JPH06301978A - 光記録のプリパルス条件及び熱遮断条件決定方法、 同決定装置、光記録方法及び光記録装置 - Google Patents
光記録のプリパルス条件及び熱遮断条件決定方法、 同決定装置、光記録方法及び光記録装置Info
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- JPH06301978A JPH06301978A JP5232633A JP23263393A JPH06301978A JP H06301978 A JPH06301978 A JP H06301978A JP 5232633 A JP5232633 A JP 5232633A JP 23263393 A JP23263393 A JP 23263393A JP H06301978 A JPH06301978 A JP H06301978A
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- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
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- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】「マークの後エッジ位置の、記録データパター
ン依存性」を解消する。 【構成】レーザビームを出射する光源２と、前記レーザ
ビームを光記録媒体Ｄに照射する照射手段５と、媒体Ｄ
上の前記レーザビームの照射位置を変化させる移動手段
６と、マークを形成すべく、光記録媒体に照射するレー
ザビーム強度を、媒体Ｄ面の温度がある一定温度となる
プレヒート状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度
ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低
い強度ＰW2に立ち下げる変調手段１と、時間ＴW1経過時
の媒体Ｄ面上に照射されたレーザビームのピーク温度位
置又はスポット中心位置での温度が、ＰW2に立ち下げた
後も前記温度で一定となるようにＰW2を制御する制御手
段とを備える。
ン依存性」を解消する。 【構成】レーザビームを出射する光源２と、前記レーザ
ビームを光記録媒体Ｄに照射する照射手段５と、媒体Ｄ
上の前記レーザビームの照射位置を変化させる移動手段
６と、マークを形成すべく、光記録媒体に照射するレー
ザビーム強度を、媒体Ｄ面の温度がある一定温度となる
プレヒート状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度
ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低
い強度ＰW2に立ち下げる変調手段１と、時間ＴW1経過時
の媒体Ｄ面上に照射されたレーザビームのピーク温度位
置又はスポット中心位置での温度が、ＰW2に立ち下げた
後も前記温度で一定となるようにＰW2を制御する制御手
段とを備える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光記録のプリパルス条
件及び熱遮断条件決定方法、同決定装置、光記録方法及
び光記録装置に関する。
件及び熱遮断条件決定方法、同決定装置、光記録方法及
び光記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光記録は、現在、レーザビームの熱的性
質が専ら利用されて記録が成されており、記録媒体（光
ディスク）としては、（１）一度だけ記録可能なライト
ワンス型光ディスク（孔開けタイプ）、例えば薄い金属
膜もしくはサーメット膜を記録層とする光ディスク、
（２）記録、再生、消去が繰り返し何度でも可能な光デ
ィスク、例えば磁性薄膜を記録層とする光磁気ディス
ク、結晶相と非晶質相との間で相変化する金属膜もしく
はサーメット膜を記録層とする相変化光ディスクなどが
挙げられる。
質が専ら利用されて記録が成されており、記録媒体（光
ディスク）としては、（１）一度だけ記録可能なライト
ワンス型光ディスク（孔開けタイプ）、例えば薄い金属
膜もしくはサーメット膜を記録層とする光ディスク、
（２）記録、再生、消去が繰り返し何度でも可能な光デ
ィスク、例えば磁性薄膜を記録層とする光磁気ディス
ク、結晶相と非晶質相との間で相変化する金属膜もしく
はサーメット膜を記録層とする相変化光ディスクなどが
挙げられる。
【０００３】光ディスクには、これから情報を記録する
トラックが渦巻き状又は同心円状に何万本も形成されて
いる。このトラック上に０と１に相当する２種の情報単
位が形成され、情報が記録される。実際には、トラック
それ自身（つまり、地の部分）が０又は１の一方に相当
する第１情報単位を示し、トラック上に点々と又は島状
に０又は１の他方に相当する第２情報単位（最近、これ
をマークと呼ぶ）が形成される。この場合、マークの有
無、マーク間隔、マークの長さ、マーク形成開始位置
（つまり、マークの前エッジ位置）、マーク形成終了位
置（つまり、マークの後エッジ位置）等が情報を表す。
特にマークのエッジ位置が情報を表す方法はマーク長記
録と呼ばれる。
トラックが渦巻き状又は同心円状に何万本も形成されて
いる。このトラック上に０と１に相当する２種の情報単
位が形成され、情報が記録される。実際には、トラック
それ自身（つまり、地の部分）が０又は１の一方に相当
する第１情報単位を示し、トラック上に点々と又は島状
に０又は１の他方に相当する第２情報単位（最近、これ
をマークと呼ぶ）が形成される。この場合、マークの有
無、マーク間隔、マークの長さ、マーク形成開始位置
（つまり、マークの前エッジ位置）、マーク形成終了位
置（つまり、マークの後エッジ位置）等が情報を表す。
特にマークのエッジ位置が情報を表す方法はマーク長記
録と呼ばれる。
【０００４】光記録装置は、主として、レーザビーム光
源、該光源からレーザビームを光ディスクに照射する照
射光学系、レーザビーム強度を記録すべき情報に従い変
調する変調手段、並びに光ディスクの回転手段からな
る。光磁気記録装置の場合には、更にビームの照射位置
にバイアス磁界を印加する磁気手段が付加される。とこ
ろで、マーク長記録で光ディスクに記録を行う方式に
は、デジタル記録方式とアナログ記録方式がある。
源、該光源からレーザビームを光ディスクに照射する照
射光学系、レーザビーム強度を記録すべき情報に従い変
調する変調手段、並びに光ディスクの回転手段からな
る。光磁気記録装置の場合には、更にビームの照射位置
にバイアス磁界を印加する磁気手段が付加される。とこ
ろで、マーク長記録で光ディスクに記録を行う方式に
は、デジタル記録方式とアナログ記録方式がある。
【０００５】一般に、デジタル記録とは、変調方式によ
って決まる数種類の固定長マークを用いて記録する方法
を言う。例えば（１，７）変調方式を用いると、マーク
の種類は、書き込みクロックをＴとして、２Ｔ〜８Ｔの
７種類となる。これに対し、アナログ記録は、マークの
長さやマークの間隔が任意である。アナログ記録は主に
映像信号や音声信号を記録する用途に使用されており、
次のような過程で記録される。まず、映像信号を周波数
変調した映像搬送波と音声信号を周波数変調した音声搬
送波をある一定の振幅比で加算する。次にその合成信号
を、あるしきい値レベルで２値化し、０と１に相当する
２種の情報単位に変換する。この０もしくは１のどちら
かを、光ディスク上に、マークとして記録する。その記
録過程を図１２に示す。この場合、マークの長さが映像
信号の情報を示し、デューティ（マーク周期に対するマ
ーク長さの比率）が音声信号の情報を示す。
って決まる数種類の固定長マークを用いて記録する方法
を言う。例えば（１，７）変調方式を用いると、マーク
の種類は、書き込みクロックをＴとして、２Ｔ〜８Ｔの
７種類となる。これに対し、アナログ記録は、マークの
長さやマークの間隔が任意である。アナログ記録は主に
映像信号や音声信号を記録する用途に使用されており、
次のような過程で記録される。まず、映像信号を周波数
変調した映像搬送波と音声信号を周波数変調した音声搬
送波をある一定の振幅比で加算する。次にその合成信号
を、あるしきい値レベルで２値化し、０と１に相当する
２種の情報単位に変換する。この０もしくは１のどちら
かを、光ディスク上に、マークとして記録する。その記
録過程を図１２に示す。この場合、マークの長さが映像
信号の情報を示し、デューティ（マーク周期に対するマ
ーク長さの比率）が音声信号の情報を示す。
【０００６】光による記録の原理はデジタル方式もアナ
ログ方式も同じである。以下それを説明する。光記録は
レーザビームの熱的性質を専ら利用する（ヒートモー
ド）ので、原理的には、レーザビーム強度を相対的に高
い第１レベルと相対的に低い基底レベル（第２レベル）
との間でパルス変調すればよく、第１レベルのとき、マ
ークが形成され、第２レベルのとき、マークは形成され
ない。つまり、１つのパルスで１つのマークが形成され
る。第２レベルはマークを形成しないので、第２レベル
はゼロでもよい。しかし、マークを形成したいとき、言
い換えれば、マークの前エッジを形成したいとき、形成
直前のディスク温度状態を、常に積極的に一定温度状態
に保っておくことが好ましい。そうしないと、前エッジ
位置が形成直前の温度状態に依存して変動することにな
る。変動は、高密度で記録しようとすると、障害とな
る。そこで、光ディスクを所定の温度Θpre に余熱して
プレヒート状態にしておくことが好ましく、第２レベル
はこのプレヒート状態（温度Θpre ）を保つ強度Ｐpre
とすることが一般的である。温度Θpre は、マーク形成
直前のディスクの温度が、ビームのピーク温度位置又は
スポット中心位置で記録する情報（データ）パターンに
よらず一定の温度であり、Ｐpre は以下の式で示され
る。
ログ方式も同じである。以下それを説明する。光記録は
レーザビームの熱的性質を専ら利用する（ヒートモー
ド）ので、原理的には、レーザビーム強度を相対的に高
い第１レベルと相対的に低い基底レベル（第２レベル）
との間でパルス変調すればよく、第１レベルのとき、マ
ークが形成され、第２レベルのとき、マークは形成され
ない。つまり、１つのパルスで１つのマークが形成され
る。第２レベルはマークを形成しないので、第２レベル
はゼロでもよい。しかし、マークを形成したいとき、言
い換えれば、マークの前エッジを形成したいとき、形成
直前のディスク温度状態を、常に積極的に一定温度状態
に保っておくことが好ましい。そうしないと、前エッジ
位置が形成直前の温度状態に依存して変動することにな
る。変動は、高密度で記録しようとすると、障害とな
る。そこで、光ディスクを所定の温度Θpre に余熱して
プレヒート状態にしておくことが好ましく、第２レベル
はこのプレヒート状態（温度Θpre ）を保つ強度Ｐpre
とすることが一般的である。温度Θpre は、マーク形成
直前のディスクの温度が、ビームのピーク温度位置又は
スポット中心位置で記録する情報（データ）パターンに
よらず一定の温度であり、Ｐpre は以下の式で示され
る。
【０００７】 Θpre ＝Ａ×Ｐpre ×｛１−exp(−∞／τ）｝＋ΘA ・・・式（３） 但し、Ａ（℃／ｍＷ）は、当該ディスクとスポットと記
録線速度によって決定されるレーザビーム強度の熱効率
であり、ΘA （℃）はビームを全く照射していない状態
でのディスク温度である。マークの形成方法の第１は、
単純に１つのパルスで１つのマークを形成する方法であ
る。図８は、この第１の方法で１つのマークを形成する
場合のレーザビーム強度の波形図である。図８に示すよ
うに、マーク形成を開始すべくレーザビーム強度を基底
レベル（第２レベル）Ｐpre から立ち上げ、立ち上げた
強度（第１レベル）ＰW1を半値幅で時間ＴW1維持した
後、Ｐpre に立ち下げるパルス波形となる。この場合に
は、マーク長が長くなったとき、熱蓄積による弊害がで
る。すなわち、マーク形成を終了すべくレーザビーム強
度をＰpre に立ち下げても、それまでの熱蓄積があるの
で、媒体温度がマーク形成開始温度以下になかなか下が
らない。そのため、マーク長さが不用意に長くなってし
まったり、マークの幅が不用意に太くなるという弊害が
でる。この弊害を「マーク形成の終了位置、つまりマー
クの後エッジ位置の、記録データパターン依存性」と言
う。この依存性は、特に高密度記録にとって障害とな
る。
録線速度によって決定されるレーザビーム強度の熱効率
であり、ΘA （℃）はビームを全く照射していない状態
でのディスク温度である。マークの形成方法の第１は、
単純に１つのパルスで１つのマークを形成する方法であ
る。図８は、この第１の方法で１つのマークを形成する
場合のレーザビーム強度の波形図である。図８に示すよ
うに、マーク形成を開始すべくレーザビーム強度を基底
レベル（第２レベル）Ｐpre から立ち上げ、立ち上げた
強度（第１レベル）ＰW1を半値幅で時間ＴW1維持した
後、Ｐpre に立ち下げるパルス波形となる。この場合に
は、マーク長が長くなったとき、熱蓄積による弊害がで
る。すなわち、マーク形成を終了すべくレーザビーム強
度をＰpre に立ち下げても、それまでの熱蓄積があるの
で、媒体温度がマーク形成開始温度以下になかなか下が
らない。そのため、マーク長さが不用意に長くなってし
まったり、マークの幅が不用意に太くなるという弊害が
でる。この弊害を「マーク形成の終了位置、つまりマー
クの後エッジ位置の、記録データパターン依存性」と言
う。この依存性は、特に高密度記録にとって障害とな
る。
【０００８】マーク形成方法の第２は、この問題を幾分
か解決するものである。図９は、この第２の方法で１つ
のマークを形成する場合のレーザビーム強度の波形図で
ある。この方法では、マークを形成すべく、レーザビー
ム強度をＰpre からＰpre より高い強度ＰW1へ立ち上
げ、ＰW1を半値幅で時間ＴW1維持した後、ＰW1より低い
強度ＰW2に立ち下げ、ＰW2を所定時間維持した後マーク
形成を終了すべくＰpreに立ち下げるのである。この方
式は特にプリパルス方式と呼ばれる。
か解決するものである。図９は、この第２の方法で１つ
のマークを形成する場合のレーザビーム強度の波形図で
ある。この方法では、マークを形成すべく、レーザビー
ム強度をＰpre からＰpre より高い強度ＰW1へ立ち上
げ、ＰW1を半値幅で時間ＴW1維持した後、ＰW1より低い
強度ＰW2に立ち下げ、ＰW2を所定時間維持した後マーク
形成を終了すべくＰpreに立ち下げるのである。この方
式は特にプリパルス方式と呼ばれる。
【０００９】プリパルス方式において、ＰW1とＴW1とＰ
W2は、プリパルス条件と呼ばれている。従来、このプリ
パルス条件は、経験的に決定され、しかも、光ディスク
の種類、個体に依らず、固定されていた。
W2は、プリパルス条件と呼ばれている。従来、このプリ
パルス条件は、経験的に決定され、しかも、光ディスク
の種類、個体に依らず、固定されていた。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】従来の固定されたプリ
パルス条件では、「マークの後エッジ位置の、記録デー
タパターン依存性」を最小にすることが難しい。即ち、
マーク形状が相変わらず後ろが太い涙滴形になったり、
逆に後ろが細い涙滴形になっていた。従って、高密度記
録の場合、使用する光ディスクによっては、マークの後
ろエッジが正確な位置に記録できないと言う問題点があ
った。特にマーク長さが任意であるアナログ記録方式の
場合、この問題は顕著であった。本発明の目的はこの問
題点を解決することにある。
パルス条件では、「マークの後エッジ位置の、記録デー
タパターン依存性」を最小にすることが難しい。即ち、
マーク形状が相変わらず後ろが太い涙滴形になったり、
逆に後ろが細い涙滴形になっていた。従って、高密度記
録の場合、使用する光ディスクによっては、マークの後
ろエッジが正確な位置に記録できないと言う問題点があ
った。特にマーク長さが任意であるアナログ記録方式の
場合、この問題は顕著であった。本発明の目的はこの問
題点を解決することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明者らの研究によれ
ば、前記問題点の原因が、光ディスクによらず固定され
たプリパルス条件にあり、そのため、光ディスクによっ
ては最適なプリパルス条件が適用されていないことを突
き止めた。本発明者らは、更に研究を進めた結果、光デ
ィスクごとに熱時定数τが異なり、τを考慮して最適な
プリパルス条件を決定する方法、決定装置を発明した。
また、決定されたプリパルス条件又はそれと同一の用い
て、光記録する方法、光記録装置等も発明した。
ば、前記問題点の原因が、光ディスクによらず固定され
たプリパルス条件にあり、そのため、光ディスクによっ
ては最適なプリパルス条件が適用されていないことを突
き止めた。本発明者らは、更に研究を進めた結果、光デ
ィスクごとに熱時定数τが異なり、τを考慮して最適な
プリパルス条件を決定する方法、決定装置を発明した。
また、決定されたプリパルス条件又はそれと同一の用い
て、光記録する方法、光記録装置等も発明した。
【００１２】他方、高密度記録の場合、次のマークの開
始位置が、前のマークの終了位置に依存して変動してし
まう問題があった。このことを「マーク形成の開始位
置、つまりマークの前エッジ位置の、記録データパター
ン依存性」と言う。この問題を解決するため、マーク形
成を終了すべくレーザビーム強度を立ち下げるとき、一
旦、Ｐpre より低いＰLBに下げて、時間Ｔoff 後Ｐpre
に立ち上げる光記録方式が提案された。図１０、図１１
は、この方式で１つのマークを形成する場合のレーザビ
ーム強度の波形図である。図１０は通常の１つのパルス
で１つマークを形成する場合であり、図１１はプリパル
ス方式でマークを形成する場合である。この方式では、
前のマーク長さがどんなであっても、次のマーク形成は
所定の位置から開始される。つまり、次のマークにとっ
ては、前のマークからの熱的影響が遮断されている訳で
ある。このように熱的影響が遮断される条件のことを
「熱遮断条件」と呼び、これはＰpre とＰLBとＴoff で
示される。
始位置が、前のマークの終了位置に依存して変動してし
まう問題があった。このことを「マーク形成の開始位
置、つまりマークの前エッジ位置の、記録データパター
ン依存性」と言う。この問題を解決するため、マーク形
成を終了すべくレーザビーム強度を立ち下げるとき、一
旦、Ｐpre より低いＰLBに下げて、時間Ｔoff 後Ｐpre
に立ち上げる光記録方式が提案された。図１０、図１１
は、この方式で１つのマークを形成する場合のレーザビ
ーム強度の波形図である。図１０は通常の１つのパルス
で１つマークを形成する場合であり、図１１はプリパル
ス方式でマークを形成する場合である。この方式では、
前のマーク長さがどんなであっても、次のマーク形成は
所定の位置から開始される。つまり、次のマークにとっ
ては、前のマークからの熱的影響が遮断されている訳で
ある。このように熱的影響が遮断される条件のことを
「熱遮断条件」と呼び、これはＰpre とＰLBとＴoff で
示される。
【００１３】レーザビーム強度がＰW1又はＰW2から低下
し、ＰLBを経てＰpre になったとき、光ディスクの温度
はマーク形成が可能な高い温度（以下、Θtop とする）
から降温し、やがてプレヒート状態の温度Θpre で一定
になる。この場合に降温プロフィールは２通りある。第
１は、Θtop から単調に低下してΘpre に達し、そのま
ま横ばい（一定）となる降温プロフィールである。第２
は、Θtop から低下し、一旦、Θpre 以下になり、今度
は昇温を始めてΘpre に達し、そのまま横ばい（一定）
となる降温プロフィールである。いずれにせよ、光ディ
スクの温度がΘpre で一定になっていないと、次のマー
ク形成の開始位置、つまりマークの前エッジ位置が所望
の通りにならない。いずれの場合にも、Θtop から低下
しΘpre で一定になるまでの時間をＴtcと呼ぶ。
し、ＰLBを経てＰpre になったとき、光ディスクの温度
はマーク形成が可能な高い温度（以下、Θtop とする）
から降温し、やがてプレヒート状態の温度Θpre で一定
になる。この場合に降温プロフィールは２通りある。第
１は、Θtop から単調に低下してΘpre に達し、そのま
ま横ばい（一定）となる降温プロフィールである。第２
は、Θtop から低下し、一旦、Θpre 以下になり、今度
は昇温を始めてΘpre に達し、そのまま横ばい（一定）
となる降温プロフィールである。いずれにせよ、光ディ
スクの温度がΘpre で一定になっていないと、次のマー
ク形成の開始位置、つまりマークの前エッジ位置が所望
の通りにならない。いずれの場合にも、Θtop から低下
しΘpre で一定になるまでの時間をＴtcと呼ぶ。
【００１４】記録密度を高めるべく、Ｔtc時間過ぎる前
に次のマークを形成させると、マークの前エッジ位置が
記録データパターン依存性を持ってしまう。そこで、Ｔ
tc時間過ぎた後、次のマークを形成させることになる
が、このＴtcが長いと次のマークとの間隔を長くせざる
をえないので、記録密度が粗くなる。このＴtcを短くす
る条件が熱遮断条件であるとも言える。図１３は、プリ
パルス及び熱遮断方式でマークを形成した場合の、各時
刻のレーザビームのスポット中心の温度又は各時刻のピ
ーク温度のグラフである。熱遮断が足りないと、図１３
に一点鎖線で示す降温プロフィールが得られ、長いＴtc
がもたらされる。また、熱遮断が過ぎると図１３に二点
鎖線で示す降温プロフィールが得られ、同じく長いＴtc
がもたらされる。最適な熱遮断条件では、図１３に実線
で示す降温プロフィールが得られ、最短のＴtcがもたら
される。 プリパルス方式で記録を行う場合、マークの
書き始め、すなわちマークの前エッジを形成するとき
に、形成直前のディスク温度状態を常に積極的に一定に
保っておく必要があり、その方法として、上記熱遮断方
式は非常に有効である。従って、プリパルス方式は、熱
遮断方式と合わせて使用することが望ましい。
に次のマークを形成させると、マークの前エッジ位置が
記録データパターン依存性を持ってしまう。そこで、Ｔ
tc時間過ぎた後、次のマークを形成させることになる
が、このＴtcが長いと次のマークとの間隔を長くせざる
をえないので、記録密度が粗くなる。このＴtcを短くす
る条件が熱遮断条件であるとも言える。図１３は、プリ
パルス及び熱遮断方式でマークを形成した場合の、各時
刻のレーザビームのスポット中心の温度又は各時刻のピ
ーク温度のグラフである。熱遮断が足りないと、図１３
に一点鎖線で示す降温プロフィールが得られ、長いＴtc
がもたらされる。また、熱遮断が過ぎると図１３に二点
鎖線で示す降温プロフィールが得られ、同じく長いＴtc
がもたらされる。最適な熱遮断条件では、図１３に実線
で示す降温プロフィールが得られ、最短のＴtcがもたら
される。 プリパルス方式で記録を行う場合、マークの
書き始め、すなわちマークの前エッジを形成するとき
に、形成直前のディスク温度状態を常に積極的に一定に
保っておく必要があり、その方法として、上記熱遮断方
式は非常に有効である。従って、プリパルス方式は、熱
遮断方式と合わせて使用することが望ましい。
【００１５】なお、式（２）におけるＰLBをゼロにした
熱遮断条件のとき、図１３に示したＴtcが、絶対値とし
て最小になる。従って、ＰLBはゼロとすることが好まし
い。また、Ｔoff は、書き込みクロック周期（write cl
ock period）Ｔのｍ／ｎ倍（ｍ，ｎは自然数）又はそれ
に近い値とすることが好ましい。即ち、本発明は、第１
に、「光記録媒体に照射するレーザビーム強度を、前記
媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート状態を保
つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、Ｐ
W1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下
げて前記光記録媒体にマークを形成する光記録方法であ
って、 前記時間ＴW1経過時の前記媒体面上に照射され
たレーザビームのピーク温度位置又はスポット中心位置
での温度が、ＰW2に立ち下げた後も前記温度で一定とな
るようにＰW2を制御することを特徴とする光記録方法
（請求項１）」を提供する。
熱遮断条件のとき、図１３に示したＴtcが、絶対値とし
て最小になる。従って、ＰLBはゼロとすることが好まし
い。また、Ｔoff は、書き込みクロック周期（write cl
ock period）Ｔのｍ／ｎ倍（ｍ，ｎは自然数）又はそれ
に近い値とすることが好ましい。即ち、本発明は、第１
に、「光記録媒体に照射するレーザビーム強度を、前記
媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート状態を保
つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、Ｐ
W1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下
げて前記光記録媒体にマークを形成する光記録方法であ
って、 前記時間ＴW1経過時の前記媒体面上に照射され
たレーザビームのピーク温度位置又はスポット中心位置
での温度が、ＰW2に立ち下げた後も前記温度で一定とな
るようにＰW2を制御することを特徴とする光記録方法
（請求項１）」を提供する。
【００１６】また、本発明は、第２に、「光記録媒体に
照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度がある
一定温度となるプレヒート状態を保つ強度ＰpreからＰp
reより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維持し
た後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録媒体
にマークを形成する光記録方法であって、 前記各値を
下記式（１）を満足する組合せとして求めることを特徴
とする光記録方法（請求項２）」を提供する。 ＰW2−Ｐpre＝（ＰW1−Ｐpre）×｛１−exp（−ＴW1／τ）｝・・・・式（１） （τは前記光記録媒体の熱時定数） また、本発明は、第３に、「光記録媒体に照射するレー
ザビーム強度を、前記媒体面の温度がある一定温度とな
るプレヒート状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強
度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より
低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録媒体にマークを形
成し、その後Ｐpreより低い強度ＰLBに立ち下げ、時間
Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる光記録方法であって、 前記
時間ＴW1経過時の前記媒体面上に照射されたレーザビー
ムのピーク温度位置又はスポット中心位置での温度が、
ＰW2に立ち下げた後も前記温度で一定となるようにＰW2
を制御し、 かつ、Ｐpre、Ｔoff及びＰLBのうちの少な
くとも１つを制御することにより、次のマークを形成す
べく再度ＰW1に立ち上げるまでの時間内に前記プレヒー
ト状態とすることを特徴とする光記録方法（請求項
３）」を提供する。
照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度がある
一定温度となるプレヒート状態を保つ強度ＰpreからＰp
reより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維持し
た後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録媒体
にマークを形成する光記録方法であって、 前記各値を
下記式（１）を満足する組合せとして求めることを特徴
とする光記録方法（請求項２）」を提供する。 ＰW2−Ｐpre＝（ＰW1−Ｐpre）×｛１−exp（−ＴW1／τ）｝・・・・式（１） （τは前記光記録媒体の熱時定数） また、本発明は、第３に、「光記録媒体に照射するレー
ザビーム強度を、前記媒体面の温度がある一定温度とな
るプレヒート状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強
度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より
低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録媒体にマークを形
成し、その後Ｐpreより低い強度ＰLBに立ち下げ、時間
Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる光記録方法であって、 前記
時間ＴW1経過時の前記媒体面上に照射されたレーザビー
ムのピーク温度位置又はスポット中心位置での温度が、
ＰW2に立ち下げた後も前記温度で一定となるようにＰW2
を制御し、 かつ、Ｐpre、Ｔoff及びＰLBのうちの少な
くとも１つを制御することにより、次のマークを形成す
べく再度ＰW1に立ち上げるまでの時間内に前記プレヒー
ト状態とすることを特徴とする光記録方法（請求項
３）」を提供する。
【００１７】また、本発明は、第４に、「光記録媒体に
照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度がある
一定温度となるプレヒート状態を保つ強度ＰpreからＰp
reより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維持し
た後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録媒体
にマークを形成し、その後Ｐpreより低い強度ＰLBに立
ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる光記録方法であ
って、 前記各値を式（１）及び下記式（２）を満足す
る組合せとして求めることを特徴とする光記録方法（請
求項４）」を提供する。 Ｔoff＝τ×ln[{(ＰW1-ＰLB)-(ＰW1-Ｐpre)×exp(-ＴW1/τ)}÷(Ｐpre-ＰLB)] ・・・・・式（２） （τは前記光記録媒体の熱時定数） また、本発明は、第５に、「前記光記録媒体は熱応答特
性が指数関数で近似できることを特徴とする請求項１又
は請求項３記載の光記録方法（請求項５）」を提供す
る。
照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度がある
一定温度となるプレヒート状態を保つ強度ＰpreからＰp
reより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維持し
た後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録媒体
にマークを形成し、その後Ｐpreより低い強度ＰLBに立
ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる光記録方法であ
って、 前記各値を式（１）及び下記式（２）を満足す
る組合せとして求めることを特徴とする光記録方法（請
求項４）」を提供する。 Ｔoff＝τ×ln[{(ＰW1-ＰLB)-(ＰW1-Ｐpre)×exp(-ＴW1/τ)}÷(Ｐpre-ＰLB)] ・・・・・式（２） （τは前記光記録媒体の熱時定数） また、本発明は、第５に、「前記光記録媒体は熱応答特
性が指数関数で近似できることを特徴とする請求項１又
は請求項３記載の光記録方法（請求項５）」を提供す
る。
【００１８】また、本発明は、第６に、「前記強度ＰLB
をゼロとしたことを特徴とする請求項３又は請求項４
又は請求項５記載の光記録方法（請求項６）」を提供す
る。また、本発明は、第７に、「前記時間Ｔoffを、書
き込みクロック周期Ｔのｍ／ｎ倍（ｍ，ｎは自然数）又
はそれに近い値とすることを特徴とする請求項３又は請
求項４又は請求項５又は請求項６記載の光記録方法（請
求項７）」を提供する。
をゼロとしたことを特徴とする請求項３又は請求項４
又は請求項５記載の光記録方法（請求項６）」を提供す
る。また、本発明は、第７に、「前記時間Ｔoffを、書
き込みクロック周期Ｔのｍ／ｎ倍（ｍ，ｎは自然数）又
はそれに近い値とすることを特徴とする請求項３又は請
求項４又は請求項５又は請求項６記載の光記録方法（請
求項７）」を提供する。
【００１９】また、本発明は、第８に、「レーザビーム
を出射する光源と、 前記レーザビームを光記録媒体に
照射する照射手段と、 前記媒体上の前記レーザビーム
の照射位置を変化させる移動手段と、 マークを形成す
べく、光記録媒体に照射するレーザビーム強度を、前記
媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート状態を保
つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、Ｐ
W1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下
げる変調手段と、 前記時間ＴW1経過時の前記媒体面上
に照射されたレーザビームのピーク温度位置又はスポッ
ト中心位置での温度が、ＰW2に立ち下げた後も前記温度
で一定となるようにＰW2を制御する制御手段とを備えた
ことを特徴とする光記録装置（請求項８）」を提供す
る。
を出射する光源と、 前記レーザビームを光記録媒体に
照射する照射手段と、 前記媒体上の前記レーザビーム
の照射位置を変化させる移動手段と、 マークを形成す
べく、光記録媒体に照射するレーザビーム強度を、前記
媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート状態を保
つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、Ｐ
W1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下
げる変調手段と、 前記時間ＴW1経過時の前記媒体面上
に照射されたレーザビームのピーク温度位置又はスポッ
ト中心位置での温度が、ＰW2に立ち下げた後も前記温度
で一定となるようにＰW2を制御する制御手段とを備えた
ことを特徴とする光記録装置（請求項８）」を提供す
る。
【００２０】また、本発明は、第９に、「レーザビーム
を出射する光源と、 前記レーザビームを光記録媒体に
照射する照射手段と、 前記記媒体上の前記レーザビー
ムの照射位置を変化させる移動手段と、 マークを形成
すべく、光記録媒体に照射するレーザビーム強度を、前
記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート状態を
保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、
ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち
下げる変調手段と、 前記各値を式（１）を満足する組
合せとして求める条件決定手段とを備えたことを特徴と
する光記録装置（請求項９）」を提供する。
を出射する光源と、 前記レーザビームを光記録媒体に
照射する照射手段と、 前記記媒体上の前記レーザビー
ムの照射位置を変化させる移動手段と、 マークを形成
すべく、光記録媒体に照射するレーザビーム強度を、前
記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート状態を
保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、
ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち
下げる変調手段と、 前記各値を式（１）を満足する組
合せとして求める条件決定手段とを備えたことを特徴と
する光記録装置（請求項９）」を提供する。
【００２１】また、本発明は、第１０に、「レーザビー
ムを出射する光源と、 前記レーザビームを光記録媒体
に照射する照射手段と、 前記媒体上の前記レーザビー
ムの照射位置を変化させる移動手段と、 マークを形成
すべく、光記録媒体に照射するレーザビーム強度を、前
記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート状態を
保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、
ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち
下げる第１の変調手段と、 前記光記録媒体にマークを
形成した後、Ｐpreより低い強度ＰLBに立ち下げ、時間
Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる第２の変調手段と、 前記時
間ＴW1経過時の前記媒体面上に照射されたレーザビーム
のピーク温度位置又はスポット中心位置での温度が、Ｐ
W2に立ち下げた後も前記温度で一定となるようにＰW2を
制御する第１の制御手段と 次のマークを形成すべく再
度ＰW1に立ち上げるまでの時間内に前記プレヒート状態
となるように、Ｐpre、Ｔoff及びＰLBのうちの少なくと
も１つを制御する第２の制御手段とを備えたことを特徴
とする光記録装置（請求項１０）」を提供する。
ムを出射する光源と、 前記レーザビームを光記録媒体
に照射する照射手段と、 前記媒体上の前記レーザビー
ムの照射位置を変化させる移動手段と、 マークを形成
すべく、光記録媒体に照射するレーザビーム強度を、前
記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート状態を
保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、
ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち
下げる第１の変調手段と、 前記光記録媒体にマークを
形成した後、Ｐpreより低い強度ＰLBに立ち下げ、時間
Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる第２の変調手段と、 前記時
間ＴW1経過時の前記媒体面上に照射されたレーザビーム
のピーク温度位置又はスポット中心位置での温度が、Ｐ
W2に立ち下げた後も前記温度で一定となるようにＰW2を
制御する第１の制御手段と 次のマークを形成すべく再
度ＰW1に立ち上げるまでの時間内に前記プレヒート状態
となるように、Ｐpre、Ｔoff及びＰLBのうちの少なくと
も１つを制御する第２の制御手段とを備えたことを特徴
とする光記録装置（請求項１０）」を提供する。
【００２２】また、本発明は、第１１に、「レーザビー
ムを出射する光源と、 前記レーザビームを光記録媒体
に照射する照射手段と、 前記媒体上の前記レーザビー
ムの照射位置を変化させる移動手段と、 マークを形成
すべく、光記録媒体に照射するレーザビーム強度を、前
記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート状態を
保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、
ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち
下げる第１の変調手段と、 前記光記録媒体にマークを
形成した後、Ｐpreより低い強度ＰLBに立ち下げ、時間
Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる第２の変調手段と、 前記各
値を式（１）及び式（２）を満足する組合せとして求め
る条件決定手段とを備えたことを特徴とする光記録装置
（請求項１１）」を提供する。
ムを出射する光源と、 前記レーザビームを光記録媒体
に照射する照射手段と、 前記媒体上の前記レーザビー
ムの照射位置を変化させる移動手段と、 マークを形成
すべく、光記録媒体に照射するレーザビーム強度を、前
記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート状態を
保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、
ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち
下げる第１の変調手段と、 前記光記録媒体にマークを
形成した後、Ｐpreより低い強度ＰLBに立ち下げ、時間
Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる第２の変調手段と、 前記各
値を式（１）及び式（２）を満足する組合せとして求め
る条件決定手段とを備えたことを特徴とする光記録装置
（請求項１１）」を提供する。
【００２３】また、本発明は、第１２に、「前記強度Ｐ
LB をゼロとしたことを特徴とする請求項１０又は請求
項１１記載の光記録装置（請求項１２）」を提供する。
また、本発明は、第１３に、「前記時間Ｔoffを、書き
込みクロック周期Ｔのｍ／ｎ倍（ｍ，ｎは自然数）又は
それに近い値とすることを特徴とする請求項１０又は請
求項１１又は請求項１２記載の光記録装置（請求項１
３）」を提供する。
LB をゼロとしたことを特徴とする請求項１０又は請求
項１１記載の光記録装置（請求項１２）」を提供する。
また、本発明は、第１３に、「前記時間Ｔoffを、書き
込みクロック周期Ｔのｍ／ｎ倍（ｍ，ｎは自然数）又は
それに近い値とすることを特徴とする請求項１０又は請
求項１１又は請求項１２記載の光記録装置（請求項１
３）」を提供する。
【００２４】また、本発明は、第１４に、「光記録媒体
に照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度があ
る一定温度となるプレヒート状態を保つ強度Ｐpreから
Ｐpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維
持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録
媒体にマークを形成する光記録方法の条件を決定する方
法であって、 前記時間ＴW1経過時の前記媒体面上に照
射されたレーザビームのピーク温度位置又はスポット中
心位置での温度が、ＰW2に立ち下げた後も前記温度で一
定となるようにＰW2を設定することを特徴とする光記録
のプリパルス条件決定方法（請求項１４）」を提供す
る。
に照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度があ
る一定温度となるプレヒート状態を保つ強度Ｐpreから
Ｐpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維
持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録
媒体にマークを形成する光記録方法の条件を決定する方
法であって、 前記時間ＴW1経過時の前記媒体面上に照
射されたレーザビームのピーク温度位置又はスポット中
心位置での温度が、ＰW2に立ち下げた後も前記温度で一
定となるようにＰW2を設定することを特徴とする光記録
のプリパルス条件決定方法（請求項１４）」を提供す
る。
【００２５】また、本発明は、第１５に、「光記録媒体
に照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度があ
る一定温度となるプレヒート状態を保つ強度Ｐpreから
Ｐpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維
持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録
媒体にマークを形成する光記録方法の条件を決定する方
法であって、 前記各値を式（１）を満足する組合せと
して求めることを特徴とする光記録のプリパルス条件決
定方法（請求項１５）」を提供する。
に照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度があ
る一定温度となるプレヒート状態を保つ強度Ｐpreから
Ｐpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維
持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録
媒体にマークを形成する光記録方法の条件を決定する方
法であって、 前記各値を式（１）を満足する組合せと
して求めることを特徴とする光記録のプリパルス条件決
定方法（請求項１５）」を提供する。
【００２６】また、本発明は、第１６に、「光記録媒体
に照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度があ
る一定温度となるプレヒート状態を保つ強度Ｐpreから
Ｐpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維
持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録
媒体にマークを形成し、その後Ｐpreより低い強度ＰLB
に立ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる光記録方法
の条件を決定する方法であって、 前記時間ＴW1経過時
の前記媒体面上に照射されたレーザビームのピーク温度
位置又はスポット中心位置での温度が、ＰW2に立ち下げ
た後も前記温度で一定となるようにＰW2を設定し、 か
つ次のマークを形成すべく再度ＰW1に立ち上げるまでの
時間内に前記プレヒート状態となるような、Ｐpre、Ｔo
ff及びＰLBの組み合わせを求めることを特徴とする光記
録のプリパルス条件及び熱遮断条件決定方法（請求項１
６）」を提供する。
に照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度があ
る一定温度となるプレヒート状態を保つ強度Ｐpreから
Ｐpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維
持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録
媒体にマークを形成し、その後Ｐpreより低い強度ＰLB
に立ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる光記録方法
の条件を決定する方法であって、 前記時間ＴW1経過時
の前記媒体面上に照射されたレーザビームのピーク温度
位置又はスポット中心位置での温度が、ＰW2に立ち下げ
た後も前記温度で一定となるようにＰW2を設定し、 か
つ次のマークを形成すべく再度ＰW1に立ち上げるまでの
時間内に前記プレヒート状態となるような、Ｐpre、Ｔo
ff及びＰLBの組み合わせを求めることを特徴とする光記
録のプリパルス条件及び熱遮断条件決定方法（請求項１
６）」を提供する。
【００２７】また、本発明は、第１７に、「光記録媒体
に照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度があ
る一定温度となるプレヒート状態を保つ強度Ｐpreから
Ｐpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維
持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録
媒体にマークを形成し、その後Ｐpreより低い強度ＰLB
に立ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる光記録方法
の条件を決定する方法であって、 前記各値を式（１）
及び式（２）を満足する組合せとして求めることを特徴
とする光記録のプリパルス条件及び熱遮断条件決定方法
（請求項１７）」を提供する。
に照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度があ
る一定温度となるプレヒート状態を保つ強度Ｐpreから
Ｐpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維
持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録
媒体にマークを形成し、その後Ｐpreより低い強度ＰLB
に立ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる光記録方法
の条件を決定する方法であって、 前記各値を式（１）
及び式（２）を満足する組合せとして求めることを特徴
とする光記録のプリパルス条件及び熱遮断条件決定方法
（請求項１７）」を提供する。
【００２８】また、本発明は、第１８に、「前記強度Ｐ
LB をゼロとしたことを特徴とする請求項１６又は請求
項１７記載の光記録の熱遮断決定方法（請求項１８）」
を提供する。また、本発明は、第１９に、「前記時間Ｔ
offを、書き込みクロック周期Ｔのｍ／ｎ倍（ｍ，ｎは
自然数）又はそれに近い値とすることを特徴とする請求
項１６又は請求項１７又は請求項１８記載の光記録の熱
遮断決定方法（請求項１９）」を提供する。
LB をゼロとしたことを特徴とする請求項１６又は請求
項１７記載の光記録の熱遮断決定方法（請求項１８）」
を提供する。また、本発明は、第１９に、「前記時間Ｔ
offを、書き込みクロック周期Ｔのｍ／ｎ倍（ｍ，ｎは
自然数）又はそれに近い値とすることを特徴とする請求
項１６又は請求項１７又は請求項１８記載の光記録の熱
遮断決定方法（請求項１９）」を提供する。
【００２９】また、本発明は、第２０に、「光記録媒体
に照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度があ
る一定温度となるプレヒート状態を保つ強度Ｐpreから
Ｐpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維
持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録
媒体にマークを形成する光記録方法の条件を決定する装
置であって、 前記時間ＴW1経過時の前記媒体面上に照
射されたレーザビームのピーク温度位置又はスポット中
心位置での温度が、ＰW2に立ち下げた後も前記温度で一
定となるようなＰW2を求める演算部と、 前記演算部で
求められた値を出力する出力部とを備えたことを特徴と
する光記録のプリパルス条件決定装置（請求項２０）」
を提供する。
に照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度があ
る一定温度となるプレヒート状態を保つ強度Ｐpreから
Ｐpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維
持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録
媒体にマークを形成する光記録方法の条件を決定する装
置であって、 前記時間ＴW1経過時の前記媒体面上に照
射されたレーザビームのピーク温度位置又はスポット中
心位置での温度が、ＰW2に立ち下げた後も前記温度で一
定となるようなＰW2を求める演算部と、 前記演算部で
求められた値を出力する出力部とを備えたことを特徴と
する光記録のプリパルス条件決定装置（請求項２０）」
を提供する。
【００３０】また、本発明は、第２１に、「光記録媒体
に照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度があ
る一定温度となるプレヒート状態を保つ強度Ｐpreから
Ｐpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維
持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録
媒体にマークを形成する光記録方法の条件を決定する装
置であって、 前記各値を式（１）を満足する組合せと
して求める演算部と、前記演算部で算出された値を出力
する出力部とを備えたことを特徴とする光記録のプリパ
ルス条件決定装置（請求項２１）」を提供する。
に照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度があ
る一定温度となるプレヒート状態を保つ強度Ｐpreから
Ｐpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維
持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録
媒体にマークを形成する光記録方法の条件を決定する装
置であって、 前記各値を式（１）を満足する組合せと
して求める演算部と、前記演算部で算出された値を出力
する出力部とを備えたことを特徴とする光記録のプリパ
ルス条件決定装置（請求項２１）」を提供する。
【００３１】また、本発明は、第２２に、「光記録媒体
に照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度があ
る一定温度となるプレヒート状態を保つ強度Ｐpreから
Ｐpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維
持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録
媒体にマークを形成し、その後Ｐpreより低い強度ＰLB
に立ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる光記録方法
の条件を決定する装置であって、 前記時間ＴW1経過時
の前記媒体面上に照射されたレーザビームのピーク温度
位置又はスポット中心位置での温度が、ＰW2に立ち下げ
た後も前記温度で一定となるようなＰW2を求める第１演
算部と、 次のマークを形成すべく再度ＰW1に立ち上げ
るまでの時間内に前記プレヒート状態となるような、Ｐ
pre、Ｔoff及びＰLBの組み合わせを求める第２演算部
と、 前記演算部で求められた値を出力する出力部とを
備えたことを特徴とする光記録のプリパルス条件及び熱
遮断条件決定装置（請求項２２）」を提供する。
に照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度があ
る一定温度となるプレヒート状態を保つ強度Ｐpreから
Ｐpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維
持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録
媒体にマークを形成し、その後Ｐpreより低い強度ＰLB
に立ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる光記録方法
の条件を決定する装置であって、 前記時間ＴW1経過時
の前記媒体面上に照射されたレーザビームのピーク温度
位置又はスポット中心位置での温度が、ＰW2に立ち下げ
た後も前記温度で一定となるようなＰW2を求める第１演
算部と、 次のマークを形成すべく再度ＰW1に立ち上げ
るまでの時間内に前記プレヒート状態となるような、Ｐ
pre、Ｔoff及びＰLBの組み合わせを求める第２演算部
と、 前記演算部で求められた値を出力する出力部とを
備えたことを特徴とする光記録のプリパルス条件及び熱
遮断条件決定装置（請求項２２）」を提供する。
【００３２】また、本発明は、第２３に、「光記録媒体
に照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度があ
る一定温度となるプレヒート状態を保つ強度Ｐpreから
Ｐpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維
持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録
媒体にマークを形成し、その後Ｐpreより低い強度ＰLB
に立ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる光記録方法
の条件を決定する装置であって、 前記各値を式（１）
及び式（２）を満足する組合せとして求める演算部と、
前記演算部で算出された値を出力する出力部とを備え
たことを特徴とする光記録のプリパルス条件及び熱遮断
条件決定装置（請求項２３）」を提供する。
に照射するレーザビーム強度を、前記媒体面の温度があ
る一定温度となるプレヒート状態を保つ強度Ｐpreから
Ｐpreより高い強度ＰW1へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維
持した後ＰW1より低い強度ＰW2に立ち下げて前記光記録
媒体にマークを形成し、その後Ｐpreより低い強度ＰLB
に立ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる光記録方法
の条件を決定する装置であって、 前記各値を式（１）
及び式（２）を満足する組合せとして求める演算部と、
前記演算部で算出された値を出力する出力部とを備え
たことを特徴とする光記録のプリパルス条件及び熱遮断
条件決定装置（請求項２３）」を提供する。
【００３３】また、本発明は、第２４に、「前記強度Ｐ
LB をゼロとしたことを特徴とする請求項２２又は請求
項２３記載の光記録の熱遮断条件決定装置（請求項２
４）」を提供する。また、本発明は、第２５に、「前記
時間Ｔoffを、書き込みクロック周期Ｔのｍ／ｎ倍
（ｍ，ｎは自然数）又はそれに近い値とすることを特徴
とする請求項２２又は請求項２３又は請求項２４記載の
光記録の熱遮断条件決定装置（請求項２５）」を提供す
る。
LB をゼロとしたことを特徴とする請求項２２又は請求
項２３記載の光記録の熱遮断条件決定装置（請求項２
４）」を提供する。また、本発明は、第２５に、「前記
時間Ｔoffを、書き込みクロック周期Ｔのｍ／ｎ倍
（ｍ，ｎは自然数）又はそれに近い値とすることを特徴
とする請求項２２又は請求項２３又は請求項２４記載の
光記録の熱遮断条件決定装置（請求項２５）」を提供す
る。
【００３４】
【作用】まず、熱時定数τについて説明する。図３は、
記録すべきデータ信号のパターン（波形）の一例（図２
(1)）、そのときのレーザビームの発光及び消光を示す
チャート（光源へ入力する電力のチャート）（図２
(2)）、そのときのディスクの温度プロフィール（昇温
プロフィール）（図２(3)）、及び形成されるマークの
関係を示す説明図（図２(4)）である。
記録すべきデータ信号のパターン（波形）の一例（図２
(1)）、そのときのレーザビームの発光及び消光を示す
チャート（光源へ入力する電力のチャート）（図２
(2)）、そのときのディスクの温度プロフィール（昇温
プロフィール）（図２(3)）、及び形成されるマークの
関係を示す説明図（図２(4)）である。
【００３５】光ディスクに対し、記録用レーザビーム
（パルス）を用いて光記録を行なう場合、熱拡散の立場
から光ディスクを見ると、断熱的ディスクと熱拡散的デ
ィスクの２種存在する。レーザビームをデータ信号（図
２(1)）に従い、図２(2) に示すように、消光から発光
へとステップ関数的（矩形波のように）に立ち上げると
する。断熱的ディスクは、熱拡散的ディスクに比べて熱
がこもり易いため、レーザビームの単位強度当たりの昇
温［℃／ｍＷ］、すなわち、式（３）に於けるＡが大き
い。つまり、同一の強度で長時間照射した場合、温度が
飽和するレベルは、断熱的ディスクの方が高い。
（パルス）を用いて光記録を行なう場合、熱拡散の立場
から光ディスクを見ると、断熱的ディスクと熱拡散的デ
ィスクの２種存在する。レーザビームをデータ信号（図
２(1)）に従い、図２(2) に示すように、消光から発光
へとステップ関数的（矩形波のように）に立ち上げると
する。断熱的ディスクは、熱拡散的ディスクに比べて熱
がこもり易いため、レーザビームの単位強度当たりの昇
温［℃／ｍＷ］、すなわち、式（３）に於けるＡが大き
い。つまり、同一の強度で長時間照射した場合、温度が
飽和するレベルは、断熱的ディスクの方が高い。
【００３６】一方、断熱的ディスクは、昇温プロフィー
ル又は温度プロフィール〔instantaneous (elevated) t
emperature profile 〕が飽和に達するまでの所要時間
が、熱拡散的ディスクに比べて長い。図３は、温度が飽
和に達するまでの所要時間（ｔsat ）を示す温度プロフ
ィールのグラフである。すなわち、断熱的ディスクは、
図３におけるｔsatが、熱拡散的ディスクに比べて長
い。このことは、土瓶は鉄瓶よりも熱し難く冷め難いと
考えれば、分かりやすい。熱時定数τは、このｔsat に
対応する。すなわち、ｔsat の長いディスクはτが大き
いといえる。
ル又は温度プロフィール〔instantaneous (elevated) t
emperature profile 〕が飽和に達するまでの所要時間
が、熱拡散的ディスクに比べて長い。図３は、温度が飽
和に達するまでの所要時間（ｔsat ）を示す温度プロフ
ィールのグラフである。すなわち、断熱的ディスクは、
図３におけるｔsatが、熱拡散的ディスクに比べて長
い。このことは、土瓶は鉄瓶よりも熱し難く冷め難いと
考えれば、分かりやすい。熱時定数τは、このｔsat に
対応する。すなわち、ｔsat の長いディスクはτが大き
いといえる。
【００３７】本発明者の一人は、鋭意研究の結果、先に
光ディスクそれ自体を測定することによって、ディスク
の熱時定数を測定する方法を発明した。次にこの測定方
法を説明する。 ＜熱時定数の測定方法＞被測定物である光ディスクと、
測定ツール（測定手段）である光ディスク評価用の光記
録／再生装置（以下、評価用ドライブとも言う）を用意
する。レーザビームは、N.A.＝ 0.55 、波長＝ 830 nm
であり、立ち上がり時間と立ち下がり時間は共に約 5ns
ecである。評価用ドライブに光ディスクをセットし、デ
ィスクのトラックが測定線速度（Ｖ＝11.3 ｍ／sec ）
となるようにディスクを回転させる。次に評価用ドライ
ブのレーザビームのスポットをトラック上にサーボオン
させる。つまり、フォーカシングとトラッキングのサー
ボ装置を作動させる。そして、レーザビームをパルス変
調する。レーザビームの照射によりディスクの温度は上
昇するが、パルス変調は、各パルスの加熱による熱が干
渉し合わないと見なせるに十分な時間間隔が開くような
デュティ・サイクル（duty cycle）とする。そして、様
々なパルス時間長（pulse dulation time ；以下、P.D.
T.と略す）を持つパルスをディスクに照射し、各P.D.T.
毎の「ディスクに記録を行うことのできる最小パワー
（Ｐth ）」を求める。
光ディスクそれ自体を測定することによって、ディスク
の熱時定数を測定する方法を発明した。次にこの測定方
法を説明する。 ＜熱時定数の測定方法＞被測定物である光ディスクと、
測定ツール（測定手段）である光ディスク評価用の光記
録／再生装置（以下、評価用ドライブとも言う）を用意
する。レーザビームは、N.A.＝ 0.55 、波長＝ 830 nm
であり、立ち上がり時間と立ち下がり時間は共に約 5ns
ecである。評価用ドライブに光ディスクをセットし、デ
ィスクのトラックが測定線速度（Ｖ＝11.3 ｍ／sec ）
となるようにディスクを回転させる。次に評価用ドライ
ブのレーザビームのスポットをトラック上にサーボオン
させる。つまり、フォーカシングとトラッキングのサー
ボ装置を作動させる。そして、レーザビームをパルス変
調する。レーザビームの照射によりディスクの温度は上
昇するが、パルス変調は、各パルスの加熱による熱が干
渉し合わないと見なせるに十分な時間間隔が開くような
デュティ・サイクル（duty cycle）とする。そして、様
々なパルス時間長（pulse dulation time ；以下、P.D.
T.と略す）を持つパルスをディスクに照射し、各P.D.T.
毎の「ディスクに記録を行うことのできる最小パワー
（Ｐth ）」を求める。
【００３８】図４は、パルス時間長（P.D.T.）を説明す
る波形図である。時間P.D.Tの間、「ディスクに記録を
行うことのできる最小パワー（Ｐth ）」でレーザビー
ムのパルスをディスクに照射することを示している。図
５は、Ｐth を縦軸、P.D.T.を横軸にデータをプロット
したグラフである。図５に示すように、Ｐth はP.D.T.
が長くなるにつれて低下し、ある一定のレベルＰ0に収
束する。
る波形図である。時間P.D.Tの間、「ディスクに記録を
行うことのできる最小パワー（Ｐth ）」でレーザビー
ムのパルスをディスクに照射することを示している。図
５は、Ｐth を縦軸、P.D.T.を横軸にデータをプロット
したグラフである。図５に示すように、Ｐth はP.D.T.
が長くなるにつれて低下し、ある一定のレベルＰ0に収
束する。
【００３９】次に、図６に示す如くに、Ｐth をＰ0で規
格化した値の逆数、すなわち、Ｐ0／Ｐth を縦軸、P.D.
T.を横軸にデータをプロットする。これは、レーザビー
ムをディスクに照射した場合の、昇温時の熱応答関数の
グラフを表す。また、図７に示す如くに、縦軸に１−Ｐ
0／Ｐth をとれば、レーザビームをＯＦＦした時の、降
温時の熱応答関数のグラフを表す。図７の熱応答関数が
指数関数 exp(−ｔ／τ)に近似できるとき、前記τは測
定した光ディスクの、測定した線速度（Ｖ）での、測定
したレーザビームによる昇温降温の熱時定数を表す。
格化した値の逆数、すなわち、Ｐ0／Ｐth を縦軸、P.D.
T.を横軸にデータをプロットする。これは、レーザビー
ムをディスクに照射した場合の、昇温時の熱応答関数の
グラフを表す。また、図７に示す如くに、縦軸に１−Ｐ
0／Ｐth をとれば、レーザビームをＯＦＦした時の、降
温時の熱応答関数のグラフを表す。図７の熱応答関数が
指数関数 exp(−ｔ／τ)に近似できるとき、前記τは測
定した光ディスクの、測定した線速度（Ｖ）での、測定
したレーザビームによる昇温降温の熱時定数を表す。
【００４０】従来の固定されたプリパルス条件では、
「マークの後エッジ位置の、記録データパターン依存
性」を最小にすることが難しい。即ち、マーク形状が相
変わらず後ろが太い涙滴形になったり、逆に後ろが細い
涙滴形になっていた。しかし、本発明に従いτを式
（１）に代入して決定されたプリパルス条件を用いれ
ば、いかなる長さのマークに於いても、前記依存性が最
小になるし、マークの幅も一定になる。即ち、マーク長
さが任意であるアナログ記録方式にも非常に有用であ
る。このことは、本発明者らが初めて見いだした。前記
依存性が小さくなると、高密度記録が正確に行うことが
できる。
「マークの後エッジ位置の、記録データパターン依存
性」を最小にすることが難しい。即ち、マーク形状が相
変わらず後ろが太い涙滴形になったり、逆に後ろが細い
涙滴形になっていた。しかし、本発明に従いτを式
（１）に代入して決定されたプリパルス条件を用いれ
ば、いかなる長さのマークに於いても、前記依存性が最
小になるし、マークの幅も一定になる。即ち、マーク長
さが任意であるアナログ記録方式にも非常に有用であ
る。このことは、本発明者らが初めて見いだした。前記
依存性が小さくなると、高密度記録が正確に行うことが
できる。
【００４１】ところで、式（１）のプリパルス条件は、
ディスクの熱応答特性が単純な指数関数exp(−ｔ／τ)
で近似できる場合についてのみ適用できる。単純な指数
関数で近似できない場合は、熱応答関数を時間の関数ｆ
(ｔ)とおいて、次のように考える。ＰW1のレベルをＴW1
時間維持し、ＰW2に立ち下げたときの時刻をｔ＝０とし
て、そのときのディスクの温度（温度はレーザビームの
強度に比例するので、以後強度の時間関数として表す）
をＦ0 とおくと、Ｆ0 は以下のように表せる。
ディスクの熱応答特性が単純な指数関数exp(−ｔ／τ)
で近似できる場合についてのみ適用できる。単純な指数
関数で近似できない場合は、熱応答関数を時間の関数ｆ
(ｔ)とおいて、次のように考える。ＰW1のレベルをＴW1
時間維持し、ＰW2に立ち下げたときの時刻をｔ＝０とし
て、そのときのディスクの温度（温度はレーザビームの
強度に比例するので、以後強度の時間関数として表す）
をＦ0 とおくと、Ｆ0 は以下のように表せる。
【００４２】Ｆ0 ＝Ｐb・ｆ(ＴW1)＋ＰW1・｛１−ｆ(ＴW
1)｝ また、ｔ＝ｎｘ（ｘは任意）時間後のディスク温度Ｆnx
は、以下のようになる。 Ｆnx＝Ｐb・ｆ(ＴW1+ｎｘ)＋ＰW1・｛ｆ(ｎｘ)−ｆ(ＴW1+
ｎｘ)｝＋ＰW2・｛１−ｆ(ｎｘ)｝ ＰW2を維持しているときのディスク温度が一定となるた
めの条件は Ｆ0＝Ｆ1x＝Ｆ2x＝・・・・Ｆnxである。即ち、
Ｆnx＝Ｆ(n+1)x（ｎ＝0,1,2,・・・・）として式を立てる
と、下記式（４）となる。
1)｝ また、ｔ＝ｎｘ（ｘは任意）時間後のディスク温度Ｆnx
は、以下のようになる。 Ｆnx＝Ｐb・ｆ(ＴW1+ｎｘ)＋ＰW1・｛ｆ(ｎｘ)−ｆ(ＴW1+
ｎｘ)｝＋ＰW2・｛１−ｆ(ｎｘ)｝ ＰW2を維持しているときのディスク温度が一定となるた
めの条件は Ｆ0＝Ｆ1x＝Ｆ2x＝・・・・Ｆnxである。即ち、
Ｆnx＝Ｆ(n+1)x（ｎ＝0,1,2,・・・・）として式を立てる
と、下記式（４）となる。
【００４３】Ｐb・［ｆ{ＴW1+(n+1)ｘ}−ｆ(ＴW1+ｎ
ｘ)］＋ＰW1・［ｆ{(n+1)ｘ}−ｆ{ＴW1+(n+1)ｘ}−ｆ(ｎ
ｘ)＋ｆ(ＴW1+ｎｘ)］−ＰW2・［ｆ{(n+1)ｘ}−ｆ(ｎ
ｘ)］＝０ ・・・・・（４） 式（４）はこれ以上解けない。そこでｆ(ｔ)が以下の条
件を満たすと仮定する。
ｘ)］＋ＰW1・［ｆ{(n+1)ｘ}−ｆ{ＴW1+(n+1)ｘ}−ｆ(ｎ
ｘ)＋ｆ(ＴW1+ｎｘ)］−ＰW2・［ｆ{(n+1)ｘ}−ｆ(ｎ
ｘ)］＝０ ・・・・・（４） 式（４）はこれ以上解けない。そこでｆ(ｔ)が以下の条
件を満たすと仮定する。
【００４４】 ｆ(ａ)・ｆ(ｂ)＝ｆ(ａ＋ｂ)，ｆ(ａ)／ｆ(ｂ)＝ｆ(ａ−ｂ)・・・（５） すると式（４）はさらに分解できて、以下の式となる。 ｆ(ｎｘ)｛ｆ(ｘ)−１｝［（ＰW1−Ｐb）・｛１−ｆ(ＴW1)｝ −（ＰW2−Ｐb）］＝０・・・（６） ｆ(ｘ)−１≠０であることは明らかである。したがっ
て、式（６）において、 （ＰW1−Ｐb）・｛１−ｆ(ＴW1)｝−（ＰW2−Ｐb）＝０ とすれば、任意のｎについて Ｆnx＝Ｆ(n+1)x が成り立
つ条件が決まる。即ちその条件は、 （ＰW2−Ｐb）＝（ＰW1−Ｐb）・｛１−ｆ(ＴW1)｝・・・・・・・（７） 式（７）は、プリパルスの条件式（１）において、exp
(−ｔ／τ)＝ｆ(ｔ) とした形と等しくなる。
て、式（６）において、 （ＰW1−Ｐb）・｛１−ｆ(ＴW1)｝−（ＰW2−Ｐb）＝０ とすれば、任意のｎについて Ｆnx＝Ｆ(n+1)x が成り立
つ条件が決まる。即ちその条件は、 （ＰW2−Ｐb）＝（ＰW1−Ｐb）・｛１−ｆ(ＴW1)｝・・・・・・・（７） 式（７）は、プリパルスの条件式（１）において、exp
(−ｔ／τ)＝ｆ(ｔ) とした形と等しくなる。
【００４５】以上のことから、熱応答関数ｆ(ｔ)が式
（５）の条件を満たすとき、ＰW2を維持しているときの
ディスク温度が一定となる条件が決定できる。熱応答関
数ｆ(ｔ)が式（４）の条件を満たさない場合は、ディス
ク温度が一定となる条件が決定できないので、ＦA をＦ
0 〜Ｆnxの平均として、
（５）の条件を満たすとき、ＰW2を維持しているときの
ディスク温度が一定となる条件が決定できる。熱応答関
数ｆ(ｔ)が式（４）の条件を満たさない場合は、ディス
ク温度が一定となる条件が決定できないので、ＦA をＦ
0 〜Ｆnxの平均として、
【００４６】
【数１】
【００４７】を最小とする条件を探すことになる。以
下、実施例により本発明をより具体的に説明するが、本
発明はこれに限られるものではない。
下、実施例により本発明をより具体的に説明するが、本
発明はこれに限られるものではない。
【００４８】
【実施例１】図１は、本実施例にかかる光磁気記録装置
の主要な構成を示す概念図である。この装置は再生装置
を兼用しており、主として、光磁気記録媒体Ｄを回転さ
せるモータ（回転手段６）、レーザビーム光源２、レー
ザビームの強度を、記録すべき２値化情報に従い、高レ
ベルと低レベルとの間でパルス変調する光源駆動回路
１、記録磁界印加手段（永久磁石１１）、パルス波形整
形回路１０、及び条件決定手段１２からなる。ここで
は、パルス波形整形回路１０は、パルス波形を、図２
（後述）に示すような波形に整形する。
の主要な構成を示す概念図である。この装置は再生装置
を兼用しており、主として、光磁気記録媒体Ｄを回転さ
せるモータ（回転手段６）、レーザビーム光源２、レー
ザビームの強度を、記録すべき２値化情報に従い、高レ
ベルと低レベルとの間でパルス変調する光源駆動回路
１、記録磁界印加手段（永久磁石１１）、パルス波形整
形回路１０、及び条件決定手段１２からなる。ここで
は、パルス波形整形回路１０は、パルス波形を、図２
（後述）に示すような波形に整形する。
【００４９】条件決定手段１２は、式（１）及び式
（２）に基づいて各値（Ｐpre、ＰW1、ＰW2、ＰLB、ＴW
1、Ｔoff）の組合わせを決定する演算部と、決定された
値を出力する出力部を備えている。演算部では、式
（１）及び式（２）に基づいて各値を決定する。そし
て、決定された値を出力部から出力する。パルス波形整
形回路１０では、この出力値に基づいてパルス波形を整
形する。
（２）に基づいて各値（Ｐpre、ＰW1、ＰW2、ＰLB、ＴW
1、Ｔoff）の組合わせを決定する演算部と、決定された
値を出力する出力部を備えている。演算部では、式
（１）及び式（２）に基づいて各値を決定する。そし
て、決定された値を出力部から出力する。パルス波形整
形回路１０では、この出力値に基づいてパルス波形を整
形する。
【００５０】媒体Ｄとして、光磁気ディスクをセットす
る。回転手段６で媒体Ｄを回転させ、媒体Ｄのトラック
の線速度が所定値となるようにする。光源２からのレー
ザビームのスポットをトラック上にサーボオンさせる。
つまり、フォーカシングとトラッキングのサーボ装置
（不図示）を作動させる。そして、光源２から出射され
るレーザビームを、光源駆動回路１により記録すべき２
値化情報に従いパルス変調する。光源２から出射したビ
ームは、コリメータレンズ３を通って平行にされた後、
ビームスプリッタ４で反射される。反射されたビーム
は、対物レンズ５で集光され、媒体Ｄ上に焦点を結ぶ。
記録は、これで基本的に終わりである。
る。回転手段６で媒体Ｄを回転させ、媒体Ｄのトラック
の線速度が所定値となるようにする。光源２からのレー
ザビームのスポットをトラック上にサーボオンさせる。
つまり、フォーカシングとトラッキングのサーボ装置
（不図示）を作動させる。そして、光源２から出射され
るレーザビームを、光源駆動回路１により記録すべき２
値化情報に従いパルス変調する。光源２から出射したビ
ームは、コリメータレンズ３を通って平行にされた後、
ビームスプリッタ４で反射される。反射されたビーム
は、対物レンズ５で集光され、媒体Ｄ上に焦点を結ぶ。
記録は、これで基本的に終わりである。
【００５１】再生の場合は、強度変調をしないＤＣ点灯
のレーザビームを記録時と同様に媒体Ｄに照射する。そ
して、媒体から反射された光を対物レンズ５を通してビ
ームスプリッタ４に入射させ、そこを透過した光を集光
レンズ７で集光した上で、ディテクタ９に入射させる。
このとき、集光レンズ７とディテクタ９との間に置いた
アナライザ（偏光子）を通して、偏光面の回転状況を光
の強度変化に変換する。これにより、偏光面の回転とし
て読みとった媒体Ｄの記録情報を光の強度変化に変換す
る。光の強度変化は、ディテクタ９で電気信号の強弱に
変換される。これが再生である。
のレーザビームを記録時と同様に媒体Ｄに照射する。そ
して、媒体から反射された光を対物レンズ５を通してビ
ームスプリッタ４に入射させ、そこを透過した光を集光
レンズ７で集光した上で、ディテクタ９に入射させる。
このとき、集光レンズ７とディテクタ９との間に置いた
アナライザ（偏光子）を通して、偏光面の回転状況を光
の強度変化に変換する。これにより、偏光面の回転とし
て読みとった媒体Ｄの記録情報を光の強度変化に変換す
る。光の強度変化は、ディテクタ９で電気信号の強弱に
変換される。これが再生である。
【００５２】以上のような構成の装置において、媒体Ｄ
として、作用の項で説明したτの測定法でτ＝55nsec
（Ｖ＝11.3ｍ／sec ）を有する光磁気ディスクを用意し
た。全面初期化の後、この光磁気ディスクを測定線速
度：Ｖ＝11.3ｍ／sec で回転させ、これに対し、N.A.＝
0.55 、波長＝830nm 、レーザパルスの立ち上がり、立
ち下がり時間が共に約 5 nsec である記録再生用レーザ
ビームを用い、デジタル記録方式で、２／３（１，７）
R.L.L., 0.56 μｍ／bit,Ｔ（write clock period）＝
33 nsecの NRZI マーク長記録用ランダム信号を記録し
た。パルス波形は、図１１に示すような、プリパルス方
式及び熱遮断方式を使用した。マークの種類は２Ｔマー
ク〜８Ｔマークの７種である。
として、作用の項で説明したτの測定法でτ＝55nsec
（Ｖ＝11.3ｍ／sec ）を有する光磁気ディスクを用意し
た。全面初期化の後、この光磁気ディスクを測定線速
度：Ｖ＝11.3ｍ／sec で回転させ、これに対し、N.A.＝
0.55 、波長＝830nm 、レーザパルスの立ち上がり、立
ち下がり時間が共に約 5 nsec である記録再生用レーザ
ビームを用い、デジタル記録方式で、２／３（１，７）
R.L.L., 0.56 μｍ／bit,Ｔ（write clock period）＝
33 nsecの NRZI マーク長記録用ランダム信号を記録し
た。パルス波形は、図１１に示すような、プリパルス方
式及び熱遮断方式を使用した。マークの種類は２Ｔマー
ク〜８Ｔマークの７種である。
【００５３】＜条件１＞τ＝55nsec、ＰLB＝0ｍＷ、Ｐp
re ＝3.0 ｍＷ、ＰW1＝11.0ｍＷ、Ｔ＝33nsec、ＴW1＝5
0nsec（＝Ｔ×３／２）、Ｔoff ＝52nsec（この値は、
上の数値を式（２）に代入して求めた）、ＰW2＝7.8 ｍ
Ｗ（この値は、上の数値を式（１）に代入して求め
た）。
re ＝3.0 ｍＷ、ＰW1＝11.0ｍＷ、Ｔ＝33nsec、ＴW1＝5
0nsec（＝Ｔ×３／２）、Ｔoff ＝52nsec（この値は、
上の数値を式（２）に代入して求めた）、ＰW2＝7.8 ｍ
Ｗ（この値は、上の数値を式（１）に代入して求め
た）。
【００５４】その後、再生レーザビーム強度Ｐr ＝1.5
ｍＷで再生し、「マークの後エッジ位置の、記録データ
パターン依存性」を測定したところ、前記依存性は小さ
く、データの弁別性も良好であった。また、マークの幅
もほぼ一定であった。
ｍＷで再生し、「マークの後エッジ位置の、記録データ
パターン依存性」を測定したところ、前記依存性は小さ
く、データの弁別性も良好であった。また、マークの幅
もほぼ一定であった。
【００５５】
【比較例１】ＰW2＝8.8 ｍＷ（この値は、経験的によく
使われる値で、ＰW1の約80％に相当する）とした以外は
実施例と全く同様に記録し、再生した。その結果は、２
Ｔのマークの後エッジ位置に比べて、３Ｔ〜８Ｔマーク
の後エッジ位置が最大約１nsec、後ろにズレていた。つ
まり、「マークの後エッジ位置の、記録データパターン
依存性」がまだ残っている。
使われる値で、ＰW1の約80％に相当する）とした以外は
実施例と全く同様に記録し、再生した。その結果は、２
Ｔのマークの後エッジ位置に比べて、３Ｔ〜８Ｔマーク
の後エッジ位置が最大約１nsec、後ろにズレていた。つ
まり、「マークの後エッジ位置の、記録データパターン
依存性」がまだ残っている。
【００５６】
【実施例２】作用の項で説明したτの測定法でτ＝55ns
ec（Ｖ＝11.3ｍ／sec ）を有する光磁気ディスクを用意
した。全面初期化の後、この光磁気ディスクを測定線速
度：Ｖ＝11.3ｍ／sec で回転させ、これに対し、N.A.＝
0.55 、波長＝830nm 、レーザパルスの立ち上がり、立
ち下がり時間が共に約 5 nsec である記録再生用レーザ
ビームを用い、アナログ記録方式で、ＩＴＥ（Institut
e of Television Engineers of Japan）のテストパタ
ーンを記録した。パルス波形は、図４に示すような、プ
リパルス方式及び熱遮断方式を使用した。
ec（Ｖ＝11.3ｍ／sec ）を有する光磁気ディスクを用意
した。全面初期化の後、この光磁気ディスクを測定線速
度：Ｖ＝11.3ｍ／sec で回転させ、これに対し、N.A.＝
0.55 、波長＝830nm 、レーザパルスの立ち上がり、立
ち下がり時間が共に約 5 nsec である記録再生用レーザ
ビームを用い、アナログ記録方式で、ＩＴＥ（Institut
e of Television Engineers of Japan）のテストパタ
ーンを記録した。パルス波形は、図４に示すような、プ
リパルス方式及び熱遮断方式を使用した。
【００５７】＜条件２＞τ＝55nsec、ＰLB＝0ｍＷ、Ｐp
re ＝3.0 ｍＷ、ＰW1＝11.0ｍＷ、ＴW1＝50nsec、Ｔoff
＝52nsec（この値は、上の数値を式（２）に代入して
求めた）、ＰW2＝7.8 ｍＷ（この値は、上の数値を式
（１）に代入して求めた）。その後、再生レーザビーム
強度Ｐr ＝1.5 ｍＷで再生し、「マークの後エッジ位置
の、記録データパターン依存性」を測定したところ、前
記依存性は測定誤差範囲内で測定されなかった。また、
マークの幅もほぼ一定であった。
re ＝3.0 ｍＷ、ＰW1＝11.0ｍＷ、ＴW1＝50nsec、Ｔoff
＝52nsec（この値は、上の数値を式（２）に代入して
求めた）、ＰW2＝7.8 ｍＷ（この値は、上の数値を式
（１）に代入して求めた）。その後、再生レーザビーム
強度Ｐr ＝1.5 ｍＷで再生し、「マークの後エッジ位置
の、記録データパターン依存性」を測定したところ、前
記依存性は測定誤差範囲内で測定されなかった。また、
マークの幅もほぼ一定であった。
【００５８】
【比較例２】ＰW2＝8.8 ｍＷ（この値は、経験的によく
使われる値で、ＰW1の約80％に相当する）とした以外は
実施例と全く同様に記録し、再生した。その結果、マー
ク形状が後ろが太い涙滴形になっていた。特に長いマー
クほどその影響が大きく、マークの後ろエッジが所定の
位置より最大約２nsec後ろにズレていた。つまり、「マ
ークの後エッジ位置の、記録データパターン依存性」が
まだ残っている。
使われる値で、ＰW1の約80％に相当する）とした以外は
実施例と全く同様に記録し、再生した。その結果、マー
ク形状が後ろが太い涙滴形になっていた。特に長いマー
クほどその影響が大きく、マークの後ろエッジが所定の
位置より最大約２nsec後ろにズレていた。つまり、「マ
ークの後エッジ位置の、記録データパターン依存性」が
まだ残っている。
【００５９】
【発明の効果】以上の通り、本発明によれば、光ディス
クに最適なプリパルス条件が求められるので、これを使
用して光記録した場合、どんな光ディスクでも常に「マ
ーク形成の終了位置、つまりマークの後エッジ位置の、
記録データパターン依存性」が解消される。マーク形状
も涙滴形ではなく、ほぼ一定の幅となる。その結果、常
に高密度で正確な記録ができる。
クに最適なプリパルス条件が求められるので、これを使
用して光記録した場合、どんな光ディスクでも常に「マ
ーク形成の終了位置、つまりマークの後エッジ位置の、
記録データパターン依存性」が解消される。マーク形状
も涙滴形ではなく、ほぼ一定の幅となる。その結果、常
に高密度で正確な記録ができる。
【図１】本発明の実施例にかかる光磁気記録装置の主要
な構成を示す概念図。
な構成を示す概念図。
【図２】記録すべきデータ信号のパターン（波形）の一
例、そのときのレーザビームの発光及び消光を示すチャ
ート（光源へ入力する電力のチャート）、そのときのデ
ィスクの温度プロフィール（昇温プロフィール）及び形
成されるマークの関係を示す説明図。
例、そのときのレーザビームの発光及び消光を示すチャ
ート（光源へ入力する電力のチャート）、そのときのデ
ィスクの温度プロフィール（昇温プロフィール）及び形
成されるマークの関係を示す説明図。
【図３】温度が飽和に達するまでの所要時間（ｔsat ）
を示す温度プロフィールのグラフ。
を示す温度プロフィールのグラフ。
【図４】パルス時間長（P.D.T.）を説明する波形図。
【図５】Pth を縦軸、P.D.T.を横軸にデータをプロット
したグラフ。
したグラフ。
【図６】P0／Pth を縦軸、P.D.T.を横軸にデータをプロ
ットしたグラフ（ディスクの昇温プロフィールを表
す）。
ットしたグラフ（ディスクの昇温プロフィールを表
す）。
【図７】１−P0／Pth を縦軸、P.D.T.を横軸にデータを
プロットしたグラフ（ディスクの降温プロフィールを表
す）。
プロットしたグラフ（ディスクの降温プロフィールを表
す）。
【図８】従来の方式で１つのマークを形成する場合のレ
ーザビーム強度の波形図。
ーザビーム強度の波形図。
【図９】プリパルス方式で１つのマークを形成する場合
のレーザビーム強度の波形図。
のレーザビーム強度の波形図。
【図１０】熱遮断を用い、かつプリパルス方式で１つの
マークを形成する場合のレーザビーム強度の波形図。
マークを形成する場合のレーザビーム強度の波形図。
【図１１】プリパルス方式で１つのマークを形成する場
合のレーザビーム強度の波形図。
合のレーザビーム強度の波形図。
【図１２】信号波形と記録されるマークとの関係を示す
説明図。
説明図。
【図１３】プリパルス及び熱遮断方式でマークを形成し
た場合の、各時刻のレーザビームのスポット中心の温度
又は各時刻のピーク温度のグラフ。
た場合の、各時刻のレーザビームのスポット中心の温度
又は各時刻のピーク温度のグラフ。
【符号の説明】 １；光源駆動回路 ２；レーザビーム光源 ３；コリメータレンズ ４；ビームスプリッタ ５；対物レンズ ６；モータ（回転手段） ７；集光レンズ ８；アナライザ（偏光子） ９；ディテクタ １０；パルス波形整形回路 １１；記録磁界印加手段（永久磁石） １２；条件決定手段 Ｄ；記録媒体
Claims (25)
- 【請求項１】光記録媒体に照射するレーザビーム強度
を、前記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート
状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち
上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2
に立ち下げて前記光記録媒体にマークを形成する光記録
方法であって、 前記時間ＴW1経過時の前記媒体面上に照射されたレーザ
ビームのピーク温度位置又はスポット中心位置での温度
が、ＰW2に立ち下げた後も前記温度で一定となるように
ＰW2を制御することを特徴とする光記録方法。 - 【請求項２】光記録媒体に照射するレーザビーム強度
を、前記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート
状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち
上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2
に立ち下げて前記光記録媒体にマークを形成する光記録
方法であって、 前記各値を下記式（１）を満足する組合せとして求める
ことを特徴とする光記録方法。 ＰW2−Ｐpre＝（ＰW1−Ｐpre）×｛１−exp（−ＴW1／τ）｝・・・・式（１） （τは前記光記録媒体の熱時定数） - 【請求項３】光記録媒体に照射するレーザビーム強度
を、前記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート
状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち
上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2
に立ち下げて前記光記録媒体にマークを形成し、その後
Ｐpreより低い強度ＰLBに立ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpre
に立ち上げる光記録方法であって、 前記時間ＴW1経過時の前記媒体面上に照射されたレーザ
ビームのピーク温度位置又はスポット中心位置での温度
が、ＰW2に立ち下げた後も前記温度で一定となるように
ＰW2を制御し、 かつ、Ｐpre、Ｔoff及びＰLBのうちの少なくとも１つを
制御することにより、次のマークを形成すべく再度ＰW1
に立ち上げるまでの時間内に前記プレヒート状態とする
ことを特徴とする光記録方法。 - 【請求項４】光記録媒体に照射するレーザビーム強度
を、前記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート
状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち
上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2
に立ち下げて前記光記録媒体にマークを形成し、その後
Ｐpreより低い強度ＰLBに立ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpre
に立ち上げる光記録方法であって、 前記各値を下記式（１）及び式（２）を満足する組合せ
として求めることを特徴とする光記録方法。 ＰW2−Ｐpre＝（ＰW1−Ｐpre）×｛１−exp（−ＴW1／τ）｝・・・・式（１） Ｔoff＝τ×ln[{(ＰW1-ＰLB)-(ＰW1-Ｐpre)×exp(-ＴW1/τ)}÷(Ｐpre-ＰLB)] ・・・・・式（２） （τは前記光記録媒体の熱時定数） - 【請求項５】前記光記録媒体は熱応答特性が指数関数で
近似できることを特徴とする請求項１又は請求項３記載
の光記録方法。 - 【請求項６】前記強度ＰLB をゼロとしたことを特徴と
する請求項３又は請求項４又は請求項５記載の光記録方
法。 - 【請求項７】前記時間Ｔoffを、書き込みクロック周期
Ｔのｍ／ｎ倍（ｍ，ｎは自然数）又はそれに近い値とす
ることを特徴とする請求項３又は請求項４又は請求項５
又は請求項６記載の光記録方法。 - 【請求項８】レーザビームを出射する光源と、 前記レーザビームを光記録媒体に照射する照射手段と、 前記媒体上の前記レーザビームの照射位置を変化させる
移動手段と、 マークを形成すべく、光記録媒体に照射するレーザビー
ム強度を、前記媒体面の温度がある一定温度となるプレ
ヒート状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1
へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強
度ＰW2に立ち下げる変調手段と、 前記時間ＴW1経過時の前記媒体面上に照射されたレーザ
ビームのピーク温度位置又はスポット中心位置での温度
が、ＰW2に立ち下げた後も前記温度で一定となるように
ＰW2を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする光
記録装置。 - 【請求項９】レーザビームを出射する光源と、 前記レーザビームを光記録媒体に照射する照射手段と、 前記記媒体上の前記レーザビームの照射位置を変化させ
る移動手段と、 マークを形成すべく、光記録媒体に照射するレーザビー
ム強度を、前記媒体面の温度がある一定温度となるプレ
ヒート状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1
へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強
度ＰW2に立ち下げる変調手段と、 前記各値を下記式（１）を満足する組合せとして求める
条件決定手段とを備えたことを特徴とする光記録装置。 ＰW2−Ｐpre＝（ＰW1−Ｐpre）×｛１−exp（−ＴW1／τ）｝・・・・式（１） （τは前記光記録媒体の熱時定数） - 【請求項１０】レーザビームを出射する光源と、 前記レーザビームを光記録媒体に照射する照射手段と、 前記媒体上の前記レーザビームの照射位置を変化させる
移動手段と、 マークを形成すべく、光記録媒体に照射するレーザビー
ム強度を、前記媒体面の温度がある一定温度となるプレ
ヒート状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1
へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強
度ＰW2に立ち下げる第１の変調手段と、 前記光記録媒体にマークを形成した後、Ｐpreより低い
強度ＰLBに立ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる第
２の変調手段と、 前記時間ＴW1経過時の前記媒体面上に照射されたレーザ
ビームのピーク温度位置又はスポット中心位置での温度
が、ＰW2に立ち下げた後も前記温度で一定となるように
ＰW2を制御する第１の制御手段と次のマークを形成すべ
く再度ＰW1に立ち上げるまでの時間内に前記プレヒート
状態となるように、Ｐpre、Ｔoff及びＰLBのうちの少な
くとも１つを制御する第２の制御手段と、 を備えたことを特徴とする光記録装置。 - 【請求項１１】レーザビームを出射する光源と、 前記レーザビームを光記録媒体に照射する照射手段と、 前記媒体上の前記レーザビームの照射位置を変化させる
移動手段と、 マークを形成すべく、光記録媒体に照射するレーザビー
ム強度を、前記媒体面の温度がある一定温度となるプレ
ヒート状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1
へ立ち上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強
度ＰW2に立ち下げる第１の変調手段と、 前記光記録媒体にマークを形成した後、Ｐpreより低い
強度ＰLBに立ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpreに立ち上げる第
２の変調手段と、 前記各値を下記式（１）及び式（２）を満足する組合せ
として求める条件決定手段とを備えたことを特徴とする
光記録装置。 ＰW2−Ｐpre＝（ＰW1−Ｐpre）×｛１−exp（−ＴW1／τ）｝・・・・式（１） Ｔoff＝τ×ln[{(ＰW1-ＰLB)-(ＰW1-Ｐpre)×exp(-ＴW1/τ)}÷(Ｐpre-ＰLB)] ・・・・・式（２） （τは前記光記録媒体の熱時定数） - 【請求項１２】前記強度ＰLB をゼロとしたことを特徴
とする請求項１０又は請求項１１記載の光記録装置。 - 【請求項１３】前記時間Ｔoffを、書き込みクロック周
期Ｔのｍ／ｎ倍（ｍ，ｎは自然数）又はそれに近い値と
することを特徴とする請求項１０又は請求項１１又は請
求項１２記載の光記録装置。 - 【請求項１４】光記録媒体に照射するレーザビーム強度
を、前記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート
状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち
上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2
に立ち下げて前記光記録媒体にマークを形成する光記録
方法の条件を決定する方法であって、 前記時間ＴW1経過時の前記媒体面上に照射されたレーザ
ビームのピーク温度位置又はスポット中心位置での温度
が、ＰW2に立ち下げた後も前記温度で一定となるように
ＰW2を設定することを特徴とする光記録のプリパルス条
件決定方法。 - 【請求項１５】光記録媒体に照射するレーザビーム強度
を、前記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート
状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち
上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2
に立ち下げて前記光記録媒体にマークを形成する光記録
方法の条件を決定する方法であって、 前記各値を下記式（１）を満足する組合せとして求める
ことを特徴とする光記録のプリパルス条件決定方法。 ＰW2−Ｐpre＝（ＰW1−Ｐpre）×｛１−exp（−ＴW1／τ）｝・・・・式（１） （τは前記光記録媒体の熱時定数） - 【請求項１６】光記録媒体に照射するレーザビーム強度
を、前記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート
状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち
上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2
に立ち下げて前記光記録媒体にマークを形成し、その後
Ｐpreより低い強度ＰLBに立ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpre
に立ち上げる光記録方法の条件を決定する方法であっ
て、 前記時間ＴW1経過時の前記媒体面上に照射されたレーザ
ビームのピーク温度位置又はスポット中心位置での温度
が、ＰW2に立ち下げた後も前記温度で一定となるように
ＰW2を設定し、 かつ次のマークを形成すべく再度ＰW1に立ち上げるまで
の時間内に前記プレヒート状態となるような、Ｐpre、
Ｔoff及びＰLBの組み合わせを求めることを特徴とする
光記録のプリパルス条件及び熱遮断条件決定方法。 - 【請求項１７】光記録媒体に照射するレーザビーム強度
を、前記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート
状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち
上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2
に立ち下げて前記光記録媒体にマークを形成し、その後
Ｐpreより低い強度ＰLBに立ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpre
に立ち上げる光記録方法の条件を決定する方法であっ
て、 前記各値を下記式（１）及び式（２）を満足する組合せ
として求めることを特徴とする光記録のプリパルス条件
及び熱遮断条件決定方法。 ＰW2−Ｐpre＝（ＰW1−Ｐpre）×｛１−exp（−ＴW1／τ）｝・・・・式（１） Ｔoff＝τ×ln[{(ＰW1-ＰLB)-(ＰW1-Ｐpre)×exp(-ＴW1/τ)}÷(Ｐpre-ＰLB)] ・・・・・式（２） （τは前記光記録媒体の熱時定数） - 【請求項１８】前記強度ＰLB をゼロとしたことを特徴
とする請求項１６又は請求項１７記載の光記録の熱遮断
決定方法。 - 【請求項１９】前記時間Ｔoffを、書き込みクロック周
期Ｔのｍ／ｎ倍（ｍ，ｎは自然数）又はそれに近い値と
することを特徴とする請求項１６又は請求項１７又は請
求項１８記載の光記録の熱遮断決定方法。 - 【請求項２０】光記録媒体に照射するレーザビーム強度
を、前記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート
状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち
上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2
に立ち下げて前記光記録媒体にマークを形成する光記録
方法の条件を決定する装置であって、 前記時間ＴW1経過時の前記媒体面上に照射されたレーザ
ビームのピーク温度位置又はスポット中心位置での温度
が、ＰW2に立ち下げた後も前記温度で一定となるような
ＰW2を求める演算部と、 前記演算部で求められた値を出力する出力部とを備えた
ことを特徴とする光記録のプリパルス条件決定装置。 - 【請求項２１】光記録媒体に照射するレーザビーム強度
を、前記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート
状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち
上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2
に立ち下げて前記光記録媒体にマークを形成する光記録
方法の条件を決定する装置であって、 前記各値を下記式（１）を満足する組合せとして求める
演算部と、 前記演算部で算出された値を出力する出力部とを備えた
ことを特徴とする光記録のプリパルス条件決定装置。 ＰW2−Ｐpre＝（ＰW1−Ｐpre）×｛１−exp（−ＴW1／τ）｝・・・・式（１） （τは前記光記録媒体の熱時定数） - 【請求項２２】光記録媒体に照射するレーザビーム強度
を、前記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート
状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち
上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2
に立ち下げて前記光記録媒体にマークを形成し、その後
Ｐpreより低い強度ＰLBに立ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpre
に立ち上げる光記録方法の条件を決定する装置であっ
て、 前記時間ＴW1経過時の前記媒体面上に照射されたレーザ
ビームのピーク温度位置又はスポット中心位置での温度
が、ＰW2に立ち下げた後も前記温度で一定となるような
ＰW2を求める第１演算部と、 次のマークを形成すべく再度ＰW1に立ち上げるまでの時
間内に前記プレヒート状態となるような、Ｐpre、Ｔoff
及びＰLBの組み合わせを求める第２演算部と、 前記演算部で求められた値を出力する出力部とを備えた
ことを特徴とする光記録のプリパルス条件及び熱遮断条
件決定装置。 - 【請求項２３】光記録媒体に照射するレーザビーム強度
を、前記媒体面の温度がある一定温度となるプレヒート
状態を保つ強度ＰpreからＰpreより高い強度ＰW1へ立ち
上げ、ＰW1を時間ＴW1維持した後ＰW1より低い強度ＰW2
に立ち下げて前記光記録媒体にマークを形成し、その後
Ｐpreより低い強度ＰLBに立ち下げ、時間Ｔoff後Ｐpre
に立ち上げる光記録方法の条件を決定する装置であっ
て、 前記各値を下記式（１）及び式（２）を満足する組合せ
として求める演算部と、 前記演算部で算出された値を
出力する出力部とを備えたことを特徴とする光記録のプ
リパルス条件及び熱遮断条件決定装置。 ＰW2−Ｐpre＝（ＰW1−Ｐpre）×｛１−exp（−ＴW1／τ）｝・・・・式（１） Ｔoff＝τ×ln[{(ＰW1-ＰLB)-(ＰW1-Ｐpre)×exp(-ＴW1/τ)}÷(Ｐpre-ＰLB)] ・・・・・式（２） （τは前記光記録媒体の熱時定数） - 【請求項２４】前記強度ＰLB をゼロとしたことを特徴
とする請求項２２又は請求項２３記載の光記録の熱遮断
条件決定装置。 - 【請求項２５】前記時間Ｔoffを、書き込みクロック周
期Ｔのｍ／ｎ倍（ｍ，ｎは自然数）又はそれに近い値と
することを特徴とする請求項２２又は請求項２３又は請
求項２４記載の光記録の熱遮断条件決定装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5232633A JPH06301978A (ja) | 1992-10-28 | 1993-09-20 | 光記録のプリパルス条件及び熱遮断条件決定方法、 同決定装置、光記録方法及び光記録装置 |
| US08/434,059 US5577019A (en) | 1992-10-28 | 1995-05-03 | Prepulse condition/heat shut off condition determination method and apparatus for optical recording, and optical recording method and apparatus |
| US08/434,063 US5581535A (en) | 1992-10-28 | 1995-05-03 | Prepulse conditon/heat shut off condition determination method and apparatus for optical recording, and optical recording method and apparatus |
Applications Claiming Priority (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4-289166 | 1992-10-28 | ||
| JP28916692 | 1992-10-28 | ||
| JP2590193 | 1993-02-16 | ||
| JP5-25901 | 1993-02-16 | ||
| JP5232633A JPH06301978A (ja) | 1992-10-28 | 1993-09-20 | 光記録のプリパルス条件及び熱遮断条件決定方法、 同決定装置、光記録方法及び光記録装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06301978A true JPH06301978A (ja) | 1994-10-28 |
Family
ID=27285201
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5232633A Pending JPH06301978A (ja) | 1992-10-28 | 1993-09-20 | 光記録のプリパルス条件及び熱遮断条件決定方法、 同決定装置、光記録方法及び光記録装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US5577019A (ja) |
| JP (1) | JPH06301978A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US5737301A (en) * | 1995-06-01 | 1998-04-07 | Hitachi, Ltd. | Laser control for setting average recording power of "1" equal to average recording power of "0" |
| DE69618681T2 (de) * | 1995-10-09 | 2002-08-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Aufnahmemethode und Aufnahmeeinheit für optische Information |
| US6781937B2 (en) * | 1998-01-21 | 2004-08-24 | Yamaha Corporation | Optical disk recording method and device |
| US7990647B2 (en) * | 2008-07-03 | 2011-08-02 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Thermally assisted recording head control means for protrusion management |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2775009B2 (ja) * | 1989-06-20 | 1998-07-09 | ソニー株式会社 | 光記録装置 |
| CA2020243C (en) * | 1989-06-30 | 1994-12-13 | Eiji Ohno | Optical information recording method and recording apparatus |
| JP2797733B2 (ja) * | 1990-03-14 | 1998-09-17 | 松下電器産業株式会社 | 光学情報記録部材の記録方法 |
| JP2972899B2 (ja) * | 1991-01-24 | 1999-11-08 | 株式会社リコー | 光磁気記録方法 |
| JP2850966B2 (ja) * | 1991-08-02 | 1999-01-27 | シャープ株式会社 | 光磁気記録装置 |
| WO1993013523A1 (fr) * | 1991-12-27 | 1993-07-08 | Fujitsu Limited | Procede d'enregistrement magneto-optique a ecrasement ameliorant le rapport porteuse/bruit, et appareil d'enregistrement a ecrasement utilise pour mettre en ×uvre ledite procede |
| JPH0684224A (ja) * | 1992-09-07 | 1994-03-25 | Hitachi Ltd | 光磁気ディスクの記録制御方法 |
| DE69322593T2 (de) * | 1992-10-20 | 1999-06-24 | Nikon Corp., Tokio/Tokyo | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Aufzeichnung |
| JPH06267123A (ja) * | 1992-10-28 | 1994-09-22 | Nikon Corp | 光磁気ディスクに熱遮断方式及びパルストレイン方式で オーバーライトする場合における記録条件決定方法、 同記録条件決定装置、光磁気記録方法及び光磁気記録 装置 |
| JPH06302042A (ja) * | 1993-04-15 | 1994-10-28 | Hitachi Ltd | 光磁気ディスク装置 |
-
1993
- 1993-09-20 JP JP5232633A patent/JPH06301978A/ja active Pending
-
1995
- 1995-05-03 US US08/434,059 patent/US5577019A/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-05-03 US US08/434,063 patent/US5581535A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5581535A (en) | 1996-12-03 |
| US5577019A (en) | 1996-11-19 |
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