JPH06331350A - カメラの測距装置 - Google Patents
カメラの測距装置Info
- Publication number
- JPH06331350A JPH06331350A JP12562093A JP12562093A JPH06331350A JP H06331350 A JPH06331350 A JP H06331350A JP 12562093 A JP12562093 A JP 12562093A JP 12562093 A JP12562093 A JP 12562093A JP H06331350 A JPH06331350 A JP H06331350A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- pair
- measuring device
- distance measuring
- camera
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、改良されたカメラの測距装置、特に
基線長を有するパッシブタイプの一組の結像光学系と一
組の受光素子とを有し、被写体光以外の外光を効果的に
遮光したカメラの測距装置を提供する。 【構成】本発明は、基線長離れて配設された一組の結像
レンズと、それぞれの光軸に沿って配設された第一反射
面と第二反射面と、近接配置された一組の受光素子とか
ら成る一組の結像光学系を有し、一方の結像光学系によ
って形成される物体像と他方の結像光学系において形成
される物体像との相対的位置関係により被写体距離を検
出する測距装置であって、各受光素子を各第一、第二反
射面よりも被写体側に配置したカメラの測距装置であ
る。
基線長を有するパッシブタイプの一組の結像光学系と一
組の受光素子とを有し、被写体光以外の外光を効果的に
遮光したカメラの測距装置を提供する。 【構成】本発明は、基線長離れて配設された一組の結像
レンズと、それぞれの光軸に沿って配設された第一反射
面と第二反射面と、近接配置された一組の受光素子とか
ら成る一組の結像光学系を有し、一方の結像光学系によ
って形成される物体像と他方の結像光学系において形成
される物体像との相対的位置関係により被写体距離を検
出する測距装置であって、各受光素子を各第一、第二反
射面よりも被写体側に配置したカメラの測距装置であ
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はカメラの測距装置に関
し、特に基線長を有するパッシブタイプの一組の結像光
学系と一組の受光素子とを有し、被写体以外からの有害
光を効果的に遮光したカメラの測距装置に関する。
し、特に基線長を有するパッシブタイプの一組の結像光
学系と一組の受光素子とを有し、被写体以外からの有害
光を効果的に遮光したカメラの測距装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、物体像を視差を有する複数の光学
系で受光し、被写体距離を検出するパッシブタイプの測
距装置はよく知られており、一般に図2のような構成が
とられている。すなわち、被写体からの光dは結像レン
ズ11を通過した後、第一反射面13と第二反射面15
により、図2に示されるようにクランク型に曲げられて
受光素子17上に物体像を形成する。また光d’も同様
に結像レンズ12、第一反射面14、第二反射面16を
経て受光素子18上に物体像を形成し、前記物体像との
相対的距離から被写体距離を算出する。
系で受光し、被写体距離を検出するパッシブタイプの測
距装置はよく知られており、一般に図2のような構成が
とられている。すなわち、被写体からの光dは結像レン
ズ11を通過した後、第一反射面13と第二反射面15
により、図2に示されるようにクランク型に曲げられて
受光素子17上に物体像を形成する。また光d’も同様
に結像レンズ12、第一反射面14、第二反射面16を
経て受光素子18上に物体像を形成し、前記物体像との
相対的距離から被写体距離を算出する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし従来の技術にお
いては、第一および第二反射面で反射せず、結像レンズ
から直接受光素子に到達する光e、または同様にして光
e’が誤測距や測距性能の低下を引き起こすという問題
がある。このような直接入射光を防ぐ方法は多数提案さ
れており、例えば実開平4−96708においては遮光
板を受光素子に垂直に立てることにより、直接光を防ぐ
機能を持たせていた。しかしながら、これら従来の遮光
方法では部品点数が増えるという問題があった。その他
には図2のように光路内にマスク19〜22を設けて遮
光する方法も見られるが、有効光路を遮るために測距性
能が低下する恐れがある。更に受光素子が突出するため
スペース効率が低下するという問題もある。
いては、第一および第二反射面で反射せず、結像レンズ
から直接受光素子に到達する光e、または同様にして光
e’が誤測距や測距性能の低下を引き起こすという問題
がある。このような直接入射光を防ぐ方法は多数提案さ
れており、例えば実開平4−96708においては遮光
板を受光素子に垂直に立てることにより、直接光を防ぐ
機能を持たせていた。しかしながら、これら従来の遮光
方法では部品点数が増えるという問題があった。その他
には図2のように光路内にマスク19〜22を設けて遮
光する方法も見られるが、有効光路を遮るために測距性
能が低下する恐れがある。更に受光素子が突出するため
スペース効率が低下するという問題もある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、従来技術のこ
れらの問題点を解決することを目的とし、基線長離れて
配設された一組の結像レンズと、それぞれの光軸に沿っ
て配設された第一反射面と第二反射面と、近接配置され
た一組の受光素子とから成る一組の結像光学系を有し、
一方の結像光学系によって形成される物体像と他方の結
像光学系において形成される物体像との相対的位置関係
により被写体距離を検出する測距装置であって、各受光
素子を各第一、第二反射面よりも被写体側に配置したカ
メラの測距装置を提供する。
れらの問題点を解決することを目的とし、基線長離れて
配設された一組の結像レンズと、それぞれの光軸に沿っ
て配設された第一反射面と第二反射面と、近接配置され
た一組の受光素子とから成る一組の結像光学系を有し、
一方の結像光学系によって形成される物体像と他方の結
像光学系において形成される物体像との相対的位置関係
により被写体距離を検出する測距装置であって、各受光
素子を各第一、第二反射面よりも被写体側に配置したカ
メラの測距装置を提供する。
【0005】
【実施例】以下図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。図1は本発明の実施例の構成の概略断面図であり、
物体像を視差を有する複数の光学系で受光し被写体距離
を検出するパッシブタイプの測距装置を示し、図におい
てa、a’は被写体からの光(光軸)であり、かつこの
光軸間隔が基線長となる。b、b’、c、c’は前方斜
め方向から侵入してくる被写体以外からの有害光であ
る。
る。図1は本発明の実施例の構成の概略断面図であり、
物体像を視差を有する複数の光学系で受光し被写体距離
を検出するパッシブタイプの測距装置を示し、図におい
てa、a’は被写体からの光(光軸)であり、かつこの
光軸間隔が基線長となる。b、b’、c、c’は前方斜
め方向から侵入してくる被写体以外からの有害光であ
る。
【0006】1、2は結像レンズであり、被写体からの
光を結像させる働きをする。3、4は金属蒸着等により
形成される第一反射面であり、3は被写体方向から結像
レンズ1を通過してきた光を5の方向に全反射するよう
に配置され、4は結像レンズ2を通過してきた光を6の
方向に全反射するように配置される。5、6はプリズム
に金属蒸着等を施して形成された第2反射面であり、
5、6がそれぞれ3、4の方向から来た光を被写体方向
に全反射するように配置される。7、8は受光素子であ
り、結像レンズと結像レンズの間に図のように配置され
る。
光を結像させる働きをする。3、4は金属蒸着等により
形成される第一反射面であり、3は被写体方向から結像
レンズ1を通過してきた光を5の方向に全反射するよう
に配置され、4は結像レンズ2を通過してきた光を6の
方向に全反射するように配置される。5、6はプリズム
に金属蒸着等を施して形成された第2反射面であり、
5、6がそれぞれ3、4の方向から来た光を被写体方向
に全反射するように配置される。7、8は受光素子であ
り、結像レンズと結像レンズの間に図のように配置され
る。
【0007】被写体から発した光aは結像レンズ1を通
過した後、第一反射面3と第二反射面5によって図の如
きコの字型に曲げられて受光素子7に達して物体像を形
成する。同様に光a’は結像レンズ2、第一反射面4、
第二反射面6を通って受光素子8に達して物体像を形成
する。そして受光素子7上の物体像と受光素子8上の物
体像との相対的位置関係から被写体距離を検出する。こ
のときの光e、e’のように結像レンズから直接に受光
素子に入射する光は存在しない。また、前方斜め方向か
らの有害光b、b’、c、c’が考えられるが、図のよ
うに受光素子には到達しない。
過した後、第一反射面3と第二反射面5によって図の如
きコの字型に曲げられて受光素子7に達して物体像を形
成する。同様に光a’は結像レンズ2、第一反射面4、
第二反射面6を通って受光素子8に達して物体像を形成
する。そして受光素子7上の物体像と受光素子8上の物
体像との相対的位置関係から被写体距離を検出する。こ
のときの光e、e’のように結像レンズから直接に受光
素子に入射する光は存在しない。また、前方斜め方向か
らの有害光b、b’、c、c’が考えられるが、図のよ
うに受光素子には到達しない。
【0008】
【発明の効果】以上説明したように本発明の構成によれ
ば、測距に必要な被写体からの光は有効に受光素子に到
達し、被写体以外からの有害光は遮光されて受光素子に
は到達しない。かつ装置全体がコンパクトに構成され
る。
ば、測距に必要な被写体からの光は有効に受光素子に到
達し、被写体以外からの有害光は遮光されて受光素子に
は到達しない。かつ装置全体がコンパクトに構成され
る。
【図1】本発明の実施例を示す断面略図。
【図2】従来技術の実施例を示す断面略図。
1、2、11、12 結像レンズ 3、4、13、14 第一反射面 5、6、15、16 第2反射面 7、8、17、18 受光素子 19、20、21、22 遮光マスク a、a’、d、d’ 被写体からの光 b、b’、c、c’、e、e’ 有害光
Claims (1)
- 【請求項1】基線長離れて配設された一組の結像レンズ
と、それぞれの光軸に沿って配設された第一反射面と第
二反射面と、近接配置された一組の受光素子とから成る
一組の結像光学系を有し、一方の結像光学系によって形
成される物体像と他方の結像光学系によって形成される
物体像との相対的位置関係により被写体距離を検出する
測距装置において、各受光素子を各第一、第二反射面よ
りも被写体側に配置したことを特徴とするカメラの測距
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12562093A JP3152795B2 (ja) | 1993-05-27 | 1993-05-27 | カメラの測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12562093A JP3152795B2 (ja) | 1993-05-27 | 1993-05-27 | カメラの測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06331350A true JPH06331350A (ja) | 1994-12-02 |
| JP3152795B2 JP3152795B2 (ja) | 2001-04-03 |
Family
ID=14914584
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12562093A Expired - Fee Related JP3152795B2 (ja) | 1993-05-27 | 1993-05-27 | カメラの測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3152795B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010507079A (ja) * | 2006-10-16 | 2010-03-04 | フラウンホッファー−ゲゼルシャフト ツァー フェーデルング デア アンゲバンテン フォルシュング エー ファー | 三次元輪郭の非接触検出のための装置および方法 |
-
1993
- 1993-05-27 JP JP12562093A patent/JP3152795B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010507079A (ja) * | 2006-10-16 | 2010-03-04 | フラウンホッファー−ゲゼルシャフト ツァー フェーデルング デア アンゲバンテン フォルシュング エー ファー | 三次元輪郭の非接触検出のための装置および方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3152795B2 (ja) | 2001-04-03 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |