JPH06325478A - 磁気ディスク装置 - Google Patents

磁気ディスク装置

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Publication number
JPH06325478A
JPH06325478A JP11302893A JP11302893A JPH06325478A JP H06325478 A JPH06325478 A JP H06325478A JP 11302893 A JP11302893 A JP 11302893A JP 11302893 A JP11302893 A JP 11302893A JP H06325478 A JPH06325478 A JP H06325478A
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JP
Japan
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head
circuit
abnormality
magnetic disk
abnormality detection
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP11302893A
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English (en)
Inventor
Hidekazu Kanda
英一 神田
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPH06325478A publication Critical patent/JPH06325478A/ja
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    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/455—Arrangements for functional testing of heads; Measuring arrangements for heads

Landscapes

  • Digital Magnetic Recording (AREA)
  • Magnetic Heads (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明はMRヘッドを搭載する磁気ディスク
装置に関し、再生時及び退避時にヘッドの異常発生を早
期検出してデータ保全を図ることを目的とする。 【構成】 再生回路23に接続され、定電圧回路24及
び固定抵抗25によりセンス電流が供給されるMRヘッ
ド22に、該MRヘッドの端子間の電圧レベルで劣化等
の異常を検出する異常検出回路26を設ける構成とす
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、MR(磁気抵抗効果)
ヘッドを搭載する磁気ディスク装置に関する。
【0002】近年、コンピュータの外部の記憶装置とし
て使用される磁気ディスク装置の大容量化が進むに伴
い、高性能な磁気ヘッドが要求される。そこで、記録媒
体の速度に依存せずに高出力が得られるMRヘッドが使
用されてきており、薄膜構造の小型のものが注目されて
きている。この場合、MRヘッドで発生する異常を早期
に検出してデータ保全を図る必要がある。
【0003】
【従来の技術】従来、磁気ディスク装置に搭載されるM
Rヘッドは、再生時に記録媒体からの信号磁界によりM
R素子の抵抗値が変化する磁気抵抗効果を利用して再生
を行うもので、MR素子には107 A/cm2 程度の電流
密度でセンス電流を供給するのが一般的である。
【0004】ここで、図6に、従来の磁気ディスク装置
の要部ブロック図を示す。図6は、磁気ディスク装置1
1の再生における回路ブロック図であり、MRヘッド1
2の両端がそれぞれコンデンサCを介して再生回路13
の入力端に入力され、再生回路13の出力は復調回路
(図示せず)へ送出される。
【0005】一方、電源回路(図示せず)に接続される
定電流回路14が、MRヘッド12の一端に接続され、
該MRヘッド12の他端が接地される。
【0006】すなわち、MRヘッド12に定電流回路1
4より上述のセンス電流を供給する。このときにMRヘ
ッド12に信号磁束が入ると、該MRヘッド12(MR
素子部分)の抵抗値が変化し、電圧の変化として現われ
て再生回路13に入力されることにより、再生データが
取り出されるものである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、MRヘッド1
2には、上述のように107 A/cm2 程度の電流密度で
センス電流を供給していることから、該MRヘッドにエ
レクトロマイグレーションや放電現象を生じる。このエ
レクトロマイグレーションは、一定方向にセンス電流を
流し続けた場合、電子流が原子を引き付けることによっ
て原子が欠乏して発生するボイドや、引き付けられた原
子が蓄積して生じるヒロック(突出部)が特定場所で成
長するものである。
【0008】このエレクトロマイグレーションや放電現
象等によりMRヘッド12が劣化し、障害が生じると、
記録したデータが再生不能になり、又は焼損によるMR
ヘッドがクラッシュして記録面が破壊されてデータが損
失し、ついには他の記録面までデータ破壊が惹き起こさ
れることになる。
【0009】一般に、MRヘッドの異常検出を早期に行
えばかなりのデータ保存(再生)が可能になってきてい
るが、異常検出は、インダクティブヘッドと同様に、そ
の再生信号に基づいて行ってることから異常発生を早期
に検出することができないという問題がある。
【0010】そこで、本発明は上記課題に鑑みなされた
もので、ヘッドの異常発生を早期検出してデータ保全を
図る磁気ディスク装置を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記課題は、記録媒体
に、磁気的に記録された情報を、磁気抵抗効果型の磁気
ヘッドにセンス電流を供給して読み出し、再生する構成
を備える磁気ディスク装置において、前記磁気ヘッドの
退避時及び再生駆動時に、該磁気ヘッドの通電状態の変
化を測定して異常検出を行い、異常検出信号を送出する
異常検出手段を設けることにより解決される。
【0012】
【作用】上述のように、磁気抵抗効果型の磁気ヘッドに
おける異常を、該磁気ヘッドの通電状態から直接検出す
る。これにより、該磁気ヘッドの劣化等による異常を早
期に検出することが可能となり、クラッシュを防止して
データ保全を図ることが可能となる。
【0013】また、異常の早期検出を、再生時のみなら
ず退避時においても行うことが可能となり、装置の信頼
性の向上が図られるものである。
【0014】
【実施例】図1に、本発明の第1実施例の要部ブロック
図を示す。図1は、磁気ディスク装置21の再生におけ
る回路ブロック図を示したものである。
【0015】図1において、磁気ディスク装置21に使
用される磁気ヘッドは、磁気抵抗効果型の磁気ヘッド
(MRヘッド)22であり、MR素子の両端にセンス電
流を供給するための引き出し導体が形成されたもの、又
は引き出し導体の両外側に磁区制御部が形成され、MR
素子の裏面に中間層を介して軟磁性層が形成されたSA
L構造のものを要部構成とするものである。
【0016】このMRヘッド22の両端が、それぞれコ
ンデンサCを介して再生回路23の入力端に接続され
る。再生回路23の出力端は復調回路(図示せず)に接
続される。
【0017】そして、所定の電源回路(図示せず)に接
続されたセンス電流を接続するための定電圧回路(定電
流回路でもよい)24より固定抵抗25を介してMRヘ
ッド22の一端に接続される。また、MRヘッド22の
両端には、異常検出手段である異常検出回路26が接続
される。この異常検出回路26から出力される異常検出
信号が所定の回路(後述する)に送出される。
【0018】このような磁気ディスク装置21におい
て、定電圧回路24の電圧と、固定抵抗25及びMRヘ
ッド22の合成抵抗とで、該MRヘッド22に供給され
るセンス電流量が決定される。この場合、固定抵抗器2
5はセンス電流が信号再生や温度変化によってMRヘッ
ド22が抵抗変化の影響を受けないで一定となるように
設けるもので、MRヘッド22の抵抗値より十分大きい
値が選ばれる。
【0019】異常検出回路26は、MRヘッド22の両
端子間の電圧を検出しており、MRヘッド22の端子電
圧が所定の電圧値範囲のときに正常状態とする。従っ
て、MRヘッド22がエレクトロマイグレーションや放
電現象等で劣化して、端子電圧が基準電圧以上又は基準
電圧以下の場合に、異常検出回路26は異常検出信号を
発する。
【0020】そこで、図2に、図1の異常検出によるヘ
ッド退避の説明図を示す。図2は、記録媒体である磁気
ディスク31に対するMRヘッド22の概念図を示した
ものである。MRヘッド22はアクチュエータ32で可
動する支持アーム33の先端に、磁気ディスク31の記
録面に対向して取り付けられ、該磁気ディスク31の半
径方向に移動する。また、磁気ディスク31の外周方向
の所定位置に支持アーム33を載置してMRヘッド22
を退避させる退避用突起部34が設けられる。
【0021】アクチュエータ32は、アクチュエータ駆
動回路35により駆動され、該アクチュエータ駆動回路
35に退避信号発生回路35が接続される。この退避信
号発生回路35には異常検出回路26からの異常検出信
号が入力される。
【0022】いま、MRヘッド22の劣化により異常検
出回路26より退避信号発生回路35に異常検出信号が
送出されると、退避信号発生回路35はアクチュエータ
駆動回路36に対してMRヘッド22を退避する位置
(退避用突起部34の位置)にシークする電圧を発生さ
せる。
【0023】アクチュエータ駆動回路36では、アクチ
ュエータ32を駆動して磁気ディスク31の外周方向に
支持アーム33をシークさせ、該支持アーム33を持ち
上げて退避用突起部34上に載置させる。これにより、
MRヘッド22と磁気ディスク31が離れて、クラッシ
ュを未然に防止することができるものである。
【0024】なお、上述の退避用突起部34は、MRヘ
ッド22が正常時においても、駆動されないときにMR
ヘッドを退避させておくものである。従って、図1に示
すMRヘッド22の異常検出は、MRヘッド22による
再生時はもちろん、退避位置のときにおいても、センス
電流を供給することによって行うことができるものであ
る。
【0025】また、図3に、異常検出による非常停止の
説明図を示す。図3は、磁気ディスク31を回転駆動す
るスピンドルモータ41とMRヘッド22との駆動のブ
ロック図を示したものである。図3において、スピンド
ルモータ41はスピンドルモータ駆動回路42で回転駆
動されるもので、該スピンドルモータ駆動回路42は遅
延回路43を介して停止信号発生回路44に接続され
る。
【0026】また、停止信号発生回路44はMRヘッド
22にセンス電流を供給する定電圧回路24に接続され
る。この停止信号発生回路44には異常検出回路26よ
り異常検出信号が入力される。
【0027】いま、異常検出回路26からの異常検出信
号が停止信号発生回路44に入力されると停止信号が生
成され、定電圧回路24に出力されると共に、遅延回路
43を介してスピンドルモータ駆動回路42に出力され
る。そして、定電圧回路24がMRヘッド22へのセン
ス電流の供給を停止させ、スピンドルモータ駆動回路4
2がスピンドルモータ41を停止させる。
【0028】この場合、遅延回路43を介在させるの
は、センス電流の供給を停止した後にスピンドルモータ
41を停止させることで、センス電流が流れたままでM
Rヘッド22が磁気ディスク31の記録面に接触するの
を防止するためである。
【0029】これにより、MRヘッド22の磁気ディス
ク31へのクラッシュの発生を未然に防止することがで
きるものである。
【0030】また、異常検出信号により、MRヘッド2
2の退避、センス電流供給の停止、スピンドルモータ停
止を行わせることに限らず、警報を発するようにしても
よい。
【0031】なお、MRヘッド22の端子電圧が正常な
電圧値範囲で、再生可能な劣化しつつある状態の所定の
電圧範囲をさらに設定し、劣化しつつある状態を検出す
ることにより、オペレーティングシステムやディスクコ
ントロール機能で当該MRヘッド22により他の正常な
MRヘッドの記録面にデータを転送させてもよい。
【0032】次に、図4に、本発明の第2実施例の要部
ブロック図を示す。図4の磁気ディスク装置21は、異
常検出手段として比較回路51を用いたものである。比
較回路51の一方の入力端は、MRヘッド22の固定抵
抗25が接続されていない一端に接続されると共に、基
準抵抗52を介して接地される。
【0033】また、比較回路51の他方の入力端は基準
電圧Vrの電源53を介して接地される。そして、比較
回路51の出力が異常検出信号となる。なお、他の構成
は図1と同様である。
【0034】いま、MRヘッド22には定電圧回路24
から固定抵抗25を介してセンス電流が供給されるもの
で、このセンス電流により基準抵抗52に電圧が発生し
て比較回路51に入力される。MRヘッド22がエレク
トロマイグレーションや放電現象等で焼損、短絡の劣化
が生じた場合、基準抵抗52に発生する電圧と、電源5
3の基準電圧Vrとに電位差を生じることにより、比較
回路51から異常検出信号が出力される。
【0035】すなわち、基準抵抗52に発生する電圧
と、基準電圧Vrとの比較結果で劣化障害、断線障害、
短絡障害を分けることができ、信号に応じて装置の停
止、ヘッド退避、データの退避等を行うことにより、デ
ータの消失を最小限に抑制することができるものであ
る。
【0036】続いて、図5に、本発明の第3実施例の要
部ブロック図を示す。図5に示す磁気ディスク装置21
は、図4の比較回路51の一方の入力端を、MRヘッド
22の固定抵抗25側の一端と接続して、基準抵抗を省
略したもので、他の構成は図4と同様である。
【0037】本実施例は、MRヘッド22に供給される
センス電流によって該MRヘッド22で発生する電圧
と、基準電圧Vrとを比較回路51で比較するもので、
MRヘッド22の劣化で生じる電位差により異常検出信
号を出力するものである。
【0038】なお、第2及び第3実施例においても、前
述と同様に異常検出信号の出力により、MRヘッド22
を退避させ、センス電流の供給の停止やスピンドルモー
タ41の駆動停止を行うものである。
【0039】このように、MRヘッド22の劣化等によ
る異常を早期に検出することができ、クラッシュを防止
してデータ保全を図ることができると共に、再生時のみ
ならずMRヘッド22の退避時においても異常の早期検
出を行うことができる。
【0040】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、磁気抵抗
効果型の磁気ヘッドにおける劣化等の異常を、該磁気ヘ
ッドの通電状態から直接検出することにより、磁気ヘッ
ドの再生時、退避時に異常を早期に検出してクラッシュ
防止によるデータ保全を図ることができ、装置の信頼性
の向上を図ることができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例の要部ブロック図である。
【図2】図1の異常検出によるヘッド退避の説明図であ
る。
【図3】図1の異常検出による非常停止の説明図であ
る。
【図4】本発明の第2実施例の要部ブロック図である。
【図5】本発明の第3実施例の要部ブロック図である。
【図6】従来の磁気ディスク装置の要部ブロック図であ
る。
【符号の説明】
21 磁気ディスク装置 22 MRヘッド 23 再生回路 24 定電圧回路 25 固定抵抗 26 異常検出回路 31 磁気ディスク 32 アクチュエータ 33 支持アーム 41 スピンドルモータ 51 比較回路 52 基準抵抗 53 電源

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 記録媒体(31)に、磁気的に記録され
    た情報を、磁気抵抗効果型の磁気ヘッド(22)にセン
    ス電流を供給して読み出し、再生する構成を備える磁気
    ディスク装置において、 前記磁気ヘッド(22)の退避時及び再生駆動時に、該
    磁気ヘッド(22)の通電状態の変化を測定して異常検
    出を行い、異常検出信号を送出する異常検出手段(2
    6,51)を設けることを特徴とする磁気ディスク装
    置。
  2. 【請求項2】 前記異常検出手段(26,51)は、前
    記磁気ヘッドに流れる前記センス電流の変化、又は該磁
    気ヘッドの端子電圧の変化を測定することを特徴とする
    請求項1記載の磁気ディスク装置。
  3. 【請求項3】 前記異常検出手段(26,51)からの
    異常検出信号により、前記センス電流の供給を停止さ
    せ、前記記録媒体(31)の駆動を停止させることを特
    徴とする請求項1又は2記載の磁気ディスク装置。
  4. 【請求項4】 再生時に、前記異常検出手段(26,5
    1)からの異常検出信号により、前記磁気ヘッド(2
    2)を退避させることを特徴とする請求項1乃至3記載
    の磁気ディスク装置。
JP11302893A 1993-05-14 1993-05-14 磁気ディスク装置 Withdrawn JPH06325478A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1045385A1 (en) * 1999-04-13 2000-10-18 Texas Instruments Incorporated Information recording and reproduction apparatus and disk drive
US6738216B2 (en) * 2001-08-30 2004-05-18 Kabushiki Kaisha Toshiba Apparatus and method for head load control in disk drive
US6775078B2 (en) * 2001-09-14 2004-08-10 Texas Instruments Incorporated Fast magneto-resistive head open and short detection for both voltage and current bias preamplifiers
KR100440794B1 (ko) * 1997-05-23 2004-09-18 삼성전자주식회사 자기저항 헤드의 자기저항 센서 고유저항 측정 방법
JP2014071926A (ja) * 2012-09-28 2014-04-21 Hitachi High-Technologies Corp ディスク検査装置及びその方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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