JPH0638399B2 - 現像装置 - Google Patents

現像装置

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JPH0638399B2
JPH0638399B2 JP1062473A JP6247389A JPH0638399B2 JP H0638399 B2 JPH0638399 B2 JP H0638399B2 JP 1062473 A JP1062473 A JP 1062473A JP 6247389 A JP6247389 A JP 6247389A JP H0638399 B2 JPH0638399 B2 JP H0638399B2
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JP
Japan
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developing
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alkali
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博三 武川
敬 井波
竜太郎 芥川
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は半導体製造等のフォトリソグラフィ工程に用い
られる現像装置に関するものである。
従来の技術 現像処理方法としては、大別してディップ方式とスプレ
ー方式がある。ディップ方式で現像を行なう場合は、現
像液の新鮮度により現像能力の違いが見られるため現像
液の管理が重要となってくる。
従来の現像液の管理は、次のような方法によっていた。
即ち感光波長に対する透過率を15段階程度変えたもの
(例えばステップガイド:富士写真フィルム(株)製)
を用いていた。レジストの塗膜面にこのステップガイド
をのせ、一定の露光量の光エネルギを照射すると、ステ
ップガイドの透過率に応じ照射露光量が変化する。これ
を現像すると、特定の段数まで塗膜は残るが、それ以上
(あるいはそれ以下)では、塗膜が剥離する。この境界
の段数は、現像液の新鮮度の違いにより変化するため、
これを現像液管理の指標としてきた。
発明が解決しようとする課題 しかし、このような現像液の管理法では、時々刻々の現
像液の新鮮度が把握できない。従って、現像液の更新が
遅いと対象物が現像不良になる。あるいはそれを防ぐた
めには、早めに現像液を更新しなければいけないという
課題があった。
本発明はかかる点に鑑み、対象物の現像不良を生じさせ
ない、あるいはムダな現像液の更新のない現像装置を提
供することを目的とするものである。
課題を解決するための手段 本発明は上記課題を解決するため、基板上に水と反応し
てアルカリ可溶となるレジストを塗布・乾燥して被膜を
形成し所定のフォトマスクを介し露光を行なったのち、
アルカリ現像液で現像するに際し、前記アルカリ現像液
中の塩基の陽イオン濃度、水素イオン濃度を検知する手
段を有する現像装置によって、上記目的を達成する。
作用 本発明は、水と反応してアルカリ可溶となるレジストの
現像までの過程は次のようである。露光後水と反応し、
アルカリ可溶となりアルカリ現像液中の塩基の陽イオン
と置換し水溶性塩を形成する。この水溶性塩が解離し現
像反応が進行するが、現像液中で全ての現像反応が完了
するわけではなく、現像液外に水溶性塩が持ち出され
る。そのため現像液中の塩基の陽イオンが減少する。
また水溶性塩を生じさせる反応は、水酸イオン濃度が少
ないと進行しない。従って、現像液中の塩基の陽イオン
濃度と水酸イオン濃度(即ち水素イオン濃度)を適正な
範囲に保てば、一定の現像能力が得られ安定した現像結
果となる。
実施例 以下に、本発明の実施例について図面を参照しながら説
明する。
第1図は本発明の一実施例を示す現像装置の断面図であ
る。第1図において、1は現像槽、2は試験槽であり、
試験槽2の中の水3を加熱装置4、冷却装置5で一定温
度に保つことにより、現像槽1の現像液6を恒温化して
いる。また現像液6は剥離物の再付着を防止するため整
流板7を介し2ケのフィルタ8,9を通りポンプ10に
より循環している。ここでNa+測定装置11、pH測定装
置12によりNa+濃度、H濃度を測定している。1
3、14はそれぞれNa+センサ、pHセンサである。
本実施例で使用したレジストはポジ型レジストであるA
Z119S(ヘキストジャパン(株)製)、現像液とし
てはAZ303デベロッパー(同社製)を使用した。ま
ず、基板上にAZ119Sをロールコータで塗布したの
ち、オーブン炉で75℃、20分間ソフトベークを行な
った。
次にLine&Spaceが1〜50μmまであるフォトマスク
を当て、露光装置により100mJ/cm2の露光量で照射し、
AZ303デベロッパーを20℃にし、1分間浸漬し現
像を行なった。このとき、現像液AZ303デベロッパ
ーのNa+濃度、pHを測定している。その後、脱イオン水
で充分水洗を行なった後、オーブン炉で100℃、30
分間ポストベークを行い、光学顕微鏡により解像度(Li
ne&Spaceが最小何μmまで抜けるか)を調べた。以上
の実験を繰り返しNa+濃度、pH(OH−濃度)と解像度
の関係を調べた。第2図、第3図はその結果である。N
a+濃度とpHの値が大(OH−濃度が大)のとき解像度が
良く、Na+濃度とpHが低下するに従い解像度は悪くなっ
た。このように解像度とNa+濃度、pHには密接な関係が
あり、一定の解像性を保つには、Na+濃度、pHを一定の
範囲に保てば良いことがわかる。
次に、この一実施例における作用を説明する。
まずレジストの露光部は水と反応してカルボキシル基
(−COOH)を生じる。そのカルボキシル基はアルカ
リ可溶となり現像液中のNa+と反応して水溶性のナトリ
ウム塩を生じることである。
−COOH+Na++OH――−COONa+HO (1) −COONaは現像液中でも溶解するが、一部現像槽外
に出て溶解する。
−COONa――−COO+Na+ (2) 従って現像を繰り返す毎に現像槽外に出る−COONa
も増加しNa+濃度は減少し(1)式の反応が進行しにくく
なる。また同様にOH濃度も小さくなると(1)式の反
応が進行しにくくなり現像能力が落ちる。よってNa+
度とOH濃度の管理を行うことにより現像能力が一定
に保たれる。” 発明の効果 以上、述べてきたように本発明によれば、対象物の現像
不良を生じさせない、あるいはムダな現像液の更新のな
い現像装置を提供でき、工業上極めて有用である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の現像装置を示す断面図、第
2図はNa+濃度と解像度の関係を示すグラフ、第3図は
pHと解像度の関係を示すグラフである。 1……現像槽、4……加熱装置、5……冷却装置、6…
…現像液、11……Na+測定装置、12……pH測定装
置、13……Na+センサ、14……pHセンサ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板上に水と反応してアルカリ可溶となり
    アルカリ現像液中の塩基の陽イオンと置換し水溶性塩を
    形成するレジストを塗布・乾燥して被膜を形成し所定の
    フォトマスクを介し露光を行ったのち、アルカリ現像液
    で現像する現像装置において、前記アルカリ現像液中の
    塩基の陽イオン濃度、水素イオン濃度を検知する手段を
    有して濃度管理を行うことを特徴とする現像装置。
JP1062473A 1989-03-15 1989-03-15 現像装置 Expired - Fee Related JPH0638399B2 (ja)

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