JPH06302501A - 露光装置 - Google Patents
露光装置Info
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- JPH06302501A JPH06302501A JP5084764A JP8476493A JPH06302501A JP H06302501 A JPH06302501 A JP H06302501A JP 5084764 A JP5084764 A JP 5084764A JP 8476493 A JP8476493 A JP 8476493A JP H06302501 A JPH06302501 A JP H06302501A
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70425—Imaging strategies, e.g. for increasing throughput or resolution, printing product fields larger than the image field or compensating lithography- or non-lithography errors, e.g. proximity correction, mix-and-match, stitching or double patterning
- G03F7/70475—Stitching, i.e. connecting image fields to produce a device field, the field occupied by a device such as a memory chip, processor chip, CCD, flat panel display
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 画面合成を行う露光装置において、レチクル
自体に減光手段を設けることなく、感光基板上の露光領
域内で理想的な減光領域を形成することを可能とする。 【構成】 光源1からの光束をレチクル10に照射する
照明光学系内の、レチクルと共役な位置に配置したレチ
クルブラインドの設定を変更する駆動装置18A,18
Bと、シャッター3の開閉に同期して駆動装置18A,
18Bを駆動する制御装置19とを備える。制御装置1
9は、感光基板12の露光中に、像を重ね合わせるべき
範囲内でレチクルブラインド7を移動させるように駆動
装置18A,18Bを駆動する。
自体に減光手段を設けることなく、感光基板上の露光領
域内で理想的な減光領域を形成することを可能とする。 【構成】 光源1からの光束をレチクル10に照射する
照明光学系内の、レチクルと共役な位置に配置したレチ
クルブラインドの設定を変更する駆動装置18A,18
Bと、シャッター3の開閉に同期して駆動装置18A,
18Bを駆動する制御装置19とを備える。制御装置1
9は、感光基板12の露光中に、像を重ね合わせるべき
範囲内でレチクルブラインド7を移動させるように駆動
装置18A,18Bを駆動する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体素子や液晶表示
基板等の製造に用いられる露光装置に関するものであ
り、特に単位領域のパターンの一部分どうしを感光基板
上で互いに重ね合わせることによって大面積のパターン
を形成する、所謂画面合成を行う露光装置に関する
基板等の製造に用いられる露光装置に関するものであ
り、特に単位領域のパターンの一部分どうしを感光基板
上で互いに重ね合わせることによって大面積のパターン
を形成する、所謂画面合成を行う露光装置に関する
【0002】
【従来の技術】この種の露光装置では、露光対象となる
試料の大型化に対処するため、試料の露光領域を複数の
単位領域に分割して各領域に応じた露光を繰り返し、最
終的に所望のパターンを合成する画面合成手法が用いら
れている。この画面合成を行なう際には、パターン投影
用のレチクルの描画誤差や投影光学系のレンズの収差、
試料を位置決めするステージの位置決め誤差等に起因す
る各露光領域の境界位置でのパターンの切れ目の発生を
防止するため、各露光領域の境界を微小量重ね合わせて
露光を行なう。しかし、露光領域を重ね合わるせと、こ
の部分の露光量が2倍になり、感光剤の特性によっては
パターンの継ぎ目部分の線幅が変化することになる。ま
た、画面合成を行なうと、隣接する露光領域どうしの位
置のずれによってパターンの継ぎ目部分に段差が発生
し、デバイスの特性が損われることがある。さらに、画
面合成されたパターンを多層に重ね合わせる工程を複数
台の露光装置に分担させた場合、各露光装置のレンズ収
差や位置決め精度の相違によって各層の露光領域の重ね
合わせ誤差がパターンの継ぎ目部分で不連続に変化し、
特にアクティブマトリックス液晶デバイスではパターン
継ぎ目部分でコントラストが断続的に変化してデバイス
の品質が著しく低下する。
試料の大型化に対処するため、試料の露光領域を複数の
単位領域に分割して各領域に応じた露光を繰り返し、最
終的に所望のパターンを合成する画面合成手法が用いら
れている。この画面合成を行なう際には、パターン投影
用のレチクルの描画誤差や投影光学系のレンズの収差、
試料を位置決めするステージの位置決め誤差等に起因す
る各露光領域の境界位置でのパターンの切れ目の発生を
防止するため、各露光領域の境界を微小量重ね合わせて
露光を行なう。しかし、露光領域を重ね合わるせと、こ
の部分の露光量が2倍になり、感光剤の特性によっては
パターンの継ぎ目部分の線幅が変化することになる。ま
た、画面合成を行なうと、隣接する露光領域どうしの位
置のずれによってパターンの継ぎ目部分に段差が発生
し、デバイスの特性が損われることがある。さらに、画
面合成されたパターンを多層に重ね合わせる工程を複数
台の露光装置に分担させた場合、各露光装置のレンズ収
差や位置決め精度の相違によって各層の露光領域の重ね
合わせ誤差がパターンの継ぎ目部分で不連続に変化し、
特にアクティブマトリックス液晶デバイスではパターン
継ぎ目部分でコントラストが断続的に変化してデバイス
の品質が著しく低下する。
【0003】以上のような画面合成上の不都合を除去す
る手段として、特公昭63−49218号公報には、レ
チクル若しくはレチクルに重ねるフィルタのパターン継
ぎ目部分に相当する位置に透過光量を減少させる減光手
段を設け、パターンの重ね合わせ部分の露光量を他の部
分の露光量に略一致させるものが開示されている。
る手段として、特公昭63−49218号公報には、レ
チクル若しくはレチクルに重ねるフィルタのパターン継
ぎ目部分に相当する位置に透過光量を減少させる減光手
段を設け、パターンの重ね合わせ部分の露光量を他の部
分の露光量に略一致させるものが開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した公報
記載の手段では次のような問題がある。まず、レチクル
自身に減光特性を持たせた場合、レチクルの製造工数が
増え、製造中にパターン欠陥が発生するおそれも高まる
などレチクルの製造工程への負担が大きくなる。一方、
レチクルと重ね合わせるフィルタを用いる場合は、フィ
ルタの着脱によってレチクルの損傷や汚染が生じるおそ
れが高くなるなどレチクルの保守管理に問題が生じる。
また、レチクルの前後には、パターンへのごみ等の異物
の付着を防止するために一定厚さのペリクルを設けるこ
とが多いので、最低でもフィルタとレチクルのパターン
とがペリクルの厚さだけ離れてしまい、パターン上にて
理想的な減光特性を得ることが困難となる。さらに、レ
チクル毎に専用のフィルタを用意する必要があり、フィ
ルタの製造や保守管理に要する手間も無視できない。
記載の手段では次のような問題がある。まず、レチクル
自身に減光特性を持たせた場合、レチクルの製造工数が
増え、製造中にパターン欠陥が発生するおそれも高まる
などレチクルの製造工程への負担が大きくなる。一方、
レチクルと重ね合わせるフィルタを用いる場合は、フィ
ルタの着脱によってレチクルの損傷や汚染が生じるおそ
れが高くなるなどレチクルの保守管理に問題が生じる。
また、レチクルの前後には、パターンへのごみ等の異物
の付着を防止するために一定厚さのペリクルを設けるこ
とが多いので、最低でもフィルタとレチクルのパターン
とがペリクルの厚さだけ離れてしまい、パターン上にて
理想的な減光特性を得ることが困難となる。さらに、レ
チクル毎に専用のフィルタを用意する必要があり、フィ
ルタの製造や保守管理に要する手間も無視できない。
【0005】本発明の目的は、レチクル等のようなパタ
ーン転写用の原板に減光特性を持たせる必要や原板毎に
異なる減光手段を用意する必要がなく、かつ原板上にて
理想的な減光特性が得られる露光装置を提供することに
ある。
ーン転写用の原板に減光特性を持たせる必要や原板毎に
異なる減光手段を用意する必要がなく、かつ原板上にて
理想的な減光特性が得られる露光装置を提供することに
ある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記問題点解決のため本
発明では、光源(1)からの光束をレチクル(10)に
照射する照明光学系(2〜6,8,9)と、レチクルと
ほぼ共役な照明光学系内の位置に配置され、光束によっ
て照明されるレチクル上の領域を任意に設定可能とする
照明領域設定手段(7)と、レチクル上のパターンの像
(P1,P2)を感光基板(12)上に露光する露光手
段(11)とを備え、感光基板上の異なる領域に対して
パターンの像の一部(R1,R2)どうしがそれぞれ重
複するように像を形成しながら露光を行う露光装置にお
いて、露光によって与えられる、像の一部の光量が露光
中にほぼ連続的に変化するように、照明領域設定手段
(7)を制御する制御手段(19)を備えることとす
る。
発明では、光源(1)からの光束をレチクル(10)に
照射する照明光学系(2〜6,8,9)と、レチクルと
ほぼ共役な照明光学系内の位置に配置され、光束によっ
て照明されるレチクル上の領域を任意に設定可能とする
照明領域設定手段(7)と、レチクル上のパターンの像
(P1,P2)を感光基板(12)上に露光する露光手
段(11)とを備え、感光基板上の異なる領域に対して
パターンの像の一部(R1,R2)どうしがそれぞれ重
複するように像を形成しながら露光を行う露光装置にお
いて、露光によって与えられる、像の一部の光量が露光
中にほぼ連続的に変化するように、照明領域設定手段
(7)を制御する制御手段(19)を備えることとす
る。
【0007】また、光源(1)からの光束をレチクル
(10)に照射する照明光学系(2〜6,8,9)と、
レチクルとほぼ共役な位置に配置され、光束によって照
明されるレチクル上の領域を任意に設定可能とする視野
絞り装置(7)と、レチクル上のパターンの像(P1,
P2)を感光基板(12)上に露光する露光手段(1
1)とを備え、感光基板上の異なる領域に対して前記パ
ターンの像の周辺部(R1,R2)どうしがそれぞれ重
複するように像を形成しながら露光を行う露光装置にお
いて、露光に同期して視野絞り装置のエッジの位置を変
位することにより、感光基板上の像の周辺部の光量を変
化させる視野絞り制御手段(19)を備えることとす
る。
(10)に照射する照明光学系(2〜6,8,9)と、
レチクルとほぼ共役な位置に配置され、光束によって照
明されるレチクル上の領域を任意に設定可能とする視野
絞り装置(7)と、レチクル上のパターンの像(P1,
P2)を感光基板(12)上に露光する露光手段(1
1)とを備え、感光基板上の異なる領域に対して前記パ
ターンの像の周辺部(R1,R2)どうしがそれぞれ重
複するように像を形成しながら露光を行う露光装置にお
いて、露光に同期して視野絞り装置のエッジの位置を変
位することにより、感光基板上の像の周辺部の光量を変
化させる視野絞り制御手段(19)を備えることとす
る。
【0008】
【作用】本発明では、感光基板に対する露光中に、レチ
クルの像の重ね合わせ部に対応する範囲内でレチクルの
照明範囲を連続的に変更する手段を設けたため、感光基
板上の像の重ね合わせ部での露光量が連続的に変化する
ことになる。即ち、図7(a),(b)に示すような2
つの異なるパターン領域A,Bを互いにハッチング部が
重なるように露光する際、先ず、図7(c)に示すよう
にレチクルブラインド7をパターン領域Aの白抜き部分
について設定する。そして図7(d)に示すように、パ
ターン領域Aを照明する間(露光中)にパターン領域の
ハッチング部に対応するレチクルブラインド7を矢印の
方向に駆動する。その結果、感光基板に対する露光量
は、図7(e)に示すように、ハッチング部に対応する
部分で連続的に減少するようになる。
クルの像の重ね合わせ部に対応する範囲内でレチクルの
照明範囲を連続的に変更する手段を設けたため、感光基
板上の像の重ね合わせ部での露光量が連続的に変化する
ことになる。即ち、図7(a),(b)に示すような2
つの異なるパターン領域A,Bを互いにハッチング部が
重なるように露光する際、先ず、図7(c)に示すよう
にレチクルブラインド7をパターン領域Aの白抜き部分
について設定する。そして図7(d)に示すように、パ
ターン領域Aを照明する間(露光中)にパターン領域の
ハッチング部に対応するレチクルブラインド7を矢印の
方向に駆動する。その結果、感光基板に対する露光量
は、図7(e)に示すように、ハッチング部に対応する
部分で連続的に減少するようになる。
【0009】
【実施例】図1は本実施例の第1の実施例による露光装
置の概略的な構成を示す図である。露光光源としての超
高圧水銀ランプ1からの照明光は楕円鏡2で集光され、
シャッター3、反射鏡4を介して波長選択フィルタ5に
入射する。波長選択フィルタ5は露光に必要な波長(一
般にはg線やi線の波長)のみを通過させるもので、波
長選択フィルタ5を通過した照明光はフライアイインテ
グレータ6にて均一な照度分布の光束にされてレチクル
ブラインド7に到達する。レチクルブラインド7は開口
Sの大きさを変化させて照明光によるレチクル上の照明
範囲を調整するものである。また、フライアイインテグ
レータ6から射出した光束の一部はハーフミラー16で
反射されて積算露光量計17に入射し、この情報に基づ
いてシャッター3の開閉時間を制御する。即ち、露光量
の制御を行うものである。
置の概略的な構成を示す図である。露光光源としての超
高圧水銀ランプ1からの照明光は楕円鏡2で集光され、
シャッター3、反射鏡4を介して波長選択フィルタ5に
入射する。波長選択フィルタ5は露光に必要な波長(一
般にはg線やi線の波長)のみを通過させるもので、波
長選択フィルタ5を通過した照明光はフライアイインテ
グレータ6にて均一な照度分布の光束にされてレチクル
ブラインド7に到達する。レチクルブラインド7は開口
Sの大きさを変化させて照明光によるレチクル上の照明
範囲を調整するものである。また、フライアイインテグ
レータ6から射出した光束の一部はハーフミラー16で
反射されて積算露光量計17に入射し、この情報に基づ
いてシャッター3の開閉時間を制御する。即ち、露光量
の制御を行うものである。
【0010】レチクルブラインド7の開口Sを通過した
照明光は反射鏡8で反射されてレンズ系9に入射し、こ
のレンズ系9によってレチクルブラインド7の開口Sの
像がレチクル10上で結像し、レチクル10の所望範囲
が照明される。レチクル10の照明範囲に存在するパタ
ーンの像は投影光学系11によりウェハやガラスプレー
ト等の感光基板12上に結像し、これにより感光基板1
2の特定領域にレチクル10のパターンの像が露光され
る。
照明光は反射鏡8で反射されてレンズ系9に入射し、こ
のレンズ系9によってレチクルブラインド7の開口Sの
像がレチクル10上で結像し、レチクル10の所望範囲
が照明される。レチクル10の照明範囲に存在するパタ
ーンの像は投影光学系11によりウェハやガラスプレー
ト等の感光基板12上に結像し、これにより感光基板1
2の特定領域にレチクル10のパターンの像が露光され
る。
【0011】この感光基板12はステージ13上に固定
されている。ステージ13は互いに直交する方向へ移動
可能な一対のブロックを重ね合わせた周知のもので、こ
のステージ13の位置は、不図示のレーザ干渉計システ
ムからのレーザ光15の、ステージ13上の移動鏡14
からの反射光に基づいて検出され、これにより感光基板
12の水平面内での位置が調整される。画面合成を行な
うときは、あるレチクル(パターン領域)についての1
回の露光が終了した後、レチクル10を交換するととも
にステージ13を駆動して感光基板12の別の露光領域
を投影光学系に対して位置決めし、露光する。以下露光
終了毎に同様手順を繰り返して感光基板12の全領域を
露光する。尚、1枚のレチクルに複数種類のパターンを
形成し、感光基板12の露光領域の変更に連係してレチ
クルブラインド7によってレチクル内の照射領域を変更
して(異なるパターン領域に変更して)画面合成を行っ
てもよい。
されている。ステージ13は互いに直交する方向へ移動
可能な一対のブロックを重ね合わせた周知のもので、こ
のステージ13の位置は、不図示のレーザ干渉計システ
ムからのレーザ光15の、ステージ13上の移動鏡14
からの反射光に基づいて検出され、これにより感光基板
12の水平面内での位置が調整される。画面合成を行な
うときは、あるレチクル(パターン領域)についての1
回の露光が終了した後、レチクル10を交換するととも
にステージ13を駆動して感光基板12の別の露光領域
を投影光学系に対して位置決めし、露光する。以下露光
終了毎に同様手順を繰り返して感光基板12の全領域を
露光する。尚、1枚のレチクルに複数種類のパターンを
形成し、感光基板12の露光領域の変更に連係してレチ
クルブラインド7によってレチクル内の照射領域を変更
して(異なるパターン領域に変更して)画面合成を行っ
てもよい。
【0012】ところでブラインド7は、図4に示すよう
なL字状に屈曲するブレード7A,7Bを照明光の光軸
AXと直交させた状態で組み合わせて矩形状の開口Sを
生じさせるもので、ブレード7A,7Bの位置を図1に
示す駆動機構18A,18Bで調整して開口Sの大きさ
を変化させる。図5および図6に示すように、駆動機構
18A,18Bは、ブレード7A,7Bが固着される第
1のブロック710に第2のブロック711および第3
のブロック712を重ね合わせたもので、サーボモータ
とボールねじとを組み合わせた不図示の送り機構によ
り、第1のブロック710を案内溝y1,y2に沿って
移動させるとともに、第2のブロック711を案内溝x
1,x2に沿って移動させてブレード7A,7Bを照明
光の光路と直交する面内で移動させる。図6に示すよう
に、駆動機構18A,18Bはブレード7A,7Bに対
して互いに反対側に配置され、それぞれの第3のブロッ
ク712は不図示のフレームにより露光装置の本体部分
(不図示)に一体に固定される。
なL字状に屈曲するブレード7A,7Bを照明光の光軸
AXと直交させた状態で組み合わせて矩形状の開口Sを
生じさせるもので、ブレード7A,7Bの位置を図1に
示す駆動機構18A,18Bで調整して開口Sの大きさ
を変化させる。図5および図6に示すように、駆動機構
18A,18Bは、ブレード7A,7Bが固着される第
1のブロック710に第2のブロック711および第3
のブロック712を重ね合わせたもので、サーボモータ
とボールねじとを組み合わせた不図示の送り機構によ
り、第1のブロック710を案内溝y1,y2に沿って
移動させるとともに、第2のブロック711を案内溝x
1,x2に沿って移動させてブレード7A,7Bを照明
光の光路と直交する面内で移動させる。図6に示すよう
に、駆動機構18A,18Bはブレード7A,7Bに対
して互いに反対側に配置され、それぞれの第3のブロッ
ク712は不図示のフレームにより露光装置の本体部分
(不図示)に一体に固定される。
【0013】以上のシャッター3、積算露光量計17、
駆動機構18A,18Bは、いずれも制御装置19によ
って制御される。即ち、レチクル10の露光すべきパタ
ーン領域に対してレチクルブラインド7を設定した後、
制御装置からの指令によってシャッター3が開いて感光
基板12に対する露光が開始される。シャッター3の動
作と同期してレチクルブラインド7の移動が開始され、
積算露光量計17によって積算露光量を測定する。そし
て、積算露光量計17による情報が所定露光量に達した
時点でシャッター3を閉じるとともにレチクルブライン
ド7の移動を終了する。レチクルブラインド7の移動速
度は、シャッター3が開いている間に画面合成すべき領
域に相当する距離だけレチクルブラインドが移動するよ
うに設定しておく。
駆動機構18A,18Bは、いずれも制御装置19によ
って制御される。即ち、レチクル10の露光すべきパタ
ーン領域に対してレチクルブラインド7を設定した後、
制御装置からの指令によってシャッター3が開いて感光
基板12に対する露光が開始される。シャッター3の動
作と同期してレチクルブラインド7の移動が開始され、
積算露光量計17によって積算露光量を測定する。そし
て、積算露光量計17による情報が所定露光量に達した
時点でシャッター3を閉じるとともにレチクルブライン
ド7の移動を終了する。レチクルブラインド7の移動速
度は、シャッター3が開いている間に画面合成すべき領
域に相当する距離だけレチクルブラインドが移動するよ
うに設定しておく。
【0014】一般にこの種の露光装置の場合、露光時間
は感光剤の感度等によって決定される。従って、本発明
を適用するに際し、露光時間に合わせてブラインドの移
動速度を変えてやる必要がある。また、光源としては超
高圧水銀ランプを用いるのが一般的である。ところが、
超高圧水銀ランプはその使用時間とともに照度が劣化す
る。よって、例え露光量が一定であったとしても露光時
間はランプの使用時間が経過するにつれて長くなる。露
光量をD(mJ/cm2)、露光照度をI(mW/cm2)とすれ
ば、露光時間T(sec)は次の数式1で表される。
は感光剤の感度等によって決定される。従って、本発明
を適用するに際し、露光時間に合わせてブラインドの移
動速度を変えてやる必要がある。また、光源としては超
高圧水銀ランプを用いるのが一般的である。ところが、
超高圧水銀ランプはその使用時間とともに照度が劣化す
る。よって、例え露光量が一定であったとしても露光時
間はランプの使用時間が経過するにつれて長くなる。露
光量をD(mJ/cm2)、露光照度をI(mW/cm2)とすれ
ば、露光時間T(sec)は次の数式1で表される。
【0015】
【数1】
【0016】この数式1において、露光量Dは予めデー
タとして与えられるが、露光照度Iは変化しうるもので
ある。さらに、露光領域どうしの重ね合わせ幅をW(m
m)とすれば、露光時間Tの間にレチクルブラインドを
幅Wに相当する距離L(レチクルブラインドのレチクル
に対するレンズ系9の倍率をM1 、レチクルの感光基板
に対する投影光学系11の倍率をM2 とするとL=W/
M1・M2)だけ移動しなければならないため、レチクル
ブラインドの移動速度V(mm/sec)は、次の数式2で
表される。
タとして与えられるが、露光照度Iは変化しうるもので
ある。さらに、露光領域どうしの重ね合わせ幅をW(m
m)とすれば、露光時間Tの間にレチクルブラインドを
幅Wに相当する距離L(レチクルブラインドのレチクル
に対するレンズ系9の倍率をM1 、レチクルの感光基板
に対する投影光学系11の倍率をM2 とするとL=W/
M1・M2)だけ移動しなければならないため、レチクル
ブラインドの移動速度V(mm/sec)は、次の数式2で
表される。
【0017】
【数2】
【0018】幅Lの値はレチクルを設計した段階で決ま
っているため露光量Dと同様にデータとして与えられ
る。従って、露光照度Iの値を知ることによりレチクル
ブラインドの移動速度を算出することができる。図1に
示す露光装置においては、積算露光量計17の出力を検
出すれば、露光照度Iが得られる。具体的には、露光動
作に先立って、シャッター3を開き、積算露光量計17
の出力が安定したときの出力値を記憶しておく。この値
に一定の係数を乗じたものが露光照度Iに相当する。こ
の動作は、感光基板12の交換時または複数の感光基板
を1ロットとした場合のロットの最初に行っておく。こ
こで得られた露光照度Iに基づいて数式2からレチクル
ブラインドの移動速度を決定し、制御装置19に記憶し
ておく。
っているため露光量Dと同様にデータとして与えられ
る。従って、露光照度Iの値を知ることによりレチクル
ブラインドの移動速度を算出することができる。図1に
示す露光装置においては、積算露光量計17の出力を検
出すれば、露光照度Iが得られる。具体的には、露光動
作に先立って、シャッター3を開き、積算露光量計17
の出力が安定したときの出力値を記憶しておく。この値
に一定の係数を乗じたものが露光照度Iに相当する。こ
の動作は、感光基板12の交換時または複数の感光基板
を1ロットとした場合のロットの最初に行っておく。こ
こで得られた露光照度Iに基づいて数式2からレチクル
ブラインドの移動速度を決定し、制御装置19に記憶し
ておく。
【0019】さて、図8はブラインド7の開口Sの大き
さを適当に定め、レチクル10のない状態で露光を行な
ったときの感光基板12上の露光像および露光量分布を
示す図である。図8(A)に示すような異なるショット
P1,P2それぞれは、斜線部R1,R2がブラインド
移動による減光領域となり、この部分での露光量が減少
する。図8(B)に示すように両ショットを合成する
と、それぞれのショットについては図8(C)に示すよ
うな露光量分布となり、減光領域R1,R2の重複範囲
にて一方の減光量が他方の減光量の変動を補うように変
化し、この結果図8(D)に示すように減光領域R1,
R2の重複範囲での合成露光量はブラインド移動の影響
を受けない図8(A)の白抜き部分の露光量に一致す
る。
さを適当に定め、レチクル10のない状態で露光を行な
ったときの感光基板12上の露光像および露光量分布を
示す図である。図8(A)に示すような異なるショット
P1,P2それぞれは、斜線部R1,R2がブラインド
移動による減光領域となり、この部分での露光量が減少
する。図8(B)に示すように両ショットを合成する
と、それぞれのショットについては図8(C)に示すよ
うな露光量分布となり、減光領域R1,R2の重複範囲
にて一方の減光量が他方の減光量の変動を補うように変
化し、この結果図8(D)に示すように減光領域R1,
R2の重複範囲での合成露光量はブラインド移動の影響
を受けない図8(A)の白抜き部分の露光量に一致す
る。
【0020】次に本実施例による露光装置での画面合成
について説明する。図9は感光基板12上を4つの矩形
状の露光領域Ra〜Rdに分割してパターンPrを合成
する例を示すもので、かかる合成を行なう際には、図1
0に示すように露光領域Ra〜Rdに対応する4枚のレ
チクル10a〜10dを順に使用する。尚、レチクル1
0a〜10dは、画面合成時の重複部分のみが同一のパ
ターンを有するように描画されている。
について説明する。図9は感光基板12上を4つの矩形
状の露光領域Ra〜Rdに分割してパターンPrを合成
する例を示すもので、かかる合成を行なう際には、図1
0に示すように露光領域Ra〜Rdに対応する4枚のレ
チクル10a〜10dを順に使用する。尚、レチクル1
0a〜10dは、画面合成時の重複部分のみが同一のパ
ターンを有するように描画されている。
【0021】レチクル10a〜10dの周囲には光の通
過を完全に阻止する透過率0%の遮光帯IBが形成され
る。図9には示していないが、露光領域Ra〜Rdの境
界部分は所望量(上述のL,Wに相当)重ね合わされ、
レチクルブラインド7のブレード7A,7Bは、ブライ
ンド移動による減光領域が露光領域Ra〜Rdの重複部
分と一致するように各回の露光時に位置決めされる。
過を完全に阻止する透過率0%の遮光帯IBが形成され
る。図9には示していないが、露光領域Ra〜Rdの境
界部分は所望量(上述のL,Wに相当)重ね合わされ、
レチクルブラインド7のブレード7A,7Bは、ブライ
ンド移動による減光領域が露光領域Ra〜Rdの重複部
分と一致するように各回の露光時に位置決めされる。
【0022】即ち、図9の左上の露光領域Raを露光す
る場合、図10(A)に示すようにレチクル10aの右
辺および下辺側に位置するブレード7Aは、その減光領
域が遮光帯IBから突出するように位置決めされ、レチ
クル10aの左辺および上辺側に位置するブレード7B
は遮光帯IB内へ完全に後退するように位置決めされ
る。
る場合、図10(A)に示すようにレチクル10aの右
辺および下辺側に位置するブレード7Aは、その減光領
域が遮光帯IBから突出するように位置決めされ、レチ
クル10aの左辺および上辺側に位置するブレード7B
は遮光帯IB内へ完全に後退するように位置決めされ
る。
【0023】右上の露光領域Rbを露光するときは、図
10(B)に示すように、ブレード7A,7Bの減光領
域がレチクル10bの左辺および下辺側にて遮光帯IB
から突出するようにブレード7A,7Bが位置決めされ
る。左下の露光領域Rcを露光するときは、図10
(C)に示すように、ブレード7A,7Bの減光領域が
レチクル10cの右辺および上辺側にて遮光帯IBから
突出するようにブレード7A,7Bが位置決めされる。
そして、右下の露光領域Rdを露光するときは、図10
(D)に示すように、ブレード7A,7Bの減光領域が
レチクル10dの左辺および上辺側にて遮光帯IBから
突出するようにブレード7A,7Bが位置決めされる。
10(B)に示すように、ブレード7A,7Bの減光領
域がレチクル10bの左辺および下辺側にて遮光帯IB
から突出するようにブレード7A,7Bが位置決めされ
る。左下の露光領域Rcを露光するときは、図10
(C)に示すように、ブレード7A,7Bの減光領域が
レチクル10cの右辺および上辺側にて遮光帯IBから
突出するようにブレード7A,7Bが位置決めされる。
そして、右下の露光領域Rdを露光するときは、図10
(D)に示すように、ブレード7A,7Bの減光領域が
レチクル10dの左辺および上辺側にて遮光帯IBから
突出するようにブレード7A,7Bが位置決めされる。
【0024】以上の操作により、露光領域Ra〜Rdの
重複部分では先の露光時の減光領域と後の露光時の減光
領域が図8(B)に示すように重なり合い、これらの重
複部分での合成露光量は図8(D)に示すように他の部
分と等しくなる。このため、パターンPrの露光量が均
一となり、パターンPrの継ぎ目部分でも線幅は変化し
ない。
重複部分では先の露光時の減光領域と後の露光時の減光
領域が図8(B)に示すように重なり合い、これらの重
複部分での合成露光量は図8(D)に示すように他の部
分と等しくなる。このため、パターンPrの露光量が均
一となり、パターンPrの継ぎ目部分でも線幅は変化し
ない。
【0025】また、以上によればパターンの継ぎ目部分
での段差も解消する。この点を図11により説明する。
図11(A)は従来方式による画面合成を示すもので、
この例では隣接する露光領域にδの位置ずれが生じる
と、同じ量だけパターンPr1,Pr2の継ぎ目部分に
段差が発生する。これに対して、本実施例の場合には、
図11(B)に示すように隣接する露光領域にδの位置
ずれが生じたとしても、左右のパターンPr1,Pr2
は同図に太線で示すように滑らかに連続する。
での段差も解消する。この点を図11により説明する。
図11(A)は従来方式による画面合成を示すもので、
この例では隣接する露光領域にδの位置ずれが生じる
と、同じ量だけパターンPr1,Pr2の継ぎ目部分に
段差が発生する。これに対して、本実施例の場合には、
図11(B)に示すように隣接する露光領域にδの位置
ずれが生じたとしても、左右のパターンPr1,Pr2
は同図に太線で示すように滑らかに連続する。
【0026】即ち、パターンPr1,Pr2の継ぎ目部
分は露光領域の減光範囲(幅Wの範囲)に一致するの
で、パターンPr1,Pr2の継ぎ目部分の各断面位置
d1〜d5での露光量は図11(C)に示すようにそれ
ぞれのエッジに向うほど減少する。尚、断面位置d1〜
d5でのパターンPr1,Pr2の露光量分布を示す波
形は、露光領域のずれ量δだけ図11(C)の左右方向
にずれて現れる。
分は露光領域の減光範囲(幅Wの範囲)に一致するの
で、パターンPr1,Pr2の継ぎ目部分の各断面位置
d1〜d5での露光量は図11(C)に示すようにそれ
ぞれのエッジに向うほど減少する。尚、断面位置d1〜
d5でのパターンPr1,Pr2の露光量分布を示す波
形は、露光領域のずれ量δだけ図11(C)の左右方向
にずれて現れる。
【0027】パターンPr1,Pr2が完全に重なり合
う位置での合成露光量は等しいので、図11(B)の断
面位置d1〜d5での合成露光量は図11(D)に示す
ような分布を示し、各断面位置d1〜d5での合成露光
量の最大値はすべて等しくなる。このような露光量分布
に対して、一定の露光量Qc(図示例では最大露光量の
50%)を越えた部分が現像後も感光基板12に残留す
るようにレジスト特性を定めると、図11(E)に示す
ように断面位置d1〜d5でのパターン幅は一定とな
り、パターンPr1,Pr2が図11(B)の太線のよ
うに一定幅を保ちつつ滑らかに連続する。
う位置での合成露光量は等しいので、図11(B)の断
面位置d1〜d5での合成露光量は図11(D)に示す
ような分布を示し、各断面位置d1〜d5での合成露光
量の最大値はすべて等しくなる。このような露光量分布
に対して、一定の露光量Qc(図示例では最大露光量の
50%)を越えた部分が現像後も感光基板12に残留す
るようにレジスト特性を定めると、図11(E)に示す
ように断面位置d1〜d5でのパターン幅は一定とな
り、パターンPr1,Pr2が図11(B)の太線のよ
うに一定幅を保ちつつ滑らかに連続する。
【0028】このようにパターンPr1,Pr2の継ぎ
目部分が滑らかに連続すると、画面合成を何層も繰り返
す場合でも、各層の継ぎ目部分での重ね合せ誤差の不連
続な変化が抑制される。このため、液晶デバイスの場合
にも画面の継ぎ目部分でのコントラストの不連続な変化
が解消して表示品質が改善される。ここで、パターンの
継ぎ目部分の変化の程度は、図11(B)から明らかな
ようにパターンの重複部分の幅Wを大きく取るほど緩や
かとなる。但し、余りに幅Wを大きくすると画面合成数
が増えて効率が低下することから、幅Wは、液晶デバイ
スに使用した場合に人間の目で変化を感知できない程度
を基準として設定すればよい。一般的には5〜10mm程
度に設定すれば十分である。
目部分が滑らかに連続すると、画面合成を何層も繰り返
す場合でも、各層の継ぎ目部分での重ね合せ誤差の不連
続な変化が抑制される。このため、液晶デバイスの場合
にも画面の継ぎ目部分でのコントラストの不連続な変化
が解消して表示品質が改善される。ここで、パターンの
継ぎ目部分の変化の程度は、図11(B)から明らかな
ようにパターンの重複部分の幅Wを大きく取るほど緩や
かとなる。但し、余りに幅Wを大きくすると画面合成数
が増えて効率が低下することから、幅Wは、液晶デバイ
スに使用した場合に人間の目で変化を感知できない程度
を基準として設定すればよい。一般的には5〜10mm程
度に設定すれば十分である。
【0029】以上説明したように、本実施例の露光装置
によれば、感光基板12に対する露光中に、レチクル1
0の像を重ね合わせる範囲内でレチクルブラインド7を
移動する制御装置19を備える構成としたので、感光基
板上での像の周辺部R1,R2に理想的な減光特性を得
ることができ、パターンの継ぎ目部分における露光量を
精度良く管理して減光による効果を最大限発揮させ得
る。
によれば、感光基板12に対する露光中に、レチクル1
0の像を重ね合わせる範囲内でレチクルブラインド7を
移動する制御装置19を備える構成としたので、感光基
板上での像の周辺部R1,R2に理想的な減光特性を得
ることができ、パターンの継ぎ目部分における露光量を
精度良く管理して減光による効果を最大限発揮させ得
る。
【0030】レチクルブラインドの移動の制御について
の他の例を図2を用いて説明する。図2(A)は、図1
に示す積算露光量計17で得られる出力を示しており、
1回のシャッター開閉動作によって得られたものに相当
する。図2(B)は、時間によるレチクルブラインドの
移動速度の変化を示している。つまりこの例は、積算露
光量計の出力に対して適当な乗数を乗じた電圧をレチク
ルブラインドの移動のための速度指令電圧としてそのま
ま用いるものである。この場合、光源の照度が劣化して
も自動的にレチクルブラインドの速度が追従して遅くな
るため、前述のように積算露光量計の出力を予め測定し
ておく必要もない。さらに、積算露光量計の出力はシャ
ッターの開閉に応じて出力されるため、完全にシャッタ
ーと同期してレチクルブラインドを移動させることが可
能となる。従って、上式2による計算は不要となる。因
に、上述の適当な乗数とは、図2(B)の移動速度の変
化を表す波形に基づいてレチクルブラインドを移動した
際に、レチクルブラインドの移動量が幅Lになるように
するための乗数である。また、この乗数は露光量Dに反
比例する値でもある。図2に示す例の制御系のブロック
図を図3に示す。
の他の例を図2を用いて説明する。図2(A)は、図1
に示す積算露光量計17で得られる出力を示しており、
1回のシャッター開閉動作によって得られたものに相当
する。図2(B)は、時間によるレチクルブラインドの
移動速度の変化を示している。つまりこの例は、積算露
光量計の出力に対して適当な乗数を乗じた電圧をレチク
ルブラインドの移動のための速度指令電圧としてそのま
ま用いるものである。この場合、光源の照度が劣化して
も自動的にレチクルブラインドの速度が追従して遅くな
るため、前述のように積算露光量計の出力を予め測定し
ておく必要もない。さらに、積算露光量計の出力はシャ
ッターの開閉に応じて出力されるため、完全にシャッタ
ーと同期してレチクルブラインドを移動させることが可
能となる。従って、上式2による計算は不要となる。因
に、上述の適当な乗数とは、図2(B)の移動速度の変
化を表す波形に基づいてレチクルブラインドを移動した
際に、レチクルブラインドの移動量が幅Lになるように
するための乗数である。また、この乗数は露光量Dに反
比例する値でもある。図2に示す例の制御系のブロック
図を図3に示す。
【0031】積算露光量計17の出力はアンプ21で増
幅され、その結果を積分回路22に入力するとともに乗
算器25に入力する。一方、マイクロプロセッサ23の
出力ポートより上述の乗数を出力し、D/Aコンバータ
24を介して乗算器25の他の入力に入れる。乗算器2
5からの出力はサーボ回路26に入力され、レチクルブ
ラインド駆動用のモータ27を駆動する。
幅され、その結果を積分回路22に入力するとともに乗
算器25に入力する。一方、マイクロプロセッサ23の
出力ポートより上述の乗数を出力し、D/Aコンバータ
24を介して乗算器25の他の入力に入れる。乗算器2
5からの出力はサーボ回路26に入力され、レチクルブ
ラインド駆動用のモータ27を駆動する。
【0032】尚、上記の実施例では、積算露光量計の出
力に基づいてレチクルブラインドの駆動を制御する構成
としたが、光源の照度の変動が無視できる程度であれ
ば、単にシャッターの開閉と同期してレチクルブライン
ドの駆動を制御する構成でも構わない。ところで、上述
の実施例ではレチクル10の照明範囲を調整するための
レチクルブラインド7のブレード7A,7Bを露光中に
移動する構成としたが、これは1次元方向に画面合成を
する場合には何ら問題はない。しかしながら、上述の図
9に示すように2次元方向に画面合成する場合には、感
光基板上の露光領域内に4つのパターン領域のいずれも
が重なる部分ができ、この領域の露光量が他の領域より
も大きくなることになる。この場合の対処方を以下に述
べる。
力に基づいてレチクルブラインドの駆動を制御する構成
としたが、光源の照度の変動が無視できる程度であれ
ば、単にシャッターの開閉と同期してレチクルブライン
ドの駆動を制御する構成でも構わない。ところで、上述
の実施例ではレチクル10の照明範囲を調整するための
レチクルブラインド7のブレード7A,7Bを露光中に
移動する構成としたが、これは1次元方向に画面合成を
する場合には何ら問題はない。しかしながら、上述の図
9に示すように2次元方向に画面合成する場合には、感
光基板上の露光領域内に4つのパターン領域のいずれも
が重なる部分ができ、この領域の露光量が他の領域より
も大きくなることになる。この場合の対処方を以下に述
べる。
【0033】図12は、本発明の第2の実施例による露
光装置の概略的な構成を示す図である。基本的な構成は
図1に示す装置と同じであるが、レチクルブラインド7
のブレードの4つのエッジのうち、少なくとも対向する
2つのエッジに、図14に示すような、エッジ部の透過
率が徐々に変化する構成となったNDフィルター30
A,30Bで構成されるNDブラインド30を設けた点
で異なる。これは、画面合成を行うべき領域に対応する
複数のブレードのエッジのうち、一部を上述の実施例の
ようなブラインド移動を行う構成とし、他のブレード
は、NDフィルターによって重複部分の減光領域を形成
する構成としたものである。つまり、図9に示すような
画面合成を行う場合、例えば、露光領域RaとRb、ま
たはRcとRdとを重複させる場合のそれぞれの減光領
域は上述のブラインド移動によって形成し、露光領域R
aとRc、またはRbとRdとを重複させる場合の減光
領域はNDブラインドを用いて形成するようにする。こ
のような構成をとれば、感光基板上の露光領域内に生じ
る、4つのパターン領域のいずれもが重なる部分の1パ
ターン領域当たりの露光量が減少し、この部分の露光量
が他の領域と同等になる。よって、2方向の画面合成を
行う場合でも良好な画面合成を達成しうることとなる。
光装置の概略的な構成を示す図である。基本的な構成は
図1に示す装置と同じであるが、レチクルブラインド7
のブレードの4つのエッジのうち、少なくとも対向する
2つのエッジに、図14に示すような、エッジ部の透過
率が徐々に変化する構成となったNDフィルター30
A,30Bで構成されるNDブラインド30を設けた点
で異なる。これは、画面合成を行うべき領域に対応する
複数のブレードのエッジのうち、一部を上述の実施例の
ようなブラインド移動を行う構成とし、他のブレード
は、NDフィルターによって重複部分の減光領域を形成
する構成としたものである。つまり、図9に示すような
画面合成を行う場合、例えば、露光領域RaとRb、ま
たはRcとRdとを重複させる場合のそれぞれの減光領
域は上述のブラインド移動によって形成し、露光領域R
aとRc、またはRbとRdとを重複させる場合の減光
領域はNDブラインドを用いて形成するようにする。こ
のような構成をとれば、感光基板上の露光領域内に生じ
る、4つのパターン領域のいずれもが重なる部分の1パ
ターン領域当たりの露光量が減少し、この部分の露光量
が他の領域と同等になる。よって、2方向の画面合成を
行う場合でも良好な画面合成を達成しうることとなる。
【0034】この実施例において、画面合成時に減光を
必要としないブレードに関してNDフィルター30A,
30Bをブレード7A,7Bで設定した照明領域から退
避させる。この場合、レチクル上に形成する遮光帯をN
Dフィルター30A,30Bによる減光領域の幅よりも
狭く設定することができ、レチクルを有効に利用するこ
とができる。因に、NDフィルター30A,30Bをブ
レード7A,7Bと一体に構成すると、レチクル上の遮
光帯はNDフィルター30A,30Bの減光領域の幅以
上必要となる。尚、ブレード7A,7Bから分離させた
NDフィルター30A,30Bに、ブレード7A,7B
と同様の遮光板31A,31Bを設けてもよい。
必要としないブレードに関してNDフィルター30A,
30Bをブレード7A,7Bで設定した照明領域から退
避させる。この場合、レチクル上に形成する遮光帯をN
Dフィルター30A,30Bによる減光領域の幅よりも
狭く設定することができ、レチクルを有効に利用するこ
とができる。因に、NDフィルター30A,30Bをブ
レード7A,7Bと一体に構成すると、レチクル上の遮
光帯はNDフィルター30A,30Bの減光領域の幅以
上必要となる。尚、ブレード7A,7Bから分離させた
NDフィルター30A,30Bに、ブレード7A,7B
と同様の遮光板31A,31Bを設けてもよい。
【0035】上記の例ではレチクルブラインドの近傍に
NDブラインドを配置する構成としたが、図13に示す
ように光学系32を配置し、レチクルブラインド7とN
Dブラインド30とを共役関係で配置する構成としても
よい。この場合のNDブラインド30は、NDフィルタ
ーのみで構成したブレード30A,30Bと、これらの
ブレード30A,30Bを駆動する不図示の移動機構を
備える構成とする。この例ではNDブラインド30がブ
ラインド7に対して共役な位置にあるので、レチクル1
0上にて理想的な減光特性が得られる。
NDブラインドを配置する構成としたが、図13に示す
ように光学系32を配置し、レチクルブラインド7とN
Dブラインド30とを共役関係で配置する構成としても
よい。この場合のNDブラインド30は、NDフィルタ
ーのみで構成したブレード30A,30Bと、これらの
ブレード30A,30Bを駆動する不図示の移動機構を
備える構成とする。この例ではNDブラインド30がブ
ラインド7に対して共役な位置にあるので、レチクル1
0上にて理想的な減光特性が得られる。
【0036】尚、2方向の画面合成に用いるNDブライ
ンドは一般の光学的な減光フィルターで構成するだけで
はなく、液晶やEC等の手段を用いて構成してもよい。
また、ブラインド移動やNDブラインドによる減光特性
は開口Sの中心(光軸AX)からの距離に比例して直線
的に透過光量を減少させる例に限らず、露光領域の重複
部分での合成露光量が他の部分の露光量に略一致するな
らば曲線的に変化させても良い。また、レンズの焦点を
ずらしてブラインドの開口のエッジ像をぼかすことでも
減光が可能である。即ち、従来のブラインドに加えて第
2のブラインドを光軸方向にずらして設け、第2のブラ
インドの開口の像をレチクル上でぼかすことで減光させ
てもよい。
ンドは一般の光学的な減光フィルターで構成するだけで
はなく、液晶やEC等の手段を用いて構成してもよい。
また、ブラインド移動やNDブラインドによる減光特性
は開口Sの中心(光軸AX)からの距離に比例して直線
的に透過光量を減少させる例に限らず、露光領域の重複
部分での合成露光量が他の部分の露光量に略一致するな
らば曲線的に変化させても良い。また、レンズの焦点を
ずらしてブラインドの開口のエッジ像をぼかすことでも
減光が可能である。即ち、従来のブラインドに加えて第
2のブラインドを光軸方向にずらして設け、第2のブラ
インドの開口の像をレチクル上でぼかすことで減光させ
てもよい。
【0037】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、レチクル
上の照明領域を設定するレチクルブラインドを、感光基
板に対する露光中にパターンを重ね合わせるべき部分の
範囲で移動する構成としたため、パターンの継ぎ目部分
における露光量がほぼ連続的に減光することになる。よ
って、パターンの重ね合せ部分での露光量が他の部分の
露光量にほぼ等しくなり、パターンの継ぎ目部分での線
幅がほぼ一定に保たれ、パターン継ぎ目部分での段差や
重ね合わせ誤差の不連続な変化が解消する。
上の照明領域を設定するレチクルブラインドを、感光基
板に対する露光中にパターンを重ね合わせるべき部分の
範囲で移動する構成としたため、パターンの継ぎ目部分
における露光量がほぼ連続的に減光することになる。よ
って、パターンの重ね合せ部分での露光量が他の部分の
露光量にほぼ等しくなり、パターンの継ぎ目部分での線
幅がほぼ一定に保たれ、パターン継ぎ目部分での段差や
重ね合わせ誤差の不連続な変化が解消する。
【0038】また、減光効果を与えるレチクルブライン
ドは、レチクルに対して離間しているのでレチクル自身
に減光特性を持たせる必要がなく、レチクルの損傷や汚
染のおそれもなくなってレチクルの製造や保守管理の負
担が軽減される。さらに、減光領域を調整できるので、
レチクルの大きさや露光領域の重ね合わせ位置の変化に
拘らず同一のレチクルブラインドを用いることができ、
レチクル毎に多種類の減光手段を用意する必要がなくな
って減光手段の製造や保守管理に要する手間も軽減され
る。
ドは、レチクルに対して離間しているのでレチクル自身
に減光特性を持たせる必要がなく、レチクルの損傷や汚
染のおそれもなくなってレチクルの製造や保守管理の負
担が軽減される。さらに、減光領域を調整できるので、
レチクルの大きさや露光領域の重ね合わせ位置の変化に
拘らず同一のレチクルブラインドを用いることができ、
レチクル毎に多種類の減光手段を用意する必要がなくな
って減光手段の製造や保守管理に要する手間も軽減され
る。
【図1】本発明の第1の実施例による露光装置の概略的
な構成を示す図
な構成を示す図
【図2】(A)は、図1に示す露光装置の積算露光量計
で得られる出力を示す図 (B)は、図1に示す露光装置のレチクルブラインドの
移動速度の変化を示す図
で得られる出力を示す図 (B)は、図1に示す露光装置のレチクルブラインドの
移動速度の変化を示す図
【図3】図1に示す実施例の他の例の制御系のブロック
図
図
【図4】レチクルブラインドのブレード部分の正面図。
【図5】レチクルブラインドの駆動機構の概略的な構成
を示す図
を示す図
【図6】レチクルブラインドと駆動機構の概略的な構成
を示す図
を示す図
【図7】画面合成を行なうときのレチクルとブレードと
の位置関係を示す図。
の位置関係を示す図。
【図8】感光基板11上での露光像と露光量との関係を
示す図。
示す図。
【図9】画面合成の一例を示す図。
【図10】画面合成を行う際のレチクルとレチクルブラ
インドの配置を示す図
インドの配置を示す図
【図11】パターンの継ぎ目部分での段差の解消理由を
説明するための図
説明するための図
【図12】本発明の第2の実施例による露光装置の概略
的な構成を示す図
的な構成を示す図
【図13】図12に示す例の変形例を示す図
【図14】第2の実施例による露光装置のレチクルブラ
インドとNDブラインドの配置を示す図
インドとNDブラインドの配置を示す図
1 超高圧水銀ランプ 3 シャッター 7 レチクルブラインド 7A,7B ブレード 10,10a,10b,10c,10d レチクル 12 感光基板 17 積算露光量計 18A,18B 駆動装置 19 制御装置 30 NDブラインド 30A,30B NDフィルタ 31A,31B 遮光板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 村上 雅一 東京都千代田区丸の内3丁目2番3号 株 式会社ニコン内
Claims (4)
- 【請求項1】 光源からの光束をレチクルに照射する照
明光学系と、前記レチクルとほぼ共役な前記照明光学系
内の位置に配置され、前記光束によって照明される前記
レチクル上の領域を任意に設定可能とする照明領域設定
手段と、前記レチクル上のパターンの像を感光基板上に
露光する露光手段とを備え、前記感光基板上の異なる領
域に対して前記パターンの像の一部どうしがそれぞれ重
複するように前記像を形成しながら前記露光を行う露光
装置において、 前記露光によって与えられる、前記像の一部の光量が前
記露光中にほぼ連続的に変化するように前記照明領域設
定手段を制御する制御手段を備えたことを特徴とする露
光装置。 - 【請求項2】 前記露光装置は、さらに前記露光の際の
積算露光量を検出する積算露光量計を備え、前記制御手
段は、前記積算露光量計からの情報に基づいて前記制御
を行うことを特徴とする請求項1記載の露光装置。 - 【請求項3】 前記制御手段は、前記感光基板に対する
複数の前記パターンの露光を、前記像のそれぞれの周辺
部を互いに重複させつつ前記感光基板上の異なる位置に
行う際、前記像のそれぞれの前記重複位置での光量が該
重複位置の範囲外での光量とほぼ等しくなるように前記
照明領域設定手段を制御することを特徴とする請求項
1,2に記載の露光装置。 - 【請求項4】 光源からの光束をレチクルに照射する照
明光学系と、前記レチクルとほぼ共役な位置に配置さ
れ、前記光束によって照明される前記レチクル上の領域
を任意に設定可能とする視野絞り装置と、前記レチクル
上のパターンの像を感光基板上に露光する露光手段とを
備え、前記感光基板上の異なる領域に対して前記パター
ンの像の周辺部どうしがそれぞれ重複するように前記像
を形成しながら前記露光を行う露光装置において、 前記露光に同期して前記視野絞り装置のエッジの位置を
変位することにより、前記感光基板上の前記像の周辺部
の光量を変化させる視野絞り制御手段を備えたことを特
徴とする露光装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08476493A JP3351013B2 (ja) | 1993-04-12 | 1993-04-12 | 露光装置および露光方法 |
| US08/195,192 US5486896A (en) | 1993-02-19 | 1994-02-14 | Exposure apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08476493A JP3351013B2 (ja) | 1993-04-12 | 1993-04-12 | 露光装置および露光方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06302501A true JPH06302501A (ja) | 1994-10-28 |
| JP3351013B2 JP3351013B2 (ja) | 2002-11-25 |
Family
ID=13839756
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP08476493A Expired - Lifetime JP3351013B2 (ja) | 1993-02-19 | 1993-04-12 | 露光装置および露光方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3351013B2 (ja) |
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- 1993-04-12 JP JP08476493A patent/JP3351013B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| US8480946B2 (en) | 2008-03-06 | 2013-07-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Imprint method and template for imprinting |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3351013B2 (ja) | 2002-11-25 |
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