JPH06281565A - 吸光度式分析計 - Google Patents
吸光度式分析計Info
- Publication number
- JPH06281565A JPH06281565A JP7015393A JP7015393A JPH06281565A JP H06281565 A JPH06281565 A JP H06281565A JP 7015393 A JP7015393 A JP 7015393A JP 7015393 A JP7015393 A JP 7015393A JP H06281565 A JPH06281565 A JP H06281565A
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- JP
- Japan
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- cell
- cleaning
- solenoid valve
- solution
- cleaning liquid
- Prior art date
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- Optical Measuring Cells (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 清掃に多大な時間を必要とせず、且つ、最小
限の洗浄液の量で測定セルの洗浄を行うことができる。 【構成】 測定セルに入れられた被測定溶液を透過する
光の強度を測定して被測定溶液の分析を行う吸光度式分
析計において、透過光が通過する測定セルの内壁に洗浄
液を噴射して洗浄する洗浄手段と、洗浄手段によって内
壁を洗浄した後に、測定セルを基準水で満たす基準水供
給手段と、基準水が満たされた測定セルを透過する透過
光に基づいて測定セルの汚れを判断し、洗浄手段から噴
射する洗浄液を制御する制御手段とを設けたことを特徴
としている。
限の洗浄液の量で測定セルの洗浄を行うことができる。 【構成】 測定セルに入れられた被測定溶液を透過する
光の強度を測定して被測定溶液の分析を行う吸光度式分
析計において、透過光が通過する測定セルの内壁に洗浄
液を噴射して洗浄する洗浄手段と、洗浄手段によって内
壁を洗浄した後に、測定セルを基準水で満たす基準水供
給手段と、基準水が満たされた測定セルを透過する透過
光に基づいて測定セルの汚れを判断し、洗浄手段から噴
射する洗浄液を制御する制御手段とを設けたことを特徴
としている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被測定溶液を透過する
光の強度を測定し、被測定溶液の分析を行う吸光度式分
析計に関し、更に詳しくは、汚れた測定セルの内壁に洗
浄液を噴射し、測定セルの汚れを自動洗浄することので
きる吸光度式分析計に関するものである。
光の強度を測定し、被測定溶液の分析を行う吸光度式分
析計に関し、更に詳しくは、汚れた測定セルの内壁に洗
浄液を噴射し、測定セルの汚れを自動洗浄することので
きる吸光度式分析計に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図６は、従来の吸光度式分析計の構成図
である。図中、１は光路面にガラス窓１Ａを有したセル
で、被測定溶液ＳL0が流入口１Ｂから供給され、排出口
１Ｃから排出される。２はランプ３の光を平行光束にす
るレンズである。レンズ２からセル１に出射された光
は、検出器４で強度が測定され、電気信号に変換されて
から測定回路５に伝達される。測定回路５は、検出器４
から入力した電気信号に基づいて演算処理を行い、被測
定溶液ＳL0に関して濁度等の特性を得る。
である。図中、１は光路面にガラス窓１Ａを有したセル
で、被測定溶液ＳL0が流入口１Ｂから供給され、排出口
１Ｃから排出される。２はランプ３の光を平行光束にす
るレンズである。レンズ２からセル１に出射された光
は、検出器４で強度が測定され、電気信号に変換されて
から測定回路５に伝達される。測定回路５は、検出器４
から入力した電気信号に基づいて演算処理を行い、被測
定溶液ＳL0に関して濁度等の特性を得る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の吸光
度式分析計は、被測定溶液によって測定セルの内壁に生
じた汚れを落とすために、被測定溶液を排出した後、セ
ル窓を取り外して清掃しなければならず、清掃に多大な
時間が必要になるという欠点を有していた。
度式分析計は、被測定溶液によって測定セルの内壁に生
じた汚れを落とすために、被測定溶液を排出した後、セ
ル窓を取り外して清掃しなければならず、清掃に多大な
時間が必要になるという欠点を有していた。
【０００４】本発明は、このような点に鑑みてなされた
もので、測定セルの汚れ具合に応じ、測定セルの内壁を
洗浄液を噴射して洗浄するようにしたもので、清掃に多
大な時間を必要とせず、且つ、最小限の洗浄液の量で測
定セルの洗浄を行うことのできる吸光度式分析計を提供
することを目的としている。
もので、測定セルの汚れ具合に応じ、測定セルの内壁を
洗浄液を噴射して洗浄するようにしたもので、清掃に多
大な時間を必要とせず、且つ、最小限の洗浄液の量で測
定セルの洗浄を行うことのできる吸光度式分析計を提供
することを目的としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は、測定セルに入れられた被測定溶液
を透過する光の強度を測定して被測定溶液の分析を行う
吸光度式分析計において、前記透過光が通過する測定セ
ルの内壁を洗浄液を噴射して洗浄する洗浄手段と、この
洗浄手段によって内壁を洗浄した後に、前記測定セルを
基準水で満たす基準水供給手段と、前記基準水が満たさ
れた測定セルを透過する透過光に基づいて測定セルの汚
れを判断し、前記洗浄手段から噴射する洗浄液を制御す
る制御手段と、を設けたことを特徴としている。
るために、本発明は、測定セルに入れられた被測定溶液
を透過する光の強度を測定して被測定溶液の分析を行う
吸光度式分析計において、前記透過光が通過する測定セ
ルの内壁を洗浄液を噴射して洗浄する洗浄手段と、この
洗浄手段によって内壁を洗浄した後に、前記測定セルを
基準水で満たす基準水供給手段と、前記基準水が満たさ
れた測定セルを透過する透過光に基づいて測定セルの汚
れを判断し、前記洗浄手段から噴射する洗浄液を制御す
る制御手段と、を設けたことを特徴としている。
【０００６】
【作用】制御手段は、基準水が満たされた測定セルを透
過する透過光に基づいて測定セルの汚れを判断し、汚れ
の度合いに応じて洗浄周期を決定する。洗浄手段は、制
御手段のバルブ制御信号に基づいてオン／オフ制御さ
れ、洗浄周期毎に洗浄液を測定セルの内壁に噴射して測
定セルを洗浄する。
過する透過光に基づいて測定セルの汚れを判断し、汚れ
の度合いに応じて洗浄周期を決定する。洗浄手段は、制
御手段のバルブ制御信号に基づいてオン／オフ制御さ
れ、洗浄周期毎に洗浄液を測定セルの内壁に噴射して測
定セルを洗浄する。
【０００７】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の一実施例を詳細
に説明する。図１は、本発明の吸光度式分析計の一実施
例を示した構成図である。図中、１０光源であるラン
プ、１１はランプ１０からの光を平行光束にする第１の
レンズ、１２は絞りで、第１のレンズ１１から出射され
た平行光束を適正な光束径ｄに絞る。１３は測定セル、
１４は測定セル１３のガラス窓１３Ａを洗浄する洗浄液
ＳL1を供給する洗浄手段で、一対のノズル１４Ａがガラ
ス窓１３Ａに向いて設けられている。
に説明する。図１は、本発明の吸光度式分析計の一実施
例を示した構成図である。図中、１０光源であるラン
プ、１１はランプ１０からの光を平行光束にする第１の
レンズ、１２は絞りで、第１のレンズ１１から出射され
た平行光束を適正な光束径ｄに絞る。１３は測定セル、
１４は測定セル１３のガラス窓１３Ａを洗浄する洗浄液
ＳL1を供給する洗浄手段で、一対のノズル１４Ａがガラ
ス窓１３Ａに向いて設けられている。
【０００８】ノズル１４Ａは、平行光束が通過する光路
から外れた位置、即ち、測定セル１３内に距離δ突き出
した位置に設けられていて、被測定溶液ＳL0を透過する
光を遮らないようになっている。１５は第２のレンズ
で、測定セル１３を透過した平行光束を検出器１６に結
像する。１７は測定回路で、検出器１６から入力した検
出信号Ｄiに基づいて、被測定溶液ＳL0に関する濁度／
色度等のデータを得る。
から外れた位置、即ち、測定セル１３内に距離δ突き出
した位置に設けられていて、被測定溶液ＳL0を透過する
光を遮らないようになっている。１５は第２のレンズ
で、測定セル１３を透過した平行光束を検出器１６に結
像する。１７は測定回路で、検出器１６から入力した検
出信号Ｄiに基づいて、被測定溶液ＳL0に関する濁度／
色度等のデータを得る。
【０００９】尚、この実施例では、基準水ＳL2を供給す
る基準水供給手段は、洗浄水を測定セルに供給する洗浄
手段１４と共通化されていて、この測定セルに供給する
基準水ＳL2は、一般にいうところの純水で、透明度の高
い水が用いられている。更に、被測定溶液ＳL0も同じ洗
浄手段１４から測定セル１３に供給される。
る基準水供給手段は、洗浄水を測定セルに供給する洗浄
手段１４と共通化されていて、この測定セルに供給する
基準水ＳL2は、一般にいうところの純水で、透明度の高
い水が用いられている。更に、被測定溶液ＳL0も同じ洗
浄手段１４から測定セル１３に供給される。
【００１０】Ｖ1は被測定溶液ＳL0の供給ラインＡに設
けられた電磁弁、Ｖ2は基準水ＳL2の供給ラインＢに設
けられた電磁弁、Ｖ3は洗浄水ＳL1の供給ラインＣに設
けられた電磁弁、Ｖ4は排出ラインＤに設けられた電磁
弁、Ｎ1〜Ｎ3は流量を制御するバルブである。電磁弁Ｖ
1〜Ｖ4及びバルブＮ1〜Ｎ3は、コントロールユニット
（以下、制御手段という）１８によって制御され、測定
セルに供給される溶液及び流量が選択制御される。
けられた電磁弁、Ｖ2は基準水ＳL2の供給ラインＢに設
けられた電磁弁、Ｖ3は洗浄水ＳL1の供給ラインＣに設
けられた電磁弁、Ｖ4は排出ラインＤに設けられた電磁
弁、Ｎ1〜Ｎ3は流量を制御するバルブである。電磁弁Ｖ
1〜Ｖ4及びバルブＮ1〜Ｎ3は、コントロールユニット
（以下、制御手段という）１８によって制御され、測定
セルに供給される溶液及び流量が選択制御される。
【００１１】電磁弁Ｖ1が開かれると、被測定溶液ＳL0
は、バルブＮ1で調整された流量でノズル１４Ａから測
定セル１３に供給され、排出口１３Ｂから排出される。
測定セル１３の洗浄は、電磁弁Ｖ1を閉めてから電磁弁
Ｖ4を開き、排出ラインＤより被測定溶液ＳL0を排出し
た後、電磁弁Ｖ3を開きノズル１４Ａに洗浄液ＳL 1を供
給することで行われる。測定セル１３の洗浄は、既に、
被測定溶液ＳL0が排出されているので、洗浄が効率良く
行われる。
は、バルブＮ1で調整された流量でノズル１４Ａから測
定セル１３に供給され、排出口１３Ｂから排出される。
測定セル１３の洗浄は、電磁弁Ｖ1を閉めてから電磁弁
Ｖ4を開き、排出ラインＤより被測定溶液ＳL0を排出し
た後、電磁弁Ｖ3を開きノズル１４Ａに洗浄液ＳL 1を供
給することで行われる。測定セル１３の洗浄は、既に、
被測定溶液ＳL0が排出されているので、洗浄が効率良く
行われる。
【００１２】この洗浄プロセスは、供給ラインＢから基
準水ＳL2が測定セル１３に供給されて測定セル１３の汚
れの程度が測定された結果に基づき、汚れ度合いに応じ
て行われる。尚、被測定溶液ＳL0が汚れの少ない水の場
合は、被測定溶液ＳL0をフィルタ１９で濾過して基準水
ＳL2として用い、洗浄水ＳL1はバルブＮ3で被測定溶液
ＳL0を昇圧して用いてもよい。
準水ＳL2が測定セル１３に供給されて測定セル１３の汚
れの程度が測定された結果に基づき、汚れ度合いに応じ
て行われる。尚、被測定溶液ＳL0が汚れの少ない水の場
合は、被測定溶液ＳL0をフィルタ１９で濾過して基準水
ＳL2として用い、洗浄水ＳL1はバルブＮ3で被測定溶液
ＳL0を昇圧して用いてもよい。
【００１３】図２は、本発明の制御手段を抽出して示し
た構成ブロック図で、測定セルに供給した基準水ＳL2に
よって得た検出信号Ｄi（ｉ＝０〜ｎ）から洗浄周期Ｔi
（ｉ＝０〜ｎ）を設定する場合を例にあげて説明したも
のである。図中、１８1は洗浄周期制御部で、Ａ／Ｄ変
換器でデジタル変換された検出器１６の検出信号Ｄiに
基づき、洗浄周期Ｔiを周期タイマ１８2に設定する。
た構成ブロック図で、測定セルに供給した基準水ＳL2に
よって得た検出信号Ｄi（ｉ＝０〜ｎ）から洗浄周期Ｔi
（ｉ＝０〜ｎ）を設定する場合を例にあげて説明したも
のである。図中、１８1は洗浄周期制御部で、Ａ／Ｄ変
換器でデジタル変換された検出器１６の検出信号Ｄiに
基づき、洗浄周期Ｔiを周期タイマ１８2に設定する。
【００１４】１８3は最初の洗浄周期Ｔ0が記憶された第
１のメモリ、１８4は検出器１６から入力された検出信
号Ｄiを記憶する第２のメモリで、洗浄毎に検出信号Ｄi
が更新される。洗浄周期制御部１８1は、動作開始と同
時に最初の洗浄周期Ｔ0を周期タイマ１８2に設定し、２
度目からは、第２のメモリ１８4に記憶された検出信号
Ｄiと続いて入力される検出信号Ｄi+1との差ΔＤi+1を
得、その変化量に基づいて時間テーブル１８5から選択
した洗浄周期Ｔiを周期タイマ１８2に設定する。
１のメモリ、１８4は検出器１６から入力された検出信
号Ｄiを記憶する第２のメモリで、洗浄毎に検出信号Ｄi
が更新される。洗浄周期制御部１８1は、動作開始と同
時に最初の洗浄周期Ｔ0を周期タイマ１８2に設定し、２
度目からは、第２のメモリ１８4に記憶された検出信号
Ｄiと続いて入力される検出信号Ｄi+1との差ΔＤi+1を
得、その変化量に基づいて時間テーブル１８5から選択
した洗浄周期Ｔiを周期タイマ１８2に設定する。
【００１５】周期タイマ１８2は、設定時間がタイムア
ウトするとシーケンス制御部１８6に制御信号Ｓ1を出力
する。シーケンス制御部１８6は、周期タイマ１８2から
入力した制御信号Ｓ1に基づき、所定のシーケンスに従
ってバルブ制御信号Ｓ2〜Ｓ5を各バルブＶ1〜Ｖ4に出力
する。各バルブＶ1〜Ｖ4は、シーケンス制御部１８6から
入力したバルブ制御信号Ｓ2〜Ｓ5に基づいてオン／オフ
制御される。
ウトするとシーケンス制御部１８6に制御信号Ｓ1を出力
する。シーケンス制御部１８6は、周期タイマ１８2から
入力した制御信号Ｓ1に基づき、所定のシーケンスに従
ってバルブ制御信号Ｓ2〜Ｓ5を各バルブＶ1〜Ｖ4に出力
する。各バルブＶ1〜Ｖ4は、シーケンス制御部１８6から
入力したバルブ制御信号Ｓ2〜Ｓ5に基づいてオン／オフ
制御される。
【００１６】図３は、測定セルの汚れの変化を示した図
で、横軸に経過時間を示し、縦軸に検出信号を示したも
のである。尚、図中の破線は、洗浄動作を行わない場合
の検出信号の低下の様子を示し、実線は、洗浄動作の効
果を基準水で得られる検出信号をもって示したものであ
る。Ｄ0は動作開始前の検出信号、Ｄ1は最初の洗浄が行
われる前の検出信号、Ｄ2は２回目の洗浄が行われる前
の検出信号である。尚、ｎ回目の洗浄が行われる前に検
出信号Ｄnが一定基準以下になった時は、測定セル１３
は、従来の方法によって洗浄が行われる。
で、横軸に経過時間を示し、縦軸に検出信号を示したも
のである。尚、図中の破線は、洗浄動作を行わない場合
の検出信号の低下の様子を示し、実線は、洗浄動作の効
果を基準水で得られる検出信号をもって示したものであ
る。Ｄ0は動作開始前の検出信号、Ｄ1は最初の洗浄が行
われる前の検出信号、Ｄ2は２回目の洗浄が行われる前
の検出信号である。尚、ｎ回目の洗浄が行われる前に検
出信号Ｄnが一定基準以下になった時は、測定セル１３
は、従来の方法によって洗浄が行われる。
【００１７】洗浄周期制御部１８1は、第２のメモリ１
８4に記憶した検出信号Ｄn-1と続いて入力される検出信
号Ｄnとの差ΔＤn（ΔＤn＝Ｄn−Ｄn-1）を得て、その
変化量ΔＤnに基づいて時間テーブル１８5から適正な洗
浄周期Ｔnを選択する。洗浄周期Ｔnは、前回の洗浄周期
Ｔn-1で検出信号の減衰がΔＤn-1の時、次式のようにな
る。 Ｔn＝（Ｔn-1／ΔＤn-1）×α ここでαは所定の係数である。
８4に記憶した検出信号Ｄn-1と続いて入力される検出信
号Ｄnとの差ΔＤn（ΔＤn＝Ｄn−Ｄn-1）を得て、その
変化量ΔＤnに基づいて時間テーブル１８5から適正な洗
浄周期Ｔnを選択する。洗浄周期Ｔnは、前回の洗浄周期
Ｔn-1で検出信号の減衰がΔＤn-1の時、次式のようにな
る。 Ｔn＝（Ｔn-1／ΔＤn-1）×α ここでαは所定の係数である。
【００１８】次に本発明の吸光度式分析計の動作をタイ
ムチャートをもって説明する。図４は、洗浄周期Ｔを示
したタイムチャート、図５は、洗浄作業の内容を示した
タイムチャートで、（Ａ）は電磁弁Ｖ1の動作状態、
（Ｂ）は電磁弁Ｖ2の動作状態、（Ｃ）は電磁弁Ｖ3の動
作状態、（Ｄ）は電磁弁Ｖ4の動作状態を示している。
洗浄作業は、測定が開始してからＴ0時間後にＴw時間の
間行われ、更にＴ1時間後にＴw時間の洗浄が行われる。
以後、測定セルは、汚れに応じて決定された洗浄周期Ｔ
iで洗浄が行われる。
ムチャートをもって説明する。図４は、洗浄周期Ｔを示
したタイムチャート、図５は、洗浄作業の内容を示した
タイムチャートで、（Ａ）は電磁弁Ｖ1の動作状態、
（Ｂ）は電磁弁Ｖ2の動作状態、（Ｃ）は電磁弁Ｖ3の動
作状態、（Ｄ）は電磁弁Ｖ4の動作状態を示している。
洗浄作業は、測定が開始してからＴ0時間後にＴw時間の
間行われ、更にＴ1時間後にＴw時間の洗浄が行われる。
以後、測定セルは、汚れに応じて決定された洗浄周期Ｔ
iで洗浄が行われる。
【００１９】(1)時刻ｔ1で洗浄動作になると電磁弁Ｖ4
が開かれ、測定セル１３は、排水ラインＤより被測定溶
液ＳL0が排出される。 (2)時刻ｔ2で被測定溶液ＳL0の排出が完了と共に、電磁
弁Ｖ4が閉められ、電磁弁Ｖ2が開かれる。電磁弁Ｖ2が
開かれると、測定セル１３は、供給ラインＢより基準水
ＳL2が供給される。 (3)供給の途中、時刻ｔ3で一時、電磁弁Ｖ4が開かれ
る。これは測定セル１３に残った被測定溶液ＳL0を測定
セル１３内から速やかに排出するためである。
が開かれ、測定セル１３は、排水ラインＤより被測定溶
液ＳL0が排出される。 (2)時刻ｔ2で被測定溶液ＳL0の排出が完了と共に、電磁
弁Ｖ4が閉められ、電磁弁Ｖ2が開かれる。電磁弁Ｖ2が
開かれると、測定セル１３は、供給ラインＢより基準水
ＳL2が供給される。 (3)供給の途中、時刻ｔ3で一時、電磁弁Ｖ4が開かれ
る。これは測定セル１３に残った被測定溶液ＳL0を測定
セル１３内から速やかに排出するためである。
【００２０】(4)時刻ｔ4で電磁弁Ｖ2が閉じられ、基準
水ＳL2の測定が行われる。基準水ＳL2の測定が終了する
と、電磁弁Ｖ4が開かれ、排水ラインＤより基準水ＳL2
が排出される。 (5)排水ラインＤより基準水ＳL2が排出されると、時刻
ｔ5で電磁弁Ｖ3が開かれ、バルブＮ2で、例えば５リッ
トル／minに昇圧された洗浄水ＳL1が供給ラインＣによ
りノズル１４Ａからガラス窓１３Ａにｔj時間噴射され
る。 (6)このようにして、排水と洗浄が交互に行われる。時
刻ｔ6で再び基準水ＳL2が供給ラインＢより測定セル１
３に供給され、時刻ｔ7でゼロ点の校正が行われる。
水ＳL2の測定が行われる。基準水ＳL2の測定が終了する
と、電磁弁Ｖ4が開かれ、排水ラインＤより基準水ＳL2
が排出される。 (5)排水ラインＤより基準水ＳL2が排出されると、時刻
ｔ5で電磁弁Ｖ3が開かれ、バルブＮ2で、例えば５リッ
トル／minに昇圧された洗浄水ＳL1が供給ラインＣによ
りノズル１４Ａからガラス窓１３Ａにｔj時間噴射され
る。 (6)このようにして、排水と洗浄が交互に行われる。時
刻ｔ6で再び基準水ＳL2が供給ラインＢより測定セル１
３に供給され、時刻ｔ7でゼロ点の校正が行われる。
【００２１】(7)ゼロ点の校正が終了すると、電磁弁Ｖ4
が開かれ測定セル１３から基準水ＳL2が排出される。 (8)測定セル１３から基準水ＳL2が排出されると電磁弁
Ｖ4は閉じられ、時刻ｔ8から被測定溶液ＳL0が測定セル
１３に供給される。 このように、本発明では、測定セルの汚れに応じて洗浄
周期を変化しているが、洗浄時間ＴWを変化するように
してもよい。
が開かれ測定セル１３から基準水ＳL2が排出される。 (8)測定セル１３から基準水ＳL2が排出されると電磁弁
Ｖ4は閉じられ、時刻ｔ8から被測定溶液ＳL0が測定セル
１３に供給される。 このように、本発明では、測定セルの汚れに応じて洗浄
周期を変化しているが、洗浄時間ＴWを変化するように
してもよい。
【００２２】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように本発明の吸
光度式分析計は、測定セルの汚れ具合に応じて汚れた測
定セルの内壁を洗浄液で噴射して洗浄するようにしてい
るので、清掃に多大な時間を必要とせず、且つ、最小限
の洗浄液の量で測定セルの洗浄を行うことができる。
光度式分析計は、測定セルの汚れ具合に応じて汚れた測
定セルの内壁を洗浄液で噴射して洗浄するようにしてい
るので、清掃に多大な時間を必要とせず、且つ、最小限
の洗浄液の量で測定セルの洗浄を行うことができる。
【図１】本発明の吸光度式分析計の一実施例を示した構
成図である。
成図である。
【図２】本発明の制御手段を抽出して示した構成ブロッ
ク図である。
ク図である。
【図３】測定セルの汚れの変化を示した図である。
【図４】本発明の吸光度式分析計の動作のタイムチャー
トで、洗浄周期Ｔを示した図である。
トで、洗浄周期Ｔを示した図である。
【図５】洗浄作業の内容を示したタイムチャートであ
る。
る。
【図６】従来の吸光度式分析計の構成図である。
１３ 測定セル １４ 洗浄手段 １４Ａ ノズル １８ 制御手段 １８1 洗浄周期設定部 １８6 シーケンス制御部
Claims (1)
- 【請求項１】 測定セルに入れられた被測定溶液を透過
する光の強度を測定して被測定溶液の分析を行う吸光度
式分析計において、 前記透過光が通過する測定セルの内壁を洗浄液を噴射し
て洗浄する洗浄手段と、 この洗浄手段によって内壁を洗浄した後に、前記測定セ
ルを基準水で満たす基準水供給手段と、 前記基準水が満たされた測定セルを透過する透過光に基
づいて測定セルの汚れを判断し、前記洗浄手段から噴射
する洗浄液を制御する制御手段と、 を設けたことを特徴とした吸光度式分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7015393A JPH06281565A (ja) | 1993-03-29 | 1993-03-29 | 吸光度式分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7015393A JPH06281565A (ja) | 1993-03-29 | 1993-03-29 | 吸光度式分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06281565A true JPH06281565A (ja) | 1994-10-07 |
Family
ID=13423351
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7015393A Pending JPH06281565A (ja) | 1993-03-29 | 1993-03-29 | 吸光度式分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06281565A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08304270A (ja) * | 1995-05-09 | 1996-11-22 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 近赤外分光分析装置 |
| JPH0954076A (ja) * | 1995-08-17 | 1997-02-25 | Meidensha Corp | 光学式水質測定器の洗浄方法 |
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| CN115156187A (zh) * | 2022-08-03 | 2022-10-11 | 安徽建筑大学 | 一种超声波清洗反应釜清洗系统及方法 |
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1993
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