JPH0634445A - 偏光解析器 - Google Patents
偏光解析器Info
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- JPH0634445A JPH0634445A JP18555492A JP18555492A JPH0634445A JP H0634445 A JPH0634445 A JP H0634445A JP 18555492 A JP18555492 A JP 18555492A JP 18555492 A JP18555492 A JP 18555492A JP H0634445 A JPH0634445 A JP H0634445A
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- polarization
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 反射を利用する光学部品に起因する偏光特
性、位相の飛びが無くて、光検出器１つで偏光解析する
ことができる偏光解析器を提供することを目的とする。 【構成】偏光解析すべき光束に対して、４分の１波長板
を付けた第１の左回り偏光特性の偏光子、第２の０°方
向の透過方向軸のを有する偏光子、第３の４５°方向の
透過方向軸のを有する偏光子及びキリ孔偏光子を等間隔
のピッチ円周角度で設けた回転円板を有し、更に、回転
円板の回転を同調させるための光学同調装置を有し、そ
して、該回転円板の各偏光子で分割された光束の光路上
に１つの検出器を備えたことを特徴とする偏光解析器で
ある。
性、位相の飛びが無くて、光検出器１つで偏光解析する
ことができる偏光解析器を提供することを目的とする。 【構成】偏光解析すべき光束に対して、４分の１波長板
を付けた第１の左回り偏光特性の偏光子、第２の０°方
向の透過方向軸のを有する偏光子、第３の４５°方向の
透過方向軸のを有する偏光子及びキリ孔偏光子を等間隔
のピッチ円周角度で設けた回転円板を有し、更に、回転
円板の回転を同調させるための光学同調装置を有し、そ
して、該回転円板の各偏光子で分割された光束の光路上
に１つの検出器を備えたことを特徴とする偏光解析器で
ある。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバー通信、光
計測、光制御などの分野で用いられる偏光解析器に関す
る。
計測、光制御などの分野で用いられる偏光解析器に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】例えば、図１に示すような従来の偏光解
析器では、光ファイバー５からの入射光束は、レンズ１
０を通って、ビームスプリッター１で透過光Ａと反射光
Ｂに分け、反射光Ｂは、λ／４波長板７、偏光子８を通
って、全反射ミラー４で左回り円偏光成分を得る、そし
て、透過光Ａはビームスプリッター２で透過光Ｃと反射
光Ｄに分け、反射光Ｄは偏光子９を通って、全反射ミラ
ー４で４５°偏光成分を得る。更に、透過光Ｃは偏光ビ
ームスプリッター３で透過光Ｅと反射光Ｆに分け、反射
光Ｆは、全反射ミラー４で９０°偏光成分を得る、そし
て、各々の光束Ｂ、Ｄ、Ｆ、Ｅに対して各々の光検出器
６で検出される。即ち、従来の光ファイバーによる通信
等においては、偏光の回転角、回転方向を観測するため
の偏光解析器には、従来、多数の楔型プリズムを用いて
光束を分解していく光成分分解器を用いて、偏光光束を
４つの偏光成分に分けている。
析器では、光ファイバー５からの入射光束は、レンズ１
０を通って、ビームスプリッター１で透過光Ａと反射光
Ｂに分け、反射光Ｂは、λ／４波長板７、偏光子８を通
って、全反射ミラー４で左回り円偏光成分を得る、そし
て、透過光Ａはビームスプリッター２で透過光Ｃと反射
光Ｄに分け、反射光Ｄは偏光子９を通って、全反射ミラ
ー４で４５°偏光成分を得る。更に、透過光Ｃは偏光ビ
ームスプリッター３で透過光Ｅと反射光Ｆに分け、反射
光Ｆは、全反射ミラー４で９０°偏光成分を得る、そし
て、各々の光束Ｂ、Ｄ、Ｆ、Ｅに対して各々の光検出器
６で検出される。即ち、従来の光ファイバーによる通信
等においては、偏光の回転角、回転方向を観測するため
の偏光解析器には、従来、多数の楔型プリズムを用いて
光束を分解していく光成分分解器を用いて、偏光光束を
４つの偏光成分に分けている。
【０００３】このような従来技術のビームスプリッター
を用いた反射を利用した偏光解析器では、分岐するため
の各々のビームスプリッターに、偏光特性、位相の飛び
があり、入射光の位相情報を保持しない。更に、入力光
を４等分するために、第１のビームスプリッターと第２
のビームスプリッターの分岐比を変えなければならない
ために、偏光特性位相の飛びが各々異なることになる。
以上のようなことにより、光学的性能が上がらない。こ
れは、入力光の偏光解析の目的に不十分なものとなり、
偏光解析器としては、致命的な欠陥を有する。
を用いた反射を利用した偏光解析器では、分岐するため
の各々のビームスプリッターに、偏光特性、位相の飛び
があり、入射光の位相情報を保持しない。更に、入力光
を４等分するために、第１のビームスプリッターと第２
のビームスプリッターの分岐比を変えなければならない
ために、偏光特性位相の飛びが各々異なることになる。
以上のようなことにより、光学的性能が上がらない。こ
れは、入力光の偏光解析の目的に不十分なものとなり、
偏光解析器としては、致命的な欠陥を有する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明は、上
記のような反射を利用する光学部品に起因する偏光特
性、位相の飛びが無くて、光検出器１つで偏光解析する
ことができる偏光解析器を提供することを目的とする。
また、本発明は、更に、複数の波長範囲の偏光を１つの
検出器で同時に検出、解析できる位相の飛びのない偏光
解析器を提供することを目的とする。
記のような反射を利用する光学部品に起因する偏光特
性、位相の飛びが無くて、光検出器１つで偏光解析する
ことができる偏光解析器を提供することを目的とする。
また、本発明は、更に、複数の波長範囲の偏光を１つの
検出器で同時に検出、解析できる位相の飛びのない偏光
解析器を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の技術的
な課題の解決のために、偏光解析すべき光束に対して、
４分の１波長板を付けた第１の左回り偏光特性の偏光
子、第２の０°方向の透過方向軸のを有する偏光子、第
３の４５°方向の透過方向軸のを有する偏光子及びキリ
孔偏光子を等間隔のピッチ円周角度で設けた回転円板を
有し、更に、回転円板の回転を同調させるための光学同
調装置を有し、そして、該回転円板の各偏光子で分割さ
れた光束の光路上に１つの検出器を備えたことを特徴と
する偏光解析器を提供する。更に、前記の円板上に設け
た各偏光子の次の回転角位置に互いに等回転角度位置
に、特定の波長フィルターを備える各偏光子の群を有す
るものが、好適である。また、更に前記の偏光子の群
は、２群以上有し、複数の波長に対して各波長偏光を解
析することができるようにもできる。
な課題の解決のために、偏光解析すべき光束に対して、
４分の１波長板を付けた第１の左回り偏光特性の偏光
子、第２の０°方向の透過方向軸のを有する偏光子、第
３の４５°方向の透過方向軸のを有する偏光子及びキリ
孔偏光子を等間隔のピッチ円周角度で設けた回転円板を
有し、更に、回転円板の回転を同調させるための光学同
調装置を有し、そして、該回転円板の各偏光子で分割さ
れた光束の光路上に１つの検出器を備えたことを特徴と
する偏光解析器を提供する。更に、前記の円板上に設け
た各偏光子の次の回転角位置に互いに等回転角度位置
に、特定の波長フィルターを備える各偏光子の群を有す
るものが、好適である。また、更に前記の偏光子の群
は、２群以上有し、複数の波長に対して各波長偏光を解
析することができるようにもできる。
【０００６】
【作用】本発明の偏光解析器によると、高速回転円板１
７の上に設けた４つの偏光子を利用し、４つの偏光子で
時間周期的に４つの光束に分岐するものである。図２
は、本発明の偏光解析器の基本的な構成を説明する。即
ち、図２は、本発明の偏光解析器の光分岐装置の斜視図
であり、分岐すべき光束１０は、光ファイバー１１から
レンズ１２を通して、回転円板１７上の各々の偏光子２
１、２２、２３、２４に順次に回転円板１７の回転につ
れて当り、逐次、偏光子を通過していく。即ち、その光
軸上に同一ピッチ円上に光学部品、偏光子を配置した円
板を高速回転させる。その回転角度を調和一致されるた
めに、ＬＥＤ１８とフォトトランジスト１９とキリ孔２
０からなるフォトインタラプタで回転数を計測し、オプ
テイカルエンコーダ付きモータ１６で回転角度位置を同
調することができる。即ち、オプテイカルエンコーダで
回転角位置を計測し、光検出器の計測位置と同期させ
る。回転させると、各々の偏光子光学部品位置が不明に
なるため、計測初期値を決めるためにフォトインタラプ
タを配置する。
７の上に設けた４つの偏光子を利用し、４つの偏光子で
時間周期的に４つの光束に分岐するものである。図２
は、本発明の偏光解析器の基本的な構成を説明する。即
ち、図２は、本発明の偏光解析器の光分岐装置の斜視図
であり、分岐すべき光束１０は、光ファイバー１１から
レンズ１２を通して、回転円板１７上の各々の偏光子２
１、２２、２３、２４に順次に回転円板１７の回転につ
れて当り、逐次、偏光子を通過していく。即ち、その光
軸上に同一ピッチ円上に光学部品、偏光子を配置した円
板を高速回転させる。その回転角度を調和一致されるた
めに、ＬＥＤ１８とフォトトランジスト１９とキリ孔２
０からなるフォトインタラプタで回転数を計測し、オプ
テイカルエンコーダ付きモータ１６で回転角度位置を同
調することができる。即ち、オプテイカルエンコーダで
回転角位置を計測し、光検出器の計測位置と同期させ
る。回転させると、各々の偏光子光学部品位置が不明に
なるため、計測初期値を決めるためにフォトインタラプ
タを配置する。
【０００７】第１の偏光子２１は、ＦＡＳＴ軸をＸ軸に
対して平行にある４分の１波長板３１を備え、Ｘ軸に対
し＋４５°方向の透過方向軸を有する偏光子である。。
第２の偏光子２２はＸ軸に対し＋４５°方向の透過方向
軸を有し、また、第３の偏光子２３は、透過方向軸をＸ
軸と平行とし、第４の偏光子２４は何ら光学部品を備え
ないキリ孔だけのものである。即ち，偏光解析すべき光
束に対して、４分の１波長板３１を付けた第１の左回り
偏光特性の偏光子２１、第２の０°方向の透過方向軸の
を有する偏光子２２、第３の４５°方向の透過方向軸の
を有する偏光子２３及びキリ孔偏光子を等間隔のピッチ
円周角度で設けた回転円板を有する。更に、回転円板１
７の回転を同調させるための光学同調装置１８，１９，
２０を有する。そして、回転円板の各偏光子で分割され
た光束の光路上に１つの検出器１４を備える。
対して平行にある４分の１波長板３１を備え、Ｘ軸に対
し＋４５°方向の透過方向軸を有する偏光子である。。
第２の偏光子２２はＸ軸に対し＋４５°方向の透過方向
軸を有し、また、第３の偏光子２３は、透過方向軸をＸ
軸と平行とし、第４の偏光子２４は何ら光学部品を備え
ないキリ孔だけのものである。即ち，偏光解析すべき光
束に対して、４分の１波長板３１を付けた第１の左回り
偏光特性の偏光子２１、第２の０°方向の透過方向軸の
を有する偏光子２２、第３の４５°方向の透過方向軸の
を有する偏光子２３及びキリ孔偏光子を等間隔のピッチ
円周角度で設けた回転円板を有する。更に、回転円板１
７の回転を同調させるための光学同調装置１８，１９，
２０を有する。そして、回転円板の各偏光子で分割され
た光束の光路上に１つの検出器１４を備える。
【０００８】シングルモード光ファイバー１１からの光
束は、レンズ１２により平行光にされる。その光軸上に
同一ピッチ円上に光学部品偏光子を配置した円板１７を
高速回転させる。オプテイカルエンコーダにより回転角
位置を計測し、光検出器１４の測定位置と同期させる。
回転させると、各々の光学部品偏光子の位置が不明にな
るために、計測初期値に決めるためのフォトインタラプ
タを配置する。
束は、レンズ１２により平行光にされる。その光軸上に
同一ピッチ円上に光学部品偏光子を配置した円板１７を
高速回転させる。オプテイカルエンコーダにより回転角
位置を計測し、光検出器１４の測定位置と同期させる。
回転させると、各々の光学部品偏光子の位置が不明にな
るために、計測初期値に決めるためのフォトインタラプ
タを配置する。
【０００９】更に、本発明の偏光解析器では、回転円板
上に設けられた各々の偏光子に対して各々もう１つの組
合わせ偏光子を、回転円板の上の同じピッチ円周上に設
け、最初の偏光子で解析すべき偏光とは異なる波長の偏
光を同時に解析できる構成にできる。即ち、１つの波長
域しか計測できないものとしなく、複数の波長域でも計
測することができるようにしたものである。同一円周上
に異なる波長特性の光学部品による偏光子を更に配置す
ることにより、２種類以上の波長帯域の計測が可能にし
たものである。
上に設けられた各々の偏光子に対して各々もう１つの組
合わせ偏光子を、回転円板の上の同じピッチ円周上に設
け、最初の偏光子で解析すべき偏光とは異なる波長の偏
光を同時に解析できる構成にできる。即ち、１つの波長
域しか計測できないものとしなく、複数の波長域でも計
測することができるようにしたものである。同一円周上
に異なる波長特性の光学部品による偏光子を更に配置す
ることにより、２種類以上の波長帯域の計測が可能にし
たものである。
【００１０】図３は、その第１及び第２の組合わせ偏光
子と光路を斜視図で示すものである。エンコーダとフォ
トインタラプタを搭載し、円板の同一ピッチ円周上に、
異なる波長帯域の偏光子及び波長板を取付け、回転角位
置と光検出器の計測位置を同期させ、特定の角度のとき
に、計測するように設定する。即ち、偏光子２３の透過
方向軸をＸ軸と平行とすると、偏光子２２と偏光子２１
は、Ｘ軸に対し＋４５°方向に透過方向軸を配置し、４
分の１波長板のＦＡＳＴ軸をＸ軸に対して平行に配置す
る。これに対して、第２の波長域を測定するための偏光
子２５、２６、２７、２８では、偏光子２７の透過方向
軸をＸ軸と平行とすると、偏光子２５、２６はＸ軸に対
し＋４５°方向に透過方向軸を配置し、４分の１波長板
３１のＦＡＳＴ軸をＸ軸に対して平行に配置してある。
子と光路を斜視図で示すものである。エンコーダとフォ
トインタラプタを搭載し、円板の同一ピッチ円周上に、
異なる波長帯域の偏光子及び波長板を取付け、回転角位
置と光検出器の計測位置を同期させ、特定の角度のとき
に、計測するように設定する。即ち、偏光子２３の透過
方向軸をＸ軸と平行とすると、偏光子２２と偏光子２１
は、Ｘ軸に対し＋４５°方向に透過方向軸を配置し、４
分の１波長板のＦＡＳＴ軸をＸ軸に対して平行に配置す
る。これに対して、第２の波長域を測定するための偏光
子２５、２６、２７、２８では、偏光子２７の透過方向
軸をＸ軸と平行とすると、偏光子２５、２６はＸ軸に対
し＋４５°方向に透過方向軸を配置し、４分の１波長板
３１のＦＡＳＴ軸をＸ軸に対して平行に配置してある。
【００１１】そして、シングルモード光ファイバー１１
から出た光は、レンズ１２により平行光にされる。その
光軸上に同一ピッチ円上に光学部品の偏光子を配置した
円板１７を高速回転させる。オプテイカルエンコーダに
よる回転角位置を計測し、光検出器の計測位置と同期さ
せて、計測する。回転円板１７を回転させると、各々の
光学部品の偏光子の位置が不明になるために、計測初期
値を決めるためフォトインタラプタを前記と同様に配置
する。
から出た光は、レンズ１２により平行光にされる。その
光軸上に同一ピッチ円上に光学部品の偏光子を配置した
円板１７を高速回転させる。オプテイカルエンコーダに
よる回転角位置を計測し、光検出器の計測位置と同期さ
せて、計測する。回転円板１７を回転させると、各々の
光学部品の偏光子の位置が不明になるために、計測初期
値を決めるためフォトインタラプタを前記と同様に配置
する。
【００１２】次に、本発明を具体的に実施例により説明
するが、本発明はそれらによって限定されるものではな
い。
するが、本発明はそれらによって限定されるものではな
い。
【００１３】
【実施例１】図２は、本発明の偏光解析器での光学部品
位置及び機構部品を説明する斜視図である。１１はシン
グルモード光ファイバーであり、入射光は光ファイバー
１１からレンズ１２を通って入射する。１３はレンズ、
１４は光検出器である。１５は、可変光減衰器で、１６
はオプテイカルエンコ−ダ付きモ−タで、１７は回転円
板で、１８はＬＥＤ（発光素子）で、１９はフォトトラ
ンジスタ、２０はＬＥＤ（発光素子）からの光が通過す
る孔で、２１は、４分の１波長板３１を付けた第１の偏
光子で、２２は第２の偏光子、２３は第３の偏光子で、
２４は光学部品のないキリ孔である。
位置及び機構部品を説明する斜視図である。１１はシン
グルモード光ファイバーであり、入射光は光ファイバー
１１からレンズ１２を通って入射する。１３はレンズ、
１４は光検出器である。１５は、可変光減衰器で、１６
はオプテイカルエンコ−ダ付きモ−タで、１７は回転円
板で、１８はＬＥＤ（発光素子）で、１９はフォトトラ
ンジスタ、２０はＬＥＤ（発光素子）からの光が通過す
る孔で、２１は、４分の１波長板３１を付けた第１の偏
光子で、２２は第２の偏光子、２３は第３の偏光子で、
２４は光学部品のないキリ孔である。
【００１４】各々の光学部品の軸の関係は、直交ＸＹ座
標において、第３の偏光子２３の透過方向をＸ軸と平行
とすると、第１の偏光子２１及び第２の偏光子２２は、
Ｘ軸に対して＋４５°方向に透過方向を配置し、４分の
１波長板３０のＦＡＳＴ軸をＸ軸に対して平行に配置し
ておく。
標において、第３の偏光子２３の透過方向をＸ軸と平行
とすると、第１の偏光子２１及び第２の偏光子２２は、
Ｘ軸に対して＋４５°方向に透過方向を配置し、４分の
１波長板３０のＦＡＳＴ軸をＸ軸に対して平行に配置し
ておく。
【００１５】光学部品のないキリ孔２４を通過する光束
はＩｔで、第３の偏光子２３を通過する偏光成分をＩｘ
であり、第２の偏光子２２を通過する偏光成分をＩ45で
あり、４分の１波長板３０を付けた第１の偏光子２１を
通過する偏光成分をＩQ45とする。本発明の偏光解析器
において、この４つの偏光成分Ｉｔ、Ｉｘ、Ｉ４５、Ｉ
Q45を出力し、計算を行ない、偏光状態を観測する。
はＩｔで、第３の偏光子２３を通過する偏光成分をＩｘ
であり、第２の偏光子２２を通過する偏光成分をＩ45で
あり、４分の１波長板３０を付けた第１の偏光子２１を
通過する偏光成分をＩQ45とする。本発明の偏光解析器
において、この４つの偏光成分Ｉｔ、Ｉｘ、Ｉ４５、Ｉ
Q45を出力し、計算を行ない、偏光状態を観測する。
【００１６】オプテイカルエンコーダ１６としては、分
解能の高いものを使用した。フォトトランジスタ１９と
しては、高速応答性の良いものを使用する。高速応答性
の良い光検出器は受光面積が狭くなるため、レンズ１３
で光束を集光させる。１０ＭＨｚの高周波の変調光も計
測できるようにするために、レンズ３で光束を集光させ
る。１０ＭＨｚ変調光も計測できるようにするために、
可変光減衰器を使用して、光でゲイン調整する。これに
より、オペアアンプ回路の単純化と高性能化が可能とな
る。
解能の高いものを使用した。フォトトランジスタ１９と
しては、高速応答性の良いものを使用する。高速応答性
の良い光検出器は受光面積が狭くなるため、レンズ１３
で光束を集光させる。１０ＭＨｚの高周波の変調光も計
測できるようにするために、レンズ３で光束を集光させ
る。１０ＭＨｚ変調光も計測できるようにするために、
可変光減衰器を使用して、光でゲイン調整する。これに
より、オペアアンプ回路の単純化と高性能化が可能とな
る。
【００１７】回転円板１７をモータで回転させると、フ
ォトインタラプタに信号があると次にくるキリ孔２４の
通過時間を光検出器で計測することができる。キリ孔２
４の通過はじめからエンコーダのパルスを計測する。次
に同じ孔がくるときに、孔の中心位置で光検出を行なう
ようにパルスと通過時間から計算する。その中心位置を
エンコーダ測定原点として、９０°毎に、４つの光束Ｉ
ｔ、Ｉｘ、Ｉ45、ＩQ45 を計測することができる。
ォトインタラプタに信号があると次にくるキリ孔２４の
通過時間を光検出器で計測することができる。キリ孔２
４の通過はじめからエンコーダのパルスを計測する。次
に同じ孔がくるときに、孔の中心位置で光検出を行なう
ようにパルスと通過時間から計算する。その中心位置を
エンコーダ測定原点として、９０°毎に、４つの光束Ｉ
ｔ、Ｉｘ、Ｉ45、ＩQ45 を計測することができる。
【００１８】
【実施例２】図４は、本発明の偏光解析器の他の例を示
す斜視図である。解析すべき偏光光束は、シングルモー
ド光ファイバー１１から入り、レンズ１２で平行光束と
なり、入射する。そして、高速回転する光学部品取付回
転円板１７の所定位置に当るが、その位置には、実施例
１の第１の偏光子２１、第２の偏光子２２、第３の偏光
子２３及びキリ孔２４の各々に、図示のように、次の箇
所に更に、第１の偏光子２５、第２の偏光子２６、第３
の偏光子２７及びキリ孔２８が設けられている。即ち、
第１の偏光子２１、第２の偏光子２２、第３の偏光子２
３及びキリ孔２４の組合わせは、第１の波長のためのも
のであり、そして、第１の偏光子２５、第２の偏光子２
６、第３の偏光子２７及びキリ孔２８の組合わせは、第
２の波長の光のためである。そして、可変減衰器１５、
集光のためのレンズ１３及び光検出器１４は、実施例１
と同様である。また、回転円板の回転を調整するための
オプテイカルエンコーダ付きモータ１６、ＬＥＤ１８と
キリ孔２０とフォトトランジスタ１９のフォトインタラ
プタは、実施例と同じである。
す斜視図である。解析すべき偏光光束は、シングルモー
ド光ファイバー１１から入り、レンズ１２で平行光束と
なり、入射する。そして、高速回転する光学部品取付回
転円板１７の所定位置に当るが、その位置には、実施例
１の第１の偏光子２１、第２の偏光子２２、第３の偏光
子２３及びキリ孔２４の各々に、図示のように、次の箇
所に更に、第１の偏光子２５、第２の偏光子２６、第３
の偏光子２７及びキリ孔２８が設けられている。即ち、
第１の偏光子２１、第２の偏光子２２、第３の偏光子２
３及びキリ孔２４の組合わせは、第１の波長のためのも
のであり、そして、第１の偏光子２５、第２の偏光子２
６、第３の偏光子２７及びキリ孔２８の組合わせは、第
２の波長の光のためである。そして、可変減衰器１５、
集光のためのレンズ１３及び光検出器１４は、実施例１
と同様である。また、回転円板の回転を調整するための
オプテイカルエンコーダ付きモータ１６、ＬＥＤ１８と
キリ孔２０とフォトトランジスタ１９のフォトインタラ
プタは、実施例と同じである。
【００１９】第１の偏光子２１、２５には、４分の１波
長板３１、３２を備える。第１の波長光のための各々の
光学部品の軸の関係は、直交ＸＹ座標において、第３の
偏光子２３の透過方向をＸ軸と平行とすると、第１の偏
光子２１及び第２の偏光子２２は、Ｘ軸に対し＋４５°
方向に透過方向を配置し、４分の１波長板３１のＦＡＳ
Ｔ軸をＸ軸に対して平行に配置する。また、第２の波長
の光に対しても、同様の光学部品の配置にする。即ち、
光学部品のないキリ孔２４を通過する光束をＩｔ、第３
の偏光子２３を通過する光束をＩｘ、第２の偏光子２２
を通過する光束をＩ45、４分の１波長板３１を有する第
１の偏光子を通過する光学をＩQ45 とする。
長板３１、３２を備える。第１の波長光のための各々の
光学部品の軸の関係は、直交ＸＹ座標において、第３の
偏光子２３の透過方向をＸ軸と平行とすると、第１の偏
光子２１及び第２の偏光子２２は、Ｘ軸に対し＋４５°
方向に透過方向を配置し、４分の１波長板３１のＦＡＳ
Ｔ軸をＸ軸に対して平行に配置する。また、第２の波長
の光に対しても、同様の光学部品の配置にする。即ち、
光学部品のないキリ孔２４を通過する光束をＩｔ、第３
の偏光子２３を通過する光束をＩｘ、第２の偏光子２２
を通過する光束をＩ45、４分の１波長板３１を有する第
１の偏光子を通過する光学をＩQ45 とする。
【００２０】本発明の偏光解析器においては、この４つ
の光束Ｉｔ、Ｉｘ、Ｉ45、ＩQ45 を出力し、計算を行な
い、偏光状態を観測することができる。そして、本発明
の偏光解析器において、オプテイカルエンコーダは分解
能の高いものを使用する。フォトトランジスタ１９は、
高速応答性の良いものを使用する必要がある。高速応答
性の良い光検出器は受光面積が狭くなるために、集光レ
ンズ１３で光を集光させる。１０ＭＨｚの高周波数の変
調光も計測可能にするために、可変光減衰器１５を使用
し、光束でゲイン調整を行なう。これにより、オペアン
プ回路を単純化し、高性能にすることが可能である。オ
プテイカルエンコーダで調整してオプテイカルエンコー
ダ付きのモータ１６を回転させる。即ち、フォトインタ
ラプタに信号があると次にくるキリ孔２４を通過する時
間を光検出器で計測する。キリ孔２４の通過はじめから
エンコーダのパルスを計測する。次に、同じ孔にくると
き、その孔の中心位置で光検出し、パルスと通過時間か
ら計算することができる。その中心位置をエンコーダで
測定原点とし、９０°毎に、Ｉｔ、Ｉｘ、Ｉ45、ＩQ45
を測定することができる。
の光束Ｉｔ、Ｉｘ、Ｉ45、ＩQ45 を出力し、計算を行な
い、偏光状態を観測することができる。そして、本発明
の偏光解析器において、オプテイカルエンコーダは分解
能の高いものを使用する。フォトトランジスタ１９は、
高速応答性の良いものを使用する必要がある。高速応答
性の良い光検出器は受光面積が狭くなるために、集光レ
ンズ１３で光を集光させる。１０ＭＨｚの高周波数の変
調光も計測可能にするために、可変光減衰器１５を使用
し、光束でゲイン調整を行なう。これにより、オペアン
プ回路を単純化し、高性能にすることが可能である。オ
プテイカルエンコーダで調整してオプテイカルエンコー
ダ付きのモータ１６を回転させる。即ち、フォトインタ
ラプタに信号があると次にくるキリ孔２４を通過する時
間を光検出器で計測する。キリ孔２４の通過はじめから
エンコーダのパルスを計測する。次に、同じ孔にくると
き、その孔の中心位置で光検出し、パルスと通過時間か
ら計算することができる。その中心位置をエンコーダで
測定原点とし、９０°毎に、Ｉｔ、Ｉｘ、Ｉ45、ＩQ45
を測定することができる。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の偏光解析
器により、次のような顕著な技術的効果が得られた。第
１に、ミラー、プリズム等を必要としないため透過損失
が少なく、偏光特性、位相の飛びがない偏光解析器を可
能にした。第２に、従来の偏光解析器では光検出器が４
つ必要であったので、個々のフォトダイオードの性能の
バラツキを調整しなければならなかったが、本発明の偏
光解析器により、光検出器が１つになったため、そのよ
うな調整が不要になった。第３に、従って、構造が単純
にできる偏光解析器を提供する。第４に、可変光減衰器
を挿入するので、ＤＣから高速変調光の測定も可能にな
った。第５に、更に、２種類以上の波長帯域の測定が可
能になった偏光解析器を提供する。
器により、次のような顕著な技術的効果が得られた。第
１に、ミラー、プリズム等を必要としないため透過損失
が少なく、偏光特性、位相の飛びがない偏光解析器を可
能にした。第２に、従来の偏光解析器では光検出器が４
つ必要であったので、個々のフォトダイオードの性能の
バラツキを調整しなければならなかったが、本発明の偏
光解析器により、光検出器が１つになったため、そのよ
うな調整が不要になった。第３に、従って、構造が単純
にできる偏光解析器を提供する。第４に、可変光減衰器
を挿入するので、ＤＣから高速変調光の測定も可能にな
った。第５に、更に、２種類以上の波長帯域の測定が可
能になった偏光解析器を提供する。
【図１】従来の偏光解析器で用いる光分岐の方法を示す
説明図である。
説明図である。
【図２】本発明の偏光解析器の光分岐方式を説明する斜
視説明図である。
視説明図である。
【図３】本発明の偏光解析器の他の例の概念を示す斜視
説明図である。
説明図である。
【図４】本発明の偏光解析器の他の例を示す斜視説明図
である。
である。
１１ シングルモード光フ
ァイバー １２、１３ レンズ １４ 光検出器 １５ 可変光減衰器 １６ オプテイカルエンコ
ーダ付きモータ １７ 回転円板 １８ ＬＥＤ １９ フォトトランジスタ ２０ キリ孔 ２１、２２、２３ 第１、第２及び第３
の偏光子 ２４、２８ 光学部品のないキリ
孔 ２５、２６、２７ 第２種類の第１、第
２及び第３の偏光子 ３０、３１ ４分の１波長板
ァイバー １２、１３ レンズ １４ 光検出器 １５ 可変光減衰器 １６ オプテイカルエンコ
ーダ付きモータ １７ 回転円板 １８ ＬＥＤ １９ フォトトランジスタ ２０ キリ孔 ２１、２２、２３ 第１、第２及び第３
の偏光子 ２４、２８ 光学部品のないキリ
孔 ２５、２６、２７ 第２種類の第１、第
２及び第３の偏光子 ３０、３１ ４分の１波長板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 波平宣敬 埼玉県上福岡市大原２丁目１番15号国際電 信電話株式会社上福岡研究所内
Claims (3)
- 【請求項１】 偏光解析すべき光束に対して、４分の１
波長板を付けた第１の左回り偏光特性の偏光子、第２の
０°方向の透過方向軸のを有する偏光子、第３の４５°
方向の透過方向軸のを有する偏光子及びキリ孔偏光子を
等間隔のピッチ円周角度で設けた回転円板を有し、更
に、回転円板の回転を同調させるための光学同調装置を
有し、そして、該回転円板の各偏光子で分割された光束
の光路上に１つの検出器を備えたことを特徴とする偏光
解析器。 - 【請求項２】前記の円板上に設けた各偏光子の次の回転
角位置に互いに等回転角度位置に、特定の波長フィルタ
ーを備える各偏光子の群を有することを特徴とする請求
項１に記載の偏光解析器。 - 【請求項３】前記の偏光子の群は、２群以上有し、複数
の波長に対して各波長偏光を解析することができること
を特徴とする請求項２に記載の偏光解析器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04185554A JP3106174B2 (ja) | 1992-07-13 | 1992-07-13 | 偏光解析器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04185554A JP3106174B2 (ja) | 1992-07-13 | 1992-07-13 | 偏光解析器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0634445A true JPH0634445A (ja) | 1994-02-08 |
| JP3106174B2 JP3106174B2 (ja) | 2000-11-06 |
Family
ID=16172841
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04185554A Expired - Fee Related JP3106174B2 (ja) | 1992-07-13 | 1992-07-13 | 偏光解析器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3106174B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08148811A (ja) * | 1994-11-22 | 1996-06-07 | Nec Toyama Ltd | プリント配線板の製造方法 |
-
1992
- 1992-07-13 JP JP04185554A patent/JP3106174B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08148811A (ja) * | 1994-11-22 | 1996-06-07 | Nec Toyama Ltd | プリント配線板の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3106174B2 (ja) | 2000-11-06 |
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