JPH0629758B2 - 坪量計の校正方法 - Google Patents
坪量計の校正方法Info
- Publication number
- JPH0629758B2 JPH0629758B2 JP31253387A JP31253387A JPH0629758B2 JP H0629758 B2 JPH0629758 B2 JP H0629758B2 JP 31253387 A JP31253387 A JP 31253387A JP 31253387 A JP31253387 A JP 31253387A JP H0629758 B2 JPH0629758 B2 JP H0629758B2
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- Japan
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- radiation source
- measurement
- calibration
- basis weight
- time
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Description
【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は、ほとりの堆積、線源の減衰、或は温度変化以
外の原因によるドリフトの補償が可能な坪量計の校正方
法に関する。
外の原因によるドリフトの補償が可能な坪量計の校正方
法に関する。
＜従来の技術＞ 従来、紙、フィルム等のシート状材料の坪量を測定する
装置として、第４図に示すような装置が使用される。即
ち、フレーム１上にに所定間隔置いて対峙する線源２及
び検出器３を設け、これらの間にシート状材料４を矢印
Ａ方向に走行させ、線源２と検出器３とをこのシート状
材料の幅方向（矢印Ｂ方向）に往復走行させて検出を行
うものである。
装置として、第４図に示すような装置が使用される。即
ち、フレーム１上にに所定間隔置いて対峙する線源２及
び検出器３を設け、これらの間にシート状材料４を矢印
Ａ方向に走行させ、線源２と検出器３とをこのシート状
材料の幅方向（矢印Ｂ方向）に往復走行させて検出を行
うものである。
このような装置の場合、線源２の減衰、並びに線源２と
検出器３との間の放射線通路にほこりが堆積してドリフ
トを発生させるため、所定の周期で校正を行う必要があ
る。
検出器３との間の放射線通路にほこりが堆積してドリフ
トを発生させるため、所定の周期で校正を行う必要があ
る。
このような校正方法に次のような方法がある。先ず、放
射線を遮断するシャッター機構を設けた線源２を使用
し、工場出荷時、ほこりが堆積していない状態で、坪量
既知の各種標準サンプルを用いて次のような校正作業を
行う。
射線を遮断するシャッター機構を設けた線源２を使用
し、工場出荷時、ほこりが堆積していない状態で、坪量
既知の各種標準サンプルを用いて次のような校正作業を
行う。
前記シャッター機構を閉じた状態で行う測定（そのと
きの放射線強度：ＩＢｏ）、前記シャッター機構を開
け空気層のみで行う測定（そのときの放射線強度：Ｉ
Ａｏ）、前記シャッター機構が開の状態で、前記標準
サンプルによって行う測定（そのときの放射線強度：Ｉ
ｓ）。
きの放射線強度：ＩＢｏ）、前記シャッター機構を開
け空気層のみで行う測定（そのときの放射線強度：Ｉ
Ａｏ）、前記シャッター機構が開の状態で、前記標準
サンプルによって行う測定（そのときの放射線強度：Ｉ
ｓ）。
これにより、ＩＢｏは検出器３の電気的ドリフトを表わ
し、ＩＡｏ−ＩＢｏは検出信号のフルスパンを表わし、
Ｉｓ−ＩＢｏは前記標準サンプルを用いて測定した信号
変化を表わす。これら測定結果から、第５図に示す検量
線Ｃｏを得る。
し、ＩＡｏ−ＩＢｏは検出信号のフルスパンを表わし、
Ｉｓ−ＩＢｏは前記標準サンプルを用いて測定した信号
変化を表わす。これら測定結果から、第５図に示す検量
線Ｃｏを得る。
測定後、所定の周期で測定を中断して次の校正を行う。
前記の状態における測定（そのときの放射線強度：Ｉ
Ｂ）、前記の状態における測定（そのときの放射線強
度：ＩＡ）。
前記の状態における測定（そのときの放射線強度：Ｉ
Ｂ）、前記の状態における測定（そのときの放射線強
度：ＩＡ）。
線源２にはβ線源が用いられるが、最初の校正の時点よ
り経過時間ｔと共に減衰を続け（第５図のＡ１はそのと
きの減衰量）、ＩＡ−ＩＢは以下の式で表わすることが
できる。尚、説明を簡略化するため温度変化はないもの
とする。
り経過時間ｔと共に減衰を続け（第５図のＡ１はそのと
きの減衰量）、ＩＡ−ＩＢは以下の式で表わすることが
できる。尚、説明を簡略化するため温度変化はないもの
とする。
ＩＡ−ＩＢ＝（ＩＡｏ−ＩＢｏ）−λｔ …（１） 但し、：自然対数の底、λ：β線源の半減期に対応し
た定数。
た定数。
若し、（１）式の関係が成立たない場合には、ほこりの
堆積による減衰Ａ２が加わったものと見做して以下の式
に基づき演算によりほこりＤを求める。
堆積による減衰Ａ２が加わったものと見做して以下の式
に基づき演算によりほこりＤを求める。
ＩＡ−ＩＢ＝（ＩＡｏ−ＩＢｏ）−λｔ ・−μＤ …（２） 但し、μ：吸収係数。
このようにしてほこりの補正が行なわれたあと、次の校
正が行われる迄、この状態で測定が行われ、以下の式に
基づきシート状材料４の坪量Ｘが測定される。
正が行われる迄、この状態で測定が行われ、以下の式に
基づきシート状材料４の坪量Ｘが測定される。
Ｉ−ＩＢ＝（ＩＡｏ−ＩＢｏ）−λｔ ・−μ(D+X) …（３） 但し、Ｉ：通常測定時の検出出力。
特公昭５４−１８１４８号には、前記した従来装置と構
成が異なるが、坪量計におけるほこりの補正方法につい
て開示されている。
成が異なるが、坪量計におけるほこりの補正方法につい
て開示されている。
＜発明が解決しようとする問題点＞ しかしながら、これら従来方法では、線源２と検出器３
との間の放射線通路にほこりが堆積して起こるドリフ
ト、線源２が経過時間と共に減衰して起こるドリフト、
或は温度変化によるドリフトの補償は行えるが、それ以
外の原因で起こるドリフトは補償できない。
との間の放射線通路にほこりが堆積して起こるドリフ
ト、線源２が経過時間と共に減衰して起こるドリフト、
或は温度変化によるドリフトの補償は行えるが、それ以
外の原因で起こるドリフトは補償できない。
本発明で解決しようとする技術的課題は、前記坪量計に
おいて、ほこりの堆積、線源の減衰、或は温度変化以外
の原因によって起こるドリフトを補償することにある。
おいて、ほこりの堆積、線源の減衰、或は温度変化以外
の原因によって起こるドリフトを補償することにある。
＜問題点を解決するための手段＞ 本発明方法は、下記ａ乃至ｄの工程より構成される。
ａ．最初の校正時に、前記線源のシャッターを閉じた状
態、空気層のみの状態、及び坪量既知の各種標準サンプ
ルを用いた状態で測定を行い検量線を求める工程 ｂ．前記最初の校正時から所定時間経過後に、前記線源
のシャッター機構を閉じた状態、及び空気層のみの状態
で測定を行い、経過時間に従って減衰した線源の理論値
を求める一方、この理論値と実測値とに基づいて放射線
通路のほこりの堆積量を演算により求める工程 ｃ．前記最初の校正時から所定時間経過後に、坪量既知
（Ｓ）の内蔵標準サンプルを用いて測定を行い、この測
定値と、前記線源の減衰補正、並びに前記ほこりの堆積
補正を行った演算式とに基づき誤った坪量Ｓ′を求める
工程、及び ｄ．前記内蔵標準サンプルの坪量ＳとＳ′とより誤差係
数を求め、これにより前記演算式を補正しこの式を用い
て前記シート状材料の真の坪量を求める工程。
態、空気層のみの状態、及び坪量既知の各種標準サンプ
ルを用いた状態で測定を行い検量線を求める工程 ｂ．前記最初の校正時から所定時間経過後に、前記線源
のシャッター機構を閉じた状態、及び空気層のみの状態
で測定を行い、経過時間に従って減衰した線源の理論値
を求める一方、この理論値と実測値とに基づいて放射線
通路のほこりの堆積量を演算により求める工程 ｃ．前記最初の校正時から所定時間経過後に、坪量既知
（Ｓ）の内蔵標準サンプルを用いて測定を行い、この測
定値と、前記線源の減衰補正、並びに前記ほこりの堆積
補正を行った演算式とに基づき誤った坪量Ｓ′を求める
工程、及び ｄ．前記内蔵標準サンプルの坪量ＳとＳ′とより誤差係
数を求め、これにより前記演算式を補正しこの式を用い
て前記シート状材料の真の坪量を求める工程。
＜作用＞ 前記の技術手段は次のように作用する。即ち、前記検量
線が不変ならば、前記最初の校正時から所定時間経過後
に測定を行った場合、前記内蔵標準サンプルの測定値Ｉ
Ｓと坪量Ｓとは、線源の減衰補正、並びにほこりの堆積
補正を施した下記演算式を満足する筈である。
線が不変ならば、前記最初の校正時から所定時間経過後
に測定を行った場合、前記内蔵標準サンプルの測定値Ｉ
Ｓと坪量Ｓとは、線源の減衰補正、並びにほこりの堆積
補正を施した下記演算式を満足する筈である。
ＩＳ−ＩＢ＝（ＩＡｏ−ＩＢｏ）−λｔ ・−μ(D+S) …（４） 若し、（４）式が満足されない場合、線源の減衰、或は
ほこりの堆積以外の原因で前記検量線が変化しているこ
とを表わしている。
ほこりの堆積以外の原因で前記検量線が変化しているこ
とを表わしている。
そこで、測定値ＩＳより上記式を用いて演算により誤っ
た坪量Ｓ′を求め、ＳとＳ′とより誤差係数ｋ＝Ｓ′／
Ｓを求め、上記式を補正し、通常測定時において以下の
式によって正しい坪量Ｘを求める。
た坪量Ｓ′を求め、ＳとＳ′とより誤差係数ｋ＝Ｓ′／
Ｓを求め、上記式を補正し、通常測定時において以下の
式によって正しい坪量Ｘを求める。
＜実施例＞ 以下図面に従い本発明の実施例を説明する。第１図は本
発明方法を説明するためのフローチャート、第２図は本
発明方法を実施するために使用される線源２の平面図で
ある。先ず、第２図において、２０１はβ線源を収容す
るボックス、２０２は放射線照射窓、２０３はサンプル
ホルダーで、内蔵標準サンプル２０４が載置され、駆動
用モータ２０５に軸支されたアーム２０６によって照射
窓２０２部分に出入する。２０７はサンプルホルダー２
０３のガイドである。２０８は本図では図示されていな
いシャッター機構の駆動用モータで、このシャッター機
構もサンプルホルダー２０３と同様な動きをする。
発明方法を説明するためのフローチャート、第２図は本
発明方法を実施するために使用される線源２の平面図で
ある。先ず、第２図において、２０１はβ線源を収容す
るボックス、２０２は放射線照射窓、２０３はサンプル
ホルダーで、内蔵標準サンプル２０４が載置され、駆動
用モータ２０５に軸支されたアーム２０６によって照射
窓２０２部分に出入する。２０７はサンプルホルダー２
０３のガイドである。２０８は本図では図示されていな
いシャッター機構の駆動用モータで、このシャッター機
構もサンプルホルダー２０３と同様な動きをする。
次に、本発明方法を第１図のフローチャート、並びに第
３図の説明図に従い説明する。ステップ（１）におい
て、工場出荷時のような最初の校正時、線源と検出器３
との間の放射線通路にほこりが堆積していない状態で、
坪量既知の各種標準サンプルを照射窓２０２部分に当て
て測定を行い、第３図の検量線Ｃｏを得る。
３図の説明図に従い説明する。ステップ（１）におい
て、工場出荷時のような最初の校正時、線源と検出器３
との間の放射線通路にほこりが堆積していない状態で、
坪量既知の各種標準サンプルを照射窓２０２部分に当て
て測定を行い、第３図の検量線Ｃｏを得る。
ステップ（２）において、所定時間経過後、前記シャッ
ター機構を閉じた状態での測定、及び空気層のみの測定
を行い、（１），（２）式のところで説明したような、
線源の減衰補正、ほこりの堆積補正を行う。
ター機構を閉じた状態での測定、及び空気層のみの測定
を行い、（１），（２）式のところで説明したような、
線源の減衰補正、ほこりの堆積補正を行う。
ステップ（３）において、坪量既知（Ｓ）の内蔵標準サ
ンプル２０４を用いて測定を行う。測定値Ｉｓと坪量Ｓ
とは、線源の減衰補正、ほこりの堆積補正を施した
（４）式を満足する筈であるが、満足しない場合には、
他の原因でドリフトが生じ、第３図に示すごとく、検量
線がＣｏからＣ１に変化していることを表わしてい。
尚、Ｃ２は測定値のカーブを示す。
ンプル２０４を用いて測定を行う。測定値Ｉｓと坪量Ｓ
とは、線源の減衰補正、ほこりの堆積補正を施した
（４）式を満足する筈であるが、満足しない場合には、
他の原因でドリフトが生じ、第３図に示すごとく、検量
線がＣｏからＣ１に変化していることを表わしてい。
尚、Ｃ２は測定値のカーブを示す。
第３図において、最初の校正時には内蔵標準サンプル２
０４を用いた測定点は検量線ＣＯ上のＰ１にある。Ｐ２
は、ｔ時間経過後、ほこりＤが堆積した状態で内蔵標準
サンプル２０４を用いて行った測定点である。この点
は、線源の減衰補正（Ａ１）、ほこりの堆積補正
（Ａ２）を行えばＰ１点に戻る筈であるが、何等かの原
因による誤差Ｅ１が加わって、点Ｐ３に戻ってしまう場
合である。
０４を用いた測定点は検量線ＣＯ上のＰ１にある。Ｐ２
は、ｔ時間経過後、ほこりＤが堆積した状態で内蔵標準
サンプル２０４を用いて行った測定点である。この点
は、線源の減衰補正（Ａ１）、ほこりの堆積補正
（Ａ２）を行えばＰ１点に戻る筈であるが、何等かの原
因による誤差Ｅ１が加わって、点Ｐ３に戻ってしまう場
合である。
このような場合、ステップ（４）において、測定値ＩＳ
と（４）式とより、誤った坪量Ｓ′を求め、更に、ステ
ップ（５）において、ＳとＳ′とより誤差係数ｋ＝Ｓ′
／Ｓを求める。
と（４）式とより、誤った坪量Ｓ′を求め、更に、ステ
ップ（５）において、ＳとＳ′とより誤差係数ｋ＝Ｓ′
／Ｓを求める。
次いで、（４）式に誤差係数ｋの補正を施し、通常測定
時、（５）式を用いて、測定値Ｉからシート状材料４の
真の坪量Ｘを求める（ステップ（６））。
時、（５）式を用いて、測定値Ｉからシート状材料４の
真の坪量Ｘを求める（ステップ（６））。
＜発明の効果＞ 本発明によれば、前記線源と検出器との間の放射線通路
にほこりが堆積して起こるドリフト、線源が経過時間と
共に減衰して起こるドリフト、或は温度変化によるドリ
フトの補正が行える他、それ以外の原因で起こるドリフ
トについても補償することができる。
にほこりが堆積して起こるドリフト、線源が経過時間と
共に減衰して起こるドリフト、或は温度変化によるドリ
フトの補正が行える他、それ以外の原因で起こるドリフ
トについても補償することができる。
第１図は本発明方法を説明するためのフローチャート、
第２図は本発明方法を実施するために使用される線源の
平面図、第３図は本発明方法を説明するための説明図、
第４図は坪量測定装置の全体斜視図、第５図は従来方法
を説明するための説明図である。 ２……線源、２０４……内蔵標準サンプル、３……検出
器、４……シート状材料、Ｃｏ……最初の校正時の検量
線、Ｄ……ほこりの堆積、Ｓ……内蔵標準サンプルの坪
量
第２図は本発明方法を実施するために使用される線源の
平面図、第３図は本発明方法を説明するための説明図、
第４図は坪量測定装置の全体斜視図、第５図は従来方法
を説明するための説明図である。 ２……線源、２０４……内蔵標準サンプル、３……検出
器、４……シート状材料、Ｃｏ……最初の校正時の検量
線、Ｄ……ほこりの堆積、Ｓ……内蔵標準サンプルの坪
量
Claims (1)
- 【請求項１】シート状材料を挾んで放射線源と検出器と
を対向配置しこのシート状材料の坪量を測定する坪量計
の校正方法であって下記ａ乃至ｄの工程を行うことを特
徴とする坪量計の校正方法。 ａ．最初の校正時に、前記線源のシャッターを閉じた状
態、空気層のみの状態、及び坪量既知の各種標準サンプ
ルを用いた状態で測定を行い検量線を求める工程 ｂ．前記最初の校正時から所定時間経過後に、前記線源
のシャッター機構を閉じた状態、及び空気層のみの状態
で測定を行い、経過時間に従って減衰した線源の理論値
を求める一方、この理論値と実測値とに基づいて放射線
通路のほこりの堆積量を演算により求める工程 ｃ．前記最初の校正時から所定時間経過後に、坪量既知
（Ｓ）の内蔵標準サンプルを用いて測定を行い、この測
定値と、前記線源の減衰補正、並びに前記ほこりの堆積
補正を行った演算式とに基づき誤った坪量Ｓ′を求める
工程、及び ｄ．前記内蔵標準サンプルの坪量ＳとＳ′とより誤差係
数を求め、これにより前記演算式を補正しこの式を用い
て前記シート状材料の真の坪量を求める工程。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31253387A JPH0629758B2 (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 坪量計の校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31253387A JPH0629758B2 (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 坪量計の校正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01153917A JPH01153917A (ja) | 1989-06-16 |
| JPH0629758B2 true JPH0629758B2 (ja) | 1994-04-20 |
Family
ID=18030369
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31253387A Expired - Lifetime JPH0629758B2 (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 坪量計の校正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0629758B2 (ja) |
-
1987
- 1987-12-10 JP JP31253387A patent/JPH0629758B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01153917A (ja) | 1989-06-16 |
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