JPH0633962U - 半導体単結晶製造装置 - Google Patents
半導体単結晶製造装置Info
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- JPH0633962U JPH0633962U JP7681992U JP7681992U JPH0633962U JP H0633962 U JPH0633962 U JP H0633962U JP 7681992 U JP7681992 U JP 7681992U JP 7681992 U JP7681992 U JP 7681992U JP H0633962 U JPH0633962 U JP H0633962U
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 引き上げ単結晶を取り囲む輻射スクリーンを
融液近傍上方に備えた単結晶製造装置において、周方向
の熱バランスの崩れを最小に抑え、不活性ガスの流れを
乱すことなく、るつぼの内壁周辺を直接観察することが
できるようにする。 【構成】 アッパチャンバ2に覗き窓3を設けるととも
に、輻射スクリーン上部のフランジ11aに観察窓12
を設け、覗き窓3と観察窓12とを通して炉内を観察す
る。観察窓12は、前記覗き窓3に対して水平方向にθ
(θ=10〜80°)だけずれた位置に設け、フランジ
11aに直接または黒鉛製窓枠を介して石英ガラスをは
め込むものとし、前記石英ガラスは1枚ないし多層構成
とする。観察窓12を小さくしても炉内状況を十分観察
することができるとともに、観察窓12からの熱損失を
抑えることにより熱バランスの崩れを最小に抑えること
ができ、不活性ガスの流れを乱すことがない。
融液近傍上方に備えた単結晶製造装置において、周方向
の熱バランスの崩れを最小に抑え、不活性ガスの流れを
乱すことなく、るつぼの内壁周辺を直接観察することが
できるようにする。 【構成】 アッパチャンバ2に覗き窓3を設けるととも
に、輻射スクリーン上部のフランジ11aに観察窓12
を設け、覗き窓3と観察窓12とを通して炉内を観察す
る。観察窓12は、前記覗き窓3に対して水平方向にθ
(θ=10〜80°)だけずれた位置に設け、フランジ
11aに直接または黒鉛製窓枠を介して石英ガラスをは
め込むものとし、前記石英ガラスは1枚ないし多層構成
とする。観察窓12を小さくしても炉内状況を十分観察
することができるとともに、観察窓12からの熱損失を
抑えることにより熱バランスの崩れを最小に抑えること
ができ、不活性ガスの流れを乱すことがない。
Description
【0001】
本考案は、チョクラルスキー法による半導体単結晶製造装置に関する。
【0002】
半導体集積回路の基本材料であるシリコン単結晶の製造方法の一つとして、る つぼ内の原料融液から円柱状の単結晶を引き上げるチョクラルスキー法(以下C Z法という)が用いられている。CZ法においては、単結晶製造装置のチャンバ 内に設置したるつぼに原料である多結晶を充填し、前記るつぼの外周に設けたヒ ータによって原料を加熱溶解した上、シードチャックに取り付けた種子結晶を融 液に浸漬し、シードチャックおよびるつぼを同方向または逆方向に回転しつつシ ードチャックを引き上げて単結晶を成長させる。このような単結晶製造装置にお いて、単結晶の引き上げ速度を早めるとともに不純物による汚染を防止して単結 晶の無転位化を向上させる手段として、単結晶引き上げ領域の周囲に輻射スクリ ーンを配設することが知られている。前記輻射スクリーンは単結晶引き上げ領域 を取り巻く熱遮蔽体で、一般に下端開口部の直径が上端開口部の直径より小さい 円錐状の筒である。輻射スクリーンは融液、ヒータ、るつぼ等から単結晶に加え られる輻射熱を遮断するとともに、チャンバ上方から導入される不活性ガスを引 き上げ単結晶の周囲に誘導し、るつぼ中心部から周縁部を経てチャンバ下方に至 るガス流を形成させることによって、単結晶の冷却ならびに融液から発生する酸 化珪素や黒鉛るつぼから発生する金属蒸気等、単結晶化を阻害するガスを排除す る機能を備えている。
【0003】 原料多結晶の溶解と、これに続く単結晶の引き上げ工程においては、石英るつ ぼの変形による輻射スクリーンと石英るつぼとの干渉、原料多結晶の石英るつぼ 内壁への付着、るつぼ温度の低下によって発生する融液と石英るつぼとの接触面 における結晶成長等、種々のトラブルが発生することがある。輻射スクリーンは 単結晶の品質ならびに生産性を向上させる効果があるが、輻射スクリーンを設置 することによって単結晶引き上げ領域の周囲が包囲されてしまうので、るつぼお よびるつぼ周辺の監視ができず、前記トラブルの発生を検出することができない 。この問題を解決する技術として、石英ガラスで蓋をした黒鉛製筒体からなる観 察窓を輻射スクリーン上端の環状リムに設け、チャンバ天井壁に設けた覗き窓と 前記輻射スクリーンに設けた観察窓とを通してるつぼ、融液面、単結晶周縁およ びヒータを観察可能とした実開昭63−162869による提案が開示されてい る。また、輻射スクリーンの円錐状の筒部に開口部を設け、チャンバ天井壁に設 けた覗き窓と前記輻射スクリーンに設けた開口部とを通してるつぼ内壁面と融液 との境界部を観察可能とした実開平2−57962あるいは実開平2−6196 3による提案が開示されている。
【0004】
しかしながら、上記従来の技術には次のような問題点がある。すなわち、 (1)実開昭63−162869による提案では、輻射スクリーン上端の環状リ ムに石英ガラスで蓋をした黒鉛製筒体からなる比較的大きな観察窓を設けたので 炉内の周方向の熱バランスが崩れ、前記黒鉛製筒体部で不活性ガスのよどみがで きる。そのため排気ガスの流れが乱れ、単結晶の安定成長を阻害する。また、輻 射スクリーンの構造が複雑になるため、コストアップを招く。 (2)実開平2−57962あるいは実開平2−61963による提案では、輻 射スクリーン上端の取付板または円錐状の筒部に開口部を設けたので炉内の周方 向の熱バランスが崩れ、前記開口部で不活性ガスの流れが変化してしまうため、 単結晶の安定成長が阻害される。 本考案は上記従来の問題点に着目してなされたもので、周方向の熱バランスの崩 れを最小に抑え、排気ガスの流れを乱すことなく、るつぼおよびるつぼ周辺を直 接観察することができるような半導体単結晶製造装置を提供することを目的とし ている。
【0005】
上記目的を達成するため、本考案に係る半導体単結晶製造装置は、半導体単結 晶の原料を充填するるつぼと、このるつぼの周囲にあってるつぼ内の原料を溶解 するヒータと、溶解した原料に種子結晶を浸漬して単結晶を引き上げる引き上げ 機構と、単結晶の周囲を取り囲む輻射スクリーンを融液近傍上方に配設した単結 晶製造装置において、チャンバ上部に覗き窓を設けるとともに、輻射スクリーン 上の、前記覗き窓に対して水平方向に10〜80°ずれた位置に観察窓を設ける 構成とし、このような構成において、 輻射スクリーン上に設ける観察窓は、チャンバ外部から覗き窓と前記観察窓と を通して少なくともるつぼの内壁、融液の外周部およびヒータの内周面を直接観 察することができるものとした。また、 輻射スクリーン上に設ける観察窓は、前記輻射スクリーンに穿設した穴に1枚 ないし複数枚の耐熱性透明板を直接はめ込んだものとし、あるいは、 輻射スクリーン上に設ける観察窓は、前記輻射スクリーンに穿設した穴に、黒 鉛製または炭化珪素を被覆した黒鉛製の窓枠を介して1枚ないし複数枚の耐熱性 透明板をはめ込んだものでもよい。
【0006】
上記構成によれば、融液近傍上方に単結晶を取り囲む輻射スクリーンを備えた 単結晶製造装置において、チャンバ上部に覗き窓を設けるとともに、輻射スクリ ーン上の、前記覗き窓に対して水平方向に10〜80°ずれた位置に観察窓を設 ける構成とし、これらの二つの窓を通してチャンバ外部から少なくともるつぼの 内壁、融液の外周部およびヒータの内周面を直接観察できるようにしたので、輻 射スクリーンによって遮られていたるつぼおよびるつぼ周辺の状況を容易に観察 することができる。前記二つの窓の位置を互いにずらし、斜め上方から炉内を観 察することにより、観察窓を小さくしても炉内状況を十分観察することができる 。そして前記観察窓に装着する耐熱性透明板は、輻射スクリーンに穿設した穴に 直接、あるいは黒鉛製の窓枠を介してはめ込むことにしたので、炉内の周方向の 熱バランスの崩れを最小に抑えるとともに、不活性ガスの流れを乱すことがない 。また、耐熱性透明板のるつぼ側端面温度は800°C以上を維持し、融液等か ら発生する蒸発物の付着を防止するので、視界を確保することができる。
【0007】
以下に、本考案に係る半導体単結晶製造装置の実施例について、図面を参照し て説明する。図1は半導体単結晶製造装置の概略構成を示す部分断面図、図2は 図1のA−A断面図である。これらの図において、1はメインチャンバ、2はア ッパチャンバで、炉外から炉内を観察するため、石英ガラスを用いた覗き窓3が 前記アッパチャンバ2に設置されている。メインチャンバ1内に設置された黒鉛 るつぼ4に石英るつぼ5が嵌着され、この石英るつぼ5内に貯留されたシリコン 融液6からシリコン単結晶7が引き上げられる。8はるつぼ軸、9は黒鉛ヒータ 、10は断熱筒で、断熱筒10の上面に輻射スクリーン11が固定されている。 この輻射スクリーン11は、単結晶引き上げ領域を取り巻く熱遮蔽体であり、下 端開口部の直径が上端開口部の直径より小さい円錐状の筒で、上端開口部の周縁 に環状のフランジ11aを備えている。前記フランジ11aに設けられた穴に石 英ガラスがはめ込まれ、観察窓12を形成している。
【0008】 図2は図1のA−A断面図に前記覗き窓3を投影したもので、覗き窓3を2点 鎖線で示している。同図において、観察窓12は覗き窓3に対して水平方向に角 度θだけずらした位置、たとえば30°ずらした位置に設けられ、覗き窓3と観 察窓12とを通して斜め上方から観察することにより、観察窓12の面積が小さ くても石英るつぼ5の内壁、融液6の外周部および黒鉛ヒータ9内周面を直接観 察することができる。観察窓12の大きさの一例を示すと、32×60mmであ る。なお、観察窓12の形状は長方形に限らず、正方形あるいは円形等でもよい 。
【0009】 図3および図4は図1のP部拡大図で、請求項3による観察窓の実施例を示し ている。図3では輻射スクリーンのフランジ11aに設けられた段付き穴に、フ ランジ11aの厚さと同じ厚さの石英ガラス13がはめ込まれている。観察窓1 2の大きさが32×60mm程度であればこの窓から逃げる熱量が少なく、石英 ガラス13は冷えにくいため、融液から蒸発する酸化珪素等が1バッチの単結晶 育成で石英ガラス13に付着することはない。しかし、連続して数バッチの育成 に使用すると前記蒸発物が石英ガラス13に析出することがあるので、多層構造 の石英ガラスを用いることが望ましい。すなわち図4に示すように、観察窓を石 英ガラス14,15,15,16の4枚構成とし、熱抵抗を与えることにより融 液等からの蒸発物が下側すなわち融液側の石英ガラス16に付着するのを防止す ることができる。なお、単結晶引き上げ時の融液側における石英ガラス近傍の温 度測定結果の一例を示すと、図3の場合は約800°C、図4の場合は約900 °Cであった。
【0010】 図5〜図10は図1のP部拡大図で、請求項4による観察窓の実施例を示して いる。図5に示すように輻射スクリーン11が3層構造で、中間層11bにカー ボンフェルト等のけば立ちやすい断熱材を使用している場合は、フランジ11a に設けられた段付き穴に黒鉛製またはSiCを被覆した黒鉛製の窓枠11cを嵌 着して中間層11bのけば立ちを押さえた上、前記窓枠11cの中に石英ガラス をはめ込む。図5はフランジ11aの厚さと同じ厚さの石英ガラス13をはめ込 んだ場合、図6はフランジ11aに設けられた段付き穴の段から上の部分のみに 窓枠11dを嵌着し、フランジ11aの厚さと同じ厚さの石英ガラス13をはめ 込んだ場合を示す。この場合、石英ガラス13の下部は3層構造の輻射スクリー ンのうち高温になっている下層に直接接触しているので高温を保つことができ、 石英ガラス13に対する融液等からの蒸発物付着防止効果がより大きくなる。図 7は前記窓枠11cの中に図4に示した4枚構成の石英ガラス14,15,15 ,16をはめ込んだもので、石英ガラス16に対する融液等からの蒸発物付着を 防止する効果が大きい。
【0011】 図8〜図10はフランジ11aに設けられた段付き穴に前記窓枠11cを嵌着 し、窓枠11cの段から上の部分のみに石英ガラスをはめ込んだもので、石英ガ ラスの下側にくぼみが形成されている。くぼみの深さが数mmであれば不活性ガ スの滞留は起こらない。この構造は石英ガラスに段付き部を設けないので、石英 ガラスのコストを下げることができる。図8は1枚の石英ガラス17を用いた場 合、図9は2枚構成の石英ガラス18,15を用いた場合を示す。また図10は 、2枚の石英ガラス19,15の間にスペーサ20を挟着して空間を形成し、多 層構造の効果を持たせたもので、コスト低減効果が大きい。
【0012】
以上説明したように本考案によれば、融液近傍上方に引き上げ単結晶を取り囲 む輻射スクリーンを備えた単結晶製造装置において、チャンバ上部に覗き窓を設 けるとともに、輻射スクリーン上の、前記覗き窓に対して水平方向に10〜80 °ずれた位置に観察窓を設け、これらの二つの窓を通してチャンバ外部からるつ ぼの内壁周辺を直接観察できるようにしたので、輻射スクリーンによって遮られ ていたるつぼの内壁周辺の状況を容易に観察することができ、原料多結晶のるつ ぼ内壁への付着や融液とるつぼとの接触面における結晶成長等、種々のトラブル を早期に発見して対策をとることができる。前記二つの窓の位置を互いにずらし 、斜め上方から炉内を観察する構成としたので、観察窓を小さくしても炉内状況 は十分に観察可能であるとともに、観察窓からの熱損失を最小に抑えることがで き、周方向の熱バランスの崩れを最小とし、不活性ガスの流れを乱すことがない 。また、石英ガラス等の耐熱性透明板のるつぼ側端面温度は800°C以上を維 持し、融液等から発生する蒸発物の付着を防止するので、視界を確保することが できる。
【図1】半導体単結晶製造装置の概略構成を示す部分断
面図である。
面図である。
【図2】図1のA−A断面図である。
【図3】図1のP部拡大図で、請求項3に基づく観察窓
の第1実施例を示す。
の第1実施例を示す。
【図4】図1のP部拡大図で、請求項3に基づく観察窓
の第2実施例を示す。
の第2実施例を示す。
【図5】図1のP部拡大図で、請求項4に基づく観察窓
の第1実施例を示す。
の第1実施例を示す。
【図6】図1のP部拡大図で、請求項4に基づく観察窓
の第2実施例を示す。
の第2実施例を示す。
【図7】図1のP部拡大図で、請求項4に基づく観察窓
の第3実施例を示す。
の第3実施例を示す。
【図8】図1のP部拡大図で、請求項4に基づく観察窓
の第4実施例を示す。
の第4実施例を示す。
【図9】図1のP部拡大図で、請求項4に基づく観察窓
の第5実施例を示す。
の第5実施例を示す。
【図10】図1のP部拡大図で、請求項4に基づく観察
窓の第6実施例を示す。
窓の第6実施例を示す。
1 メインチャンバ 2 アッパチャンバ 3 覗き窓 4 黒鉛るつぼ 5 石英るつぼ 6 シリコン融液 7 シリコン単結晶 9 黒鉛ヒータ 11 輻射スクリーン 11a フランジ 11c,11d 窓枠 12 観察窓 13,14,15,16,17,18,19 石英ガラ
ス
ス
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 古市 登 神奈川県平塚市四之宮2612 小松電子金属 株式会社内
Claims (4)
- 【請求項1】 半導体単結晶の原料を充填するるつぼ
と、このるつぼの周囲にあってるつぼ内の原料を溶解す
るヒータと、溶解した原料に種子結晶を浸漬して単結晶
を引き上げる引き上げ機構と、単結晶の周囲を取り囲む
輻射スクリーンを融液近傍上方に配設した単結晶製造装
置において、チャンバ上部に覗き窓を設けるとともに、
輻射スクリーン上の、前記覗き窓に対して水平方向に1
0〜80°ずれた位置に観察窓を設けたことを特徴とす
る半導体単結晶製造装置。 - 【請求項2】 輻射スクリーン上に設ける観察窓は、チ
ャンバ外部から覗き窓と前記観察窓とを通して少なくと
もるつぼの内壁、融液の外周部およびヒータの内周面を
直接観察することができるものであることを特徴とする
請求項1の半導体単結晶製造装置。 - 【請求項3】 輻射スクリーン上に設ける観察窓は、前
記輻射スクリーンに穿設した穴に1枚ないし複数枚の耐
熱性透明板を直接はめ込んだものであることを特徴とす
る請求項1の半導体単結晶製造装置。 - 【請求項4】 輻射スクリーン上に設ける観察窓は、前
記輻射スクリーンに穿設した穴に、黒鉛製または炭化珪
素を被覆した黒鉛製の窓枠を介して1枚ないし複数枚の
耐熱性透明板をはめ込んだものであることを特徴とする
請求項1の半導体単結晶製造装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992076819U JP2569053Y2 (ja) | 1992-10-09 | 1992-10-09 | 半導体単結晶製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992076819U JP2569053Y2 (ja) | 1992-10-09 | 1992-10-09 | 半導体単結晶製造装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0633962U true JPH0633962U (ja) | 1994-05-06 |
| JP2569053Y2 JP2569053Y2 (ja) | 1998-04-22 |
Family
ID=13616285
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1992076819U Expired - Lifetime JP2569053Y2 (ja) | 1992-10-09 | 1992-10-09 | 半導体単結晶製造装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2569053Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020083735A (ja) * | 2018-11-30 | 2020-06-04 | 株式会社Sumco | パージチューブ、単結晶引き上げ装置、および、シリコン単結晶の製造方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0261963U (ja) * | 1988-10-25 | 1990-05-09 | ||
| JPH02289490A (ja) * | 1989-04-27 | 1990-11-29 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 高温成長室の覗き窓及び覗き窓のシール方法 |
| JPH0397688A (ja) * | 1989-09-09 | 1991-04-23 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 単結晶引上装置用整流筒 |
-
1992
- 1992-10-09 JP JP1992076819U patent/JP2569053Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0261963U (ja) * | 1988-10-25 | 1990-05-09 | ||
| JPH02289490A (ja) * | 1989-04-27 | 1990-11-29 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 高温成長室の覗き窓及び覗き窓のシール方法 |
| JPH0397688A (ja) * | 1989-09-09 | 1991-04-23 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 単結晶引上装置用整流筒 |
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| KR20200066193A (ko) * | 2018-11-30 | 2020-06-09 | 가부시키가이샤 사무코 | 퍼지 튜브, 단결정 인상 장치 및 실리콘 단결정의 제조 방법 |
| CN111501088A (zh) * | 2018-11-30 | 2020-08-07 | 胜高股份有限公司 | 吹扫管、单晶提拉装置及硅单晶的制造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2569053Y2 (ja) | 1998-04-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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