JPH06347484A - ランダムサンプリング記憶回路 - Google Patents

ランダムサンプリング記憶回路

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JPH06347484A
JPH06347484A JP5166078A JP16607893A JPH06347484A JP H06347484 A JPH06347484 A JP H06347484A JP 5166078 A JP5166078 A JP 5166078A JP 16607893 A JP16607893 A JP 16607893A JP H06347484 A JPH06347484 A JP H06347484A
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JP
Japan
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JP5166078A
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Hirohisa Ishida
博久 石田
Mitsunobu Iwabuchi
光伸 岩淵
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Kokusai Denki Electric Inc
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Hitachi Denshi KK
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 デジタルオシロスコープにおいて、ランダム
サンプルを行うと、トリガ許可までの時間がかかり、波
形の更新に時間がかかるという欠点があった。このた
め、データ取込み手段を改良し、ランダムサンプル時の
波形データ更新を早くすることを目的とする。 【構成】 メモリにシリアルアクセスメモリ部とロウア
ドレスとカラムアドレスからアドレス設定可能なダイナ
ミックRAM部からなるRAMを使用し、A/Dの処理
データを最初にシリアルアクセスメモリ部に格納し、格
納が終了したら次にダイナミックRAM部に転送するよ
うにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ランダムサンプリング
方式のデジタルオシロスコープにおけるデータ取込み記
憶回路の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の技術を図2、図3、図4、図5を
使って説明する。被観測信号の周期よりも遅いサンプル
クロックで被観測信号をサンプリング、記憶し、この波
形表示を行う場合、何らかの方法でサンプル時間と被観
信号のデータ(トリガ点とサンプルクロックとの時間
差)を保持しておかなければならない。この一つの方式
として、ランダムサンプル方式がある。
【0003】ランダムサンプル方式では、サンプルクロ
ックとトリガは非同期である。このため、波形データを
メモリに取込む場合は、入力信号がトリガレベルを過ぎ
た点から次のサンプルクロックまでの時間を計ってお
く。同様に次のサンプルクロックでサンプリングされた
入力信号の場合も同様にその時間差を計り、何波形かの
データをトリガ点を基準に重ねて入力波形を記憶表示す
る。このランダムサンプルを行う場合の動作について、
図3、図4、図5を用いて説明する。図3はブロック分
けされたデータの格納状態を示し、図4は観測信号Aと
再生波形ポイントBを示す。図5はトリガ信号とサンプ
ルクロックの時間関係を示す。図3においてA/D変換
器でアナログからディジタルに処理されたデータは、A
/Dしたデータの時間的順序8のようにトリガとサンプ
ルクロックの時間の長さ△tnによってブロック分けさ
れ、一定周期tsでサンプリングされたデータ(図5参
照)はブロック3、ブロック2、ブロック4、ブロック
1といったように、ランダムに取込まれる。これをデー
タの並べかえ9を行い、矢印のように読み出せば、図4
に示すように観測信号のデータ再生が行われる。さて上
記のような動作を実行するために、従来技術では、図2
に示すよう最初にA/D変換器1でアナログからディジ
タルに処理されたデータ、例えばデータブロック3は、
一担スタティックRAM6に格納される。次にスタティ
ックRAM6に格納されたデータは、μコン2により最
初データ3−1が読み出され、トリガとサンプルクロッ
クの時間の長さ△t3分のアドレス(先頭アドレス演
算)を飛ばし、スタティックRAM7に書き込まれる。
次にデータ3−2が読み出され、サンプルクロックの一
定周期ts分のアドレス(飛ばしアドレス演算)を飛ば
し、スタティックRAM7に書き込まれ、この作業が次
々と繰り返される。データの最後が、スタティックRA
M7に書き込まれてはじめて、次のトリガが許可され、
ブロック2のデータが取込まれ、同様にブロック4、ブ
ロック1と続けられる。スタティックRAMB7のデー
タは矢印の読み出し順序でI/Oポートに転送される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このように、取得デー
タの先頭アドレス演算及び、飛ばしアドレス演算等のデ
ータ並べかえのための全アドレス管理がμコン処理によ
ってしまうため、前述の従来技術では、トリガの許可ま
でに時間がかかり、表示波形の更新が遅くなるという欠
点があった。本発明は、データ取込み手段を改良し、ラ
ンダムサンプル時の波形データ更新を早くすることを目
的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するため、A/D変換器のあとに、シリアルアクセ
スメモリ部と、ロウアドレスとカラムアドレスからアド
レス設定可能なダイナミックRAM(例えばビデオRA
M)部から構成されるRAMを接続したものである。
【0006】
【作用】このような接続により、最初A/D変換された
データをシリアルアクセスメモリ部に格納し、次にシリ
アルアクセスメモリ部からダイナミックRAM部にデー
タを転送するようにしたものである。その結果、データ
が並べかえなしで一括でシリアルアクセスメモリ部から
ダイナミックRAM部に転送され、データ更新に時間が
かからない。
【0007】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図1により説明
する。A/D変換器1の出力は、シリアルアクセスメモ
リ部4とダイナミックRAM部5から構成されるRAM
8のシリアルアクセスメモリ部4のデータ入力部に接続
され、前記RAM8のコントロール入力は、μコン2の
AB、RD、WRに接続されている。前記ダイナミック
RAM部5の出力は、I/Oポートに接続されている。
A/D変換器1でデジタル処理されたデータブロック3
は、シリアルアクセスメモリ部4と、ダイナミックRA
M部5から構成されるRAM3のシリアルアクセスメモ
リ部4に、3−1、3−2、・・・・3−nと次々に格
納される。シリアルアクセスメモリ部4に、格納が終了
したら、その格納されたデータをμコン2により、ダイ
ナミックRAM部5のロウアドレス3を指定すると、3
−1から3−nまでの1バイトのデータn個を1回でダ
イナミックRAM部5に格納する。続いて次のトリガが
許可され、ブロック2のデータが取込まれる。ブロック
3と同様に、ブロック2が終了すれば、ブロック4、ブ
ロック1と続けられる。I/Oポートへの読み出しは、
矢印のようにアドレスをかえてゆけば、ランダムサンプ
ルによる波形再生が実行できる。
【0008】
【発明の効果】本発明によれば、ランダムサンプル方式
でもアドレス管理が単純化されるため、データ更新時間
が短かくなり、リアルタイム感覚の表示画面となり、高
品位のディジタルオシロスコープが実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の構成を示すブロック図。
【図2】従来の構成を示すブロック図。
【図3】ランダムサンプル時のデータの格納状態を説明
するブロック図。
【図4】観測波形と再生波形の関係を示す説明図。
【図5】サンプルクロックとトリガ信号の関係を示す波
形図。
【符号の説明】
1 A/D 2 μコン 4 シリアルアクセスメモリ 5 ダイナミックRAM 6 スタティックRAMA 7 スタティックRAMB 8 RAM

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 A/D変換器と、該A/D変換器の後段
    のシリアルアクセスメモリ部とロウアドレスとカラムア
    ドレスからアドレス設定可能なダイナミックRAM部か
    ら成るRAM部と、該RAM部内の前記シリアルアクセ
    スメモリ部と前記ダイナミックRAM部を制御するマイ
    クロコンピュータにより構成する一括転送可能なランダ
    ムサンプリング記憶回路。
JP16607893A 1993-06-11 1993-06-11 ランダムサンプリング記憶回路 Expired - Fee Related JP3267393B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100518661B1 (ko) * 1997-04-04 2005-12-07 텍트로닉스 인코포레이티드 전기파형의디지털샘플링방법
JP2009531742A (ja) * 2006-03-29 2009-09-03 テクトロニクス・インコーポレイテッド 高速ラスタライザ

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100518661B1 (ko) * 1997-04-04 2005-12-07 텍트로닉스 인코포레이티드 전기파형의디지털샘플링방법
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