JPH02259409A - β線厚さ計 - Google Patents
β線厚さ計Info
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- JPH02259409A JPH02259409A JP8070989A JP8070989A JPH02259409A JP H02259409 A JPH02259409 A JP H02259409A JP 8070989 A JP8070989 A JP 8070989A JP 8070989 A JP8070989 A JP 8070989A JP H02259409 A JPH02259409 A JP H02259409A
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- Japan
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- basis weight
- sheet
- measurement
- sample
- point
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、β線を発生する線源部と、シートを挾んで対
向する検出部と、前記線源部と検出部とをシートの幅方
向にスキャンさせる駆動部とを備え、前記シートの坪量
（単位面積当りの重量）や厚さを測定するβ線厚さ計に
関する。
向する検出部と、前記線源部と検出部とをシートの幅方
向にスキャンさせる駆動部とを備え、前記シートの坪量
（単位面積当りの重量）や厚さを測定するβ線厚さ計に
関する。
（従来の技術）
先ず、図面を用いてβ線厚さ計の説明を行う。
第２図はβ線厚さ計の構成図である。
図中、１及び２は垂直フレーム、３及び４は水平フレー
ムで、これらでＯ形フレーム５が構成されている。６は
シート（例えば、紙やプラスチックフィルムシート）、
７はβ線を発生する線源部、８は検出部である。線源部
７及び検出部８は、適度の間隙をもって水平フレーム３
及び４に設置され、水平フレーム３，４上のＬｌとＬ２
の間を同期して往復走行するようになっている。
ムで、これらでＯ形フレーム５が構成されている。６は
シート（例えば、紙やプラスチックフィルムシート）、
７はβ線を発生する線源部、８は検出部である。線源部
７及び検出部８は、適度の間隙をもって水平フレーム３
及び４に設置され、水平フレーム３，４上のＬｌとＬ２
の間を同期して往復走行するようになっている。
ここで、β線を用いた坪量の検出原理を説明する。線源
部７から出て検出部８で検出されるβ線の強度は、シー
ト６を透過することによって減衰するが、この減衰の割
合は、シート６がない場合のβ線の強度と比べて下記の
ような相関関係がある。
部７から出て検出部８で検出されるβ線の強度は、シー
ト６を透過することによって減衰するが、この減衰の割
合は、シート６がない場合のβ線の強度と比べて下記の
ような相関関係がある。
１ｍｌ、、ｅ−’°１ ・・・
■ここで、■・・・透過β線強度 １０１・・・シート６がない時のβ線強度μ・・・吸収
係数 ｐ・・・シート６の坪量 ■式のような相関関係を利用して、設定された測定点（
例えば、シートの幅方向において数百点）におけるシー
ト６の坪量（単位面積当りの重量）を計測するようにし
ている。又、シート６の厚さは、シート６の坪量を密度
で除算するすることにより得られる。
■ここで、■・・・透過β線強度 １０１・・・シート６がない時のβ線強度μ・・・吸収
係数 ｐ・・・シート６の坪量 ■式のような相関関係を利用して、設定された測定点（
例えば、シートの幅方向において数百点）におけるシー
ト６の坪量（単位面積当りの重量）を計測するようにし
ている。又、シート６の厚さは、シート６の坪量を密度
で除算するすることにより得られる。
（発明が解決しようとする課題）
上記構成の従来例において、Ｏ型フレーム５の水平フレ
ーム３，４の長さが長くなると、撓み等により水平フレ
ーム３．４間の間隙が一定していない。
ーム３，４の長さが長くなると、撓み等により水平フレ
ーム３．４間の間隙が一定していない。
従って、線源部７と測定部８との間の間隙（測定ギャッ
プ）が、必ずしも全幅にわたって一定ではない。測定ギ
ャップの大きさが変化すると、測定ギャップにおける空
気層の厚さが変化する等の理由により、センサの測定値
に誤差が生じる。それゆえ、各測定点において、得られ
た測定値に補正を加える処理（フレーム補正）が必要で
ある。
プ）が、必ずしも全幅にわたって一定ではない。測定ギ
ャップの大きさが変化すると、測定ギャップにおける空
気層の厚さが変化する等の理由により、センサの測定値
に誤差が生じる。それゆえ、各測定点において、得られ
た測定値に補正を加える処理（フレーム補正）が必要で
ある。
従来、この様なフレーム補正は、測定ギャップに空気層
しか介在しない状態で、各測定点での測定値を求め、そ
の値と、校正基準点での測定値との差分を、各測定点に
おけるフレーム補正量としていた。これは、測定ギャッ
プの大きさの変化によって生ずる誤差が、主として空気
層の厚さの変化によってのみ生じると考えられていたた
めである。
しか介在しない状態で、各測定点での測定値を求め、そ
の値と、校正基準点での測定値との差分を、各測定点に
おけるフレーム補正量としていた。これは、測定ギャッ
プの大きさの変化によって生ずる誤差が、主として空気
層の厚さの変化によってのみ生じると考えられていたた
めである。
しかしながら、測定ギャップに実際にシート６が介在す
る場合には、空気層のみで行ったフレーム補正量では、
実際に生じた誤差量を正しく補正できないことがあると
いう問題点があった。
る場合には、空気層のみで行ったフレーム補正量では、
実際に生じた誤差量を正しく補正できないことがあると
いう問題点があった。
この−例を第３図を用いて説明する。この図は各坪量の
シートにおいてのＺ特性を示している。
シートにおいてのＺ特性を示している。
（ａ）はシートがＯｇ／ゴの場合、（ｂ）はシートが１
０２ｇ／ｒｒｒの場合、（ｃ）はシートが５０４ｇ／ｒ
ｒｒの場合を示し、線分Ｅは規定の測定ギャップを示し
ている。また、２はシートの流れ方向をＸ１シートの幅
方向をＹとした時のフレーム方向であり、ＢＷは坪量で
ある。よって、第３図は２方向の変化、すなわち、測定
ギャップの変化に対する坪量指示値の変化を示している
。
０２ｇ／ｒｒｒの場合、（ｃ）はシートが５０４ｇ／ｒ
ｒｒの場合を示し、線分Ｅは規定の測定ギャップを示し
ている。また、２はシートの流れ方向をＸ１シートの幅
方向をＹとした時のフレーム方向であり、ＢＷは坪量で
ある。よって、第３図は２方向の変化、すなわち、測定
ギャップの変化に対する坪量指示値の変化を示している
。
（ａ）のように、シートがＯｇ／ｎｆ（シートが介在し
ない場合）の場合は、最初に規定された測定ギャップＥ
と、Ｚ特性が最適になる測定ギャップとは略一致してい
るが、（ｂ）、 （Ｃ）と実際にシートが介在し、坪
量が多くなるにしたがって、当初規定された測定ギャッ
プＥと、Ｚ特性が最適になる測定ギャップとは違いがあ
ることが分かる。
ない場合）の場合は、最初に規定された測定ギャップＥ
と、Ｚ特性が最適になる測定ギャップとは略一致してい
るが、（ｂ）、 （Ｃ）と実際にシートが介在し、坪
量が多くなるにしたがって、当初規定された測定ギャッ
プＥと、Ｚ特性が最適になる測定ギャップとは違いがあ
ることが分かる。
すなわち、測定ギャップにシートが介在する場合には、
測定ギャップの大きさが変化することで生じる誤差量は
シートが介在しない場合の誤差量とは異なる。従って、
空気層で求めた補正量では適切な補正とはならない。
測定ギャップの大きさが変化することで生じる誤差量は
シートが介在しない場合の誤差量とは異なる。従って、
空気層で求めた補正量では適切な補正とはならない。
本発明は上記問題点に鑑みてなされたもので、その目的
は、シートが介在する場合に適切なフレーム補正ができ
るβ線厚さ計を提供することにある。
は、シートが介在する場合に適切なフレーム補正ができ
るβ線厚さ計を提供することにある。
（課題を解決するための手段）
上記課題を解決する本発明は、β線を発生する線源部と
、シートを挾んで対向する検出部と、前記線源部と検出
部とをシートの幅方向にスキャンさせる駆動部とを備え
、前記シートの坪量（単位面積当りの重量）や厚さを測
定するβ線厚さ計において、実際測定するシートの坪量
付近の坪量を有するサンプルを前記線源部と検出部との
間隙に挿入し、校正基準点及び各測定点での前記サンプ
ルの坪量値を求め、前記各測定点における前記サンプル
の坪量の計測値と前記校正点でのサンプル坪量の計測値
との差分を算出し、実際の坪量測定の際に、前記各差分
を用いて、前記各測定点での坪量値の補正を行うように
したものである。
、シートを挾んで対向する検出部と、前記線源部と検出
部とをシートの幅方向にスキャンさせる駆動部とを備え
、前記シートの坪量（単位面積当りの重量）や厚さを測
定するβ線厚さ計において、実際測定するシートの坪量
付近の坪量を有するサンプルを前記線源部と検出部との
間隙に挿入し、校正基準点及び各測定点での前記サンプ
ルの坪量値を求め、前記各測定点における前記サンプル
の坪量の計測値と前記校正点でのサンプル坪量の計測値
との差分を算出し、実際の坪量測定の際に、前記各差分
を用いて、前記各測定点での坪量値の補正を行うように
したものである。
（作用）
本発明のβ線厚さ計において、校正基準点及び各測定点
でのサンプルの坪量値を求め、前記各測定点における前
記サンプルの坪量の計測値と前記校正点でのサンプル坪
量の計測値との差分を算出し、実際の坪量測定の際に、
前記各差分を用いて、前記各測定点での坪量値の補正を
行う。
でのサンプルの坪量値を求め、前記各測定点における前
記サンプルの坪量の計測値と前記校正点でのサンプル坪
量の計測値との差分を算出し、実際の坪量測定の際に、
前記各差分を用いて、前記各測定点での坪量値の補正を
行う。
（実施例）
次に図面を用いて本発明の一実施例を説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す構成図である。
図において、１１及び１２は垂直フレーム、１３及び１
４は水平フレームで、これらで０形フレーム１５が構成
されている。１７はβ線を発生する線源部、１８は検出
部である。線源部１７及び検出部１８は、適度の間隙を
もって水平フレーム１３及び１４に設置され、これらは
モータ１９によって水平フレーム１３．１４上の測定幅
りを同期して往復走行するようになっている。
４は水平フレームで、これらで０形フレーム１５が構成
されている。１７はβ線を発生する線源部、１８は検出
部である。線源部１７及び検出部１８は、適度の間隙を
もって水平フレーム１３及び１４に設置され、これらは
モータ１９によって水平フレーム１３．１４上の測定幅
りを同期して往復走行するようになっている。
２０はモータ１９の駆動回路、２１はモータ１９の回転
にともなってパルスを発生するエンコーダ、２２は各種
データ（検出部１８からのβ線検出データやエンコーダ
２１からのモータ１９の回転偏位データ等）を取り込ん
で、演算（シートの坪量や厚さの演算、線源部１７．検
出部１８の位置演算等）を行う演算制御部である。２３
は線源部１７．検出部１８が所定の測定点に来たときに
検出部１８からのβ線検出データを通すゲート回路、２
４はゲート回路２３から出されたβ線検出データ（アナ
ログ信号）をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器で
ある。
にともなってパルスを発生するエンコーダ、２２は各種
データ（検出部１８からのβ線検出データやエンコーダ
２１からのモータ１９の回転偏位データ等）を取り込ん
で、演算（シートの坪量や厚さの演算、線源部１７．検
出部１８の位置演算等）を行う演算制御部である。２３
は線源部１７．検出部１８が所定の測定点に来たときに
検出部１８からのβ線検出データを通すゲート回路、２
４はゲート回路２３から出されたβ線検出データ（アナ
ログ信号）をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器で
ある。
次に、フレーム補正を説明する。
先ず、校正基準点Ｂに線源部１７．検出部１８があると
きに、測定ギャップＧにサンプルホルダ２５に載せたサ
ンプル２６をセットする。このサンプル２６の坪量値は
装置の測定坪量範囲の中間値付近のものが好ましい。
きに、測定ギャップＧにサンプルホルダ２５に載せたサ
ンプル２６をセットする。このサンプル２６の坪量値は
装置の測定坪量範囲の中間値付近のものが好ましい。
次に、Ｂ点で統計的変動を考慮して一定時間サンプル２
６の坪量をｎ１定し、その平均値をＭＢ、とする。
６の坪量をｎ１定し、その平均値をＭＢ、とする。
サンプル２６を載せたまま、線源部１７．検出部１８を
往復走行させ、測定幅り内にある多数の測定点毎にサン
プルの坪量を測定する。このとき、０型フレーム１５に
構造的な撓み等があると、構成基準点Ｂでの坪量とは異
なった値となる。
往復走行させ、測定幅り内にある多数の測定点毎にサン
プルの坪量を測定する。このとき、０型フレーム１５に
構造的な撓み等があると、構成基準点Ｂでの坪量とは異
なった値となる。
この各測定点ごとに求めた測定値と、校正基準点での測
定値ＭＢ、との差分を演算制御部内のメモリに記憶させ
ておく。
定値ＭＢ、との差分を演算制御部内のメモリに記憶させ
ておく。
往路での差分・・・ＭＢＩ ＭＰ
復路での差分・・・ＭＢＩ Ｍ１１
サンプル２６を載せたまま、往復走行を多数回（本実施
例においては２０回）連続して行い、各測定点での往路
分、復路骨の差分を各測定点ごとに積算し、演算制御部
２２に格納する。ここで、差分をとったのは、メモリを
節約するためである。
例においては２０回）連続して行い、各測定点での往路
分、復路骨の差分を各測定点ごとに積算し、演算制御部
２２に格納する。ここで、差分をとったのは、メモリを
節約するためである。
往路分・・・Σ （Ｍ Ｂ Ｉ Ｍ ｐ ＋ ）・・
・■復路骨 Σ （Ｍ ａ ｒ Ｍ ａ ＋）・・・
■次に、ドリフトを考慮して、線源部１７．検出部１８
を再び構成基準点Ｂに移動させ、一定時間サンプル２６
を測定し、その平均値をＭＢ２とする。
・■復路骨 Σ （Ｍ ａ ｒ Ｍ ａ ＋）・・・
■次に、ドリフトを考慮して、線源部１７．検出部１８
を再び構成基準点Ｂに移動させ、一定時間サンプル２６
を測定し、その平均値をＭＢ２とする。
そして、■、■式より、
Σ ＭＦ、・・・■
Σ ＭＢ、・・・■
を演算し、各測定点ごとのフレーム補正量として、（Ｍ
Ｂｌ＋ＭＢ２） ／ ２−１ ／ ｎ −Σ Ｍ Ｆ、
−・・■（ＭＢＩ＋ＭＢ２）／２ １／ｎ・ Σ Ｍ
Ｂ 、−・−■番■ｌ を求め、演算制御部２２に格納し、以後の各ｎ１定点ご
との補正量として用いる。
Ｂｌ＋ＭＢ２） ／ ２−１ ／ ｎ −Σ Ｍ Ｆ、
−・・■（ＭＢＩ＋ＭＢ２）／２ １／ｎ・ Σ Ｍ
Ｂ 、−・−■番■ｌ を求め、演算制御部２２に格納し、以後の各ｎ１定点ご
との補正量として用いる。
次に、実際の坪量測定時における作動を説明する。
シートは測定幅りの領域で紙面に対して垂直方向に流れ
ている。演算制御部２２は駆動回路２０を介してモータ
１９を駆動し、第１図の状態から、線源部１７及び検出
部１８を図において右方向に駆動する。演算制御部２２
はエンコーダ出力を取り込んで常に線源部１７及び検出
部１８の位置をモニタしている。そして、線源部１７及
び検出部１８が測定幅り内に設定された測定点にくると
、演算制御部２２はゲート回路２３を開く、そして、検
出部１８からのβ線検出データ信号はＡ／Ｄ変換器２４
を介して演算制御部２２へ取り込まれる。
ている。演算制御部２２は駆動回路２０を介してモータ
１９を駆動し、第１図の状態から、線源部１７及び検出
部１８を図において右方向に駆動する。演算制御部２２
はエンコーダ出力を取り込んで常に線源部１７及び検出
部１８の位置をモニタしている。そして、線源部１７及
び検出部１８が測定幅り内に設定された測定点にくると
、演算制御部２２はゲート回路２３を開く、そして、検
出部１８からのβ線検出データ信号はＡ／Ｄ変換器２４
を介して演算制御部２２へ取り込まれる。
演算制御部２２は各検出点ごとに拾い読みされたβ線検
出データ信号とフレーム補正で得られた補正量を用いて
、検出点でのシートの坪量を演算する。
出データ信号とフレーム補正で得られた補正量を用いて
、検出点でのシートの坪量を演算する。
上記構成によれば、従来のフレーム補正に比べて、実際
に使用する測定範囲での適切なフレーム補正が可能とな
る。また、測定坪量範囲の下限。
に使用する測定範囲での適切なフレーム補正が可能とな
る。また、測定坪量範囲の下限。
上限付近では正しいフレーム補正量との間に過不足が生
じるが、その量は、従来の空気層のみで行ったフレーム
補正量との差に比べて小さく、実用上は問題がない。
じるが、その量は、従来の空気層のみで行ったフレーム
補正量との差に比べて小さく、実用上は問題がない。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、校正基準点及び
各測定点でのサンプルの計測値と前記校正点でのサンプ
ル坪量値との差分を算出し、実際の坪量測定の際に、前
記各差分を用いて、前記各測定点での坪量値の補正を行
うようにしたことにより、シートが介在する場合に適切
なフレーム補正ができるシートの坪量測定装置を実現で
きる。
各測定点でのサンプルの計測値と前記校正点でのサンプ
ル坪量値との差分を算出し、実際の坪量測定の際に、前
記各差分を用いて、前記各測定点での坪量値の補正を行
うようにしたことにより、シートが介在する場合に適切
なフレーム補正ができるシートの坪量測定装置を実現で
きる。
第１図は本発明の一実施例を示す構成図、第２図はシー
トの坪量測定装置の構成図、第３図は各坪量のシートに
おいてのＺ特性を示す図である。 これらの図において、 １．２．１１．１２・・・垂直フレーム３．４．１３．
１４・・・水平フレーム５．１５・・・０型フレーム ６・・・シート ７．１７・・・線源部８．
１８・・・検出部 １９・・・モータ２０・・・駆
動回路 ２１・・・エンコーダ２２・・・演算制
御部 ２４・・・Ａ／Ｄ変換器 ２３・・・ゲート回路
トの坪量測定装置の構成図、第３図は各坪量のシートに
おいてのＺ特性を示す図である。 これらの図において、 １．２．１１．１２・・・垂直フレーム３．４．１３．
１４・・・水平フレーム５．１５・・・０型フレーム ６・・・シート ７．１７・・・線源部８．
１８・・・検出部 １９・・・モータ２０・・・駆
動回路 ２１・・・エンコーダ２２・・・演算制
御部 ２４・・・Ａ／Ｄ変換器 ２３・・・ゲート回路
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 β線を発生する線源部と、シートを挾んで対向する検出
部と、前記線源部と検出部とをシートの幅方向にスキャ
ンさせる駆動部とを備え、前記シートの坪量（単位面積
当りの重量）や厚さを測定するβ線厚さ計において、 実際測定するシートの坪量付近の坪量を有するサンプル
を前記線源部と検出部との間隙に挿入し、校正基準点及
び各測定点での前記サンプルの坪量値を求め、 前記各測定点における前記サンプルの坪量の計測値と前
記校正点でのサンプル坪量の計測値との差分を算出し、 実際の坪量測定の際に、前記各差分を用いて、前記各測
定点での坪量値の補正を行うようにしたことを特徴とす
るβ線厚さ計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8070989A JPH02259409A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | β線厚さ計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8070989A JPH02259409A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | β線厚さ計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02259409A true JPH02259409A (ja) | 1990-10-22 |
Family
ID=13725862
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8070989A Pending JPH02259409A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | β線厚さ計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02259409A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013076662A (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-25 | Sumitomo Kinzoku Technol Kk | リニアインダクションモータとリアクションプレートとの隙間モニタリング装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4965252A (ja) * | 1972-10-23 | 1974-06-25 | ||
| JPS5860363A (ja) * | 1981-10-06 | 1983-04-09 | Nec Corp | 論理装置の動作履歴記憶方式 |
-
1989
- 1989-03-31 JP JP8070989A patent/JPH02259409A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4965252A (ja) * | 1972-10-23 | 1974-06-25 | ||
| JPS5860363A (ja) * | 1981-10-06 | 1983-04-09 | Nec Corp | 論理装置の動作履歴記憶方式 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013076662A (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-25 | Sumitomo Kinzoku Technol Kk | リニアインダクションモータとリアクションプレートとの隙間モニタリング装置 |
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