JPH06314603A - 酸化亜鉛バリスタとその製造方法 - Google Patents
酸化亜鉛バリスタとその製造方法Info
- Publication number
- JPH06314603A JPH06314603A JP5104341A JP10434193A JPH06314603A JP H06314603 A JPH06314603 A JP H06314603A JP 5104341 A JP5104341 A JP 5104341A JP 10434193 A JP10434193 A JP 10434193A JP H06314603 A JPH06314603 A JP H06314603A
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- JP
- Japan
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- varistor
- varistor element
- zinc oxide
- added
- zno
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 電圧非直線性をより向上させたバリスタを提
供することを目的とするものである。 【構成】 この目的を達成するために、本発明のバリス
タは、バリスタ素子1にPを従来のものより多い0.0
25〜0.5mol%含有させている。これにより、高
電流領域での電圧非直線性がより向上したバリスタを得
ることができる。
供することを目的とするものである。 【構成】 この目的を達成するために、本発明のバリス
タは、バリスタ素子1にPを従来のものより多い0.0
25〜0.5mol%含有させている。これにより、高
電流領域での電圧非直線性がより向上したバリスタを得
ることができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は例えばテレビ等の各種電
子機器を異常高電圧から保護するために用いる酸化亜鉛
バリスタとその製造方法に関するものである。
子機器を異常高電圧から保護するために用いる酸化亜鉛
バリスタとその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、各種電子機器の制御回路の高度集
積化が急速に進展している。これらの制御回路に用いら
れている半導体電子部品は雷サージや異常高電圧が印加
されると破壊されてしまうので、その対策が不可欠なも
のとなっている。この対策として一般にバリスタが用い
られており、中でも優れた電圧非直線性をもつ酸化亜鉛
バリスタが広く利用されている。
積化が急速に進展している。これらの制御回路に用いら
れている半導体電子部品は雷サージや異常高電圧が印加
されると破壊されてしまうので、その対策が不可欠なも
のとなっている。この対策として一般にバリスタが用い
られており、中でも優れた電圧非直線性をもつ酸化亜鉛
バリスタが広く利用されている。
【0003】従来、酸化亜鉛バリスタへPを添加するこ
とにより損失を低減するものがあった(特開平2−77
104号公報)。
とにより損失を低減するものがあった(特開平2−77
104号公報)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のものはPの
添加量を0.02mol%以下に設定することにより損
失を低減したものであったが、本発明はこのPの添加量
を増加することにより、電圧非直線性をさらに向上させ
た酸化亜鉛バリスタを提供することを目的とするもので
ある。
添加量を0.02mol%以下に設定することにより損
失を低減したものであったが、本発明はこのPの添加量
を増加することにより、電圧非直線性をさらに向上させ
た酸化亜鉛バリスタを提供することを目的とするもので
ある。
【0005】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明は、Pの添加量を従来のものよりも増し、バ
リスタ素子におけるPの含有量を0.025〜0.5m
ol%としたものである。
に、本発明は、Pの添加量を従来のものよりも増し、バ
リスタ素子におけるPの含有量を0.025〜0.5m
ol%としたものである。
【0006】
【作用】上記構成によると、バリスタ素子へのPの添加
量を従来より増したために、PがZnOに固溶する量が
増加し、その結果としてZnOの比抵抗が大幅に下が
り、高電流領域での電圧非直線性が向上する。
量を従来より増したために、PがZnOに固溶する量が
増加し、その結果としてZnOの比抵抗が大幅に下が
り、高電流領域での電圧非直線性が向上する。
【0007】
(実施例1)図1〜図3において1はバリスタ素子、2
a,2bはその表面に設けた電極、3a,3bはリード
端子、4は被覆体である。以下バリスタ素子1の製造方
法を説明する。
a,2bはその表面に設けた電極、3a,3bはリード
端子、4は被覆体である。以下バリスタ素子1の製造方
法を説明する。
【0008】まず、(表1)、(表2)に示す組成(含
有量)になるように、ZnOに(表1)、(表2)の添
加物を加え、ポットミルで湿式混合した。ここでPはH
3PO4の形で添加する。なお(表1)と(表2)に示す
ものはバリスタ電圧が異なるものである。そして脱水、
乾燥の後、バインダを加え、ライカイ器で造粒を行っ
た。そして1000kg/cm2の圧力で成形を行い、12
00℃で2時間焼成し、図2,図3に示したバリスタ素
子1を得た。このバリスタ素子1は直径13mm、厚さ1
mmの円板形である。このバリスタ素子1の上、下両面に
銀ペーストをスクリーン印刷し、800℃で2時間焼付
けて直径10mmの電極2a,2bを形成した。そしてリ
ード端子3a,3bを電極2a,2bに半田付けした
後、外周をエポキシ樹脂よりなる被覆体4を用いて被覆
し、バリスタを各試料No.ごとに10個得た。
有量)になるように、ZnOに(表1)、(表2)の添
加物を加え、ポットミルで湿式混合した。ここでPはH
3PO4の形で添加する。なお(表1)と(表2)に示す
ものはバリスタ電圧が異なるものである。そして脱水、
乾燥の後、バインダを加え、ライカイ器で造粒を行っ
た。そして1000kg/cm2の圧力で成形を行い、12
00℃で2時間焼成し、図2,図3に示したバリスタ素
子1を得た。このバリスタ素子1は直径13mm、厚さ1
mmの円板形である。このバリスタ素子1の上、下両面に
銀ペーストをスクリーン印刷し、800℃で2時間焼付
けて直径10mmの電極2a,2bを形成した。そしてリ
ード端子3a,3bを電極2a,2bに半田付けした
後、外周をエポキシ樹脂よりなる被覆体4を用いて被覆
し、バリスタを各試料No.ごとに10個得た。
【0009】そして各試料No.ごとの10個のバリスタ
について、厚さ1mm当りのバリスタ電圧(V1mA/m
m)、電圧比、制限電圧比、サージ電流耐量特性を測定
して、その平均値を算出し(表1)、(表2)に示し
た。
について、厚さ1mm当りのバリスタ電圧(V1mA/m
m)、電圧比、制限電圧比、サージ電流耐量特性を測定
して、その平均値を算出し(表1)、(表2)に示し
た。
【0010】
【表1】
【0011】
【表2】
【0012】ここで
【0013】
【外1】
【0014】は電極2a,2b間にそれぞれ1mA、1
0μA、1μA、5A、25Aの電流が流れるときの電
圧を表している。またサージ電流耐量特性は、標準波形
8/20μsで、バリスタ電圧100V以下のバリスタ
の場合(表1に示すバリスタ)は波高値2000A、バ
リスタ電圧100Vを越えるバリスタの場合(表2に示
すバリスタ)は波高値4000Aの衝撃電流を正方向に
2回印加した後のバリスタ電圧の変化率(ΔV1mA)で
示している。
0μA、1μA、5A、25Aの電流が流れるときの電
圧を表している。またサージ電流耐量特性は、標準波形
8/20μsで、バリスタ電圧100V以下のバリスタ
の場合(表1に示すバリスタ)は波高値2000A、バ
リスタ電圧100Vを越えるバリスタの場合(表2に示
すバリスタ)は波高値4000Aの衝撃電流を正方向に
2回印加した後のバリスタ電圧の変化率(ΔV1mA)で
示している。
【0015】電圧比、制限電圧比、サージ電流耐量特性
がいずれも小さいバリスタ程、電圧非直線性に優れ、そ
の上安定している。
がいずれも小さいバリスタ程、電圧非直線性に優れ、そ
の上安定している。
【0016】(表1)、(表2)を見ると、試料No.3
〜5、9〜11のバリスタが、他のものに比べると電圧
比、制限電圧比、サージ電流耐量特性がいずれも小さ
い。これらは電圧非直線性に優れ、なおかつ安定したバ
リスタであることがわかる。
〜5、9〜11のバリスタが、他のものに比べると電圧
比、制限電圧比、サージ電流耐量特性がいずれも小さ
い。これらは電圧非直線性に優れ、なおかつ安定したバ
リスタであることがわかる。
【0017】これは、主成分であるZnOに固溶するP
が多く、ZnO粒子の比抵抗がより小さくなり、高電流
領域での電圧非直線性をより改善するからである。
が多く、ZnO粒子の比抵抗がより小さくなり、高電流
領域での電圧非直線性をより改善するからである。
【0018】またPをH3PO4として添加することによ
り、バリスタ素子の半導体特性を損なわないようにして
いる。またPは一価の金属イオンを含む化合物を除き、
P2P5をはじめとしてどのような形で添加してもかまわ
ない。
り、バリスタ素子の半導体特性を損なわないようにして
いる。またPは一価の金属イオンを含む化合物を除き、
P2P5をはじめとしてどのような形で添加してもかまわ
ない。
【0019】(実施例2)以下本発明の第2の実施例に
ついて説明する。本実施例ではPb、Sn、Geからな
るガラスフリットを、銀ペーストに混練したもので電極
2a,2bを形成した。
ついて説明する。本実施例ではPb、Sn、Geからな
るガラスフリットを、銀ペーストに混練したもので電極
2a,2bを形成した。
【0020】なお、この電極2a,2bを設けるバリス
タ素子1は(実施例1)と同様にZnOに、(表3)〜
(表12)の添加物を添加して形成することとし、各試
料No.ごとに10個のバリスタを形成した。そして、各
試料No.のバリスタのバリスタ電圧、電圧比、制限電圧
比、サージ電流耐量特性を(表3)〜(表12)に示し
た。
タ素子1は(実施例1)と同様にZnOに、(表3)〜
(表12)の添加物を添加して形成することとし、各試
料No.ごとに10個のバリスタを形成した。そして、各
試料No.のバリスタのバリスタ電圧、電圧比、制限電圧
比、サージ電流耐量特性を(表3)〜(表12)に示し
た。
【0021】
【表3】
【0022】
【表4】
【0023】
【表5】
【0024】
【表6】
【0025】
【表7】
【0026】
【表8】
【0027】
【表9】
【0028】
【表10】
【0029】
【表11】
【0030】
【表12】
【0031】(表1)、(表2)と比べてもわかるよう
に、PとPb、Sn、Geを添加したバリスタの方が、
電圧比、制限電圧比、サージ電流耐量特性のいずれも小
さい。
に、PとPb、Sn、Geを添加したバリスタの方が、
電圧比、制限電圧比、サージ電流耐量特性のいずれも小
さい。
【0032】このことから、PとPb、Sn、Geを添
加したバリスタは、より一層電圧非直線性に優れ、安定
したものであることがわかる。
加したバリスタは、より一層電圧非直線性に優れ、安定
したものであることがわかる。
【0033】これは、電極2a,2bをバリスタ素子1
に焼付ける時ガラスフリットに含まれるPb、Sn、G
eがバリスタ素子1内部に拡散し、粒界においてPとB
iとで化合物を形成し、低電流領域の電圧非直線性を向
上させていると思われる。もちろん実施例1での効果も
引きつぐ。
に焼付ける時ガラスフリットに含まれるPb、Sn、G
eがバリスタ素子1内部に拡散し、粒界においてPとB
iとで化合物を形成し、低電流領域の電圧非直線性を向
上させていると思われる。もちろん実施例1での効果も
引きつぐ。
【0034】なお、本実施例においてはバリスタを製造
する時、電極材料にPb、Sn、Geを、またバリスタ
素子材料にPを夫々添加している。しかし電極材料に
P、バリスタ素子1にPb、Sn、Geを添加してもそ
の効果は変わらない。
する時、電極材料にPb、Sn、Geを、またバリスタ
素子材料にPを夫々添加している。しかし電極材料に
P、バリスタ素子1にPb、Sn、Geを添加してもそ
の効果は変わらない。
【0035】また以下に示す4つの方法で、PとPb、
Sn、Geを添加してもよい。第1の方法としては、P
とPb、Sn、Geからなるガラスフリットを銀電極材
料に混練する。ガラスフリットとして添加することによ
り、電極を焼付ける時、Pが拡散のフラックスとなりバ
リスタ素子1内への拡散性が良くなると同時に、粒界で
の化合物の生成が起こりやすくなる。他の工程について
は実施例1と同様である。
Sn、Geを添加してもよい。第1の方法としては、P
とPb、Sn、Geからなるガラスフリットを銀電極材
料に混練する。ガラスフリットとして添加することによ
り、電極を焼付ける時、Pが拡散のフラックスとなりバ
リスタ素子1内への拡散性が良くなると同時に、粒界で
の化合物の生成が起こりやすくなる。他の工程について
は実施例1と同様である。
【0036】第2の方法としては、PとPb、Sn、G
eからなるガラスフリットをバリスタ素子1表面に塗布
し、その上から電極2a,2bを形成する。このように
することにより、第1の方法における効果に加えて、電
極2a,2bの焼付け温度を600℃、その時間はわず
か10分とすることができる。他の工程は実施例1と同
様である。その上電極材料にAl、In、Ga等を用い
ることができる。
eからなるガラスフリットをバリスタ素子1表面に塗布
し、その上から電極2a,2bを形成する。このように
することにより、第1の方法における効果に加えて、電
極2a,2bの焼付け温度を600℃、その時間はわず
か10分とすることができる。他の工程は実施例1と同
様である。その上電極材料にAl、In、Ga等を用い
ることができる。
【0037】第3の方法としては、PとPb、Sn、G
eからなるガラスフリットを、バリスタ素子材料に添加
する。これにより、バリスタ素子1においてより均一に
PとBiとPb、Sn、Geの酸化物を生成することが
でき、特性が安定する。もちろん電極2a,2bの焼付
け時間、温度も10分間、600℃とすることができ
る。また電極材料もAgではなく、Al、In、Ga等
を用いることができる。
eからなるガラスフリットを、バリスタ素子材料に添加
する。これにより、バリスタ素子1においてより均一に
PとBiとPb、Sn、Geの酸化物を生成することが
でき、特性が安定する。もちろん電極2a,2bの焼付
け時間、温度も10分間、600℃とすることができ
る。また電極材料もAgではなく、Al、In、Ga等
を用いることができる。
【0038】第4の方法としては、PとPb、Sn、G
eを直接バリスタ素子材料に添加する。これは第3の方
法での効果に加えて、PとPb、Sn、Geを含むガラ
スフリットを作成する工程が不要になるため、製造工程
が短くなる。この場合も電極材料にAgではなく、A
l、In、Ga等を用いることができる。
eを直接バリスタ素子材料に添加する。これは第3の方
法での効果に加えて、PとPb、Sn、Geを含むガラ
スフリットを作成する工程が不要になるため、製造工程
が短くなる。この場合も電極材料にAgではなく、A
l、In、Ga等を用いることができる。
【0039】また本発明のバリスタ製造時には、添加物
をバリスタ素子の半導体特性を損うことのないような形
で用いている。
をバリスタ素子の半導体特性を損うことのないような形
で用いている。
【0040】なお、本発明のバリスタ素子材料にCr、
Ni、Ba、Sr、Mg、Y等が添加されたとしても、
その効果に変わりはない。
Ni、Ba、Sr、Mg、Y等が添加されたとしても、
その効果に変わりはない。
【0041】
【発明の効果】以上のように本発明のバリスタ素子はP
を従来のものよりも多い0.025〜0.5mol%含
有させることにより電圧比直線性を向上させている。な
おPとPb、Sn、Geを一緒に添加することによりそ
の効果はさらに顕著に現れる。またPはH3PO4やP2
O5をはじめとして、一価の金属イオンを含まない形で
添加することにより、バリスタ素子の半導体的性質の損
失を防ぐことができる。
を従来のものよりも多い0.025〜0.5mol%含
有させることにより電圧比直線性を向上させている。な
おPとPb、Sn、Geを一緒に添加することによりそ
の効果はさらに顕著に現れる。またPはH3PO4やP2
O5をはじめとして、一価の金属イオンを含まない形で
添加することにより、バリスタ素子の半導体的性質の損
失を防ぐことができる。
【図1】本発明の一実施例におけるバリスタの正面図
【図2】本発明の一実施例におけるバリスタの縦断面図
【図3】本発明の一実施例におけるバリスタ素子と電極
の断面図
の断面図
1 バリスタ素子 2a 電極 2b 電極 3a リード端子 3b リード端子
Claims (7)
- 【請求項1】 バリスタ素子と、このバリスタ素子の表
面に少なくとも2つ以上設けた電極とを備え、前記バリ
スタ素子は、ZnOに、少なくともBiとPを添加した
ものから成り、このバリスタ素子における前記Pの含有
量は、0.025〜0.5mol%となるようにした酸
化亜鉛バリスタ。 - 【請求項2】 バリスタ素子に、Co、Mn、Alを添
加した請求項1に記載の酸化亜鉛バリスタ。 - 【請求項3】 バリスタ素子に、Pb、Sn、Geの少
なくとも一種類以上を添加し、その添加量はPの含有量
に対し、0.1〜2.0の比になるようにした請求項1
または請求項2に記載の酸化亜鉛バリスタ。 - 【請求項4】 ZnOに、少なくともBi、Co、M
n、Alを添加して形成したバリスタ素子の表面に、電
極材料と、Pと、Pb、Sn、Geのうち少なくとも一
種類以上含んだガラスフリットとを混合したものを塗布
し、焼付けて電極を形成する酸化亜鉛バリスタの製造方
法。 - 【請求項5】 ZnOに、少なくともBi、Co、M
n、Alを添加して形成したバリスタ素子の表面に、P
と、Pb、Sn、Geのうち少なくとも一種類以上含ん
だガラスフリットと、有機溶媒とを混合したものを塗布
し、加熱後に、前記バリスタ素子の表面に電極を形成す
る酸化亜鉛バリスタの製造方法。 - 【請求項6】 ZnOと、BiとCoと、Mnと、Al
と、Pと、Pb、Sn、Geのうち少なくとも一種類以
上含んだガラスフリットとを混合した後に成形し、焼成
することによりバリスタ素子を形成し、その後このバリ
スタ素子の表面に電極を形成する酸化亜鉛バリスタの製
造方法。 - 【請求項7】 ZnOと、Biと、Coと、Mnと、A
lと、Pと、Pb、Sn、Geのうちの少なくとも一種
類以上とを混合した後に成形し、焼成することによりバ
リスタ素子を形成し、その後このバリスタ素子の表面に
電極を形成する酸化亜鉛バリスタの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5104341A JPH06314603A (ja) | 1993-04-30 | 1993-04-30 | 酸化亜鉛バリスタとその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5104341A JPH06314603A (ja) | 1993-04-30 | 1993-04-30 | 酸化亜鉛バリスタとその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06314603A true JPH06314603A (ja) | 1994-11-08 |
Family
ID=14378219
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5104341A Pending JPH06314603A (ja) | 1993-04-30 | 1993-04-30 | 酸化亜鉛バリスタとその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06314603A (ja) |
-
1993
- 1993-04-30 JP JP5104341A patent/JPH06314603A/ja active Pending
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