JPH0633073U - 同軸プローブコンタクトピン接続端子 - Google Patents

同軸プローブコンタクトピン接続端子

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JPH0633073U
JPH0633073U JP7062392U JP7062392U JPH0633073U JP H0633073 U JPH0633073 U JP H0633073U JP 7062392 U JP7062392 U JP 7062392U JP 7062392 U JP7062392 U JP 7062392U JP H0633073 U JPH0633073 U JP H0633073U
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JP
Japan
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contact pin
probe contact
connection terminal
tube
conductor
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Withdrawn
Application number
JP7062392U
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Inventor
和成 菅
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 外径を減少せしめて実装密度を向上した同軸
プローブコンタクトピン接続端子を提供する。 【構成】 内導体であるプローブコンタクトピン10の
ソケットチューブ31の外径と外導体であるアウターチ
ューブ22の内径との間をアウターチューブ22とソケ
ットチューブ31との間の2箇所に設けた絶縁体スペー
サ60により保持して空洞にすることにより内導体と外
導体との間の全体の比誘電率εr を減少せしめた同軸プ
ローブコンタクトピン接続端子。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は、同軸プローブコンタクトピン接続端子に関し、特に、外径を小と した同軸プローブコンタクトピン接続端子に関する。
【0002】
【従来の技術】
高精度の電気信号を伝送する場合、同軸プローブコンタクトピン接続端子につ いてもその特性インピーダンスを厳密に維持する必要がある。 ここで、特性インピーダンス:Z0 は下記の通りである。 Z0 =(60/√εr )ln R2/R1 (1) ここで、R1 :内導体の外径、R2 :外導体の内径、εr :絶縁体の比誘電率 である。
【0003】 同軸プローブコンタクトピン接続端子の実装密度を向上するために、接続端子 の外径を小としなければならない。接続端子の外径を小とする場合、即ちその内 径R2 を小とするに際して特性インピーダンスZ0 はそのまま一定に保持しなけ ればならないことは言うまでもない。式(1)において、内径R2 を減少せしめ て特性インピーダンスZ0 はそのまま一定に保持するには、外径R1 および絶縁 体の比誘電率εr を減少傾向にする必要がある。
【0004】 外径R1 を減少傾向にするというが、これは同軸プローブコンタクトピン接続 端子1においてそのプローブコンタクトピンの外径を減少せしめることである。 しかし、プローブコンタクトピンとして、従来、図3に示される様なものが使用 されていて、その外径を減少することは種々の理由で容易なことでははい。 これを図3を参照して説明するに、1は同軸プローブコンタクトピン接続端子 全体を示す。この同軸プローブコンタクトピン接続端子1は、同軸ケーブル40 の内導体41に接続する内導体用コンタクト部であるプローブコンタクトピン1 0、同軸ケーブル40の外導体42に接続する外導体用コンタクト部20、およ びプローブコンタクトピン10と外導体用コンタクト部20との間に介在して両 者を電気的に絶縁する絶縁体30より成る。31はソケットチューブであり、プ ローブコンタクトピン10に電気的機械的に結合すると共にこれを保持し、更に 同軸ケーブル40の内導体41が例えば半田付けにより電気的に接続せしめられ る。
【0005】 プローブコンタクトピン10は、先端にチップを有するプランジャ11、ボー ル121 、スプリング13、ボール122 、およびこれらを図示される通りに軸 方向に摺動可能に配列保持するはチューブ14より成る。スプリング13はプラ ンジャ11をボール121 を介してチューブ14に関して相対的に左方に駆動す るバイアス用のスプリングである。
【0006】 外導体用コンタクト部20はアウターリング21、アウターチューブ22、お よびアウタースプリング23より成る。アウタースプリング23はアウターリン グ21をアウターチューブ22に関して相対的に左方に駆動するスプリングであ る。アウターチューブ22には同軸ケーブル40の外導体42が例えば半田付け により電気的に接続せしめられる。
【0007】
【考案が解決しようとする課題】
上述のプローブコンタクトピン10は、プランジャ11、ボール121 、スプ リング13、ボール122 、およびこれらを図示される通りに軸方向に摺動可能 に配列保持するはチューブ14より成るものであって形状構造の複雑なものであ るところから、その外径を減少することは一般に容易なことではない。
【0008】 この考案は、同軸プローブコンタクトピン接続端子の内導体と外導体との間に 存在する絶縁体の比誘電率εr を減少傾向にすることにより外径を減少した同軸 プローブコンタクトピン接続端子を提供するものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】 内導体であるプローブコンタクトピン10のソケットチューブ31の外径と外 導体であるアウターチューブ22の内径との間をアウターチューブ22とソケッ トチューブ31との間の2箇所に設けた絶縁体スペーサにより保持して空洞にす ることにより内導体と外導体との間の全体の比誘電率εr を減少せしめた同軸プ ローブコンタクトピン接続端子を構成した。
【0010】
【実施例】
この考案の実施例を図1を参照して説明する。 内導体であるプローブコンタクトピン10のソケットチューブ31の外径と外 導体であるアウターチューブ22の内径との間をアウターチューブ22とソケッ トチューブ31との間の2箇所に設けた絶縁体スペーサにより保持して空洞にす ることにより内導体と外導体との間の全体の比誘電率εr を減少せしめる。
【0011】 そして、プローブコンタクトピン10としては、最近当該実用新案登録出願人 の開発した図2に示される様なプローブコンタクトピンも採用することができる 。ここで、11はプランジャ、15はスパイラルスプリング、16はシャフト、 31はソケットチューブである。
【0012】
【考案の効果】
以上の通りであって、この考案の同軸プローブコンタクトピン接続端子はアウ ターチューブ22とソケットチューブ31との間の2箇所に設けた絶縁体スペー サ60により両者間の絶縁間隙を保持するものであるからその大部分は大気によ り占有され、間隙が大気以外の絶縁体により占有される場合と比較して間隙全体 の比誘電率を小さくすることができる。従って、アウターチューブ22とソケッ トチューブ31との間の間隙全体の比誘電率を小さくすることができた分だけ、 これに対応して同軸プローブコンタクトピン接続端子の外径を減少せしめること ができる。これは同軸プローブコンタクトピン接続端子の実装密度を向上するこ とにつながる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この考案の同軸プローブコンタクトピン接続端
子を示す図。
【図2】プローブコンタクトピンの一例を示す図。
【図3】従来例を示す図。
【符号の説明】
10 内導体であるプローブコンタクトピン 22 外導体であるアウターチューブ 31 ソケットチューブ 60 絶縁体スペーサ

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内導体であるプローブコンタクトピンの
    ソケットチューブの外径と外導体であるアウターチュー
    ブの内径との間をアウターチューブとソケットチューブ
    との間の2箇所に設けた絶縁体スペーサにより保持して
    空洞にすることにより内導体と外導体との間の全体の比
    誘電率を減少せしめたことを特徴とする同軸プローブコ
    ンタクトピン接続端子。
JP7062392U 1992-10-09 1992-10-09 同軸プローブコンタクトピン接続端子 Withdrawn JPH0633073U (ja)

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JPH0633073U true JPH0633073U (ja) 1994-04-28

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ID=13436936

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JP7062392U Withdrawn JPH0633073U (ja) 1992-10-09 1992-10-09 同軸プローブコンタクトピン接続端子

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001073451A1 (en) * 2000-03-28 2001-10-04 Matsushita Electric Works, Ltd. High frequency circuit impedance measuring probe for inner-layer-containing laminated sheet used for multi-layer printed board

Cited By (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001073451A1 (en) * 2000-03-28 2001-10-04 Matsushita Electric Works, Ltd. High frequency circuit impedance measuring probe for inner-layer-containing laminated sheet used for multi-layer printed board

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Effective date: 19970306