JPH063194A - 太陽光吸収率及びふく射率測定装置 - Google Patents
太陽光吸収率及びふく射率測定装置Info
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- JPH063194A JPH063194A JP4184518A JP18451892A JPH063194A JP H063194 A JPH063194 A JP H063194A JP 4184518 A JP4184518 A JP 4184518A JP 18451892 A JP18451892 A JP 18451892A JP H063194 A JPH063194 A JP H063194A
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- 230000031700 light absorption Effects 0.000 title abstract description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 15
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 18
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 4
- 238000007789 sealing Methods 0.000 abstract 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
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- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
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- 230000000877 morphologic effect Effects 0.000 description 1
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定試料の太陽光吸収率及びふく射率を精度
良く測定する。 【構成】 太陽光吸収率及びふく射率を測定する測定試
料１を封入するとともに紫外線を透過し赤外線を反射す
る選択透過窓３を有する低温囲壁２と、低温囲壁２を囲
閉し適宜の真空手段に連結された真空チャンバ４と、選
択透過窓３の対向位置において真空チャンバ４に設けら
れた石英ガラス窓５とを具えている。これにより測定試
料１の太陽光吸収率及びふく射率を精度良く測定するこ
とができる。
良く測定する。 【構成】 太陽光吸収率及びふく射率を測定する測定試
料１を封入するとともに紫外線を透過し赤外線を反射す
る選択透過窓３を有する低温囲壁２と、低温囲壁２を囲
閉し適宜の真空手段に連結された真空チャンバ４と、選
択透過窓３の対向位置において真空チャンバ４に設けら
れた石英ガラス窓５とを具えている。これにより測定試
料１の太陽光吸収率及びふく射率を精度良く測定するこ
とができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、宇宙機器，太陽熱集光
器等の構成材料の重要な物性値である太陽光吸収率及び
ふく射率の測定装置に関する。
器等の構成材料の重要な物性値である太陽光吸収率及び
ふく射率の測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、宇宙機器，太陽熱集光器等の構成
材料の重要な物性値である太陽光吸収率及びふく射率の
測定装置としては、図３縦断面図に示すものがあり、太
陽光吸収率及びふく射率を測定する測定試料１を封入す
るとともに開口部３′を有する低温囲壁２と、上記低温
囲壁２を囲閉し適宜の真空手段に連結された真空チャン
バ４と、上記開口部３′の対向位置において上記真空チ
ャンバ４に設けられ擬似太陽光６を受ける石英ガラス窓
５とから構成されている。なお測定試料１にはヒーター
を装着しており、加熱量を変化することにより温度を変
えることができる。
材料の重要な物性値である太陽光吸収率及びふく射率の
測定装置としては、図３縦断面図に示すものがあり、太
陽光吸収率及びふく射率を測定する測定試料１を封入す
るとともに開口部３′を有する低温囲壁２と、上記低温
囲壁２を囲閉し適宜の真空手段に連結された真空チャン
バ４と、上記開口部３′の対向位置において上記真空チ
ャンバ４に設けられ擬似太陽光６を受ける石英ガラス窓
５とから構成されている。なお測定試料１にはヒーター
を装着しており、加熱量を変化することにより温度を変
えることができる。
【０００３】このような装置において、加熱量を変化し
測定試料１の平衡温度を複数回測定することにより、太
陽光吸収率：αs とふく射率：εh は、開口部３′が小
さい場合に次式で表される。 αs ＝２Ａσ／Δ（Ｐ1 Ｔs2 4 −Ｐ2 Ｔs1 4 ） ──(1) εh ＝ＡＳ／Δ（Ｐ1 −Ｐ2 ） ──(2) Δ≡−２Ａ2 Ｓσ（Ｔs2 4 −Ｔs1 4 ） ──(3） ここにＰ1 ，Ｐ2 は測定試料１の加熱量、Ｔs1，Ｔs2は
そのときの測定試料温度、Ａは測定試料１の片面の面
積、Ｓは擬似太陽光強度、σはボルツマン定数である。
ところが一般に開口部３′の大きさは無視できず、式
(1),(2）の代わりに次式を用いる必要がある。 αs ＝1/S[ＡＦεh σ( ＴS11 4−Ｔc 4)＋Ａs εh σ｛(1−Ｆ)(ＴS11 4− Ｔc 4)＋（ＴS21 4−Ｔc 4)｝−Ｐ1 〕 ──(4) εh ＝（Ｐ1 −Ｐ2 ）／〔Ａσ｛（ＴS11 4−ＴS12 4）＋（ＴS21 4−ＴS22 4） ｝〕 ──(5) ここにＴS11 , ＴS12 はＰ1 ，Ｐ2 における開口部３′
側の測定試料温度、ＴS21 , ＴS22 は開口部３′と反対
側の測定試料温度、Ｔc は開口部３′の温度、Ｆは測定
試料１と開口部３′の形態計数である。
測定試料１の平衡温度を複数回測定することにより、太
陽光吸収率：αs とふく射率：εh は、開口部３′が小
さい場合に次式で表される。 αs ＝２Ａσ／Δ（Ｐ1 Ｔs2 4 −Ｐ2 Ｔs1 4 ） ──(1) εh ＝ＡＳ／Δ（Ｐ1 −Ｐ2 ） ──(2) Δ≡−２Ａ2 Ｓσ（Ｔs2 4 −Ｔs1 4 ） ──(3） ここにＰ1 ，Ｐ2 は測定試料１の加熱量、Ｔs1，Ｔs2は
そのときの測定試料温度、Ａは測定試料１の片面の面
積、Ｓは擬似太陽光強度、σはボルツマン定数である。
ところが一般に開口部３′の大きさは無視できず、式
(1),(2）の代わりに次式を用いる必要がある。 αs ＝1/S[ＡＦεh σ( ＴS11 4−Ｔc 4)＋Ａs εh σ｛(1−Ｆ)(ＴS11 4− Ｔc 4)＋（ＴS21 4−Ｔc 4)｝−Ｐ1 〕 ──(4) εh ＝（Ｐ1 −Ｐ2 ）／〔Ａσ｛（ＴS11 4−ＴS12 4）＋（ＴS21 4−ＴS22 4） ｝〕 ──(5) ここにＴS11 , ＴS12 はＰ1 ，Ｐ2 における開口部３′
側の測定試料温度、ＴS21 , ＴS22 は開口部３′と反対
側の測定試料温度、Ｔc は開口部３′の温度、Ｆは測定
試料１と開口部３′の形態計数である。
【０００４】しかしながら、このような装置では開口部
３′があるためふく射率εh と太陽光吸収率αs を求め
るための式が複雑で、測定項目も多く従って測定誤差が
大きくなる。
３′があるためふく射率εh と太陽光吸収率αs を求め
るための式が複雑で、測定項目も多く従って測定誤差が
大きくなる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、このような
事情に鑑みて提案されたもので、測定試料の太陽光吸収
率及びふく射率が精度良く測定できる太陽光吸収率及び
ふく射率測定装置を提供することを目的とする。
事情に鑑みて提案されたもので、測定試料の太陽光吸収
率及びふく射率が精度良く測定できる太陽光吸収率及び
ふく射率測定装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】そのために本発明は、太
陽光吸収率及びふく射率を測定する測定試料を封入する
とともに紫外線を透過し赤外線を反射する選択透過窓を
有する低温囲壁と、上記低温囲壁を囲閉し適宜の真空手
段に連結された真空チャンバと、上記選択透過窓の対向
位置において上記真空チャンバに設けられた石英ガラス
窓とを具えたことを特徴とする。
陽光吸収率及びふく射率を測定する測定試料を封入する
とともに紫外線を透過し赤外線を反射する選択透過窓を
有する低温囲壁と、上記低温囲壁を囲閉し適宜の真空手
段に連結された真空チャンバと、上記選択透過窓の対向
位置において上記真空チャンバに設けられた石英ガラス
窓とを具えたことを特徴とする。
【０００７】
【作用】本発明太陽光吸収率及びふく射率測定装置にお
いては、赤外域に対して不透明な選択透過窓を開口部に
設置することにより、測定試料からのふく射は石英ガラ
ス窓への成分はなくなり冷却壁のみになる。
いては、赤外域に対して不透明な選択透過窓を開口部に
設置することにより、測定試料からのふく射は石英ガラ
ス窓への成分はなくなり冷却壁のみになる。
【０００８】
【実施例】本発明太陽光吸収率及びふく射率測定装置の
一実施例を図面について説明すると、図１は本装置の縦
断面図、図２は上図における選択透過窓の特性を示す図
表である。
一実施例を図面について説明すると、図１は本装置の縦
断面図、図２は上図における選択透過窓の特性を示す図
表である。
【０００９】図１において、太陽光吸収率及びふく射率
を測定する測定試料１を封入する低温囲壁２の上端開口
部３′には、図２に示すように、紫外線を透過し赤外線
を反射する特性を有する例えば金箔等の物質からなる選
択透過窓３が取付けられている。この低温囲壁２の外周
にはそれを全周的に囲閉するとともに適宜の真空手段に
連結された真空チャンバ４が設置されており、更にこの
真空チャンバ４の上端には上記選択透過窓３の上方に石
英ガラス窓５が設置され、擬似太陽光６を受け入れるよ
うになっている。
を測定する測定試料１を封入する低温囲壁２の上端開口
部３′には、図２に示すように、紫外線を透過し赤外線
を反射する特性を有する例えば金箔等の物質からなる選
択透過窓３が取付けられている。この低温囲壁２の外周
にはそれを全周的に囲閉するとともに適宜の真空手段に
連結された真空チャンバ４が設置されており、更にこの
真空チャンバ４の上端には上記選択透過窓３の上方に石
英ガラス窓５が設置され、擬似太陽光６を受け入れるよ
うになっている。
【００１０】このような装置において、低温囲壁２の開
口部３′に、紫外線を透過し赤外線を反射する選択透過
窓３が設置されているので、測定試料１はふく射すなわ
ち赤外域に関して冷却壁で囲まれた閉空間に存在するこ
とになる。従って太陽光吸収率及びふく射率を求めると
きは、前述の式(4),(5) を用いる必要がなく、式(1),
(2) でよい。かくしてこのような装置によれば、選択透
過窓３を設置することによって、測定試料１の太陽光吸
収率及びふく射率が精度良く測定できる。
口部３′に、紫外線を透過し赤外線を反射する選択透過
窓３が設置されているので、測定試料１はふく射すなわ
ち赤外域に関して冷却壁で囲まれた閉空間に存在するこ
とになる。従って太陽光吸収率及びふく射率を求めると
きは、前述の式(4),(5) を用いる必要がなく、式(1),
(2) でよい。かくしてこのような装置によれば、選択透
過窓３を設置することによって、測定試料１の太陽光吸
収率及びふく射率が精度良く測定できる。
【００１１】
【発明の効果】要するに本発明によれば、太陽光吸収率
及びふく射率を測定する測定試料を封入するとともに紫
外線を透過し赤外線を反射する選択透過窓を有する低温
囲壁と、上記低温囲壁を囲閉し適宜の真空手段に連結さ
れた真空チャンバと、上記選択透過窓の対向位置におい
て上記真空チャンバに設けられた石英ガラス窓とを具え
たことにより、測定試料の太陽光吸収率及びふく射率が
精度良く測定できる太陽光吸収率及びふく射率測定装置
を得るから、本発明は産業上極めて有益なものである。
及びふく射率を測定する測定試料を封入するとともに紫
外線を透過し赤外線を反射する選択透過窓を有する低温
囲壁と、上記低温囲壁を囲閉し適宜の真空手段に連結さ
れた真空チャンバと、上記選択透過窓の対向位置におい
て上記真空チャンバに設けられた石英ガラス窓とを具え
たことにより、測定試料の太陽光吸収率及びふく射率が
精度良く測定できる太陽光吸収率及びふく射率測定装置
を得るから、本発明は産業上極めて有益なものである。
【図１】本発明太陽光吸収率及びふく射率測定装置の一
実施例の縦断面図である。
実施例の縦断面図である。
【図２】上図における選択透過窓の特性を示す図表であ
る。
る。
【図３】従来装置の縦断面図である。
１ 測定試料 ２ 低温囲壁 ３ 選択透過窓 ３′ 開口部 ４ 真空チャンバ ５ 石英ガラス窓 ６ 擬似太陽光
Claims (1)
- 【請求項１】 太陽光吸収率及びふく射率を測定する測
定試料を封入するとともに紫外線を透過し赤外線を反射
する選択透過窓を有する低温囲壁と、上記低温囲壁を囲
閉し適宜の真空手段に連結された真空チャンバと、上記
選択透過窓の対向位置において上記真空チャンバに設け
られた石英ガラス窓とを具えたことを特徴とする太陽光
吸収率及びふく射率測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18451892A JP3212367B2 (ja) | 1992-06-18 | 1992-06-18 | 太陽光吸収率及びふく射率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18451892A JP3212367B2 (ja) | 1992-06-18 | 1992-06-18 | 太陽光吸収率及びふく射率測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH063194A true JPH063194A (ja) | 1994-01-11 |
| JP3212367B2 JP3212367B2 (ja) | 2001-09-25 |
Family
ID=16154603
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18451892A Expired - Fee Related JP3212367B2 (ja) | 1992-06-18 | 1992-06-18 | 太陽光吸収率及びふく射率測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3212367B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100813994B1 (ko) * | 2006-11-06 | 2008-03-17 | 재단법인 한국조명기술연구소 | 태양광 집광 채광기의 집광 효율 측정장치 |
| JP2009300134A (ja) * | 2008-06-11 | 2009-12-24 | Ihi Corp | 放射率計測装置 |
| KR101113046B1 (ko) * | 2009-12-03 | 2012-02-27 | 한국표준과학연구원 | 고온 반투명 또는 투명시료의 복사율, 투과율, 반사율 특성 동시 측정 방법 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5819521A (ja) * | 1981-07-27 | 1983-02-04 | Toshiba Corp | 太陽光吸収率放射率測定装置 |
| JPS5819520A (ja) * | 1981-07-27 | 1983-02-04 | Toshiba Corp | 太陽光吸収率放射率測定装置 |
| JPS6293745U (ja) * | 1985-12-04 | 1987-06-15 |
-
1992
- 1992-06-18 JP JP18451892A patent/JP3212367B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5819521A (ja) * | 1981-07-27 | 1983-02-04 | Toshiba Corp | 太陽光吸収率放射率測定装置 |
| JPS5819520A (ja) * | 1981-07-27 | 1983-02-04 | Toshiba Corp | 太陽光吸収率放射率測定装置 |
| JPS6293745U (ja) * | 1985-12-04 | 1987-06-15 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100813994B1 (ko) * | 2006-11-06 | 2008-03-17 | 재단법인 한국조명기술연구소 | 태양광 집광 채광기의 집광 효율 측정장치 |
| JP2009300134A (ja) * | 2008-06-11 | 2009-12-24 | Ihi Corp | 放射率計測装置 |
| KR101113046B1 (ko) * | 2009-12-03 | 2012-02-27 | 한국표준과학연구원 | 고온 반투명 또는 투명시료의 복사율, 투과율, 반사율 특성 동시 측정 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3212367B2 (ja) | 2001-09-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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