JPH0636735A - 多価イオン注入法による基板製造装置および基板製造方法 - Google Patents
多価イオン注入法による基板製造装置および基板製造方法Info
- Publication number
- JPH0636735A JPH0636735A JP4189288A JP18928892A JPH0636735A JP H0636735 A JPH0636735 A JP H0636735A JP 4189288 A JP4189288 A JP 4189288A JP 18928892 A JP18928892 A JP 18928892A JP H0636735 A JPH0636735 A JP H0636735A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion
- multiply
- ions
- valence
- plasma chamber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 装置の大型化を抑えて,良好なコストパーフ
ォーマンスで、高いエネルギーによるイオン注入を実現
できる。 【構成】 プラズマチャンバ内で多価イオンを生成する
多価イオン生成部Bと、生成された多価イオンをプラズ
マチャンバ内から引き出す引出電極と、イオンビームを
集束させるビーム集束部Cと、イオンビーム中の目的価
数の多価イオンと他の多価イオンとを選別する価数選別
部Dと、ビーム偏向部Eと、ビーム加速部Fと、目的価
数の多価イオンによるイオンビームを照射してサブスト
レートsにイオン注入するビーム照射部Gとを備える。 【効果】 ビーム加速部の能力に依らず、注入する多価
イオンの価数に依って高いエネルギーによるイオン注入
を実現させるため、装置の大型化が抑えられ、良好なコ
ストパーフォーマンスが得られる。
ォーマンスで、高いエネルギーによるイオン注入を実現
できる。 【構成】 プラズマチャンバ内で多価イオンを生成する
多価イオン生成部Bと、生成された多価イオンをプラズ
マチャンバ内から引き出す引出電極と、イオンビームを
集束させるビーム集束部Cと、イオンビーム中の目的価
数の多価イオンと他の多価イオンとを選別する価数選別
部Dと、ビーム偏向部Eと、ビーム加速部Fと、目的価
数の多価イオンによるイオンビームを照射してサブスト
レートsにイオン注入するビーム照射部Gとを備える。 【効果】 ビーム加速部の能力に依らず、注入する多価
イオンの価数に依って高いエネルギーによるイオン注入
を実現させるため、装置の大型化が抑えられ、良好なコ
ストパーフォーマンスが得られる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、多価イオン注入法に
よる基板製造装置および基板製造方法に関し、さらに詳
しくは、高エネルギーによるイオン注入を実現できる多
価イオン注入法による基板製造装置および基板製造方法
に関する。
よる基板製造装置および基板製造方法に関し、さらに詳
しくは、高エネルギーによるイオン注入を実現できる多
価イオン注入法による基板製造装置および基板製造方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体基板に不純物を導入する方法とし
て、また、耐摩耗性,耐食性などを向上させる表面改質
の方法としてイオン注入法が用いられている。図4は、
イオン注入法による基板製造装置の一般的構成の説明図
である。この基板製造装置Jでは、試料ガスとして例え
ばAsF3 を用いてイオン源KでAs+1を生成する。生
成されたAs+1はイオン引出部Lによりイオン源Kから
引き出されてイオンビームを形成し、ビーム集束部Mを
介して質量分析部Nへ導かれる。イオンビーム中のAs
+1は、質量分析部Nにて他の不要なイオン(例えば、真
空の不完全性に起因するO+1)などから分離され、ビー
ム偏向部Pにて基板sの照射野に応じて偏向され、ビー
ム加速部Qにて目的エネルギーに加速されてから基板s
に照射される。なお、図中、二点鎖線でイオン(ビー
ム)の飛跡を示している。前記ビーム加速部Qは、例え
ば電子ビームの加速に用いられる線形加速器であり、加
速電圧を印加してAs+1を 200keV 程度の目的エネルギ
ーに加速する。
て、また、耐摩耗性,耐食性などを向上させる表面改質
の方法としてイオン注入法が用いられている。図4は、
イオン注入法による基板製造装置の一般的構成の説明図
である。この基板製造装置Jでは、試料ガスとして例え
ばAsF3 を用いてイオン源KでAs+1を生成する。生
成されたAs+1はイオン引出部Lによりイオン源Kから
引き出されてイオンビームを形成し、ビーム集束部Mを
介して質量分析部Nへ導かれる。イオンビーム中のAs
+1は、質量分析部Nにて他の不要なイオン(例えば、真
空の不完全性に起因するO+1)などから分離され、ビー
ム偏向部Pにて基板sの照射野に応じて偏向され、ビー
ム加速部Qにて目的エネルギーに加速されてから基板s
に照射される。なお、図中、二点鎖線でイオン(ビー
ム)の飛跡を示している。前記ビーム加速部Qは、例え
ば電子ビームの加速に用いられる線形加速器であり、加
速電圧を印加してAs+1を 200keV 程度の目的エネルギ
ーに加速する。
【0003】なお、関連する他の従来技術は、例えば特
開昭60-91600号公報や,特開昭62-229641号公報に開示
されている。
開昭60-91600号公報や,特開昭62-229641号公報に開示
されている。
【0004】
【発明が解決しょうとする課題】近年、新たな材料開発
などのために、より高いエネルギーによるイオン注入を
実現できる装置が要望されている。ところが、イオンを
高エネルギーにしようとすると、線形加速器などのビー
ム加速部が大型化し且つ複雑になってしまう問題点があ
る。例えば、As+1を2000keV 程度の目的エネルギーに
加速しようとすると、2〜3mの長さの線形加速器が必
要になる。
などのために、より高いエネルギーによるイオン注入を
実現できる装置が要望されている。ところが、イオンを
高エネルギーにしようとすると、線形加速器などのビー
ム加速部が大型化し且つ複雑になってしまう問題点があ
る。例えば、As+1を2000keV 程度の目的エネルギーに
加速しようとすると、2〜3mの長さの線形加速器が必
要になる。
【0005】そこで、この発明の目的は、装置の大型化
を抑えて,高いエネルギーによるイオン注入を実現でき
るようにした多価イオン注入法による基板製造装置およ
び基板製造方法を提供することにある。
を抑えて,高いエネルギーによるイオン注入を実現でき
るようにした多価イオン注入法による基板製造装置およ
び基板製造方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】第1の観点ではこの発明
は、電子サイクロトロン共振を利用してプラズマチャン
バ内で多価イオンを生成する多価イオン生成手段と、生
成された多価イオンをプラズマチャンバ内から引き出す
引出手段と、引き出された多価イオンによるイオンビー
ムを集束させてそのイオンビームの発散を抑制するビー
ム集束手段と、前記イオンビーム中の目的価数の多価イ
オンを価数の異なる他の多価イオンから選別する価数選
別手段と、基板の照射野などに応じて前記目的価数の多
価イオンによるイオンビームを偏向させるビーム偏向手
段と、前記目的価数の多価イオンによるイオンビームを
加速するビーム加速手段と、前記目的価数の多価イオン
によるイオンビームを照射して基板にイオン注入するビ
ーム照射手段とを具備したことを構成上の特徴とする多
価イオン注入法による基板製造装置を提供する。
は、電子サイクロトロン共振を利用してプラズマチャン
バ内で多価イオンを生成する多価イオン生成手段と、生
成された多価イオンをプラズマチャンバ内から引き出す
引出手段と、引き出された多価イオンによるイオンビー
ムを集束させてそのイオンビームの発散を抑制するビー
ム集束手段と、前記イオンビーム中の目的価数の多価イ
オンを価数の異なる他の多価イオンから選別する価数選
別手段と、基板の照射野などに応じて前記目的価数の多
価イオンによるイオンビームを偏向させるビーム偏向手
段と、前記目的価数の多価イオンによるイオンビームを
加速するビーム加速手段と、前記目的価数の多価イオン
によるイオンビームを照射して基板にイオン注入するビ
ーム照射手段とを具備したことを構成上の特徴とする多
価イオン注入法による基板製造装置を提供する。
【0007】上記構成において、多価イオンとは、一般
に2価以上のイオンを意味するが、5価〜20価が好ま
しく、8価〜12価がさらに好ましい。イオンの種類
は、特に限定されないが、例えばP,S,B,Ba,A
s,Ar,Ne,O2,CO2,N2 などが挙げられる。
に2価以上のイオンを意味するが、5価〜20価が好ま
しく、8価〜12価がさらに好ましい。イオンの種類
は、特に限定されないが、例えばP,S,B,Ba,A
s,Ar,Ne,O2,CO2,N2 などが挙げられる。
【0008】第2の観点ではこの発明は、電子サイクロ
トロン共振を利用してプラズマチャンバ内で多価イオン
を生成させ、前記プラズマチャンバ内から引き出した前
記多価イオンによるイオンビームを集束させてから、前
記イオンビーム中の目的価数の多価イオンを価数の異な
る他の多価イオンから選別し、基板の照射野などに応じ
て前記目的価数の多価イオンによるイオンビームを偏向
させたのち目的エネルギーまで加速して、前記目的エネ
ルギーに達した前記目的価数の多価イオンによるイオン
ビームを照射して基板にイオン注入することを構成上の
特徴とする多価イオン注入法による基板製造方法を提供
する。
トロン共振を利用してプラズマチャンバ内で多価イオン
を生成させ、前記プラズマチャンバ内から引き出した前
記多価イオンによるイオンビームを集束させてから、前
記イオンビーム中の目的価数の多価イオンを価数の異な
る他の多価イオンから選別し、基板の照射野などに応じ
て前記目的価数の多価イオンによるイオンビームを偏向
させたのち目的エネルギーまで加速して、前記目的エネ
ルギーに達した前記目的価数の多価イオンによるイオン
ビームを照射して基板にイオン注入することを構成上の
特徴とする多価イオン注入法による基板製造方法を提供
する。
【0009】
【作用】この発明のイオン注入法による基板製造装置で
は、多価イオン生成手段が電子サイクロトロン共振を利
用してプラズマチャンバ内で多価イオンを生成する。生
成される多価イオンは、例えばAs+2,As+3,…,A
s+10,… のように異なる価数の多価イオンからなって
いる。引出手段は前記多価イオンをラズマチャンバ内か
ら引き出し、引き出された多価イオンによるイオンビー
ムをビーム集束手段が集束させて前記イオンビームの発
散を抑制する。価数選別手段は、前記イオンビーム中の
目的価数の多価イオンと価数の異なる他の多価イオンと
を選別する。例えばAs+10 イオンを、As+1,…,A
s+9,As+11,… イオンから選別する。
は、多価イオン生成手段が電子サイクロトロン共振を利
用してプラズマチャンバ内で多価イオンを生成する。生
成される多価イオンは、例えばAs+2,As+3,…,A
s+10,… のように異なる価数の多価イオンからなって
いる。引出手段は前記多価イオンをラズマチャンバ内か
ら引き出し、引き出された多価イオンによるイオンビー
ムをビーム集束手段が集束させて前記イオンビームの発
散を抑制する。価数選別手段は、前記イオンビーム中の
目的価数の多価イオンと価数の異なる他の多価イオンと
を選別する。例えばAs+10 イオンを、As+1,…,A
s+9,As+11,… イオンから選別する。
【0010】ビーム偏向手段は基板の照射野などに応じ
て前記目的価数の多価イオンによるイオンビームを偏向
させ、ビーム加速手段は前記目的価数の多価イオンによ
るイオンビームを加速する。前記ビーム加速手段は、1
価イオンによるイオンビームを加速する従来のビーム加
速手段と同等なものであっても、目的価数を例えば10
とすることによって従来に比べて10倍のエネルギーま
で加速できることになる。例えば、As+1を200keV程度
のエネルギーに加速するビーム加速部を用いても、As
+10 イオンなら2000keV 程度の目的エネルギーに加速す
ることが出来る。なお、従来と同じエネルギーまで加速
するのであれば、従来より小型のビーム加速部を用いる
ことが出来る。ビーム照射手段は、前記目的価数の多価
イオンによるイオンビームを基板に照射して、イオン注
入する。
て前記目的価数の多価イオンによるイオンビームを偏向
させ、ビーム加速手段は前記目的価数の多価イオンによ
るイオンビームを加速する。前記ビーム加速手段は、1
価イオンによるイオンビームを加速する従来のビーム加
速手段と同等なものであっても、目的価数を例えば10
とすることによって従来に比べて10倍のエネルギーま
で加速できることになる。例えば、As+1を200keV程度
のエネルギーに加速するビーム加速部を用いても、As
+10 イオンなら2000keV 程度の目的エネルギーに加速す
ることが出来る。なお、従来と同じエネルギーまで加速
するのであれば、従来より小型のビーム加速部を用いる
ことが出来る。ビーム照射手段は、前記目的価数の多価
イオンによるイオンビームを基板に照射して、イオン注
入する。
【0011】この発明の多価イオン注入法による基板製
造方法は、上記多価イオン注入法による基板製造装置に
より好適に実施される。
造方法は、上記多価イオン注入法による基板製造装置に
より好適に実施される。
【0012】
【実施例】以下、図に示す実施例に基づいてこの発明を
さらに詳細に説明する。なお、これによりこの発明が限
定されるものではない。図1は、この発明の一実施例の
イオン注入法による基板製造装置の説明図である。この
基板製造装置Aは、多価イオン生成部B,ビーム集束部
C,質量分析部D,ビーム偏向部E,ビーム加速部F,
ビーム照射部Gから構成されている。なお、二点鎖線は
イオン(ビーム)の飛跡を示している。
さらに詳細に説明する。なお、これによりこの発明が限
定されるものではない。図1は、この発明の一実施例の
イオン注入法による基板製造装置の説明図である。この
基板製造装置Aは、多価イオン生成部B,ビーム集束部
C,質量分析部D,ビーム偏向部E,ビーム加速部F,
ビーム照射部Gから構成されている。なお、二点鎖線は
イオン(ビーム)の飛跡を示している。
【0013】以下、各構成要素について説明する。図2
は、多価イオン生成部Bの縦断面図である。この多価イ
オン生成部Bは、その中央部分に両端が開口した円筒状
のプラズマチャンバ2を備えており、その一方の開口端
側(図中、右側)に配設されたガス導入管g(図1参
照)と導波管m(図1参照)とからそれぞれ試料ガスと
マイクロ波とが前記プラズマチャンバ2の内部に導入さ
れるようになっている。
は、多価イオン生成部Bの縦断面図である。この多価イ
オン生成部Bは、その中央部分に両端が開口した円筒状
のプラズマチャンバ2を備えており、その一方の開口端
側(図中、右側)に配設されたガス導入管g(図1参
照)と導波管m(図1参照)とからそれぞれ試料ガスと
マイクロ波とが前記プラズマチャンバ2の内部に導入さ
れるようになっている。
【0014】前記プラズマチャンバ2の外周には、永久
磁石3が設けられている。この永久磁石3は、前記プラ
ズマチャンバ2の径方向に6個の棒磁石を放射状に配置
してなる6極永久磁石の組をプラズマチャンバ2の軸線
方向に複数組だけ配列したものであって、その永久磁石
3により前記プラズマチャンバ2の径方向に磁場が形成
されるようになっている。
磁石3が設けられている。この永久磁石3は、前記プラ
ズマチャンバ2の径方向に6個の棒磁石を放射状に配置
してなる6極永久磁石の組をプラズマチャンバ2の軸線
方向に複数組だけ配列したものであって、その永久磁石
3により前記プラズマチャンバ2の径方向に磁場が形成
されるようになっている。
【0015】前記永久磁石3の両側には、一対のソレノ
イドコイル4,5が配置されている。それらのソレノイ
ドコイル4,5は、その内外両側面及び外周面を取り囲
む鉄ヨーク6,7によってそれぞれ保持されている。そ
して、それら鉄ヨーク6,7の間は完全に切り離されて
いる。
イドコイル4,5が配置されている。それらのソレノイ
ドコイル4,5は、その内外両側面及び外周面を取り囲
む鉄ヨーク6,7によってそれぞれ保持されている。そ
して、それら鉄ヨーク6,7の間は完全に切り離されて
いる。
【0016】各鉄ヨーク6,7の外側壁6a,7a及び
内側壁6b,7bのプラズマチャンバ側の端面は、いず
れもプラズマチャンバ2の軸線に平行とされている。そ
して、その外側壁6a,7aのプラズマチャンバ側の端
面は、ソレノイドコイル4,5の内周面とほぼ同径位置
となるようにされている。また、その外側壁6a,7a
のプラズマチャンバ側の端部は、プラズマチャンバ側に
向かって延出するようにされ、その端面の面積が大きく
なるようにされている。こうして、鉄ヨーク6,7は、
ソレノイドコイル4,5をそれぞれ個々に保持するもの
とされ、プラズマチャンバ2の軸線方向に独立して移動
可能とされている。
内側壁6b,7bのプラズマチャンバ側の端面は、いず
れもプラズマチャンバ2の軸線に平行とされている。そ
して、その外側壁6a,7aのプラズマチャンバ側の端
面は、ソレノイドコイル4,5の内周面とほぼ同径位置
となるようにされている。また、その外側壁6a,7a
のプラズマチャンバ側の端部は、プラズマチャンバ側に
向かって延出するようにされ、その端面の面積が大きく
なるようにされている。こうして、鉄ヨーク6,7は、
ソレノイドコイル4,5をそれぞれ個々に保持するもの
とされ、プラズマチャンバ2の軸線方向に独立して移動
可能とされている。
【0017】プラズマチャンバ2の両端面には、それぞ
れOリング8,9を介して絶縁碍子10,11が気密に
取り付けられている。また、その絶縁碍子10,11の
外端面には、それぞれOリング12,13を介して鉄ヨ
ーク延長部材14,15が気密に取り付けられている。
それら鉄ヨーク延長部材14,15は鉄ヨーク6,7と
同様の強磁性材料からなるもので、プラズマチャンバ2
の入口側、すなわち図で右側の鉄ヨーク延長部材14
は、プラズマチャンバ2の軸線方向に延びる円筒状のも
のとされている。また、プラズマチャンバ2の出口側、
すなわち図で左側の鉄ヨーク延長部材15は、プラズマ
チャンバ2の軸線方向に延び、外側に向かって拡開する
円錐筒状のものとされている。
れOリング8,9を介して絶縁碍子10,11が気密に
取り付けられている。また、その絶縁碍子10,11の
外端面には、それぞれOリング12,13を介して鉄ヨ
ーク延長部材14,15が気密に取り付けられている。
それら鉄ヨーク延長部材14,15は鉄ヨーク6,7と
同様の強磁性材料からなるもので、プラズマチャンバ2
の入口側、すなわち図で右側の鉄ヨーク延長部材14
は、プラズマチャンバ2の軸線方向に延びる円筒状のも
のとされている。また、プラズマチャンバ2の出口側、
すなわち図で左側の鉄ヨーク延長部材15は、プラズマ
チャンバ2の軸線方向に延び、外側に向かって拡開する
円錐筒状のものとされている。
【0018】こうして、図で右側の鉄ヨーク延長部材1
4から左側の鉄ヨーク延長部材15に至るまでの内側
に、ソレノイドコイル4,5側から気密に遮蔽された空
間が形成され、その空間を真空吸引することによってプ
ラズマチャンバ2内が真空状態に保たれるようになって
いる。
4から左側の鉄ヨーク延長部材15に至るまでの内側
に、ソレノイドコイル4,5側から気密に遮蔽された空
間が形成され、その空間を真空吸引することによってプ
ラズマチャンバ2内が真空状態に保たれるようになって
いる。
【0019】鉄ヨーク延長部材14,15には、プラズ
マチャンバ2の軸線に平行な円筒状の外周面が形成され
ている。そして、その外周面が鉄ヨーク6,7の外側壁
6a,7aの端面に接するようにされ、それによって、
その間に磁気的に接続されるようになっている。
マチャンバ2の軸線に平行な円筒状の外周面が形成され
ている。そして、その外周面が鉄ヨーク6,7の外側壁
6a,7aの端面に接するようにされ、それによって、
その間に磁気的に接続されるようになっている。
【0020】プラズマチャンバ2の出口側の鉄ヨーク延
長部材15には、その先端に引出し電極のカソード16
が取り付けられている。そのカソード16はプラズマチ
ャンバ2の中心軸線側に向かって突出するようにされて
いる。一方、プラズマチャンバ2の出口側の端部にはア
ノード17が取り付けられている。そして、これらアノ
ード17とカソード16との間に10〜20kV程度の高
電圧が印加され、それによって、プラズマチャンバ2内
で生成されたイオンが出口側へと引き出されるようにな
っている。
長部材15には、その先端に引出し電極のカソード16
が取り付けられている。そのカソード16はプラズマチ
ャンバ2の中心軸線側に向かって突出するようにされて
いる。一方、プラズマチャンバ2の出口側の端部にはア
ノード17が取り付けられている。そして、これらアノ
ード17とカソード16との間に10〜20kV程度の高
電圧が印加され、それによって、プラズマチャンバ2内
で生成されたイオンが出口側へと引き出されるようにな
っている。
【0021】次に、この多価イオン生成部Bの作用につ
いて説明する。プラズマチャンバ2の入口側の鉄ヨーク
延長部材14には、ガス導入管g,導波管mが気密に接
続される。そこで、ガス導入管gを利用してプラズマチ
ャンバ2内を真空吸引し、そのプラズマチャンバ2内を
10-7Torr程度の高真空に保つ。そして、そのプラズマ
チャンバ2内に試料ガス及びマイクロ波を導入する。す
ると、試料ガスはマイクロ波によって励起されてプラズ
マ状となる。
いて説明する。プラズマチャンバ2の入口側の鉄ヨーク
延長部材14には、ガス導入管g,導波管mが気密に接
続される。そこで、ガス導入管gを利用してプラズマチ
ャンバ2内を真空吸引し、そのプラズマチャンバ2内を
10-7Torr程度の高真空に保つ。そして、そのプラズマ
チャンバ2内に試料ガス及びマイクロ波を導入する。す
ると、試料ガスはマイクロ波によって励起されてプラズ
マ状となる。
【0022】このとき、プラズマチャンバ2内には永久
磁石3によって径方向の磁場が形成されている。また、
ソレノイドコイル4,5に通電することによって、各鉄
ヨーク6,7を通りその端部から出る磁力線が形成され
る。そして、各鉄ヨーク6,7の外側壁6a,7aの端
部からそれに磁気的に接続されている鉄ヨーク延長部材
14,15内をとおり、その延長部材14,15間を結
ぶ磁力線20が形成される。すなわち、プラズマチャン
バ2内に軸線方向の磁場が形成される。
磁石3によって径方向の磁場が形成されている。また、
ソレノイドコイル4,5に通電することによって、各鉄
ヨーク6,7を通りその端部から出る磁力線が形成され
る。そして、各鉄ヨーク6,7の外側壁6a,7aの端
部からそれに磁気的に接続されている鉄ヨーク延長部材
14,15内をとおり、その延長部材14,15間を結
ぶ磁力線20が形成される。すなわち、プラズマチャン
バ2内に軸線方向の磁場が形成される。
【0023】こうして、プラズマチャンバ2内に、永久
磁石3による径方向の磁場とソレノイドコイル4,5に
よる軸線方向の磁場とを重畳した合成磁場が形成され
る。そして、その合成磁場によって、プラズマチャンバ
2内のプラズマがほぼ軸線方向に向かうものを除いて閉
じ込められる。
磁石3による径方向の磁場とソレノイドコイル4,5に
よる軸線方向の磁場とを重畳した合成磁場が形成され
る。そして、その合成磁場によって、プラズマチャンバ
2内のプラズマがほぼ軸線方向に向かうものを除いて閉
じ込められる。
【0024】一方、プラズマチャンバ2内の試料ガスに
は、そのプラズマチャンバ2内に導入されるマイクロ波
の周波数とそのプラズマチャンバ2内に形成される磁場
の強さとを所定の条件に合致させることによって、電子
サイクロトロン共振が起こされる。したがって、その共
振によってプラズマ内の電子が加速され、高速電子とな
る。そして、その高速電子が試料ガスの粒子に衝突する
ことによって、その粒子のまわりの電子が跳ね飛ばされ
る。こうして、試料ガスの粒子が電離される。その場
合、試料ガスはプラズマ状として閉じ込められているの
で、一つの粒子に多数の高速電子が衝突する。その結
果、一つの粒子から複数個の電子が跳ね飛ばされ、その
粒子が多価イオンとなる。
は、そのプラズマチャンバ2内に導入されるマイクロ波
の周波数とそのプラズマチャンバ2内に形成される磁場
の強さとを所定の条件に合致させることによって、電子
サイクロトロン共振が起こされる。したがって、その共
振によってプラズマ内の電子が加速され、高速電子とな
る。そして、その高速電子が試料ガスの粒子に衝突する
ことによって、その粒子のまわりの電子が跳ね飛ばされ
る。こうして、試料ガスの粒子が電離される。その場
合、試料ガスはプラズマ状として閉じ込められているの
で、一つの粒子に多数の高速電子が衝突する。その結
果、一つの粒子から複数個の電子が跳ね飛ばされ、その
粒子が多価イオンとなる。
【0025】このようにして、プラズマチャンバ2内に
おいて多価イオンが生成される。例えばAsガスを試料
ガスとして導入すると、As+2,As+3,…,As+10,
…のように異なる価数の多価イオンが生成される。な
お、1価イオンのAs+1も生成される。生成された多価
イオンは引出し電極のカソード16によってプラズマチ
ャンバ2の出口側に引き寄せられ、軸線方向のイオン流
としてプラズマチャンバ2から引き出される。
おいて多価イオンが生成される。例えばAsガスを試料
ガスとして導入すると、As+2,As+3,…,As+10,
…のように異なる価数の多価イオンが生成される。な
お、1価イオンのAs+1も生成される。生成された多価
イオンは引出し電極のカソード16によってプラズマチ
ャンバ2の出口側に引き寄せられ、軸線方向のイオン流
としてプラズマチャンバ2から引き出される。
【0026】ところで、この多価イオン生成部Bにおい
ては、鉄ヨーク6,7の外側壁6a,7aの端部に鉄ヨ
ーク延長部材14,15が接続され、その外側壁6a,
7aの端部を内側に向かって延出させたのと同様とされ
ている。したがって、ソレノイドコイル4,5によって
形成される磁力線はその延長部材14,15から出るこ
とになる。そして、その延長部材14,15と鉄ヨーク
6,7の内側壁6b,7bの端部との間の距離は小さく
なっている。その結果、それらの間にも磁力線21,2
2が形成されることになる。
ては、鉄ヨーク6,7の外側壁6a,7aの端部に鉄ヨ
ーク延長部材14,15が接続され、その外側壁6a,
7aの端部を内側に向かって延出させたのと同様とされ
ている。したがって、ソレノイドコイル4,5によって
形成される磁力線はその延長部材14,15から出るこ
とになる。そして、その延長部材14,15と鉄ヨーク
6,7の内側壁6b,7bの端部との間の距離は小さく
なっている。その結果、それらの間にも磁力線21,2
2が形成されることになる。
【0027】こうして、プラズマチャンバ2の端部近傍
には、一対の鉄ヨーク延長部材14,15間を結ぶ磁力
線20,及び延長部材14,15と鉄ヨーク6,7の内
側壁6b,7bの端部との間を結ぶ磁力線21,22が
形成される。したがって、その部分の磁束密度が高くな
り、磁場が強められる。その結果、ミラー磁場における
極大磁束密度が高められ、プラズマの閉じ込めが良好と
なる。また、引出し電極であるカソード16付近の磁場
が高められることにより、プラズマの閉じ込め領域をそ
の引出し電極位置に近付けることが可能となるので、プ
ラズマチャンバ2内で生成されたイオンの引出しが効率
よく行われるようになり、大電流のイオンビームを得る
ことが可能となる。
には、一対の鉄ヨーク延長部材14,15間を結ぶ磁力
線20,及び延長部材14,15と鉄ヨーク6,7の内
側壁6b,7bの端部との間を結ぶ磁力線21,22が
形成される。したがって、その部分の磁束密度が高くな
り、磁場が強められる。その結果、ミラー磁場における
極大磁束密度が高められ、プラズマの閉じ込めが良好と
なる。また、引出し電極であるカソード16付近の磁場
が高められることにより、プラズマの閉じ込め領域をそ
の引出し電極位置に近付けることが可能となるので、プ
ラズマチャンバ2内で生成されたイオンの引出しが効率
よく行われるようになり、大電流のイオンビームを得る
ことが可能となる。
【0028】更に、この多価イオン生成部Bにおいて
は、各ソレノイドコイル4,5を保持する鉄ヨーク6,
7が互いに独立したものとされるので、その鉄ヨーク
6,7を軸線方向に移動させることによって、ソレノイ
ドコイル4,5間の間隔を変えることができる。そし
て、一定位置にあるソレノイドコイル4,5によって形
成される磁場の磁束密度が図3に実線で示されているよ
うなものであるとき、ソレノイドコイル4,5間の間隔
を小さくすると、その磁束密度は図3に一点鎖線で示さ
れているように変化し、ソレノイドコイル4,5間の中
央部における磁束密度の極小値が高くなる。また、ソレ
ノイドコイル4,5間の間隔を大きくすると、図3に破
線で示されているように、その間の磁束密度の極小値が
低くなる。一方、その磁束密度の極大値はほとんど変化
しない。そして、ソレノイドコイル4,5によって形成
されるミラー磁場のミラー比は、それら磁束密度の極大
値と極小値との比によって決定される。
は、各ソレノイドコイル4,5を保持する鉄ヨーク6,
7が互いに独立したものとされるので、その鉄ヨーク
6,7を軸線方向に移動させることによって、ソレノイ
ドコイル4,5間の間隔を変えることができる。そし
て、一定位置にあるソレノイドコイル4,5によって形
成される磁場の磁束密度が図3に実線で示されているよ
うなものであるとき、ソレノイドコイル4,5間の間隔
を小さくすると、その磁束密度は図3に一点鎖線で示さ
れているように変化し、ソレノイドコイル4,5間の中
央部における磁束密度の極小値が高くなる。また、ソレ
ノイドコイル4,5間の間隔を大きくすると、図3に破
線で示されているように、その間の磁束密度の極小値が
低くなる。一方、その磁束密度の極大値はほとんど変化
しない。そして、ソレノイドコイル4,5によって形成
されるミラー磁場のミラー比は、それら磁束密度の極大
値と極小値との比によって決定される。
【0029】したがって、ソレノイドコイル4,5間の
間隔を調整することによりミラー比を変えることがで
き、その最適化を図ることが可能となる。また、引出し
電極位置と電子サイクロトロン共振領域との位置関係も
最適化することができる。その結果、この多価イオン生
成部Bにより、大電流の多価イオンを効率よく得ること
が可能となる。
間隔を調整することによりミラー比を変えることがで
き、その最適化を図ることが可能となる。また、引出し
電極位置と電子サイクロトロン共振領域との位置関係も
最適化することができる。その結果、この多価イオン生
成部Bにより、大電流の多価イオンを効率よく得ること
が可能となる。
【0030】なお、各鉄ヨーク6,7の外側壁6a,7
aの端部を内側に延出させてその端面の面積を大きくす
ることにより、それらの鉄ヨーク6,7を軸線方向に移
動させたときにも鉄ヨーク延長部材14,15との接触
面積が十分に確保されるようにしているが、ミラー比の
調整のために移動される鉄ヨーク6,7の移動量は比較
的小さいので、そのような延出部は必ずしも必要ではな
い。そのような延出部をなくすと、ソレノイドコイル
4,5の装着がより容易となる。
aの端部を内側に延出させてその端面の面積を大きくす
ることにより、それらの鉄ヨーク6,7を軸線方向に移
動させたときにも鉄ヨーク延長部材14,15との接触
面積が十分に確保されるようにしているが、ミラー比の
調整のために移動される鉄ヨーク6,7の移動量は比較
的小さいので、そのような延出部は必ずしも必要ではな
い。そのような延出部をなくすと、ソレノイドコイル
4,5の装着がより容易となる。
【0031】図1に戻り、ビーム集束部Cは、複数段の
静電レンズを備えており、前記多価イオン生成部Bから
引き出されたイオンビームを集束させてイオンビームが
発散するのを抑制する。
静電レンズを備えており、前記多価イオン生成部Bから
引き出されたイオンビームを集束させてイオンビームが
発散するのを抑制する。
【0032】質量分析部Dは、扇形の電磁石を備えてお
り、その電磁石により所定強度の磁場を発生させて、目
的価数の多価イオンとそれ以外の多価イオンとを選別す
る。前記所定強度の磁場内で、目的価数の多価イオン、
例えばAs+10 は、旋回半径Rに沿ったイオンビームを
形成し、ビーム偏向部Eへ導かれる。価数が9以下の多
価イオンは旋回半径Rより大きな旋回半径に沿ってイオ
ンビームを形成し、図示せぬ吸収板に吸収される。ま
た、価数が11以上の多価イオンは旋回半径Rより小さ
な旋回半径に沿ってイオンビームを形成し、図示せぬ吸
収板に吸収される。
り、その電磁石により所定強度の磁場を発生させて、目
的価数の多価イオンとそれ以外の多価イオンとを選別す
る。前記所定強度の磁場内で、目的価数の多価イオン、
例えばAs+10 は、旋回半径Rに沿ったイオンビームを
形成し、ビーム偏向部Eへ導かれる。価数が9以下の多
価イオンは旋回半径Rより大きな旋回半径に沿ってイオ
ンビームを形成し、図示せぬ吸収板に吸収される。ま
た、価数が11以上の多価イオンは旋回半径Rより小さ
な旋回半径に沿ってイオンビームを形成し、図示せぬ吸
収板に吸収される。
【0033】ビーム偏向部Eは、対向する一対の電極か
らなる偏向電極を2組だけ備えており、基板sの照射野
に応じて前記目的価数の多価イオンによるイオンビーム
のビーム径,向きを調整できるようになっている。
らなる偏向電極を2組だけ備えており、基板sの照射野
に応じて前記目的価数の多価イオンによるイオンビーム
のビーム径,向きを調整できるようになっている。
【0034】ビーム加速部Fは、例えば電子ビームの加
速に用いられる線形加速器であり、加速電圧を印加して
前記目的価数の多価イオンによるイオンビームを目的エ
ネルギーに達するように加速する。前記ビーム加速部F
が従来のビーム加速部Qと同等なものとしても、目的価
数の多価イオンをAs+10 とすると2MeV(=200keV×10
(価数))程度の高エネルギーまでは加速できることに
なる。
速に用いられる線形加速器であり、加速電圧を印加して
前記目的価数の多価イオンによるイオンビームを目的エ
ネルギーに達するように加速する。前記ビーム加速部F
が従来のビーム加速部Qと同等なものとしても、目的価
数の多価イオンをAs+10 とすると2MeV(=200keV×10
(価数))程度の高エネルギーまでは加速できることに
なる。
【0035】ビーム照射部Gは、基板sを所望の位置に
セットするための基板ホルダh,イオンビームの照射時
間などを制御するためのシャッタtなどを備えている。
セットするための基板ホルダh,イオンビームの照射時
間などを制御するためのシャッタtなどを備えている。
【0036】
【発明の効果】この発明のイオン注入法による基板製造
装置および基板製造方法によれば、多価イオンをイオン
注入に用いるため、価数の大きなものを目的価数の多価
イオンに設定して、高いエネルギーによるイオン注入を
実現できる。また、ビーム加速手段に依らず、注入する
多価イオンの価数に依って高いエネルギーによるイオン
注入を実現させるため、装置の大型化が抑えられる。
装置および基板製造方法によれば、多価イオンをイオン
注入に用いるため、価数の大きなものを目的価数の多価
イオンに設定して、高いエネルギーによるイオン注入を
実現できる。また、ビーム加速手段に依らず、注入する
多価イオンの価数に依って高いエネルギーによるイオン
注入を実現させるため、装置の大型化が抑えられる。
【図1】この発明のイオン注入法による基板製造装置の
一実施例の説明図である。
一実施例の説明図である。
【図2】図1の装置の多価イオン生成部についての縦断
面図である。
面図である。
【図3】図2の多価イオン生成部に係る一対のソレノイ
ドコイル間の間隔を変えたときの磁束密度の変化を示す
グラフである。
ドコイル間の間隔を変えたときの磁束密度の変化を示す
グラフである。
【図4】従来のイオン注入法による基板製造装置の一例
の説明図である。
の説明図である。
A 基板製造装置 B 多価イオン生成部 C ビーム集束部 D 質量分析部 E ビーム偏向部 F ビーム加速部 G ビーム照射部 g ガス導入管 m 導波管 s 基板 2 プラズマチャンバ 3 永久磁石
フロントページの続き (72)発明者 磯谷 嘉彦 千葉県四街道市鷹の台一丁目3番 株式会 社日本製鋼所内
Claims (2)
- 【請求項1】 電子サイクロトロン共振を利用してプラ
ズマチャンバ内で多価イオンを生成する多価イオン生成
手段と、生成された多価イオンをプラズマチャンバ内か
ら引き出す引出手段と、引き出された多価イオンによる
イオンビームを集束させてそのイオンビームの発散を抑
制するビーム集束手段と、前記イオンビーム中の目的価
数の多価イオンを価数の異なる他の多価イオンから選別
する価数選別手段と、基板の照射野などに応じて前記目
的価数の多価イオンによるイオンビームを偏向させるビ
ーム偏向手段と、前記目的価数の多価イオンによるイオ
ンビームを加速するビーム加速手段と、前記目的価数の
多価イオンによるイオンビームを照射して基板にイオン
注入するビーム照射手段とを具備したことを特徴とする
多価イオン注入法による基板製造装置。 - 【請求項2】 電子サイクロトロン共振を利用してプラ
ズマチャンバ内で多価イオンを生成させ、前記プラズマ
チャンバ内から引き出した前記多価イオンによるイオン
ビームを集束させてから、前記イオンビーム中の目的価
数の多価イオンを価数の異なる他の多価イオンから選別
し、基板の照射野などに応じて前記目的価数の多価イオ
ンによるイオンビームを偏向させたのち目的エネルギー
まで加速して、前記目的エネルギーに達した前記目的価
数の多価イオンによるイオンビームを照射して基板にイ
オン注入することを特徴とする多価イオン注入法による
基板製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4189288A JPH0636735A (ja) | 1992-07-16 | 1992-07-16 | 多価イオン注入法による基板製造装置および基板製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4189288A JPH0636735A (ja) | 1992-07-16 | 1992-07-16 | 多価イオン注入法による基板製造装置および基板製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0636735A true JPH0636735A (ja) | 1994-02-10 |
Family
ID=16238821
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4189288A Pending JPH0636735A (ja) | 1992-07-16 | 1992-07-16 | 多価イオン注入法による基板製造装置および基板製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0636735A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2718568A1 (fr) * | 1994-04-06 | 1995-10-13 | France Telecom | Procédé d'implantation haute énergie à partir d'un implanteur de type faible ou moyen courant et dispositifs correspondants. |
| US6703628B2 (en) | 2000-07-25 | 2004-03-09 | Axceliss Technologies, Inc | Method and system for ion beam containment in an ion beam guide |
| US6891174B2 (en) | 2003-07-31 | 2005-05-10 | Axcelis Technologies, Inc. | Method and system for ion beam containment using photoelectrons in an ion beam guide |
| JP2005277341A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Tateyama Machine Kk | 半導体の製造方法 |
| JP2011014333A (ja) * | 2009-07-01 | 2011-01-20 | Ricoh Co Ltd | イオン注入方法 |
-
1992
- 1992-07-16 JP JP4189288A patent/JPH0636735A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2718568A1 (fr) * | 1994-04-06 | 1995-10-13 | France Telecom | Procédé d'implantation haute énergie à partir d'un implanteur de type faible ou moyen courant et dispositifs correspondants. |
| WO1995027996A1 (fr) * | 1994-04-06 | 1995-10-19 | France Telecom | Procede d'implantation haute energie a partir d'un implanteur de type faible ou moyen courant et dispositifs correspondants |
| US6703628B2 (en) | 2000-07-25 | 2004-03-09 | Axceliss Technologies, Inc | Method and system for ion beam containment in an ion beam guide |
| US6891174B2 (en) | 2003-07-31 | 2005-05-10 | Axcelis Technologies, Inc. | Method and system for ion beam containment using photoelectrons in an ion beam guide |
| JP2005277341A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Tateyama Machine Kk | 半導体の製造方法 |
| JP2011014333A (ja) * | 2009-07-01 | 2011-01-20 | Ricoh Co Ltd | イオン注入方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6768120B2 (en) | Focused electron and ion beam systems | |
| US6770888B1 (en) | High mass resolution magnet for ribbon beam ion implanters | |
| US9214313B2 (en) | Ion source with independent power supplies | |
| JP5689415B2 (ja) | イオン注入システムにおけるディセル後の磁気エネルギーフィルター | |
| EP0832497B1 (en) | System and method for producing superimposed static and time-varying magnetic fields | |
| US7755067B2 (en) | Ion implantation apparatus and method of converging/shaping ion beam used therefor | |
| US3937958A (en) | Charged particle beam apparatus | |
| JPS62108438A (ja) | 空間電荷レンズを使用した高電流質量分光計 | |
| JPH0636735A (ja) | 多価イオン注入法による基板製造装置および基板製造方法 | |
| US5639308A (en) | Plasma apparatus | |
| US7544952B2 (en) | Multivalent ion generating source and charged particle beam apparatus using such ion generating source | |
| EP0150089A1 (en) | Charged-particle optical systems | |
| JPH0660840A (ja) | 磁気四重極レンズ、これを用いたイオンビーム加速装置並びにイオンビーム減速装置 | |
| JPH0636734A (ja) | イオン注入法による基板製造方法 | |
| JP2644958B2 (ja) | イオン源装置およびそのイオン源装置を備えたイオン打ち込み装置 | |
| CN1425186A (zh) | 离子质量分离方法及装置、以及离子掺加装置 | |
| KR102772074B1 (ko) | 부분 강자성 애노드가 있는 듀오플라즈마트론 이온 소스 | |
| JP2003257356A (ja) | イオンビーム照射装置 | |
| JP2838738B2 (ja) | 電子サイクロトロン共振イオン源 | |
| JP2713692B2 (ja) | イオン打込み装置 | |
| JPH08190995A (ja) | 高速原子線源 | |
| JPH06330314A (ja) | イオン注入法による傾斜機能材料の製造方法および製造装置 | |
| JP2778227B2 (ja) | イオン源 | |
| EP0066175A1 (en) | Ion implanter | |
| JP3213135B2 (ja) | 高速原子線源 |