JPH0635982A - 図面管理方式 - Google Patents
図面管理方式Info
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- JPH0635982A JPH0635982A JP4214591A JP21459192A JPH0635982A JP H0635982 A JPH0635982 A JP H0635982A JP 4214591 A JP4214591 A JP 4214591A JP 21459192 A JP21459192 A JP 21459192A JP H0635982 A JPH0635982 A JP H0635982A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 図面の基準座標点を高速に検出可能にすると
ともに、図面入力時の角度の傾きを高速に補正できるよ
うにする。 【構成】 図面枠ＡＸ，ＡＹが黒で描画されていること
に着目し、図面枠の画素が格納されたメモリ内をＸ方向
に走査し、Ｙ方向の黒画素数（ヒストグラム）をカウン
トし、最初の連続してヒストグラムの表れる座標点を図
面の基準座標点Ｏとする。また、Ｘ方向の走査画素数と
Ｙ方向のヒストグラムの値との比により図面の入力時の
傾き角（補正角）θを求め、基準座標点を中心として回
転することにより角度補正する。また、図面枠を空間微
分し、この空間微分画像に関して基準座標点より線追跡
を行い、傾き角を求め、角度補正する。
ともに、図面入力時の角度の傾きを高速に補正できるよ
うにする。 【構成】 図面枠ＡＸ，ＡＹが黒で描画されていること
に着目し、図面枠の画素が格納されたメモリ内をＸ方向
に走査し、Ｙ方向の黒画素数（ヒストグラム）をカウン
トし、最初の連続してヒストグラムの表れる座標点を図
面の基準座標点Ｏとする。また、Ｘ方向の走査画素数と
Ｙ方向のヒストグラムの値との比により図面の入力時の
傾き角（補正角）θを求め、基準座標点を中心として回
転することにより角度補正する。また、図面枠を空間微
分し、この空間微分画像に関して基準座標点より線追跡
を行い、傾き角を求め、角度補正する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は地図や回路図などの図面
を管理する図面管理システムにおける図面管理方式に関
するものである。
を管理する図面管理システムにおける図面管理方式に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に地図や回路図等のような図面は図
５に示されるように図面枠ＡＶが図面Ｐ内に存在し、図
面枠ＡＶの中に図形が描かれている。この図面Ｐを図面
管理システムのメモリ（図示せず）に格納する場合、図
６に示すイメージリーダＩＲにより図面Ｐを読み込み、
メモリ内に図面Ｐ上の白画素と黒画素とを識別して格納
する。イメージリーダＩＲの読み取り精度は各イメージ
リーダの機種によって異なるが、一般に１０ドット／ｍ
ｍ以上の精度のものが現在使用されている。イメージリ
ーダＩＲに図面Ｐを読み込む際、通常イメージリーダＩ
ＲのガイドＧ１，Ｇ２に沿って図面Ｐを読み込むが、完
全にガイドＧ１，Ｇ２に平行に図面Ｐを読み込ませるこ
とは不可能であり、通常図面Ｐの枠とガイドＧ１とは微
小角θの誤差を持って読み込まれる。
５に示されるように図面枠ＡＶが図面Ｐ内に存在し、図
面枠ＡＶの中に図形が描かれている。この図面Ｐを図面
管理システムのメモリ（図示せず）に格納する場合、図
６に示すイメージリーダＩＲにより図面Ｐを読み込み、
メモリ内に図面Ｐ上の白画素と黒画素とを識別して格納
する。イメージリーダＩＲの読み取り精度は各イメージ
リーダの機種によって異なるが、一般に１０ドット／ｍ
ｍ以上の精度のものが現在使用されている。イメージリ
ーダＩＲに図面Ｐを読み込む際、通常イメージリーダＩ
ＲのガイドＧ１，Ｇ２に沿って図面Ｐを読み込むが、完
全にガイドＧ１，Ｇ２に平行に図面Ｐを読み込ませるこ
とは不可能であり、通常図面Ｐの枠とガイドＧ１とは微
小角θの誤差を持って読み込まれる。
【０００３】このため図７に示すようにメモリ内では図
面Ｐは水平方向からθだけずれた形で格納されることに
なる。一般に図面Ｐ内の点ＰＯの座標（Ｘ，Ｙ）は図面
Ｐの縦枠と横枠の交わる図７内の点Ｏを原点として点Ｐ
ＯのＸ方向，Ｙ方向の距離で表される。このため上述の
ように角θだけ誤差が生じると図面枠ＡＶを基準座標と
した場合に比較して例えばＸ座標に関しては｜ａ１−ａ
２｜の誤差を生じる。Ｙ座標に関しても同様である。こ
の誤差を補正するために従来はハフ（Ｈｏｕｇｈ）変換
アルゴリズムを利用している。すなわちハフ変換の公式
ρ＝Ｘ０・ｃｏｓθ＋Ｙ０・ｓｉｎθの公式に従い例え
ば図面枠ＡＶの縦軸の近傍Ａ１を走査し、図面縦枠の各
画素点に対しハフ変換を施しＸ，Ｙ平面より、（ρ，
θ）平面に変換し（ρ，θ）平面上で、誤差角θに対す
る角θ１（図８参照）を求めることにより誤差角θを補
正する。ハフ変換による傾き補正のアルゴリズムは一般
に用いられているアルゴリズムであるので、ここでは説
明を省略する。
面Ｐは水平方向からθだけずれた形で格納されることに
なる。一般に図面Ｐ内の点ＰＯの座標（Ｘ，Ｙ）は図面
Ｐの縦枠と横枠の交わる図７内の点Ｏを原点として点Ｐ
ＯのＸ方向，Ｙ方向の距離で表される。このため上述の
ように角θだけ誤差が生じると図面枠ＡＶを基準座標と
した場合に比較して例えばＸ座標に関しては｜ａ１−ａ
２｜の誤差を生じる。Ｙ座標に関しても同様である。こ
の誤差を補正するために従来はハフ（Ｈｏｕｇｈ）変換
アルゴリズムを利用している。すなわちハフ変換の公式
ρ＝Ｘ０・ｃｏｓθ＋Ｙ０・ｓｉｎθの公式に従い例え
ば図面枠ＡＶの縦軸の近傍Ａ１を走査し、図面縦枠の各
画素点に対しハフ変換を施しＸ，Ｙ平面より、（ρ，
θ）平面に変換し（ρ，θ）平面上で、誤差角θに対す
る角θ１（図８参照）を求めることにより誤差角θを補
正する。ハフ変換による傾き補正のアルゴリズムは一般
に用いられているアルゴリズムであるので、ここでは説
明を省略する。
【０００４】なお、直交座標系と極座標系の関係は図８
に示す。図８（ａ）に示すＸ−Ｙ直交座標系において、
ρ１は原点より直線Ｌへの距離、θ１は直線Ｌへの垂線
のＸ軸に対する傾き、点（Ｘ０，Ｙ０）は直線Ｌと垂線
の交点を示す。また図８（ｂ）に示すρ−θ極座標系に
おいて、点（ρ１，θ１）は図８（ａ）中の点（Ｘ０，
Ｙ０）に対応する点を示す。したがって、ρ１＝Ｘ０・
ｃｏｓθ１＋Ｙ０・ｓｉｎθ１という関係が成立する。
に示す。図８（ａ）に示すＸ−Ｙ直交座標系において、
ρ１は原点より直線Ｌへの距離、θ１は直線Ｌへの垂線
のＸ軸に対する傾き、点（Ｘ０，Ｙ０）は直線Ｌと垂線
の交点を示す。また図８（ｂ）に示すρ−θ極座標系に
おいて、点（ρ１，θ１）は図８（ａ）中の点（Ｘ０，
Ｙ０）に対応する点を示す。したがって、ρ１＝Ｘ０・
ｃｏｓθ１＋Ｙ０・ｓｉｎθ１という関係が成立する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】以上説明したように従
来の図面管理方式では、実際の図面とイメージリーダで
読み取られたメモリに格納される図面との傾き補正（角
度補正）はハフ変換を用いて行うため、ｃｏｓθやｓｉ
ｎθの三角関数計算が必要になる。このような関数計算
を高速に実行させるためには関数計算専用のハードウェ
アを図面管理システムに備える必要があり、コスト的に
高価なものとなる。また図面管理システム内のＣＰＵを
用いソフトウェア的に実現するためには、ｃｏｓθ，ｓ
ｉｎθの数値演算を直線上の各点に関し行う必要があ
り、図面管理処理に多くの時間を要する。
来の図面管理方式では、実際の図面とイメージリーダで
読み取られたメモリに格納される図面との傾き補正（角
度補正）はハフ変換を用いて行うため、ｃｏｓθやｓｉ
ｎθの三角関数計算が必要になる。このような関数計算
を高速に実行させるためには関数計算専用のハードウェ
アを図面管理システムに備える必要があり、コスト的に
高価なものとなる。また図面管理システム内のＣＰＵを
用いソフトウェア的に実現するためには、ｃｏｓθ，ｓ
ｉｎθの数値演算を直線上の各点に関し行う必要があ
り、図面管理処理に多くの時間を要する。
【０００６】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、図面上の基準座標点を高速に検出
することができるとともに入力時の図面の傾きを高速に
補正することができる図面管理方式を提供することを目
的とする。
めになされたもので、図面上の基準座標点を高速に検出
することができるとともに入力時の図面の傾きを高速に
補正することができる図面管理方式を提供することを目
的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明に係る図
面管理方式では、画像処理専用プロセッサ４を設けるこ
とにより、図面内に描かれた図面枠に対応するメモリ２
内の画素の数に関するヒストグラムをカウントし、この
カウントされたヒストグラムに基づいて図面の基準座標
点を求めるようになっている。
面管理方式では、画像処理専用プロセッサ４を設けるこ
とにより、図面内に描かれた図面枠に対応するメモリ２
内の画素の数に関するヒストグラムをカウントし、この
カウントされたヒストグラムに基づいて図面の基準座標
点を求めるようになっている。
【０００８】請求項２の発明に係る図面管理方式では、
画像処理専用プロセッサ４を設けることにより、図面の
基準座標点を求め、この求められた基準座標点に対して
図面内を水平方向に１画素づつ画素をカウントし、また
水平方向のカウント値に対応して垂直方向にも画素をカ
ウントし、水平方向のカウント値と垂直方向のカウント
値の比に基づいて実際の図面とイメージリーダ１で読み
取られた図面の間の傾きを補正する補正角を求めるよう
になっている。
画像処理専用プロセッサ４を設けることにより、図面の
基準座標点を求め、この求められた基準座標点に対して
図面内を水平方向に１画素づつ画素をカウントし、また
水平方向のカウント値に対応して垂直方向にも画素をカ
ウントし、水平方向のカウント値と垂直方向のカウント
値の比に基づいて実際の図面とイメージリーダ１で読み
取られた図面の間の傾きを補正する補正角を求めるよう
になっている。
【０００９】請求項３の発明に係る図面管理方式では、
画像処理専用プロセッサ４を設けることにより、図面の
基準座標点を求め図面枠を空間微分し、この空間微分画
像に関して基準座標点より線追跡を行い、イメージリー
ダ１による図面入力時の角度歪みを補正するようになっ
ている。
画像処理専用プロセッサ４を設けることにより、図面の
基準座標点を求め図面枠を空間微分し、この空間微分画
像に関して基準座標点より線追跡を行い、イメージリー
ダ１による図面入力時の角度歪みを補正するようになっ
ている。
【００１０】
【作用】請求項１の発明においては、画像処理専用プロ
セッサ４は図面枠に対応するメモリ２に格納された画素
の数、例えば黒画素が連続して表れる画素の数、即ちヒ
ストグラムをカウントし、そのヒストグラムに基づいて
図面の基準座標点を求める。したがって、黒画素が連続
して表れる最初の点が図面の基準座標点となる。
セッサ４は図面枠に対応するメモリ２に格納された画素
の数、例えば黒画素が連続して表れる画素の数、即ちヒ
ストグラムをカウントし、そのヒストグラムに基づいて
図面の基準座標点を求める。したがって、黒画素が連続
して表れる最初の点が図面の基準座標点となる。
【００１１】請求項２の発明においては、基準座標点か
らの水平方向のカウント値と垂直方向のカウント値の比
によって、実際の図面とイメージリーダ１で読み取られ
た図面の間の傾きを補正する補正角が求まる。
らの水平方向のカウント値と垂直方向のカウント値の比
によって、実際の図面とイメージリーダ１で読み取られ
た図面の間の傾きを補正する補正角が求まる。
【００１２】請求項３の発明においては、空間微分画像
に関して基準座標点より線追跡が行われ、これにより図
面入力時の角度歪みが補正される。
に関して基準座標点より線追跡が行われ、これにより図
面入力時の角度歪みが補正される。
【００１３】
実施例１．（請求項１対応） 図３はこの発明の図面管理方式を採用した図面管理シス
テムの実施例を示すブロック図である。図３において、
１は図面を読み取るイメージリーダ、２はイメージリー
ダ１により読み取られた図面の画像を構成する画素を格
納するメモリ、３はイメージリーダ１とメモリ２間のデ
ータ処理等を行うＣＰＵ（中央処理装置）、４は図面内
に描かれた図面枠に対応するメモリ２内の画素の数に関
するヒストグラムをカウントし、このカウントされたヒ
ストグラムに基づいて図面の基準座標点を求める処理等
を行う画像処理専用プロセッサである。
テムの実施例を示すブロック図である。図３において、
１は図面を読み取るイメージリーダ、２はイメージリー
ダ１により読み取られた図面の画像を構成する画素を格
納するメモリ、３はイメージリーダ１とメモリ２間のデ
ータ処理等を行うＣＰＵ（中央処理装置）、４は図面内
に描かれた図面枠に対応するメモリ２内の画素の数に関
するヒストグラムをカウントし、このカウントされたヒ
ストグラムに基づいて図面の基準座標点を求める処理等
を行う画像処理専用プロセッサである。
【００１４】図１は図面に描かれた図面枠の上記メモリ
２内での２次元配列の状態を示す図で、図１における領
域ＡＸ，ＡＹ（図面枠）は図５の点Ｏの近傍を拡大した
図である。領域ＡＸ，ＡＹを含む図は図３に示すイメー
ジリーダ１によって読み込まれ、ＣＰＵ３の処理により
メモリ２内に画像の黒画素及び白画素として格納され
る。即ち、領域ＡＸ，ＡＹ（図面枠）は、実際は黒で表
示されるので黒画素から成り、その他の部分は白画素か
ら成る。したがって、メモリ２には黒画素を示す論理
「１」と白画素を示す論理「０」が格納される。また、
図１において、点Ｏ１はメモリ２内での図面端（図５の
点Ｏ１に対応）を示す。
２内での２次元配列の状態を示す図で、図１における領
域ＡＸ，ＡＹ（図面枠）は図５の点Ｏの近傍を拡大した
図である。領域ＡＸ，ＡＹを含む図は図３に示すイメー
ジリーダ１によって読み込まれ、ＣＰＵ３の処理により
メモリ２内に画像の黒画素及び白画素として格納され
る。即ち、領域ＡＸ，ＡＹ（図面枠）は、実際は黒で表
示されるので黒画素から成り、その他の部分は白画素か
ら成る。したがって、メモリ２には黒画素を示す論理
「１」と白画素を示す論理「０」が格納される。また、
図１において、点Ｏ１はメモリ２内での図面端（図５の
点Ｏ１に対応）を示す。
【００１５】２次元メモリ２内をＸ方向に１画素ずつＹ
方向のヒストグラム（黒画素数）を画像処理専用プロセ
ッサ４によってカウントすると、点Ｘ１までは白画素の
みであるのでヒストグラム値は通常「０」である。点Ｘ
１に達して図面枠の黒画素に達するので、始めてヒスト
グラムがカウントされる。この時のメモリアドレス（Ｘ
１，Ｙ１）が点Ｏの座標であり、この点Ｏが図面の基準
座標点とすることができる。なお、図面内にはノイズと
して黒画素が存在することもあるので、ヒストグラムが
連続して増大する点を基準座標点とする必要がある。即
ち黒画素数が最初にカウントされても、その後のＸ方向
の走査に対してＹ方向のヒストグラムが「０」になれば
検出した黒画素はノイズである可能性があるので、その
検出黒画素の点を基準座標点としてはならない。
方向のヒストグラム（黒画素数）を画像処理専用プロセ
ッサ４によってカウントすると、点Ｘ１までは白画素の
みであるのでヒストグラム値は通常「０」である。点Ｘ
１に達して図面枠の黒画素に達するので、始めてヒスト
グラムがカウントされる。この時のメモリアドレス（Ｘ
１，Ｙ１）が点Ｏの座標であり、この点Ｏが図面の基準
座標点とすることができる。なお、図面内にはノイズと
して黒画素が存在することもあるので、ヒストグラムが
連続して増大する点を基準座標点とする必要がある。即
ち黒画素数が最初にカウントされても、その後のＸ方向
の走査に対してＹ方向のヒストグラムが「０」になれば
検出した黒画素はノイズである可能性があるので、その
検出黒画素の点を基準座標点としてはならない。
【００１６】実施例２．（請求項２対応） 上述した処理により図面の基準座標点Ｏ（Ｘ１，Ｙ１）
が検出され、この基準座標点Ｏ（Ｘ１，Ｙ１）に対して
図面内を水平方向（Ｘ方向）に１画素づつ画素をカウン
トし、また水平方向のカウント値に対応して垂直方向
（Ｙ方向）にも画素をカウントする。具体的には、Ｘ方
向の点Ｘ１以降のＸ２，Ｘ３，・・・，ＸＭに対しては
Ｙ方向の黒画素のカウント値（ヒストグラム）は増え続
け、点ＸＭを越えると一定値になる。この一定値に相当
する長さは図１中のＹ方向の長さＹＮとなる。
が検出され、この基準座標点Ｏ（Ｘ１，Ｙ１）に対して
図面内を水平方向（Ｘ方向）に１画素づつ画素をカウン
トし、また水平方向のカウント値に対応して垂直方向
（Ｙ方向）にも画素をカウントする。具体的には、Ｘ方
向の点Ｘ１以降のＸ２，Ｘ３，・・・，ＸＭに対しては
Ｙ方向の黒画素のカウント値（ヒストグラム）は増え続
け、点ＸＭを越えると一定値になる。この一定値に相当
する長さは図１中のＹ方向の長さＹＮとなる。
【００１７】図１からも明らかなように、ＹＮ＝ＹＮ１
＋ＹＮ２であり、ＹＮ１＝Ｗ１／ｓｉｎθ，ＹＮ２＝Ｗ
２／ｃｏｓθである。ただし、Ｗ１は図面枠ＡＹの幅、
Ｗ２は図面枠ＡＸの幅である。一般に誤差角θは非常に
小さく、３度以下である。この時、ｓｉｎθ＝０．０
５，ｃｏｓθ≒１であり、一般の図面枠の幅は２ｍｍ程
度であり、一般のイメージリーダの読み取り精度を１６
ドット／ｍｍとすると、Ｗ１＝Ｗ２＝３２となり、ＹＮ
１＝６４０，ＹＮ２＝３２であり、ＹＮ≒ＹＮ１とな
る。また、ＹＮ３＜ＹＮ２であり、ｔａｎθ＝（ＸＭ−
Ｘ１）／（ＹＮ１＋ＹＮ３）≒（ＸＭ−Ｘ１）／ＹＮと
なる。ただしＸＭはＹ方向のヒストグラム値が一定にな
る点である。したがって、最初に黒画素がカウントされ
る点Ｘ１とヒストグラム値が一定になる点ＸＭの差と、
点ＸＭでのＹ方向の黒画素のカウント値ＹＮとから誤差
角θが求まる。即ち、Ｘ方向のカウント値とＹ方向のカ
ウント値の比から実際の図面とイメージリーダ１で読み
取られた図面の間の傾きを補正する補正角θが求まる。
＋ＹＮ２であり、ＹＮ１＝Ｗ１／ｓｉｎθ，ＹＮ２＝Ｗ
２／ｃｏｓθである。ただし、Ｗ１は図面枠ＡＹの幅、
Ｗ２は図面枠ＡＸの幅である。一般に誤差角θは非常に
小さく、３度以下である。この時、ｓｉｎθ＝０．０
５，ｃｏｓθ≒１であり、一般の図面枠の幅は２ｍｍ程
度であり、一般のイメージリーダの読み取り精度を１６
ドット／ｍｍとすると、Ｗ１＝Ｗ２＝３２となり、ＹＮ
１＝６４０，ＹＮ２＝３２であり、ＹＮ≒ＹＮ１とな
る。また、ＹＮ３＜ＹＮ２であり、ｔａｎθ＝（ＸＭ−
Ｘ１）／（ＹＮ１＋ＹＮ３）≒（ＸＭ−Ｘ１）／ＹＮと
なる。ただしＸＭはＹ方向のヒストグラム値が一定にな
る点である。したがって、最初に黒画素がカウントされ
る点Ｘ１とヒストグラム値が一定になる点ＸＭの差と、
点ＸＭでのＹ方向の黒画素のカウント値ＹＮとから誤差
角θが求まる。即ち、Ｘ方向のカウント値とＹ方向のカ
ウント値の比から実際の図面とイメージリーダ１で読み
取られた図面の間の傾きを補正する補正角θが求まる。
【００１８】この実施例２の場合、ｔａｎθの計算は１
回だけで良く、ハフ変換のように各画素点に対する変換
が不要になり、処理の高速化が図れる。図１に示す誤差
角θが求まれば、点Ｏを中心としてθだけ図面枠ＡＸ，
ＡＹを左回転させることにより、角度補正が可能にな
る。
回だけで良く、ハフ変換のように各画素点に対する変換
が不要になり、処理の高速化が図れる。図１に示す誤差
角θが求まれば、点Ｏを中心としてθだけ図面枠ＡＸ，
ＡＹを左回転させることにより、角度補正が可能にな
る。
【００１９】図２に示すように図面枠ＡＸ’，ＡＹが傾
いた場合、図１の場合と同様にして基準座標点ＯＰが求
まるが、この点ＯＰは図５中の点ＯＰに対応する。この
場合、角度補正した後、Ｙ方向の枠の黒画素数をカウン
トし、点ＯＰのＹ座標よりＹ方向の下方向へ線を引くこ
とにより、図１中の点ＯのＹ座標を求めることができ
る。
いた場合、図１の場合と同様にして基準座標点ＯＰが求
まるが、この点ＯＰは図５中の点ＯＰに対応する。この
場合、角度補正した後、Ｙ方向の枠の黒画素数をカウン
トし、点ＯＰのＹ座標よりＹ方向の下方向へ線を引くこ
とにより、図１中の点ＯのＹ座標を求めることができ
る。
【００２０】図１の場合と図２の場合の区別であるが、
基準座標点のＹ座標の値で区別できる。即ち、Ｙ座標の
値がある一定の値以上であれば、図２に示すような図面
枠の傾きであり、ある一定の値未満であれば図１に示す
ような図面枠の傾きであることが区別できる。図１の場
合の補正角は左回転であり、図２の場合は右回転にな
る。
基準座標点のＹ座標の値で区別できる。即ち、Ｙ座標の
値がある一定の値以上であれば、図２に示すような図面
枠の傾きであり、ある一定の値未満であれば図１に示す
ような図面枠の傾きであることが区別できる。図１の場
合の補正角は左回転であり、図２の場合は右回転にな
る。
【００２１】上述したＹＮ、Ｘ１，・・・，ＸＭ、Ｙ１
等の値は図３におけるイメージリーダ１により入力さ
れ、そしてＣＰＵ３によりメモリ２に格納され、基準座
標点や誤差角θは画像処理専用プロセッサ４の処理によ
り求められる。
等の値は図３におけるイメージリーダ１により入力さ
れ、そしてＣＰＵ３によりメモリ２に格納され、基準座
標点や誤差角θは画像処理専用プロセッサ４の処理によ
り求められる。
【００２２】実施例３．（請求項３対応） 次に、図面枠を空間微分し、この空間微分画像に関して
基準座標点より線追跡を行い、イメージリーダ１による
図面入力時の角度歪みを補正する実施例３について説明
する。実施例１で説明した処理により、図４に示す基準
座標点（Ｘ１，Ｙ１）を求め、この座標値をメモリ２に
格納する。次に図面枠ＡＸ，ＡＹを例えばゾーベル微分
により空間微分することによりエッジ線ＥＧを抽出し、
このエッジ線ＥＧの先の点Ｘ１よりＹ座標の増加する方
向にエッジ線上の画素を線追跡（トラッキング）し、例
えば点ＸＭまで線追跡し、点ＸＭでのエッジ線ＥＧのＹ
座標の点の座標をＹＭとすれば、誤差角θはｔａｎθ＝
（ＸＭ−Ｘ１）／（ＹＭ−Ｙ１）で求まるので、点（Ｘ
１，Ｙ１）を中心にθだけ図面枠ＡＸ，ＡＹを左回転す
れば、イメージリーダ１による図面入力時の角度歪みを
補正することができる。
基準座標点より線追跡を行い、イメージリーダ１による
図面入力時の角度歪みを補正する実施例３について説明
する。実施例１で説明した処理により、図４に示す基準
座標点（Ｘ１，Ｙ１）を求め、この座標値をメモリ２に
格納する。次に図面枠ＡＸ，ＡＹを例えばゾーベル微分
により空間微分することによりエッジ線ＥＧを抽出し、
このエッジ線ＥＧの先の点Ｘ１よりＹ座標の増加する方
向にエッジ線上の画素を線追跡（トラッキング）し、例
えば点ＸＭまで線追跡し、点ＸＭでのエッジ線ＥＧのＹ
座標の点の座標をＹＭとすれば、誤差角θはｔａｎθ＝
（ＸＭ−Ｘ１）／（ＹＭ−Ｙ１）で求まるので、点（Ｘ
１，Ｙ１）を中心にθだけ図面枠ＡＸ，ＡＹを左回転す
れば、イメージリーダ１による図面入力時の角度歪みを
補正することができる。
【００２３】
【発明の効果】以上のように請求項１の発明によれば、
図面枠のヒストグラムをカウントし、このヒストグラム
に基づいて図面の基準座標点を求めるようにしたので、
基準座標点を高速に検出することができ、図面管理処理
が高速化するという効果が得られる。
図面枠のヒストグラムをカウントし、このヒストグラム
に基づいて図面の基準座標点を求めるようにしたので、
基準座標点を高速に検出することができ、図面管理処理
が高速化するという効果が得られる。
【００２４】請求項２の発明によれば、求められた基準
座標点に対して図面内を水平方向に１画素ずつ画素をカ
ウントし、また水平方向のカウント値に対応して垂直方
向にも画素をカウントし、水平方向のカウント値と垂直
方向のカウント値の比に基づいて実際の図面とイメージ
リーダで読み取られた図面の間の傾きを補正する補正角
を求めるようにしたので、従来のハフ変換を用いる方式
に比べ、入力時の図面の傾きを高速に補正することがで
き、図面管理処理が高速化するという効果が得られる。
座標点に対して図面内を水平方向に１画素ずつ画素をカ
ウントし、また水平方向のカウント値に対応して垂直方
向にも画素をカウントし、水平方向のカウント値と垂直
方向のカウント値の比に基づいて実際の図面とイメージ
リーダで読み取られた図面の間の傾きを補正する補正角
を求めるようにしたので、従来のハフ変換を用いる方式
に比べ、入力時の図面の傾きを高速に補正することがで
き、図面管理処理が高速化するという効果が得られる。
【００２５】請求項３の発明によれば、図面枠を空間微
分し、この空間微分画像に関して基準座標点より線追跡
を行い、イメージリーダによる図面入力時の角度歪みを
補正するようにしたので、従来のハフ変換を用いる方式
に比べ図面入力時の角度歪みを高速に補正でき、図面管
理処理が高速化するという効果が得られる。
分し、この空間微分画像に関して基準座標点より線追跡
を行い、イメージリーダによる図面入力時の角度歪みを
補正するようにしたので、従来のハフ変換を用いる方式
に比べ図面入力時の角度歪みを高速に補正でき、図面管
理処理が高速化するという効果が得られる。
【図１】この発明の図面管理方式による実施例１，２に
おける図面枠のメモリ内での２次元配列の状態を示す図
である。
おける図面枠のメモリ内での２次元配列の状態を示す図
である。
【図２】図１に示す場合とは逆方向に傾いた図面枠のメ
モリ内での２次元配列の状態を示す図である。
モリ内での２次元配列の状態を示す図である。
【図３】この発明の図面管理方式を採用した図面管理シ
ステムの実施例を示すブロック図である。
ステムの実施例を示すブロック図である。
【図４】実施例３における図面枠を空間微分及び線追跡
する説明図である。
する説明図である。
【図５】一般の地図や回路図等を示す図である。
【図６】従来の図面管理方式による処理を説明するため
の図である。
の図である。
【図７】この従来例における図面枠のメモリ内での２次
元配列の状態を示す図である。
元配列の状態を示す図である。
【図８】ハフ変換を説明するための図である。
１ イメージリーダ ２ メモリ ３ 中央処理装置 ４ 画像処理専用プロセッサ ＡＸ，ＡＹ，ＡＸ’ 図面枠 Ｏ，ＯＰ 基準座標点 θ 補正角
Claims (3)
- 【請求項１】 図面を読み取るイメージリーダと、この
イメージリーダにより読み取られた図面の画像を構成す
る画素を格納するメモリと、上記イメージリーダと上記
メモリ間のデータ処理等を行う中央処理装置とを備えた
図面管理システムにおいて、画像処理専用プロセッサを
設けることにより、図面内に描かれた図面枠に対応する
上記メモリ内の画素の数に関するヒストグラムをカウン
トし、このカウントされたヒストグラムに基づいて図面
の基準座標点を求めることを特徴とする図面管理方式。 - 【請求項２】 図面を読み取るイメージリーダと、この
イメージリーダにより読み取られた図面の画像を構成す
る画素を格納するメモリと、上記イメージリーダと上記
メモリ間のデータ処理等を行う中央処理装置とを備えた
図面管理システムにおいて、画像処理専用プロセッサを
設けることにより、図面内に描かれた図面枠に対応する
上記メモリ内の画素の数に関するヒストグラムをカウン
トし、このカウントされたヒストグラムに基づいて図面
の基準座標点を求め、この求められた基準座標点に対し
て図面内を水平方向に１画素ずつ画素をカウントし、ま
た水平方向のカウント値に対応して垂直方向にも画素を
カウントし、水平方向のカウント値と垂直方向のカウン
ト値の比に基づいて実際の図面と上記イメージリーダで
読み取られた図面の間の傾きを補正するための補正角を
求めることを特徴とする図面管理方式。 - 【請求項３】 図面を読み取るイメージリーダと、この
イメージリーダにより読み取られた図面の画像を構成す
る画素を格納するメモリと、上記イメージリーダと上記
メモリ間のデータ処理等を行う中央処理装置とを備えた
図面管理システムにおいて、画像処理専用プロセッサを
設けることにより、図面内に描かれた図面枠に対応する
上記メモリ内の画素の数に関するヒストグラムをカウン
トし、このカウントされたヒストグラムに基づいて図面
の基準座標点を求め、図面枠を空間微分し、この空間微
分画像に関して上記基準座標点より線追跡を行い、上記
イメージリーダによる図面入力時の角度歪みを補正する
ことを特徴とする図面管理方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4214591A JPH0635982A (ja) | 1992-07-20 | 1992-07-20 | 図面管理方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4214591A JPH0635982A (ja) | 1992-07-20 | 1992-07-20 | 図面管理方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0635982A true JPH0635982A (ja) | 1994-02-10 |
Family
ID=16658258
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4214591A Pending JPH0635982A (ja) | 1992-07-20 | 1992-07-20 | 図面管理方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0635982A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7805003B1 (en) | 2003-11-18 | 2010-09-28 | Adobe Systems Incorporated | Identifying one or more objects within an image |
-
1992
- 1992-07-20 JP JP4214591A patent/JPH0635982A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7805003B1 (en) | 2003-11-18 | 2010-09-28 | Adobe Systems Incorporated | Identifying one or more objects within an image |
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