JPH06282834A - 垂直磁気記録媒体およびその製造方法 - Google Patents
垂直磁気記録媒体およびその製造方法Info
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Abstract
得られるとともに、媒体の反りを防止または低減できて
信頼性の高い垂直磁気記録媒体を提供すること。 【構成】 円形ガラス基板1と、この基板1の上に形成
されてそのCo組成が92at%以上のCo−Zr系非
晶質軟磁性下地層2aと、この軟磁性下地層2aの上に
形成されてその垂直配向度がΔθ50が7度以下であるC
o系垂直記録層3とからなる垂直磁気記録媒体。
Description
り、特に軟磁性下地層を有する2層媒体に関するもので
ある。
度記録ができることから注目されており、これに用いる
媒体としては軟磁性下地層と垂直記録層とからなる2層
媒体が多く検討されている。このような2層膜媒体は、
単磁極型ヘッドと組み合わせることにより効率の良い記
録再生ができる。中でも、Co−Zr系アモルファス軟
磁性膜を下地層とする2層膜媒体は、垂直配向性の鋭い
垂直記録層が得られるため記録効率の向上には特に有効
である。
に磁界を印加しながらCo系軟磁性下地層を成膜する工
程と、このCo系軟磁性下地層を成膜した後の所定の時
間内に、真空中でCo系垂直磁化層の成膜を開始して前
記下地層のCo原子と前記垂直磁化層のCo原子とを直
接結合させる工程とからなる垂直磁気記録媒体の製造方
法とこの方法によって製造された垂直磁気記録媒体とを
提案した。
造方法について図面を参照して説明する。図5は、この
垂直磁気記録媒体の構成を示す部分断面図であり、ガラ
スからなる円形基板1上には、Co−Zr系アモルファ
ス軟磁性下地層2(例えばCoZr7 Nb5 at%)と
Co系垂直記録層3とが形成された構成となっている。
そして、この垂直磁気記録媒体は、図6に、そのターゲ
ット電極付近の概略断面図を示す如きマグネトロンスパ
ッタ装置によって製造される。この装置では、例えばC
o−Zr−Nbのごときターゲット23の下方中央部に
は第1の希土類永久磁石21が、ターゲット23の下方
外周部には第2の希土類永久磁石22が配置されてお
り、これら第1と第2の希土類永久磁石21、22の極
性は、図中に示したようにそれぞれ逆にしてある。ま
た、ターゲット23の上方には、鏡面研磨した円盤状の
ガラス基板1が配置されている。このような配置によっ
て、ガラス基板1は前記した第1と第2の希土類永久磁
石21、22によって常にその半径方向に約4kA/m
の磁界が加えられる構成になっている。なお、これらの
希土類永久磁石21、22はマグネトロンの磁石として
も作用し、ターゲット近傍のプラズマを集束させてハイ
レートで成膜することにも寄与するものである。
を用いて、ガラスからなる円形基板1上に、その半径方
向に磁界を印加しながらCo−Zr系アモルファスを用
いてCo系アモルファス軟磁性下地層2(例えばCoZ
r7 Nb5 at%)を成膜し、このCo系アモルファス
軟磁性下地層2を成膜した後の所定の時間内、例えば約
10分以内に真空中でCo−Cr系合金を用いてCo系
垂直記録層3(例えばCoCr15Ta4 at%)の成膜
を開始し、これを形成する。この場合、スパッタ前の装
置内の到着真空度を2×10-6Torr以下、スパッタ
中のArのガス圧を1.5×10-3Torrとし、これ
ら下地層2と垂直記録層3とは同一真空チャンバー内で
真空を維持しながら成膜をされる。この際の下地層2の
膜厚は約0.5μmであり、垂直記録層3の膜厚は約
0.2μmである。更に、このようにして成膜された下
地層2と垂直記録層3との2層膜は1×10-4Torr
(1.3×10-2Pa)以下の真空中で、しかも150
℃〜500℃の範囲内において、例えば約300エルス
テッド(2.4KT)の回転磁界中で約3時間の熱処理
が行われる。そして、この場合の熱処理温度の最高値
は、軟磁性下地層2の結晶化温度Tx以下とする。この
製造方法により製造された垂直磁気記録媒体は、その下
地層の磁化容易軸が半径方向によく揃ったものとなると
ともにその垂直記録層は極めて高い垂直配向性を示すも
のとなるため、記録感度の向上やノイズの低減が図られ
るものである。
磁気記録媒体の電磁変換特性、特に再生出力の向上を図
ろうとした場合、軟磁性下地層2の飽和磁束密度(B
s)を高くするとともにその透磁率(μ)も高くする必
要がある。一般に、この種の垂直磁気記録媒体では軟磁
性下地層2は飽和磁束密度Bsが大きい程良好な記録再
生特性が得られる。例えば、Co−Zr系において、飽
和磁束密度Bsを高くするにはCoの組成比を大きくす
ればよい。しかし、上述したような単純な2層構造で
は、Coの組成が略92at%を越えると保磁力Hcが
急激に上昇して軟磁性を示さなくなってしまう。良好な
記録再生特性を得るためには、軟磁性下地層2の保磁力
Hcは10Oe(エルステッド)以下であることが望ま
しい。
NbにおけるCo組成と該軟磁性下地層2の保磁力との
関係をプロットしたグラフである。同図において、実線
で示した曲線は基板1上へCoZrNbをスパッタする
のに際して、基板温度を200℃とした場合であり、破
線で示した曲線は、基板温度を150℃以下とした場合
である。同図から分かるように、基板温度が低い方が軟
磁性下地層2はCo組成が多くなっても軟磁性を保って
いる。従って、軟磁性下地層2の飽和磁束密度Bsを大
きくするためにCoの組成を多くしつつ下地層の軟磁性
を維持するためには、下地層2の成膜時における基板温
度を低くすればよいことになる。
れる垂直記録層3の充分な保磁力Hcを得るためには、
垂直記録層3の成膜に先だって基板1の加熱を行ってそ
の温度を上げる必要があり、軟磁性下地層2を成膜して
から垂直記録層3を成膜するまでの時間が必然的に長く
なってしまう。この軟磁性下地層2を成膜してから垂直
記録層3を成膜するまでの時間が長くなると、先に形成
された軟磁性下地層表面の変質や成膜装置内の残留ガス
の付着等により軟磁性下地層2と垂直記録層3のCo原
子同士の結合がなされ難くなるため垂直記録層3の結晶
配向が乱れてしまうのである。良好な記録特性を得るた
めには、垂直記録層3の結晶配向度はΔθ50が7度以下
であることが必要である。
率μを高くするには、回転磁界中で熱処理を行えばよい
が、このときの熱処理温度は該軟磁性下地層2の結晶化
温度Tx以下の範囲でなるべく高い方が透磁率μを高く
することができる。この結晶化温度TxはCoの組成が
少ないほど高くなるので、Co組成の少ないCo−Zr
系軟磁性下地層2で高い透磁率μを得ようとすると非常
に高い温度で熱処理することが必要となる。しかし、3
00℃を越えるような高い熱処理温度では、媒体に反り
が生じ信頼性を損ねることになる。また特に、基板とし
てニッケル燐(NiP)を用いる場合には、このような
高温にさらすことによりNiPが着磁してしまい記録再
生特性をも損ねることになる。更に、Co組成の少ない
Co−Zr系軟磁性下地層2では、飽和磁束密度Bsが
小さいために、良好な記録再生特性を得るために膜厚を
厚くしなければならないが、膜厚を厚くするとその分ス
ペーシングが増大し、記録再生特性に対して不利な他、
膜厚が厚くなると膜の応力で反りが増大するという問題
もある。
に鑑みなされたものであり、請求項1に係る発明は、
「基板上に少なくとも軟磁性下地層と垂直記録層とを設
けてなる垂直磁気記録媒体において、該基板上に形成さ
れてそのCo組成が92at%以上のCo−Zr系非晶
質軟磁性下地層と、該Co−Zr系非晶質軟磁性下地層
上に形成されてその垂直配向度がΔθ50が7度以下であ
るCo系垂直記録層とからなる垂直磁気記録媒体。」を
提供するものであり、
とも軟磁性下地層と垂直記録層とを設けてなる垂直磁気
記録媒体において、該基板上に形成されてそのCo組成
が92at%以上である第1のCo−Zr系非晶質軟磁
性下地層と、該第1のCo−Zr系非晶質軟磁性下地層
上に形成されてそのCo組成が92at%未満である第
2のCo−Zr系非晶質軟磁性下地層と、該第2のCo
−Zr系非晶質軟磁性下地層上に形成されてその垂直配
向度がΔθ50で7度以下であるCo系垂直記録層とから
なる垂直磁気記録媒体。」を提供するものであり、
とも軟磁性下地層と垂直記録層とをドライプロセスによ
り形成する垂直磁気記録媒体の製造方法において、該基
板上にそのCo組成が92at%以上である第1のCo
−Zr系非晶質軟磁性下地層を150℃未満の基板温度
で成膜する工程と、該第1のCo−Zr系非晶質軟磁性
下地層が形成された該基板を150℃以上に加熱する工
程と、該150℃以上に加熱された基板上にそのCo組
成が92at%未満である第2のCo−Zr系非晶質軟
磁性下地層とその垂直配向度がΔθ50で7度以下である
Co系垂直記録層とを順次成膜する工程とからなる垂直
磁気記録媒体の製造方法。」を提供するものである。
て説明する。図1は、本発明の一実施例である垂直磁気
記録媒体の構成を示す部分断面図である。同図に示すよ
うに、この垂直磁気記録媒体は鏡面研磨したガラスから
なる円盤状の基板1と、この基板1の上に形成された相
対的にCo組成の多いCo−Zr系軟磁性下地層2a
と、このCo−Zr系軟磁性下地層2aの上に形成され
た相対的にCo組成の少ないCo−Zr系軟磁性下地層
2bと、Co系垂直記録層3と、保護層4から形成され
ている。
な製造方法を説明する。各層の成膜は全て、図6で説明
したマグネトロンスパッタ装置によりドライプロセスで
行った。先ず、φ95mmの鏡面仕上げのソーダライム
ガラス基板1上に相対的にCo組成の多い高Bs軟磁性
下地層2aとして、Co−Zr3.7−Nb3.2 at% 膜
(Bs=1.4T)を基板温度室温で100nm〜50
0nm成膜した。この後、基板温度を150℃〜250
℃に上げて相対的にCo組成の少ない軟磁性下地層2b
として、Co−Zr5.6−Nb4.9 at% 膜(Bs=
1.16T)を50nm、次いで直ちにCo−Cr15−
Ta4 at%の垂直記録層3を75nm成膜した後、表
面層に保護膜4としてSiO2 を約10nm設けた。な
お、この際の成膜条件は、雰囲気をArガス圧0.06
7Pa、電力密度を1.0〜2.0W/cm2 、ターゲ
ット−基板間距離を60mmとし、前述した通り、成膜
中は、マグネトロンの磁石によって約4kA/mの磁界
を基板の半径方向に加えてある。このようにして、成膜
を終えた後、10-3Pa以下の真空中雰囲気において、
24kA/mの回転磁界を作用させながら温度300℃
で、3時間の熱処理を施してディスク媒体とした。この
とき、媒体には反りの発生は認められなかった。
て製作した垂直磁気記録媒体の構成およびその製造方法
について図2を参照して簡単に説明する。この比較用の
垂直磁気記録媒体では上記本願発明の実施例で用いた高
Bs軟磁性下地層2aを設けずに、φ95mmの鏡面仕
上げのソーダライムガラス基板1の基板温度150℃〜
250℃としてこの上に直接、軟磁性下地層2bとし
て、Co−Zr5.6−Nb4.9 at% 膜(Bs=1.1
6T)を100nm〜1200nm成膜した。次いで直
ちにCo−Cr15−Ta4 at%の垂直記録層3を75
nm成膜した後、保護膜4としてSiO2 を約10nm
設けた。なお、この比較用の垂直磁気記録媒体の各層の
成膜や熱処理に際してのその他の条件は、上述した実施
例の場合と同様である。また、このようにして得られた
本発明の垂直磁気記録媒体と比較用の垂直磁気記録媒体
とはいずれもその垂直配向度がΔθ50で3〜7度と良好
な範囲にあった。
直磁気記録媒体と比較用の垂直磁気記録媒体の特性評価
結果について説明する。なお、これらの垂直磁気記録媒
体についての記録再生特性は、トラック幅8μm、主磁
極厚0.4μm、コイル巻数60ターンの単磁極ヘッド
を用い、ディスク回転数2070rpm、線速度8m/
s、ヘッド浮上量80nmの条件で測定を行った。図4
は、再生出力Epの軟磁性下地層の膜厚に対する依存性
を示すグラフであり、実線で示した曲線は本発明の実施
例の垂直磁気記録媒体の再生出力を、破線で示した曲線
は比較例の垂直磁気記録媒体の再生出力をそれぞれプロ
ットしたものである。
気記録媒体の再生出力に対して本発明の垂直磁気記録媒
体のそれの方が高い値を示している。また、比較例の垂
直磁気記録媒体では、再生出力が飽和する膜厚が0.5
μm付近であるのに対して、本発明の垂直磁気記録媒体
のそれは0.3μm付近となっており本発明の垂直磁気
記録媒体では、薄い軟磁性下地層でも充分な記録再生特
性が得られることを示している。これは、軟磁性下地層
にCo−richな層を設けたことにより軟磁性下地層
の飽和磁束密度Bsが1.16T〜1.4Tに高くな
り、なおかつ透磁率μも約2000から約4000へと
大きくなったためと考えられる。
記録媒体によれば、記録効率を損ねることなく大きな再
生特性が得られるとともに、媒体の反りを防止または低
減できて信頼性の高い垂直磁気記録媒体を得ることがで
きるものである。
示す部分断面図である。
部分断面図である。
その保磁力との関係をプロットしたグラフである。
膜厚に対する依存性を示すグラフである。
面図である。
ロンスパッタ装置のターゲット電極付近の構成を示す概
略断面図である。
Claims (3)
- 【請求項1】基板上に少なくとも軟磁性下地層と垂直記
録層とを設けてなる垂直磁気記録媒体において、 該基板上に形成されてそのCo組成が92at%以上の
Co−Zr系非晶質軟磁性下地層と、 該Co−Zr系非晶質軟磁性下地層上に形成されてその
垂直配向度がΔθ50が7度以下であるCo系垂直記録層
とからなる垂直磁気記録媒体。 - 【請求項2】基板上に少なくとも軟磁性下地層と垂直記
録層とを設けてなる垂直磁気記録媒体において、 該基板上に形成されてそのCo組成が92at%以上で
ある第1のCo−Zr系非晶質軟磁性下地層と、 該第1のCo−Zr系非晶質軟磁性下地層上に形成され
てそのCo組成が92at%未満である第2のCo−Z
r系非晶質軟磁性下地層と、 該第2のCo−Zr系非晶質軟磁性下地層上に形成され
てその垂直配向度がΔθ50で7度以下であるCo系垂直
記録層とからなる垂直磁気記録媒体。 - 【請求項3】基板上に少なくとも軟磁性下地層と垂直記
録層とをドライプロセスにより形成する垂直磁気記録媒
体の製造方法において、 該基板上にそのCo組成が92at%以上である第1の
Co−Zr系非晶質軟磁性下地層を150℃未満の基板
温度で成膜する工程と、 該第1のCo−Zr系非晶質軟磁性下地層が形成された
該基板を150℃以上に加熱する工程と、 該150℃以上に加熱された基板上にそのCo組成が9
2at%未満である第2のCo−Zr系非晶質軟磁性下
地層とその垂直配向度がΔθ50で7度以下であるCo系
垂直記録層とを順次成膜する工程とからなる垂直磁気記
録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9228293A JP2817870B2 (ja) | 1993-03-26 | 1993-03-26 | 垂直磁気記録媒体およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9228293A JP2817870B2 (ja) | 1993-03-26 | 1993-03-26 | 垂直磁気記録媒体およびその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06282834A true JPH06282834A (ja) | 1994-10-07 |
| JP2817870B2 JP2817870B2 (ja) | 1998-10-30 |
Family
ID=14050055
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9228293A Expired - Lifetime JP2817870B2 (ja) | 1993-03-26 | 1993-03-26 | 垂直磁気記録媒体およびその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2817870B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1061511A3 (en) * | 1999-06-15 | 2002-02-06 | Sharp Kabushiki Kaisha | Magnetooptical recording alloy |
| US8309238B2 (en) | 2005-12-26 | 2012-11-13 | Showa Denko K.K. | Magnetic recording medium and magnetic recording and reproducing device |
-
1993
- 1993-03-26 JP JP9228293A patent/JP2817870B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1061511A3 (en) * | 1999-06-15 | 2002-02-06 | Sharp Kabushiki Kaisha | Magnetooptical recording alloy |
| US8309238B2 (en) | 2005-12-26 | 2012-11-13 | Showa Denko K.K. | Magnetic recording medium and magnetic recording and reproducing device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2817870B2 (ja) | 1998-10-30 |
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