JPH0630780U - プリント基板検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 製作が容易なプリント基板検査装置を提供す
る。 【構成】 上側の固定ベース４の下面にヘッドベース６
及び支柱８を介してプローブ10を保持するプローブ保持
板12が取り付けられている。プローブ保持板12には針32
を保持する為の３枚のガイド板20、22、24がスペーサー
14、16、18を介して取り付けられている。針32は、ガイ
ド孔26、27、28に挿入され、針の突起30により止められ
ている。この際針32の一端33はプローブ10の先端11と接
触し、針の他端35は、プリント基板74の検査点71に対応
する。プリント基板を保持した下側検査治具38が上昇す
ることによりプローブ10の先端11と検査点71とが針32介
して電気的に接続する。この際プリント基板74の配線の
断線及び短絡が検査される。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、プリント基板（ベアボード）の配線パターン（プリントパターン） の導通・短絡を検査する為のプリント基板検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】

電子部品の実装に、プリント基板が用いられている。プリント基板の一例を、 図４に示す。プリント基板上には、導電性の配線パターン７０によって配線が施 されている。また、貫通穴７２が設けられており、この貫通穴７２に電子部品の リード線を挿入して、半田付けによって固定する。

【０００３】 ところで、このプリント基板の配線パターン７０が断線していたり短絡してい たりすると、電子部品を実装した後の回路が正常に動作しない。そこで、プリン ト基板の製造後に、配線パターンに断線や短絡がないことを検査するようにして いる。この検査には、プリント基板検査装置が用いられている。

【０００４】 プリント基板検査装置の原理を、図５の断面図を用いて説明する。プリント基 板７４の貫通穴７２に、導電性のプローブ５５の先端部が挿入されて、配線パタ ーン７０と接触される。このような状態において、各プローブ５５間に電圧を印 加し、電流が流れるか否かを検査して、配線パターンの異常を発見する。なお、 プローブ５５は、図６に示すように、内部にスプリング７８が設けられている。 従って、プリント基板の貫通穴７２とプローブ５５の先端部５６とを一定圧力で 接触させることができる。また、プローブ５５は、図７に示すように、プローブ 保持板５２に保持されて使用される。

【０００５】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、上記のような従来のプリント基板検査装置には、次のような問 題点があった。

【０００６】 一般に、プリント基板の貫通穴７２間の間隔Ｐ（図４参照）は、2.54mmとされ ていた。しかし、プリント基板の実装密度の向上により、貫通穴７２間の間隔Ｐ が短くなっている。例えば、ＬＳＩ用のプリント基板（図２参照）では、0.3mm というものも現れている。一般にこのようなプリント基板では、貫通穴でなくＬ ＳＩ電極ランド７１が設けられる。

【０００７】 このような場合には、ＬＳＩ電極ランド７１に対応して設けられるプローブ５ ５の間隔も狭くしなければならない。通常、ＬＳＩ電極ランド７１のうちプロー ブ５５を接触させるべきランド７１（以下検査点とよぶ）は、数千点ある。した がって、このように多くのプローブ５５を保持板５２に近接して配置するのは、 極めて困難である。

【０００８】 また、プローブ５５の間隔を狭くしなければならないため、プローブ５５その ものの直径を細くする必要がある。直径が細いにもかかわらず強度を保持する為 には高い強度の材料を使用しなければならず、コスト上昇を招く原因となってい た。また、プローブにはスプリングを設ける必要がある。直径の細いプローブを 製作する場合スプリングの加工が困難であり、この点からもプローブ５５のコス ト上昇を招いていた。

【０００９】 この考案は、上記のような問題点を解決して、製作が容易なプリント基板検査 装置を提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】

請求項１に係るプリント基板検査装置では、前記第二治具は、さらに一端が前 記プローブと接続するとともに、他端が前記上下動によって前記プリント基板の 検査点と接触する接続部材と、前記接続部材を保持する接続部材保持板とを備え ており、前記接続部材の前記一端の間隔を、前記他端の間隔よりも広くしたこと を特徴としている。

【００１１】

【作用】

請求項１に係るプリント基板検査装置では、前記第二治具は、さらに一端が前 記プローブと接続するとともに、他端が前記上下動によって前記プリント基板の 検査点と接触する接続部材と、前記接続部材を保持する接続部材保持板とを備え ており、前記接続部材の前記一端の間隔を、前記他端の間隔よりも広くしたこと を特徴としている。従って、プローブの間隔を広くすることができる。

【００１２】

【実施例】

本考案の一実施例に係るプリント基板検査装置１について以下に説明する。図 １にプリント基板検査装置１の断面図を示す。

【００１３】 上側の固定ベース４の下面には上側検査治具３のヘッドベース６及び支柱８を 介してプローブ１０を保持するプローブ保持板１２が取り付けられている。また 、プローブ保持板１２には接続部材の一つである針３２を保持する為の接続部材 保持板として、３枚のガイド板２０、２２、２４がスペーサー１４、１６、１８ を介して取り付けられている。ガイド板２０、２２、２４にはそれぞれ図１に示 すようなガイド孔２６、２７、２８が設けられており、接続部材の一つである突 起３０を有する針３２は、このガイド孔２６、２７、２８に挿入され突起３０に より止められる。この時、針３２の一端３３はプローブ１０の先端１１と丁度接 触する。また、ガイド孔２６、２７、２８により導かれた針の他端３５の配置は 、検査対象となるプリント基板７４の検査点７１に対応する。なお、プローブ１ ０はコネクター１３を介してテスター１５に接続されている。

【００１４】 一方、下側の固定ベース３４上には上下駆動機構であるプレス３６を介して下 側検査治具であるプレステーブル３８が設けられている。プレステーブル３８に は検査対象となるプリント基板７４が保持される。

【００１５】 図２に、この実施例において、検査対象となるプリント基板７４のパターンの 一部を示す。ＬＳＩ電極ランド７１が設けられた部分が検査点７１である。ここ では、検査点７１が極めて短い間隔Ｐ（例えば0.6mm）で密集しているものとす る。このプリント基板を検査する為の針３２及びガイド板２０、２２、２４を図 ３Ａ及びＢに示す。図３Ａは、ガイド板に載置された状態の針の間隔を示す為の 上面模式図である。図３Ｂは、図３Ａを矢印Ｔの方向からみた図である。

【００１６】 図３Ａに示す針の他端３５の配置は、検査対象の検査点７１と対応するもので ある。従って、他端３５の間隔Ｐも0.6mmである。この針３２は、図３Ｂに示す ようなガイド板のガイド孔２６、２７、２８を介してシフトされ、針３２の一端 ３３は図３Ａに示すように間隔Ｐより広い間隔Ｑを有するように配置される。な お、プローブの先端１１は、この針の一端３３の配置と対応するように設けられ ている。

【００１７】 上述の様に、使用する針の径と弾性を考慮した上でスプリング荷重が垂直方向 に掛るように、ガイド板、スペーサーの厚み、シフト量を決定するようにすると よい。従って、この実施例では、接続部材保持板として３枚のガイド板を用いて いるが、枚数を変えて構成してもよい。

【００１８】 図３Ａから明らかなように、この実施例によれば、プローブ１０の間隔Ｑは、 検査点７１の間隔Ｐよりも広くすることができる。したがって、プローブ保持板 １２の製作が容易であり、プローブ１０の直径を細くする必要がなく安価なもの を使用することができる。

【００１９】 次に、プリント基板検査装置１による導通検査について説明する。まず、検査 されるべきプリント基板７４を手動により（又はローダーで）載置する。プリン ト基板７４があることを確認した上で、プレス３６が上昇し、プリント基板７４ の検査点７１と針の他端３５とが一定圧で接触する。この時も針の一端３３とプ ローブ１０の先端１１とは接触したままである。この様にして、プリント基板７ ４の検査点７１とプローブ１０の先端１１は針３２を介して電気的に接続される （図３Ｂ参照）。この瞬間に、プリント基板７４の配線の断線及び短絡がテスタ ー１５により検査される。

【００２０】 上記の実施例において示したプローブの直径は、密集した検査点に対応するも のであるが、間隔の広い検査点に対応するプローブには、直径がさらに大きなプ ローブを使用してもよい。

【００２１】

【考案の効果】

請求項１に係るプリント基板検査装置では、前記第二治具は、さらに一端が前 記プローブと接続するとともに、他端が前記上下動によって前記プリント基板の 検査点と接触する接続部材と、前記接続部材を保持する接続部材保持板とを備え ており、前記接続部材の前記一端の間隔を、前記他端の間隔よりも広くしたこと を特徴としている。従って、プローブの間隔を広くすることができる。

【００２２】 すなわちこの考案によれば製作が容易で安価なプリント基板検査装置を提供す ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例によるプリント基板検査装置
の断面図である。

【図２】検査点が極めて短い間隔で密集している配線パ
ターンを有するＬＳＩを搭載したプリント基板を示す為
の図である。

【図３】Ａは、ガイド板に載置された状態の針の間隔を
示す為の上面模式図であり、Ｂは、Ａを矢印Ｔの方向か
らみた図である。

【図４】従来式プリント基板の配線を説明する為の上面
図である。

【図５】プリント基板の配線における断線・短絡検査の
原理を示す為の断面図である。

【図６】プローブの内部を示す為の断面図である。

【図７】プローブを保持した状態のプローブ保持板の斜
視図である。

【符号の説明】

３８・・・下側検査治具 ３・・・上側検査治具 １０・・・プローブ １２・・・プローブ保持板 ３２・・・針 20、22、24・・・接続部材保持板

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】検査対象であるプリント基板を支持する第
   一治具と、 第一治具に対して相対的に上下動可能であり、プローブ
   を保持するプローブ保持板が設けられた第二治具とを備
   えたプリント基板検査装置において、 前記第二治具は、さらに一端が前記プローブと接続する
   とともに、他端が前記上下動によって前記プリント基板
   の検査点と接触する接続部材と、 前記接続部材を保持する接続部材保持板とを備えてお
   り、 前記接続部材の前記一端の間隔を、前記他端の間隔より
   も広くしたことを特徴とするプリント基板検査装置。