JPH0638111B2 - 計時装置 - Google Patents

計時装置

Info

Publication number
JPH0638111B2
JPH0638111B2 JP26706684A JP26706684A JPH0638111B2 JP H0638111 B2 JPH0638111 B2 JP H0638111B2 JP 26706684 A JP26706684 A JP 26706684A JP 26706684 A JP26706684 A JP 26706684A JP H0638111 B2 JPH0638111 B2 JP H0638111B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
temperature
frequency dividing
circuit
frequency
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP26706684A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS61144537A (ja
Inventor
義幸 寺島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP26706684A priority Critical patent/JPH0638111B2/ja
Publication of JPS61144537A publication Critical patent/JPS61144537A/ja
Publication of JPH0638111B2 publication Critical patent/JPH0638111B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/32Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using change of resonant frequency of a crystal

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Electric Clocks (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、高精度電子計時等の高度な温度補償が必要な
計時装置に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、温度検知回路の出力のバラツキを補正する手段と
して、発振周期が温度に比例する温度検知回路の出力に
対し、第1のプリセッタブル(プログラマブル)分周器
で温度に対する傾きを調整し、第2のプリセッタブル分
周器で温度の切片を調整していた。すなわち第2図に示
したように、温度検出回路203の出力を、外部設定手
段201に従ったプリセット値から分周して0を検出す
る第1のプリセッタブル分周器204と、切片の調整デ
ータ202を基準として、ゲート205の出パルスをカ
ウントする第2のプリセッタブル分周器206が必要で
あった。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし上述の回路は10bit程度のプリセッタブルカウ
ンタを2個必要とし、集積回路上に占める面積は非常に
大きかった。本発明はこのバラツキを補正する測温回路
において、その占有面積の縮少を図ることを目的とす
る。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は温度検知回路の出力で、その温度に対する傾き
の調整と、温度の切片の調整を時間的に分けて、同一の
分周手段で行なうものである。
〔発明の詳細な説明〕
第3図に本発明の実施例を示す。301,302は第1
の外部設定スイッチ、303,304が第2の外部設定
スイッチである。また、305〜308,311,31
2が信号の切換を行なう。309,310,313,3
14,315がプリセッタブルダウンカウンタである。
316〜318が0検出回路、319が第1図の10
7,320が108に相当する。
301,302で設定されるデータをPとし、信号SW
がHレベルにあるとき、フリップフロップ313,31
4の出力はPにセットされる。このときφ1024=102
4Hzのパルスが、このカウンタに入力されすべての出
力が0になると、0検出回路が働き317の出力はLレ
ベルとなる。この出力は1/2HzとNORゲートを通る
ことにより319のように、0検出の時間から1/2Hz
の立上りまでのパルス巾が作られる。この319のパル
ス巾は次の式で表わされる。
次にこのパルス巾の中に温度検知回路からの出力sを
入力すると、320のとおりとなり、このパルスの数
は、 となる。信号319が立下がった直後、切換信号SWが
Lレベルとなり、プリセッタブルダウンカウンタは30
3,304の設定値qでセットされる。次にプリセッタ
ブルカウンタの入力には320の信号が入力されるた
め、プリセット値qよりパルス分だけダウンカウントを
行なう。パルスが全部入力し終わった後のカウンタのQ
出力は、次のようになる。
この出力は温度情報となり、例えば水晶振動子の二次特
性をROMのデータとして持ち、外部温度に依ってRO
Mデータを呼び出す構成の、高精度電子時計において
は、(3)式はアドレス値となる。また周囲温度を表示す
る温度計においては、(3)式は温度計の表示数値そのも
のとなる。
前者の場合pとqの数値は次のように決定する。まず任
意の3点の温度での水晶発振周波数偏差と温度検知回路
の発振周波数を測定する。
△y=β(θ−θMAX+y ……(4) s=aθ+b ……(5) △y:水晶発振周波数偏差 β:水晶の二次温度係数 θMAX:水晶の頂点温度 y:水晶のオフセット θ:温度 s:温度検知回路の発振周波数 a: 〃 の傾き b: 〃 の切片 (4),(5)式より温度θを消去して三元二次方程式を解く
ことにより、 sθMAX=aθMAX+b が求まる。
これより、 という式が成り立ち、右辺はすべて既知であることか
ら、Pとqの値が求まる。
また後者のように温度計となるようにすると、2点にお
いて温度検知回路の出力を測定しその時表示したい数値
をNにあてはめる。すなわち下式 i=1.2 に従い二元一次方程式を解くことによりPとqが求ま
る。
第5図に本発明による他の実施例を示す。第3図との相
違は外部設定手段として不揮発性メモリを使っているこ
とである。不揮発性メモリは509,510でそのゲー
トは何にも接続されないフローティングゲートとなって
いる。511,512は507と509を基本単位とす
る1セルを表わしている。不揮発性メモリへのデータ書
込はb〜bとSWを制御し、VPPに−15V程度の
電圧を印加することによって行なう。今SWがHレベル
とすると、511,512のPチャンネルトランジスタ
はセルのゲートがHレベルのためOFFしている。50
7,508はONするため、516,517のNORゲ
ートの入力にはそれぞれメモリ509,510のデータ
が入力される。
データが入力された以後の動作は第3図に示した実施例
と同一である。カウンタはダウンカウンタでもアップカ
ウンタでもよい。設定値を操作することにより、最終出
力は同一となる。一定のパルス巾を作った後SW=Lレ
ベルとなると、次は511,512のデータがカウンタ
に入力されることになる。このような不揮発性メモリを
使うことによって集積回路上におけるパッド数を大巾に
節減することができる。
〔効果〕
以上述べてきたように本発明を実施することにより、分
周手段が1個、例えば10bit分のフリップフロップだ
けで、温度検知回路の出力の傾き、および切片を調整す
ることができる。温度検知回路の特性を考慮すると、プ
リセッタブル分周器は約9〜11bit程度必要となる。
この様に分周手段を共用することができるため、本発明
の計時装置を集積回路に形成する際、大幅な占有面積の
縮少を図ることができる。
【図面の簡単な説明】 第1図 本発明のブロック図 第2図 従来例のブロック図 第3図 本発明による実施例を示した図 第4図 第3図のタイムチャート図 第5図 本発明による他の実施例を示した図 101,102……外部設定手段 103〜105……切換スイッチ 106……プリセッタブル分周回路 107……NORゲート、108……ANDゲート 108……温度検知回路 201,202……外部設定手段 203……温度検知回路 204,206……プリセッタブル分周回路 205……ANDゲート 301〜304……スイッチ 305,307,311,315……インバータ 306,308,312……4入力ANDゲート 309,310,317〜319……NORゲート 313,314……フリップフロップ 316……ORゲート 320……ANDゲート 501〜504,507,508……MOSトランジス
タ 509,510……不揮発性メモリ 511,512……不揮発性メモリセル 513,514,520……インバータ 515……4入力ORANDゲート 516,517,522〜524……NORゲート 518,519……フリップフロップ 521……ORゲート 525……ANDゲート 505,506……抵抗

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】発振回路と、前記発振回路の出力信号を分
    周し計時信号を出力する分周手段とを備えた計時装置に
    おいて、 温度変化に対応して出力が変化する温度情報検出手段
    と、前記分周手段の分周比を設定する第1及び第2の分
    周比設定手段と、前記分周比設定手段の出力を前記分周
    手段に選択的に供給する第1の切り換手段と、前記分周
    手段の出力に基づき所定時間前記温度情報検出手段の出
    力信号を出力するゲート回路と、前記発信回路の出力に
    基づく基準信号と前記ゲート回路の出力を切換え前記分
    周手段に選択的に入力する第2の切換え手段とを有し、
    前記第1の切換え手段を前記第2の切換え手段と連動し
    て動作させてなることを特徴とする計時装置。
JP26706684A 1984-12-18 1984-12-18 計時装置 Expired - Lifetime JPH0638111B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26706684A JPH0638111B2 (ja) 1984-12-18 1984-12-18 計時装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26706684A JPH0638111B2 (ja) 1984-12-18 1984-12-18 計時装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61144537A JPS61144537A (ja) 1986-07-02
JPH0638111B2 true JPH0638111B2 (ja) 1994-05-18

Family

ID=17439558

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26706684A Expired - Lifetime JPH0638111B2 (ja) 1984-12-18 1984-12-18 計時装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0638111B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3633939A1 (de) * 1986-10-04 1988-04-14 Heraeus Gmbh W C Uebertragung von signalen aus einer sensoreinheit

Also Published As

Publication number Publication date
JPS61144537A (ja) 1986-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4448549A (en) Temperature sensing device
US4737670A (en) Delay control circuit
JP5242186B2 (ja) 半導体装置
US4057325A (en) Display device
JP2989234B2 (ja) Cr発振器及びその発信周波数調整方法
GB2054997A (en) Temperature detecting circuit
US4037399A (en) Electronic timepiece battery potential detecting circuitry
EP0336690B1 (en) An integrated circuit for an electronic timepiece
JPH0333213B2 (ja)
US4505599A (en) Electronic clinical thermometer
JPH0631731B2 (ja) 温度補償機能付時計装置
JPS61144537A (ja) 計時装置
JP6536449B2 (ja) 定電流回路、温度センサーおよび温度補償機能付き時計
JPH04165716A (ja) 周波数制御回路
JP2527695B2 (ja) 温度測定方法
JP2527696B2 (ja) 電子温度計
JP2520093B2 (ja) 計測装置
JPH0471172B2 (ja)
US4128993A (en) Zero adjustment in an electronic timepiece
JP2520091B2 (ja) 計測装置
JP2520092B2 (ja) 計測装置
JP2520094B2 (ja) 計測装置
JPH0820314B2 (ja) 電子温度計
JPH0749966B2 (ja) 計測装置
JPS6333213Y2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term