JPH09211048A - 液晶表示パネル検査装置 - Google Patents
液晶表示パネル検査装置Info
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- JPH09211048A JPH09211048A JP1454696A JP1454696A JPH09211048A JP H09211048 A JPH09211048 A JP H09211048A JP 1454696 A JP1454696 A JP 1454696A JP 1454696 A JP1454696 A JP 1454696A JP H09211048 A JPH09211048 A JP H09211048A
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】液晶表示パネルの表示欠陥検査を正確に行い、
液晶表示パネルの品質を安定させると共に、生産性を向
上させる液晶表示パネル検査装置を提供する。 【解決手段】液晶表示パネル２の入力端子８に対して、
略垂直に進退可能に設けられたプローブ本体６にプロー
ブ基板７を固定し、プローブ基板７に入力端子８と同ピ
ッチ間隔でプローブ電極９を配列し、夫々のプローブ電
極９に複数個のプローブ針１０を接合する。なお、プロ
ーブ電極９は、プリント配線板にエッチングされた導体
パターンよりなり、それに複数本のプローブ針１０をワ
イヤボンディングする。
液晶表示パネルの品質を安定させると共に、生産性を向
上させる液晶表示パネル検査装置を提供する。 【解決手段】液晶表示パネル２の入力端子８に対して、
略垂直に進退可能に設けられたプローブ本体６にプロー
ブ基板７を固定し、プローブ基板７に入力端子８と同ピ
ッチ間隔でプローブ電極９を配列し、夫々のプローブ電
極９に複数個のプローブ針１０を接合する。なお、プロ
ーブ電極９は、プリント配線板にエッチングされた導体
パターンよりなり、それに複数本のプローブ針１０をワ
イヤボンディングする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示（ＬＣ
Ｄ：ＬｉｑｕｄＣｒｙｓｔａｌＤｉｓｐｌｙ）パネルの
表示欠陥検査に使用される液晶表示パネル検査装置に関
するものである。
Ｄ：ＬｉｑｕｄＣｒｙｓｔａｌＤｉｓｐｌｙ）パネルの
表示欠陥検査に使用される液晶表示パネル検査装置に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、液晶表示パネルの製造工程におい
て、液晶表示パネルを製品に組み込む前に表示欠陥個所
を検査する表示欠陥検査が行われている。この表示欠陥
検査を行う装置が液晶表示パネル検査装置である。従
来、この装置においては、特開平６ー３０８０３４号公
報に開示されているように、液晶表示パネルに備わった
複数の入力端子に検査用の外部端子をコンタクトプルー
ブ針にて接触させ、ドライバ信号を印加して、液晶表示
パネルの表示画面を点灯させ、点灯した表示画面を検査
員が目視し判別するか、あるいはＣＣＤカメラにて画像
認識し、自動的に欠陥個所を判別している。
て、液晶表示パネルを製品に組み込む前に表示欠陥個所
を検査する表示欠陥検査が行われている。この表示欠陥
検査を行う装置が液晶表示パネル検査装置である。従
来、この装置においては、特開平６ー３０８０３４号公
報に開示されているように、液晶表示パネルに備わった
複数の入力端子に検査用の外部端子をコンタクトプルー
ブ針にて接触させ、ドライバ信号を印加して、液晶表示
パネルの表示画面を点灯させ、点灯した表示画面を検査
員が目視し判別するか、あるいはＣＣＤカメラにて画像
認識し、自動的に欠陥個所を判別している。
【０００３】一般的には、液晶表示パネル検査装置にお
いて、被検査部品の液晶表示パネルにドライバ信号を供
給するためには、特開平６−３０８０３４号公報に開示
されているようにコンタクトプローブを用いて、コンタ
クトプルーブの各針先を液晶表示パネルの入力端子に接
触させ、ドライバ信号を供給している。一般的には、こ
のコンタクトプローブのように、コンタクトプローブの
各針先と液晶表示パネルの入力端子とは１：１の割合で
設けられている。
いて、被検査部品の液晶表示パネルにドライバ信号を供
給するためには、特開平６−３０８０３４号公報に開示
されているようにコンタクトプローブを用いて、コンタ
クトプルーブの各針先を液晶表示パネルの入力端子に接
触させ、ドライバ信号を供給している。一般的には、こ
のコンタクトプローブのように、コンタクトプローブの
各針先と液晶表示パネルの入力端子とは１：１の割合で
設けられている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来の液晶表示パネル
検査装置にあっては、液晶表示パネルの入力端子１ケ所
に対して、コンタクトプローブの各針先が１本しか設置
されていないので、液晶表示パネルを検査装置に載置す
る際、水平方向の位置ズレが生じた場合、あるいは、入
力端子にゴミやホコリ等が付着している場合には、コン
タクトプローブ１本の針先が導通不良になれば、液晶表
示パネルにドライバ信号が供給できなくなり、液晶表示
パネルが正常に動作しなくなる。このために、表示欠陥
検査に支障を来し、液晶表示パネルの品質を安定させる
ことができなくなり、生産性を下げる結果となる。
検査装置にあっては、液晶表示パネルの入力端子１ケ所
に対して、コンタクトプローブの各針先が１本しか設置
されていないので、液晶表示パネルを検査装置に載置す
る際、水平方向の位置ズレが生じた場合、あるいは、入
力端子にゴミやホコリ等が付着している場合には、コン
タクトプローブ１本の針先が導通不良になれば、液晶表
示パネルにドライバ信号が供給できなくなり、液晶表示
パネルが正常に動作しなくなる。このために、表示欠陥
検査に支障を来し、液晶表示パネルの品質を安定させる
ことができなくなり、生産性を下げる結果となる。
【０００５】
【発明が解決しようとする手段】上記問題点を解決する
ために、本発明は、液晶表示パネルの入力端子に接触
し、本体よりドライバ信号を供給するプローブ針を、入
力端子と同ピッチ間隔で配列された夫々のプローブ電極
に対して複数本接合させている。そして、該プローブ針
を、プリント配線板上にエッチングされた導体パターン
よりなるプローブ電極にワイヤボンディングすることと
している。また、前記プローブ針は、１本の導電線を交
互にＺ状にプローブ電極にワイヤボンディングしたもの
でもよいとしている。
ために、本発明は、液晶表示パネルの入力端子に接触
し、本体よりドライバ信号を供給するプローブ針を、入
力端子と同ピッチ間隔で配列された夫々のプローブ電極
に対して複数本接合させている。そして、該プローブ針
を、プリント配線板上にエッチングされた導体パターン
よりなるプローブ電極にワイヤボンディングすることと
している。また、前記プローブ針は、１本の導電線を交
互にＺ状にプローブ電極にワイヤボンディングしたもの
でもよいとしている。
【０００６】その結果、このようなプローブ針により、
液晶表示パネルの入力端子１ケ所に対し、複数のプロー
ブ針が接触するため、入力端子とプローブ電極が水平方
向に位置ズレを起こしても、位置ずれを吸収することで
きると共に、入力端子にゴミ等が付着しても、プローブ
電極に複数本のプローブ針が接合されているため、ゴミ
を介していない他のプローブ針にて導通を維持すること
ができる。
液晶表示パネルの入力端子１ケ所に対し、複数のプロー
ブ針が接触するため、入力端子とプローブ電極が水平方
向に位置ズレを起こしても、位置ずれを吸収することで
きると共に、入力端子にゴミ等が付着しても、プローブ
電極に複数本のプローブ針が接合されているため、ゴミ
を介していない他のプローブ針にて導通を維持すること
ができる。
【０００７】このため、安定した表示欠陥検査を行うこ
とができ、液晶表示パネルの品質を安定させると共に、
生産性を向上させることができる。
とができ、液晶表示パネルの品質を安定させると共に、
生産性を向上させることができる。
【０００８】また、プローブ針は、プリント配線板に直
接複数本のプローブ針、あるいは、１本の導電線を交互
にＺ状に複数ケ所ワイヤボンディングすることにより、
プローブ針間を狭ピッチで配設することが可能となる。
接複数本のプローブ針、あるいは、１本の導電線を交互
にＺ状に複数ケ所ワイヤボンディングすることにより、
プローブ針間を狭ピッチで配設することが可能となる。
【０００９】
【発明の実施の形態】本発明は、液晶表示パネル検査装
置において、プローブ手段は、液晶表示パネルの入力端
子に対して昇降自在に取り付けられたプローブ本体と、
該プローブ本体に固定されたプローブ基板よりなる。
置において、プローブ手段は、液晶表示パネルの入力端
子に対して昇降自在に取り付けられたプローブ本体と、
該プローブ本体に固定されたプローブ基板よりなる。
【００１０】そして、プローブ基板は、プローブ本体に
固定された状態において基板下面側に、液晶表示パネル
の入力端子と同ピッチ間隔でプローブ電極が配列され、
該プローブ電極の夫々に複数個のプローブ針が接合され
たものである。そして、プローブ本体が降下すると、前
記入力端子１ケ所に対して、プローブ針の全て、若しく
はいずれかが必ず接触するものである。
固定された状態において基板下面側に、液晶表示パネル
の入力端子と同ピッチ間隔でプローブ電極が配列され、
該プローブ電極の夫々に複数個のプローブ針が接合され
たものである。そして、プローブ本体が降下すると、前
記入力端子１ケ所に対して、プローブ針の全て、若しく
はいずれかが必ず接触するものである。
【００１１】また、上記プローブ電極は、プリント配線
板にエッチングされた導体パターンよりなり、該導体パ
ターンに複数本のプローブ針をワイヤボンディングした
ものである。
板にエッチングされた導体パターンよりなり、該導体パ
ターンに複数本のプローブ針をワイヤボンディングした
ものである。
【００１２】また、前記プローブ針は、１本の導電線を
交互にＺ状にワイヤボンディングすることにより、複数
本のプローブ針としたものでもよい。
交互にＺ状にワイヤボンディングすることにより、複数
本のプローブ針としたものでもよい。
【００１３】
【実施例】実施例について図面を参照にして説明する
と、図１及び図２において、液晶表示パネルの表示欠陥
個所を検査する液晶表示パネル検査装置１は、液晶表示
パネル２を載置するステージ３があり、液晶表示パネル
２の入力端子８にドライバ信号を供給するプローブ手段
４を昇降させる昇降ステージ５が装着している。プロー
ブ手段４は、昇降ステージ５に昇降自在に取り付けられ
たプローブ本体６と、プローブ本体６の下部に固定され
たプローブ基板７よりなる。
と、図１及び図２において、液晶表示パネルの表示欠陥
個所を検査する液晶表示パネル検査装置１は、液晶表示
パネル２を載置するステージ３があり、液晶表示パネル
２の入力端子８にドライバ信号を供給するプローブ手段
４を昇降させる昇降ステージ５が装着している。プロー
ブ手段４は、昇降ステージ５に昇降自在に取り付けられ
たプローブ本体６と、プローブ本体６の下部に固定され
たプローブ基板７よりなる。
【００１４】プローブ基板７はプリント配線板で、基板
下面には、図３に示すように、液晶表示パネル２の入力
端子８のピッチ間隔で銅箔面がエッチングされたプロー
ブ電極９が配列されている。プローブ電極９には、夫々
複数のプローブ針１０がドライバーＩＣ１１と共に、ワ
イヤーボンディングされている。
下面には、図３に示すように、液晶表示パネル２の入力
端子８のピッチ間隔で銅箔面がエッチングされたプロー
ブ電極９が配列されている。プローブ電極９には、夫々
複数のプローブ針１０がドライバーＩＣ１１と共に、ワ
イヤーボンディングされている。
【００１５】プローブ針１０は、図４に示すように、プ
ローブ手段４が昇降ステージ５上を所定距離降下する
と、液晶表示パネル２の入力端子８に接触し、前記ドラ
イバＩＣ１１から出力されるドライバ信号を入力端子８
に供給する。また、プローブ針１０は、タングステン線
等のような弾力性、強度及び導電性に優れたもので形成
されている。
ローブ手段４が昇降ステージ５上を所定距離降下する
と、液晶表示パネル２の入力端子８に接触し、前記ドラ
イバＩＣ１１から出力されるドライバ信号を入力端子８
に供給する。また、プローブ針１０は、タングステン線
等のような弾力性、強度及び導電性に優れたもので形成
されている。
【００１６】プローブ電極９の一端には、図３に示すよ
うに、ドライバＩＣ１１の端子１２がワイヤボンディン
グされ、その他端には、複数の凹凸パターンがエッチン
グされ、その凹凸パターン（パターンＡと称する）に所
定距離を隔てて、相対する位置に、前記パターンＡと対
称に、孤立した凹凸パターン（パターンＢと称する）が
エッチングされている。
うに、ドライバＩＣ１１の端子１２がワイヤボンディン
グされ、その他端には、複数の凹凸パターンがエッチン
グされ、その凹凸パターン（パターンＡと称する）に所
定距離を隔てて、相対する位置に、前記パターンＡと対
称に、孤立した凹凸パターン（パターンＢと称する）が
エッチングされている。
【００１７】そして、この相対するパターンＡ、Ｂの間
に、略直方体のシリコン導電ゴム１３が接着され、この
シリコン導電ゴム１３に円弧状に曲げ加工したプローブ
針１０を枕状に沿わせ、パターンＡ、Ｂの凸部先端に円
弧状に曲げ加工したプローブ針１０の両端がワイヤボン
ディングされている。
に、略直方体のシリコン導電ゴム１３が接着され、この
シリコン導電ゴム１３に円弧状に曲げ加工したプローブ
針１０を枕状に沿わせ、パターンＡ、Ｂの凸部先端に円
弧状に曲げ加工したプローブ針１０の両端がワイヤボン
ディングされている。
【００１８】また、プローブ針１０は、図５に示すによ
うに、半円弧状にカットしたものをシリコン導電ゴム１
３に沿わせ、片側端のみをパターンＡにワイヤボンディ
ングしたものでもよいし、図６に示すように、１本の導
電線１４をシリコン導電ゴム１３に沿わせ、交互にＺ状
にパターンＡ、Ｂの凸部先端にワイヤボンディングした
ものでもよい。
うに、半円弧状にカットしたものをシリコン導電ゴム１
３に沿わせ、片側端のみをパターンＡにワイヤボンディ
ングしたものでもよいし、図６に示すように、１本の導
電線１４をシリコン導電ゴム１３に沿わせ、交互にＺ状
にパターンＡ、Ｂの凸部先端にワイヤボンディングした
ものでもよい。
【００１９】また、プローブ針１０を直接プリント配線
板にワイヤボンディングすることにより、図９に示すよ
うに、従来のプローブ針１０のスプリング１５、コネク
タ１６等の補助部品が不必要となるため、その分、プロ
ーブ針間を狭ピッチで配設することができる。
板にワイヤボンディングすることにより、図９に示すよ
うに、従来のプローブ針１０のスプリング１５、コネク
タ１６等の補助部品が不必要となるため、その分、プロ
ーブ針間を狭ピッチで配設することができる。
【００２０】また、プローブ針１０を直接プリント配線
板にワイヤボンディングすることにより、プローブ針１
０は、ドライバＩＣ１１と共に、表面実装機で自動的に
実装することができ、そのことにより、プローブ針１０
を高精度、狭ピッチで実装することが可能となる。
板にワイヤボンディングすることにより、プローブ針１
０は、ドライバＩＣ１１と共に、表面実装機で自動的に
実装することができ、そのことにより、プローブ針１０
を高精度、狭ピッチで実装することが可能となる。
【００２１】そして、液晶表示パネルの入力端子８にプ
ローブ針１０が接触する場合、図７に示すように、入力
端子１ケ所に対し、複数のプローブ針が接触するため、
入力端子８とプローブ電極９が水平方向に位置ずれを起
こしたとしても、複数のプローブ針１０の両端が入力端
子８からはずれるまでは（図７において、Ｃ〜Ｄ位置ま
での水平方向の位置ズレＸ＝約０．２ミリメートル）導
通が可能で、双方の位置ずれを吸収することができる。
ローブ針１０が接触する場合、図７に示すように、入力
端子１ケ所に対し、複数のプローブ針が接触するため、
入力端子８とプローブ電極９が水平方向に位置ずれを起
こしたとしても、複数のプローブ針１０の両端が入力端
子８からはずれるまでは（図７において、Ｃ〜Ｄ位置ま
での水平方向の位置ズレＸ＝約０．２ミリメートル）導
通が可能で、双方の位置ずれを吸収することができる。
【００２２】また、図８に示すように、入力端子８に数
μｍ〜数十μｍ程度のゴミ、ホコリ等ｄが付着したとし
ても、プローブ電極９に複数のポローブ針１０が接合さ
れているため、ゴミ、ホコリ等を介していないプローブ
針にて導通を維持することができる。
μｍ〜数十μｍ程度のゴミ、ホコリ等ｄが付着したとし
ても、プローブ電極９に複数のポローブ針１０が接合さ
れているため、ゴミ、ホコリ等を介していないプローブ
針にて導通を維持することができる。
【００２３】また、図示されていないが、本実施例にお
けるプローブ手段４は、検査時、プローブ手段４が所定
距離降下し、プローブ針１０が入力端子８に接触する
と、適度な圧力で接触するように圧力制御機構を有し、
プローブ針１０に過度な圧力が加わり、プローブ針１０
が破壊することを防止している。
けるプローブ手段４は、検査時、プローブ手段４が所定
距離降下し、プローブ針１０が入力端子８に接触する
と、適度な圧力で接触するように圧力制御機構を有し、
プローブ針１０に過度な圧力が加わり、プローブ針１０
が破壊することを防止している。
【００２４】
【発明の効果】本発明の液晶表示パネル検査装置は、プ
ローブ電極に複数個のプローブ針がワイヤボンディング
されているため、液晶表示パネルの入力端子とプローブ
電極の位置ズレや、入力端子にゴミ、ホコリ等が付着し
た場合においても、安定して液晶表示パネルにドライバ
信号を供給することができる。そのことにより、液晶表
示パネルの表示欠陥検査を正確に行うことができ、液晶
表示パネルの品質を安定させるとともに、生産性を向上
させることができる。
ローブ電極に複数個のプローブ針がワイヤボンディング
されているため、液晶表示パネルの入力端子とプローブ
電極の位置ズレや、入力端子にゴミ、ホコリ等が付着し
た場合においても、安定して液晶表示パネルにドライバ
信号を供給することができる。そのことにより、液晶表
示パネルの表示欠陥検査を正確に行うことができ、液晶
表示パネルの品質を安定させるとともに、生産性を向上
させることができる。
【００２５】また、従来のように、プローブ針に余分な
補助部品が付かないため、その分、狭ピッチのプローブ
針が得られ、プローブ針も安価にできる。
補助部品が付かないため、その分、狭ピッチのプローブ
針が得られ、プローブ針も安価にできる。
【００２６】また、プローブ針を表面実装機で自動的に
高精度、狭ピッチで実装することができると共に、基板
実装を機械化することにより、プローブ基板を安価にで
きる。
高精度、狭ピッチで実装することができると共に、基板
実装を機械化することにより、プローブ基板を安価にで
きる。
【図１】液晶表示パネル検査装置の斜視図である。
【図２】同じく、側面図である。
【図３】プローブ電極にプローブ針（円弧状）をワイヤ
ボンディングした実施例を示す要部平面図である。
ボンディングした実施例を示す要部平面図である。
【図４】同じく、要部側面図である。
【図５】プローブ電極にプローブ針（半円弧状）をワイ
ヤボンディングした実施例を示す要部側面図である。
ヤボンディングした実施例を示す要部側面図である。
【図６】プローブ針に１本の導電線を交互にＺ状にボン
ディングした実施例を示す要部平面図である。
ディングした実施例を示す要部平面図である。
【図７】プローブ電極と液晶表示パネルの入力端子が水
平方向に位置ズレを起こした場合の説明図である。
平方向に位置ズレを起こした場合の説明図である。
【図８】プローブ針と液晶表示パネルの入力端子がゴ
ミ、ホコり等を介して接触した状態を示す説明図であ
る。
ミ、ホコり等を介して接触した状態を示す説明図であ
る。
【図９】プローブ針の従来例を示す断面図である。
２ 液晶表示パネル ８ 入力端子 ４ プローブ手段 １ 液晶表示パネル検査装置 ６ プローブ本体 ９ プローブ電極 １０ プローブ針 １４ プローブ針 ７ プローブ基板 Ａ パターン（導体パターン） Ｂ パターン（導体パターン）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０２Ｆ 1/1345 Ｇ０２Ｆ 1/1345 Ｇ０９Ｆ 9/00 ３５２ Ｇ０９Ｆ 9/00 ３５２
Claims (3)
- 【請求項１】 液晶表示パネルの入力端子に接触し、本
体よりドライバ信号を供給するプローブ手段を有する液
晶表示パネル検査装置において、該プローブ手段は、前
記入力端子に対して、略垂直に進退可能に設けられたプ
ローブ本体と、該プローブ本体に固定されたプローブ基
板と、該プローブ基板に、前記入力端子と同ピッチ間隔
で配列されたプローブ電極と、該プローブ電極の夫々に
複数本接合されたプローブ針を備え、検査時、前記プロ
ーブ本体が降下し、前記プローブ針が前記入力端子に接
触することを特徴とする液晶表示パネル検査装置。 - 【請求項２】 前記プローブ電極は、プリント配線板上
にエッチングされた導体パターンよりなり、各導体パタ
ーンに複数本のプローブ針をワイヤボンディングしたこ
とを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネル検査装
置。 - 【請求項３】 前記プローブ針は、１本の導電線をＺ状
にワイヤボンディングすることにより、複数本としたこ
とを特徴とする請求項２記載の液晶表示パネル検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1454696A JPH09211048A (ja) | 1996-01-30 | 1996-01-30 | 液晶表示パネル検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1454696A JPH09211048A (ja) | 1996-01-30 | 1996-01-30 | 液晶表示パネル検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09211048A true JPH09211048A (ja) | 1997-08-15 |
Family
ID=11864161
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1454696A Pending JPH09211048A (ja) | 1996-01-30 | 1996-01-30 | 液晶表示パネル検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09211048A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020096779A (ko) * | 2001-06-18 | 2002-12-31 | 김연환 | 패널형 디스플레이의 검사용 프로브 |
| JP2007171093A (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Shimadzu Corp | 液晶基板検査装置およびプローバフレーム |
| JP2009156875A (ja) * | 2005-04-14 | 2009-07-16 | Korea Advanced Inst Of Science & Technology | プローブカードおよびその製造方法 |
| CN104460061A (zh) * | 2014-12-09 | 2015-03-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 测试探头及测试设备 |
-
1996
- 1996-01-30 JP JP1454696A patent/JPH09211048A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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