
って被測定ファイバから反射してくる後方散乱光および
フレネル反射光を検出し所定の信号処理を行うことで、
被測定ファイバの光損失や障害点位置等を測定する光パ
ルス試験器に関するものである。

［従来の技術］ 被測定ファイバに光パルスを供給し、この被測定ファイ
バから反射してくる後方散乱光およびフレネル反射光を
検出し所定の信号処理を行うことで被測定ファイバの光
損失や障害点位置の測定を行う装置として光パルス試験
器が知られている。

第３図はこうした光パルス試験器の概略構造を示してい
る。

光パルス試験器は発光部１、分岐部２、検出部３、処理
部４、表示部５を備えて概略構成されており、発光部１
より所定レベルの光パルスが被測定ファイバ６に供給さ
れると、この被測定ファイバ６から反射してくる後方散
乱光およびフレネル反射光は分岐部２で分岐されて検出
部３により検出される。この検出信号は処理部４におい
てレベル増幅された後Ａ／Ｄ変換され、さらに、所定の
サンプリング周期でサンプリングされた後各データ毎に
波形処理され表示部５に表示されるようになっている。

［考案が解決しようとする問題点］ ところで、上述した光パルス試験器においては、光パル
スの入射レベルに対する被測定ファイバ６からの後方散
乱光レベルを最も効果的に検出できるように検出部３の
受光系が設計されている。また、光パルスの入射レベル
は一意的に固定設定されている。そのため、後方散乱光
のレベルに対して３０〜５０ｄＢ程度のレベルの高いフ
レネル反射光が検出部３に入射すると、この検出部３の
受光系が飽和して所定時間波形観測のできない時間帯、
いわゆるデッドゾーンが生じ、このデッドゾーンの間に
別のフレネル反射光が検出部３に入射しても、そのフレ
ネル反射光の検出を行うことができないという問題があ
った。

そこで、本考案は上述した問題点に鑑みてなされたもの
であって、その目的は、被測定ファイバに供給される光
パルスのレベルを自動的に最適な状態に可変制御し、従
来生じていたデッドゾーンを極めて短くしてデッドゾー
ン内に埋もれていた障害点からのフレネル反射光を正確
かつ確実に検出でき、分解能を高めて被測定ファイバの
障害点位置等の測定を行うことができる光パルス試験器
を提供することにある。

［問題点を解決するための手段］ 上記目的を達成するため本考案による光パルス試験器
は、被測定ファイバ６に光パルスのレベルを可変して供
給できる発光部７と、前記被測定ファイバより出力され
るフレネル反射光のピーク値を検出する検出部９と、前
記ピーク値と予め前記検出部の飽和レベル以下に定めら
れた所定のレベル値Ｌとを比較する比較部１０と、該比
較部の比較結果に基づいて、前記ピーク値が前記予め定
められたレベル値Ｌになるように前記発光部の光パルス
のレベルを制御するための最適値を演算して出力する処
理部１１と、前記最適値をもとに前記発光部が発光する
光パルスの出力レベルをコントロールするレベルコント
ロール部１３とを備えたことを特徴としている。

［作用］ 発光部７より被測定ファイバ６に対し所定レベルの光パ
ルスが供給されると、検出部９がこの光パルスの供給に
伴って被測定ファイバ６から出力されるフレネル反射光
のピーク値を検出する。この検出信号は比較部１０にお
いて予め検出部９の飽和レベルＬｈに基づいて設定され
るレベル値Ｌとの比較が行われ、さらに、処理部１１で
はこの比較結果に基づいてピーク値が予め検出部９の飽
和レベル以下に定められたレベル値Ｌになるように発光
部７の光パルスのレベルを制御するための最適値を算出
演算する。そして、この演算結果の最適値をもとにレベ
ルコントロール部１３は発光部７が発光する光パルスの
出力レベルをコントロールする。

［実施例］ 第１図は本考案による光パルス試験器の一実施例を示す
ブロック構成図である。

この実施例による光パルス試験器は、発光部７、分岐部
８、検出部９、比較部１０、処理部１１、表示部１２、
レベルコントロール部１３、検出位置設定部１４を備え
て構成されており、被測定ファイバ６に対し所定レベル
の光パルスが供給されると、この光パルスの供給に伴っ
て被測定ファイバ６から出力されるフレネル反射光のピ
ーク値を検出し、この検出信号を予め定められた検出部
９の飽和レベル以下の値である所定のレベル値Ｌと比較
した後、被測定ファイバ６に供給すべき光パルスのレベ
ルを増減することにより、前記ピーク値がレベル値Ｌに
なるように発光部７の光パルスのレベルを制御するため
の最適値を算出演算し、この最適値をもとに発光部が発
光する光パルスの出力レベルを可変制御している。

発光部７は後述する処理部１１を介してレベルコントロ
ール部１３より出力される信号に基づいて所定レベルの
光パルスを分岐部８を介して被測定ファイバ６に出射し
ている。

分岐部８は例えば、光方向性結合器からなり、発光部７
からの光パルスを被測定ファイバ６側に導くとともに、
光パルスの供給に伴って被測定ファイバ６から出力され
る後方散乱光およびフレネル反射光を検出部９側に分岐
させている。

検出部９の内部に備えられた受光系は、被測定ファイバ
６から分岐部８を介して出力される後方散乱光およびフ
レネル反射光の検出を行う。この検出信号は処理部１１
に出力されて前記［従来の技術］の項で述べた同様の信
号処理、すなわち、レベル増幅されＡ／Ｄ変換された
後、各データ毎にサンプリングされて波形処理され、そ
の結果が表示部１２に波形表示されるようになってい
る。また、この検出部９はピーク検出部１６を備えてお
り、受光系が検出した被測定ファイバ６からの反射光の
ピーク値の検出を行っており、この検出信号を比較部１
０に出力している。

比較部１０はピーク検出部１６から供給される検出信号
（ピーク値）と予め検出部９の受光系の飽和レベルに基
づいて設定されるレベル値Ｌとの比較を行い、その結果
を処理部１１に出力している。

なお、設定されるレベル値ＬはＳ／Ｎ比、ダイナミック
レンジ等の関係から第２図に示すように例えば、検出部
９の飽和レベルＬｈよりも２〜３ｄＢ程度低い値に設定
されている。

処理部１１は検出部９から出力される信号の処理を行う
とともに、ピーク検出部１６から出力される信号である
ピーク値が予め定められたレベル値Ｌになるように、発
光部７が被測定ファイバ６に対し供給する光パルスのレ
ベルを制御するための最適値を算出演算している。

レベルコントロール部１３は処理部１１で演算された最
適値に基づいて発光部７の出力レベルを最適なレベル、
すなわち、被測定ファイバ６からのフレネル反射光を検
出する検出部９の受光系が飽和しないレベル値Ｌに自動
的に可変制御している。また、このレベルコントロール
部１３は切換手段を備えており、この切換手段の切換動
作に基づいて発光部７の出力レベルの自動による制御お
よび手動による制御が行えるように構成されている。な
お、この場合、手動による制御はオペレータのキー操作
によって行われる。

従って、上述したように発光部７から出力される光パル
スの出力レベルが可変制御されると、被測定ファイバ６
から出力されるフレネル反射光の出力レベルは検出部９
の飽和レベルＬｈ以下に抑えられるので、従来検出部の
受光系が飽和することによって生ずるデッドゾーンを除
去することができ、このデッドゾーンによって波形観測
のできなかった区間の被測定ファイバからのフレネル反
射光を正確かつ確実に検出でき、被測定ファイバの障害
点位置等の測定を高精度に行うことができる。

検出位置設定部１４は測定時あるいは測定途中において
被測定ファイバ６の測定位置を設定するもので、図示し
ない外部のキースイッチの操作に基づいて表示画面１７
上のマーカ１８を所望の位置まで移動させることによっ
て行われ、この操作と同時にマーカ１８の位置のレベル
に基づいて発光部７の出力レベルの可変制御が行われる
ようになっている。

ここで、第２図は表示部１２の表示画面１７上に表示さ
れる被測定ファイバの後方散乱光およびフレネル反射光
の波形を示しており、図中破線で示す部分はデッドゾー
ン時における出力波形を示している。

従って、表示部１２の表示画面１７を目視しながらキー
操作によって画面１７上のマーカ１８を移動させること
で、発光部７が出力する光パルスのレベル制御を、マー
カ１８の位置のレベルを基準として行うことができるの
で、被測定ファイバ６の一部における光損失や障害点の
測定を、高精度に行うことができる。

次に、上述した構成による光パルス試験器の動作につい
て説明する。

まず、外部のキースイッチを操作して表示画面１７上の
マーカ１８を移動させて被測定ファイバ６の測定位置を
設定する。この状態で被測定ファイバ６に対し発光部７
より光パルスが供給されると、表示部１２には被測定フ
ァイバ６からは後方散乱光およびフレネル反射光の波形
が表示される。そして、ピーク検出部１６が検出したフ
レネル反射光のピーク値を検出する。次に、このピーク
値は比較部１０において予め検出部９の飽和レベルＬｈ
に基づいて設定されたレベル値Ｌとの比較が行われ、処
理部１１がこの比較結果に基づいてピーク値がレベル値
Ｌになるように発光部７の光パルスのレベルを制御する
ための最適値、すなわち検出される反射光の出力レベル
が飽和レベルＬｈに達しない値を算出演算する。そし
て、レベルコントロール部１３が発光部７の出力する光
パルスのレベルを処理部１１で算出した最適値にに従っ
て可変制御する。

従って、発光部７が出力する光パルスのレベルは、レベ
ルコントロール部１３が出力する反射光のレベルに応じ
た信号により可変制御されるので、被測定ファイバ６か
らの反射光を確実かつ正確に検出して光損失や障害点等
の各種測定を行うことができる。

［考案の効果］ 以上説明したように本考案の光パルス試験器によれば、
検出部が検出する被測定ファイバからのフレネル反射光
のレベルに応じて発光部の出力する光パルスのレベルを
自動的に最適な状態に可変制御できる。従って、従来生
じていた受光系の飽和によるデッドゾーンを極めて短く
でき、従来このデッドゾーンに埋もれていた障害点から
のフレネル反射光を正確かつ確実に検出でき、さらに
は、分解能を高めて被測定ファイバの障害点の測定を行
うことができるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案による光パルス試験器の一実施例を示す
ブロック構成図、第２図は同光パルス試験器の表示部に
表示される後方散乱光およびフレネル反射光の波形図、
第３図は光パルス試験器の概略構造を説明するための図
である。 ６…被測定ファイバ、７…発光部、９…検出部、１０…
比較部、１１…処理部、１３…レベルコントロール部。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】被測定ファイバ（６）に光パルスのレベル
   を可変して供給できる発光部（７）と、前記被測定ファ
   イバより出力されるフレネル反射光のピーク値を検出す
   る検出部（９）と、前記ピーク値と予め前記検出部の飽
   和レベル以下に定められた所定のレベル値Ｌとを比較す
   る比較部（１０）と、該比較部の比較結果に基づいて、
   前記ピーク値が前記予め定められたレベル値Ｌになるよ
   うに前記発光部の光パルスのレベルを制御するための最
   適値を演算して出力する処理部（１１）と、前記最適値
   をもとに前記発光部が発光する光パルスの出力レベルを
   コントロールするレベルコントロール部（１３）とを備
   えたことを特徴とする光パルス試験器。