JPH063260A - 分別方法及び分別装置 - Google Patents
分別方法及び分別装置Info
- Publication number
- JPH063260A JPH063260A JP4159181A JP15918192A JPH063260A JP H063260 A JPH063260 A JP H063260A JP 4159181 A JP4159181 A JP 4159181A JP 15918192 A JP15918192 A JP 15918192A JP H063260 A JPH063260 A JP H063260A
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- electromagnetic wave
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- spectrum
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 有機材料を高効率に識別し、廃プラスチック
の有効活用を促進させる有機物の非接触分別器を提供す
る。 【構成】 光源１から発生した電磁波を、試料２に照射
し、試料２からの反射光または蛍光を、集・分光器３で
集光分光し、アレイセンサ４で受光し、信号処理系５で
スペクトルを電気信号に変換し、演算部６で特徴波長を
抽出演算し、メモリ７のデ−タと照合して、識別し分別
する。
の有効活用を促進させる有機物の非接触分別器を提供す
る。 【構成】 光源１から発生した電磁波を、試料２に照射
し、試料２からの反射光または蛍光を、集・分光器３で
集光分光し、アレイセンサ４で受光し、信号処理系５で
スペクトルを電気信号に変換し、演算部６で特徴波長を
抽出演算し、メモリ７のデ−タと照合して、識別し分別
する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、物体の識別を行う物質
分別に関し、特に非接触で物体の識別分別を行う方法及
び装置に関する。
分別に関し、特に非接触で物体の識別分別を行う方法及
び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、廃棄物などの識別は、金属材料で
は磁石による分別、融点の差による分別、電磁力による
分別などにより比較的高効率に選別が行われている。一
方、有機材料は、金属材料の様な物性の差を利用出来な
いので、その分別はほとんど行われていない。
は磁石による分別、融点の差による分別、電磁力による
分別などにより比較的高効率に選別が行われている。一
方、有機材料は、金属材料の様な物性の差を利用出来な
いので、その分別はほとんど行われていない。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、有機材
料を高効率に識別する方法が無いため、廃プラスチック
の有効活用が出来ていない。
料を高効率に識別する方法が無いため、廃プラスチック
の有効活用が出来ていない。
【０００４】本発明は、有機材料の種類を高効率に非接
触で識別する方法、並びに識別分別装置を提供すること
を目的とする。
触で識別する方法、並びに識別分別装置を提供すること
を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】物体からの電磁波を検出
することで物体の選別を行う分別装置を構成する。
することで物体の選別を行う分別装置を構成する。
【０００６】
【作用】物質はその物質に固有の光スペクトルを持って
いる。そこで、物質に例えば連続波長の赤外線領域の光
を照射し、物質からの反射光を検出する。分光器で分光
すれば物質の種類ごとに異なる特徴的なパターンが得ら
れる。このパターン、あるいはパターンの特徴を抽出す
ることで物質の同定を行えば、非接触で効率よく物質の
同定を行うことができる。
いる。そこで、物質に例えば連続波長の赤外線領域の光
を照射し、物質からの反射光を検出する。分光器で分光
すれば物質の種類ごとに異なる特徴的なパターンが得ら
れる。このパターン、あるいはパターンの特徴を抽出す
ることで物質の同定を行えば、非接触で効率よく物質の
同定を行うことができる。
【０００７】特に有機材料では赤外領域に固有のスペク
トルを持っているものが多く、赤外領域の電磁波を用い
ることは、有機物質の同定に有効である。ここで、反射
光の検出は連続的に行う必要はなく、特定の波長を選択
的に検出してもよい。また、入射光も連続光である必要
はなく、特定の波長の入射光を用いることも可能であ
る。さらに、反射光ばかりでなく、紫外域の入射光を用
いて、物質からの蛍光を検出する事で同様の分析が出来
ることは明かである。
トルを持っているものが多く、赤外領域の電磁波を用い
ることは、有機物質の同定に有効である。ここで、反射
光の検出は連続的に行う必要はなく、特定の波長を選択
的に検出してもよい。また、入射光も連続光である必要
はなく、特定の波長の入射光を用いることも可能であ
る。さらに、反射光ばかりでなく、紫外域の入射光を用
いて、物質からの蛍光を検出する事で同様の分析が出来
ることは明かである。
【０００８】
【実施例】図１に本発明の一実施例で作製した分別装置
のブロック図を示す。図１のブロック図により、本発明
の分別装置の動作原理を説明する。光源１からの赤外光
を試料２に照射し、試料２からの反射光を集・分光器３
により集光・分光し、得られたスペクトルをアレイセン
サ４で受光し、信号処理系５によりスペクトルを電気信
号に変換し、演算部６でメモリ７に蓄えられたデータベ
ースとスペクトルを比較することで物質の同定を行う。
のブロック図を示す。図１のブロック図により、本発明
の分別装置の動作原理を説明する。光源１からの赤外光
を試料２に照射し、試料２からの反射光を集・分光器３
により集光・分光し、得られたスペクトルをアレイセン
サ４で受光し、信号処理系５によりスペクトルを電気信
号に変換し、演算部６でメモリ７に蓄えられたデータベ
ースとスペクトルを比較することで物質の同定を行う。
【０００９】本発明で使用する電磁波とは、例えば赤外
光、可視光、紫外光またはＸ線等のいわゆる電磁波であ
る。但し、本発明の分別方法または分別装置は、有機物
質に対して適用するため、一般的には電磁波発生源から
紫外光を発生させ照射した試料から得られる蛍光を検出
するか、または電磁波発生源から赤外光を発生させ照射
した試料からの反射光を検出する手法が好ましい。
光、可視光、紫外光またはＸ線等のいわゆる電磁波であ
る。但し、本発明の分別方法または分別装置は、有機物
質に対して適用するため、一般的には電磁波発生源から
紫外光を発生させ照射した試料から得られる蛍光を検出
するか、または電磁波発生源から赤外光を発生させ照射
した試料からの反射光を検出する手法が好ましい。
【００１０】試料から発生した電磁波を、集光・分光す
る集・分光器３を設けると、波長スペクトルに変換でき
るだけでなく、検出感度が向上するため好ましい。特に
試料物体の表面からの反射光または蛍光を分光器により
波長スペクトルに変換し、特定の波長強度を検出器で検
出すると、特定物体の同定がより正確になるため好まし
い。さらに、試料中の物体の表面からの反射光または蛍
光を分光器により波長スペクトルに変換し、検出器で反
射波の波長スペクトルのプロファイルを検出すると、特
定物体の認識精度が向上するため好ましい。
る集・分光器３を設けると、波長スペクトルに変換でき
るだけでなく、検出感度が向上するため好ましい。特に
試料物体の表面からの反射光または蛍光を分光器により
波長スペクトルに変換し、特定の波長強度を検出器で検
出すると、特定物体の同定がより正確になるため好まし
い。さらに、試料中の物体の表面からの反射光または蛍
光を分光器により波長スペクトルに変換し、検出器で反
射波の波長スペクトルのプロファイルを検出すると、特
定物体の認識精度が向上するため好ましい。
【００１１】光源１から発生する電磁波としては、赤外
線からＸ線領域まで挙げられ、何れの波長領域を用いて
も良いが、波長範囲が２μｍ〜２０μｍの赤外光を適用
すると、有機物質に特徴的なシグナルが得られるため好
ましい。また、電磁波が例えば輝線スペクトルを有する
場合等には、複数種の輝線スペクトルを有する電磁波を
照射すると、特定物体を正確に識別できるため好まし
い。さらに、光源の電磁波の波長が連続していると、そ
の連続した領域内で特徴的な波長だけに注目できるた
め、好ましい。
線からＸ線領域まで挙げられ、何れの波長領域を用いて
も良いが、波長範囲が２μｍ〜２０μｍの赤外光を適用
すると、有機物質に特徴的なシグナルが得られるため好
ましい。また、電磁波が例えば輝線スペクトルを有する
場合等には、複数種の輝線スペクトルを有する電磁波を
照射すると、特定物体を正確に識別できるため好まし
い。さらに、光源の電磁波の波長が連続していると、そ
の連続した領域内で特徴的な波長だけに注目できるた
め、好ましい。
【００１２】（実施例１）光源１より波長２〜２０μｍ
の連続の赤外線を試料２に照射した。試料２として５ｃ
ｍ角のプラスチック板５種類（塩化ビニル、ポリプロピ
レン、ウレタン、ポリエチレン、ポリスチレン）を、そ
れぞれ１０００枚ずつでたらめに混ぜた計５０００枚を
試料搬送装置に乗せ、連続的に試料の識別を行った。ア
レイセンサ４で受光した赤外光を信号処理系５でスペク
トルに変換し、変換したスペクトルの特徴波長を演算部
６で抽出し、メモリ７に格納したデ−タと照合して、識
別し分別した。なお、演算部６及びメモリ７には、市販
の１６ビットパーソナルコンピュータを用いた。
の連続の赤外線を試料２に照射した。試料２として５ｃ
ｍ角のプラスチック板５種類（塩化ビニル、ポリプロピ
レン、ウレタン、ポリエチレン、ポリスチレン）を、そ
れぞれ１０００枚ずつでたらめに混ぜた計５０００枚を
試料搬送装置に乗せ、連続的に試料の識別を行った。ア
レイセンサ４で受光した赤外光を信号処理系５でスペク
トルに変換し、変換したスペクトルの特徴波長を演算部
６で抽出し、メモリ７に格納したデ−タと照合して、識
別し分別した。なお、演算部６及びメモリ７には、市販
の１６ビットパーソナルコンピュータを用いた。
【００１３】試料２の種類を上記５種類に限定したの
で、１試料の判別時間は約０．２秒であった。結果は全
てのプラスチック板を間違いなく識別できた。
で、１試料の判別時間は約０．２秒であった。結果は全
てのプラスチック板を間違いなく識別できた。
【００１４】（実施例２）光源１として波長３０８ｎｍ
のＸｅＣｌエキシマレーザを用い、紫外光により励起さ
れた試料の蛍光を実施例１と同様に検出して、実施例１
と同じ試料２について物体を識別し分別を行った。
のＸｅＣｌエキシマレーザを用い、紫外光により励起さ
れた試料の蛍光を実施例１と同様に検出して、実施例１
と同じ試料２について物体を識別し分別を行った。
【００１５】実施例１と同様に１試料の判別時間は約
０．２秒で、全数間違いなく識別できた。
０．２秒で、全数間違いなく識別できた。
【００１６】上記実施例では演算部６、メモリ７とし
て、市販の１６ビットパーソナルコンピュータを用いた
が、専用のＩＣ化を行えばさらに高速で動作させること
が出来る。
て、市販の１６ビットパーソナルコンピュータを用いた
が、専用のＩＣ化を行えばさらに高速で動作させること
が出来る。
【００１７】本実施例以外の電磁波を用い、特定の波長
の特徴を抽出するなどの方法を用いた分別方法も容易に
実施出来ることは明かである。
の特徴を抽出するなどの方法を用いた分別方法も容易に
実施出来ることは明かである。
【００１８】
【発明の効果】本発明は、物体から発生した電磁波を検
出し物体を分別する分別方法及び分別装置であるため、
プラスチックの分別を非接触で簡便に行える分別装置が
提供出来る。本発明の分別方法または分別装置を用いる
と、従来その分別が困難で、再利用が遅れていたプラス
チックのリサイクルが促進される効果がある。
出し物体を分別する分別方法及び分別装置であるため、
プラスチックの分別を非接触で簡便に行える分別装置が
提供出来る。本発明の分別方法または分別装置を用いる
と、従来その分別が困難で、再利用が遅れていたプラス
チックのリサイクルが促進される効果がある。
【図１】本発明の実施例で作製した分別装置のブロック
図
図
１ 光源 ２ 試料 ３ 集分光器 ４ アレイセンサ ５ 信号処理回路 ６ 演算装置 ７ メモリ
Claims (5)
- 【請求項１】物体からの発生する電磁波を検出し、前記
物体を分別することを特徴とする分別方法。 - 【請求項２】電磁波の発生源と電磁波の検出器とを少な
くとも備え、前記発生源から発生した電磁波を試料に照
射し、前記試料から発生した電磁波を前記検出器で検出
し分別することを特徴とする分別装置。 - 【請求項３】試料から発生した電磁波を分光する分光器
を介して検出器で検出する、請求項２記載の分別装置。 - 【請求項４】検出器で検出する電磁波が、試料からの反
射波であることを特徴とした、請求項２または３何れか
に記載の分別装置。 - 【請求項５】検出器で検出する電磁波が、試料からの蛍
光であることを特徴とした、請求項２または３何れかに
記載の分別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4159181A JPH063260A (ja) | 1992-06-18 | 1992-06-18 | 分別方法及び分別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4159181A JPH063260A (ja) | 1992-06-18 | 1992-06-18 | 分別方法及び分別装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH063260A true JPH063260A (ja) | 1994-01-11 |
Family
ID=15688081
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4159181A Pending JPH063260A (ja) | 1992-06-18 | 1992-06-18 | 分別方法及び分別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH063260A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001025755A1 (en) * | 1999-10-04 | 2001-04-12 | Idec Izumi Corporation | Apparatus and method for judging plastic |
| DE10344734A1 (de) * | 2003-09-26 | 2005-05-04 | Audi Ag | Kugelgelenk-Anordnung für die Zahnstangenlenkung eine Kraftfahrzeuges |
-
1992
- 1992-06-18 JP JP4159181A patent/JPH063260A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001025755A1 (en) * | 1999-10-04 | 2001-04-12 | Idec Izumi Corporation | Apparatus and method for judging plastic |
| US6624417B1 (en) | 1999-10-04 | 2003-09-23 | Idec Izumi Corporation | Apparatus and method for judging plastic |
| EP1148331A4 (en) * | 1999-10-04 | 2006-04-12 | Idec Izumi Corp | APPARATUS AND METHOD FOR EVALUATING A PLASTIC |
| DE10344734A1 (de) * | 2003-09-26 | 2005-05-04 | Audi Ag | Kugelgelenk-Anordnung für die Zahnstangenlenkung eine Kraftfahrzeuges |
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