JPH063415B2 - 穀物の品質判定方法及びその装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は穀物の品質判定方法及びその装置に係り、特
に測定された試料の粒ぞろい状態を判定することによ
り、品質区分の細分化を図り得る穀物の品質判定方法及
びその装置に関する。

〔従来の技術〕

穀物の品質判定装置、例えば光学式品質判定装置は、試
料の各一粒毎に光を照射してその光の状態、例えば透過
光や反射光などを検知し、この検知値たる光量により整
粒や未熟粒あるいは胴割粒等の品質の判定を行うもので
ある。例えば、各試料一粒毎に光を照射し、受光素子に
より拡散透過光量や拡散反射光量を検知して品質の判定
を行っている。あるいは、各試料一粒毎にスリットや小
孔から光を部分的に照射し、透過光量を検知して品質の
判定を行っている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

ところで、試料の品質判定は、水分、容積重、被害粒等
の割合、形質等の項目を測定することによって行われて
いる。更に、上述の形質の内容は、皮部の厚薄、充実
度、質の硬軟、粒ぞろい、粒形、光沢並びに肌ずれ、心
白及び腹白の程度の９つの要素がある。

しかしながら、従来、形質の判定においては、目視によ
って測定したので、判定のために多大な労力が必要にな
るとともに、判定精度も低く、品位区分を細かく分ける
ことができないという不都合があった。

〔発明の目的〕

そこでこの考案の目的は、上述の不都合を除去すべく、
試料を一粒毎に測定する測定部を設け、測定吹からの測
定値を入力し試料の測定作業が完了した際に該測定され
た試料の粒ぞろい状態を判定すべく制御する制御部を設
け、先ず試料の粒ぞろい状態を測定すべく操作すると、
測定部から試料の一粒毎の測定値が制御部に入力され、
次に試料の測定作業が完了すると制御部が整粒における
透過率の分布を求め、この演算処理結果を粒ぞろいデー
タとして出力して試料の粒ぞろい状態の判定を行うこと
により、穀物の品質区分の細分化を図り得る穀物の品質
判定方法及びその装置を実現するにある。

〔問題点を解決するための手段〕

この目的を達成するためにこの発明は、試料を一粒毎に
測定して一粒毎の品質を判定する穀物の品質判定方法に
おいて、前記試料を一粒毎に測定する測定部を設け、こ
の測定部からの測定値を入力し前記試料の測定作業が完
了した際に該測定された試料の粒ぞろい状態を判定すべ
く制御する制御部を設け、先ず前記試料の粒ぞろい状態
を測定すべく操作すると、前記測定部から前記試料の一
粒毎の測定値が前記制御部に入力され、次に前記試料の
測定作業が完了すると前記制御部が整粒における透過率
の分布を求め、この演算処理結果を粒ぞろいデータとし
て出力して前記試料の粒ぞろい状態の判定を行うことを
特徴とする。

また、試料を一粒毎に測定して一粒毎の品質を判定する
穀物の品質判定方法において、前記試料を一粒毎に測定
する測定部を設け、この測定部からの測定値を入力し前
記試料の測定作業が完了した際に整粒における透過率の
分布を求めてこの演算処理結果を粒ぞろいデータとして
出力して前記試料の粒ぞろい状態を判定すべく制御する
制御部を設けたことを特徴とする。

〔作用〕 この発明によれば、試料は一粒毎に測定部によって測定
され、そして制御部は測定部からの測定値を入力し所定
粒数の測定を完了した際に入力した測定値を演算処理し
つまり、整粒における透過率の分布を求め、粒ぞろい状
態を判定する。次に制御部は、この粒ぞろいの判定結果
に応じた信号を、つまり、上述の演算処理結果を粒ぞろ
いデータとして出力する。これにより、従来の如き品質
判定項目中の形質を目視により測定した場合に比し、判
定労力を頗る低減することができ、しかも判定精度を向
上させ、品質区分の細分化を図り得る。

〔実施例〕

以下図面に基づいてこの発明の実施例の詳細且つ具体的
に説明する。

第１〜６図はこの発明の実施例を示すものである。図に
おいて、２は穀物、例えば米粒の光学式品質判定装置で
ある。この光学式品質判定装置２は、第１図に示す如
く、例えば２個別体に形成した制御部４と測定部６とか
らなり、これら制御部４と測定部６とは信号用電気コー
ド８と動力用電気コード１０とによって接続されてい
る。また、前記制御部４の操作面４ｓには、試料の品質
を判定し液晶パネルによって表示する判定結果表示部１
２と、試料の粒数を表示する粒数表示部１４と、電源ス
イッチ１６及びセレクトスイッチ１８と、試料の品質に
より格付しこの格付表示を行う格付表示部２０と、キー
操作による入力する入力部２２とが設けられている。こ
の入力部２２には、粒ぞろい用判定スイッチ２４が設け
られている。更に、前記測定部４の上面４ｔには、プリ
ンタ２６が設けられている。

前記測定部６には、試料を投入する試料投入口２８と、
試料や未熟粒や被害粒等に選別する選別試料箱３０と、
残留試料を受ける残留試料受箱３２とを有する。

また、光学式品質判定装置２は、第２図に示す如く構成
されている。即ち、制御部４は、ＣＰＵボード３４及び
Ｉ／Ｆボード３６を有する。そして、このＩ／Ｆボード
３６にはプリンタ２６、前記入力部２２のキーボード３
８、判定結果表示部１２・粒数表示部１４のＬＣＤ４０
が接続されるとともに、入出力部４２を介してアラーム
出力部４４が接続されている。

更に、入出力部４２には選別駆動部４６、搬送駆動部４
８、タイミング検出部５０部及びピークホールドアンプ
５２が接続され、このピークホールドアンプ５２には分
光部５４とＩ／Ｆボード３６に接続されるＡ／Ｄ変換部
５６とが接続されている。

前記測定部６は、光源５８、前記選別駆動部４６に接続
するソレノイド６０、前記搬送駆動部４８に接続するモ
ータ６２、前記タイミング検出部５０に接続するタイミ
ングセンサ６４、前記光源５８に接続するとともに前記
ピークホールドアンプ５２に接続する透過反射ヘッド６
６、そして同様にピークホールドアンプに接続する胴割
ヘッド６８を有する。

また、第３、４図において、前記光学式品質判定装置２
は、試料を各一粒毎に所定位置に保持して移送する円板
７０と、試料を矢印ａ方向に移送すべく円板７０を回転
させるモータ６２と、光の照射及び光量検知の機能を果
し試料を一粒毎に測定する測定部６と、この測定部６か
らの測定値を入力し前記試料の測定作業が完了した際
に、整粒における透過率の分布を求め、この演算処理結
果を粒ぞろいデータとして出力して該試料の粒ぞろい状
態を判定すべく制御する制御部４とからなる。

前記光学品質判定装置２は、前記モータ６２により回転
される円板７０の試料用孔７２に供給された各試料を一
粒毎に保持して矢印ａ方向に移送し、透過反射ヘッド６
６により各試料一粒毎に光を照射して光の状態、例えば
透過光や反射光等を検知・測定し、前記制御部４により
測定値たる光量より各試料一粒毎に整粒や未熟粒あるい
は胴割粒などの品質の判定を行うものである。なお、符
号７４は検知時期を特定するためのタイミング孔であ
る。

光の照射及び光量検知の機能を果す前記透過反射ヘッド
６６は、第３、４図の如く構成されている。前記円板７
０は、試料用孔７２とタイミング孔７４とを穿設した基
板７６と、試料用孔７２からの小粒の試料の落下を防止
し且つ照射される光を透過させる透明板（図示せず）と
を積層して成る。

また、前記円板７０の透明板（図示せず）側には、試料
用孔７２の全面に照射される孔の照射域内に、各試料の
一粒毎の照射域内透過光量を検知する図示しない透過光
量センサが設けられている。この透過光量センサは、透
明板（図示せず）側の照射域内において、試料を透過す
る光量及び試料と試料用孔７２との空隙を透過する光量
を併せて、照射域内透過光量として検知する。

以下、この実施例の作用を、第５図のフローチャートに
基づいて説明する。

制御部４のプログラムをスタート（ステップ１０２）さ
せ、先ず光学式品質判定装置２の測定部６の試料投入口
２８から試料を供給し、そして測定粒数のセット（１０
４）を、行い、次に粒判定レベルのセット（１０６）を
行う。このとき、粒ぞろい用判定スイッチ２４をオンと
する。次いで、試料の品質の測定（１０８）を行い、そ
して判定結果に応じた粒の合計値に１をプラス（１１
０）し、次に粒ぞろい状態を判別すべく試料一粒毎のデ
ータの算出を行う（１１２）。そして、ステップ（１１
４）で測定が完了したか否かを判断し、所定粒数の測定
がまだ完了していないＮＯの場合には、再び測定（１０
８）に戻す。所定粒数の測定が完了しステップ（１１
４）がＹＥＳの場合には、整粒における透過率（透光
量）の分布を求める。即ち、別表に示す如く、測定され
た試料中の整粒のみを選出し、そして各整粒の透過率を
入力して演算処理し、例えば試料中の整粒の番号１、
５、８、…１０００における透過率の合計ｎ、平均、
標準偏差δ、最大値と最小値との差Ｒの少なくとも一つ
を算出し、透過率の分布を求める（１１６）。詳述すれ
ば、この実施例においては、別表に基づき、整粒の透過
率の合計ｎ＝７５０、平均＝１．０５、標準偏差δ＝
０．３１、最大値と最小値との差Ｒ＝０．８の少なくと
も一つを算出し、第６図の如く透過率の分布を求め、こ
の演算処理結果を粒ぞろいデータとして例えば判定結果
表示部１２にその値の信号を出力（１１８）し、そして
エンド（１２０）とする。

この結果、測定された試料中の整粒を更に粒ぞろい状態
によって判定することができるので、品質判定の精度を
向上させ、誤判定を防止し得るとともに、形質の判定時
における労力を頗る低減し得る。

なお、この発明は上述の実施例に限定されず種々応用改
変が可能であることは勿論である。

例えば、粒ぞろいについて判定基準を設定し、品質を区
分することも可能である。

〔発明の効果〕

以上詳細な説明から明らかなようにこの発明によれば、
試料を一粒毎に測定する測定部を設け、測定部からの測
定値を入力し試料の測定作業が完了した際に該測定され
た試料の粒ぞろい状態を判定すべく制御する制御部を設
け、先ず試料の粒ぞろい状態を測定すべく操作すると、
測定部から試料の一粒毎の測定値が制御部に入力され、
次に試料の測定作業が完了すると制御部が整粒における
透過率の分布を求め、この演算処理結果を粒ぞろいデー
タとして出力して試料の粒ぞろい状態の判定を行ったこ
とにより、穀物の品質区分の細分化を図ることができ、
しかも、測定された試料中の整粒を更に粒ぞろい状態に
よって判定するので、試料の品質判定精度を向上させ誤
判定を防止し得る。また、品質判定項目中の粒ぞろいを
目視する必要がないので、判定労力を頗る低減し得る。

【図面の簡単な説明】

第１〜６図はこの発明の実施例を示し、第１図は光学式
品質判定装置の概略斜視図、第２図は光学式品質判定装
置のブロック図、第３図は光学式品質判定装置による光
の照射及び光量の測定状態を示す概略平面図、第４図は
第３図の概略正面図、第５図はこの実施例の作用を説明
するフローチャート、第６図は整粒の透過率の分布であ
る。 図において、２は光学式品質判定装置、４は制御部、６
は測定部、８は信号用電気コード、１０は動力用電気コ
ード、１２は判定結果表示部、１４は粒数表示部、１６
は電源スイッチ、１８はセレクトスイッチ、２０は格付
表示部、２２は入力部、２４は粒ぞろい用判定スイッ
チ、２６はプリンタ、２８は試料投入口、３０は選別試
料箱、３２は残留試料受箱、７０は円板、７２は試料用
孔、７４はタイミング孔、そして７６は基板である。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】試料を一粒毎に測定して一粒毎の品質を判
   定する穀物の品質判定方法において、前記試料を一粒毎
   に測定する測定部を設け、この測定部からの測定値を入
   力し前記試料の測定作業が完了した際に該測定された試
   料の粒ぞろい状態を判定すべく制御する制御部を設け、
   先ず前記試料の粒ぞろい状態を測定すべく操作すると、
   前記測定部から前記試料の一粒毎の測定値が前記制御部
   に入力され、次に前記試料の測定作業が完了すると前記
   制御部が整粒における透過率の分布を求め、この演算処
   理結果を粒ぞろいデータとして出力して前記試料の粒ぞ
   ろい状態の判定を行うことを特徴とする穀物の品質判定
   方法。
2. 【請求項２】試料を一粒毎に測定して一粒毎の品質を判
   定する穀物の品質判定装置において、前記試料を一粒毎
   に測定する測定部を設け、この測定部からの測定値を入
   力し前記試料の測定作業が完了した際に整粒における透
   過率の分布を求めてこの演算処理結果を粒ぞろいデータ
   として出力して前記試料の粒ぞろい状態を判定すべく制
   御する制御部を設けたことを特徴とする穀物の品質判定
   装置。