JPH0639329Y2 - 自動校正機能付き残留塩素計 - Google Patents
自動校正機能付き残留塩素計Info
- Publication number
- JPH0639329Y2 JPH0639329Y2 JP1988097011U JP9701188U JPH0639329Y2 JP H0639329 Y2 JPH0639329 Y2 JP H0639329Y2 JP 1988097011 U JP1988097011 U JP 1988097011U JP 9701188 U JP9701188 U JP 9701188U JP H0639329 Y2 JPH0639329 Y2 JP H0639329Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chlorine
- flow path
- constant
- sensor
- concentration
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Measuring Oxygen Concentration In Cells (AREA)
- Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案は、自動校正機能付き残留塩素計に関する。
〈従来の技術〉 従来、残留塩素計では自動校正は行なわれていない。従
来の校正方法は、内容が既知のサンプル液を使用してオ
ルト・トリジン法（OT法）、ジエチル−ｐ−フェニレン
ジアミン法（DPD法）、ヨウ素滴定法、電流滴定法等を
使って手分析で測定し、残留塩素計の指示値がこの測定
値と一致するように校正を行っている。手分析による校
正作業は煩雑で、時間が掛かる。
来の校正方法は、内容が既知のサンプル液を使用してオ
ルト・トリジン法（OT法）、ジエチル−ｐ−フェニレン
ジアミン法（DPD法）、ヨウ素滴定法、電流滴定法等を
使って手分析で測定し、残留塩素計の指示値がこの測定
値と一致するように校正を行っている。手分析による校
正作業は煩雑で、時間が掛かる。
残留塩素計で自動校正が出来ない最大の理由は、校正用
標準液としての塩素水は不安定で濃度が経時変化するた
め、塩素水を長期保存しておくことが出来ないことによ
る。
標準液としての塩素水は不安定で濃度が経時変化するた
め、塩素水を長期保存しておくことが出来ないことによ
る。
〈考案が解決しようとする課題〉 本考案の解決しようとする技術的課題は、前記残留塩素
計において、繁雑な手分析による作業によらず、自動で
校正が行われるようにすると共に、精度が高い校正が行
われるようにすることにある。
計において、繁雑な手分析による作業によらず、自動で
校正が行われるようにすると共に、精度が高い校正が行
われるようにすることにある。
〈課題を解決するための手段〉 本考案の構成は、ポーラログラフ法により測定液中の有
効塩素濃度を測定する残留塩素計において、 測定液中の有効塩素濃度を測定するセンサと、一定濃度
の塩化ナトリウム水溶液を一定流速で供給する塩水供給
手段と、この塩水供給手段からの塩化ナトリウム水溶液
が流される流路とこの流路に設けられた金属不活性陽極
とこの金属不活性陽極より下流の前記流路に設けられ前
記流路と隔膜を介して離隔された電解液室内に設けられ
た陰極とを具備する塩素発生フローセルと、この塩素発
生フローセルの電極間に一定電流を流す定電流発生源
と、測定液側流路と前記塩素発生フローセル側流路とを
切換えて前記センサに接続する流路切換手段と、前記セ
ンサからの検出信号に演算を施すと共に各種の制御信号
を発生する演算制御部とを設け、校正時に前記塩素発生
フローセルの電極間に前記定電流発生源より電流を流し
一定有効塩素濃度の標準液を発生させこの標準液を前記
センサに与えてスパン校正を行うようにした自動校正機
能付き残留塩素計である。
効塩素濃度を測定する残留塩素計において、 測定液中の有効塩素濃度を測定するセンサと、一定濃度
の塩化ナトリウム水溶液を一定流速で供給する塩水供給
手段と、この塩水供給手段からの塩化ナトリウム水溶液
が流される流路とこの流路に設けられた金属不活性陽極
とこの金属不活性陽極より下流の前記流路に設けられ前
記流路と隔膜を介して離隔された電解液室内に設けられ
た陰極とを具備する塩素発生フローセルと、この塩素発
生フローセルの電極間に一定電流を流す定電流発生源
と、測定液側流路と前記塩素発生フローセル側流路とを
切換えて前記センサに接続する流路切換手段と、前記セ
ンサからの検出信号に演算を施すと共に各種の制御信号
を発生する演算制御部とを設け、校正時に前記塩素発生
フローセルの電極間に前記定電流発生源より電流を流し
一定有効塩素濃度の標準液を発生させこの標準液を前記
センサに与えてスパン校正を行うようにした自動校正機
能付き残留塩素計である。
〈作用〉 前記の技術手段は次のように作用する。即ち、校正開始
信号が加わると、流路が切換えられ、前記塩水供給手段
から一定濃度のNaCl水溶液が一定流速で前記塩素発生フ
ローセルに流される。同時に、この塩素発生フローセル
の電極間に前記定電流発生源より定電流が流され、電気
分解によって陽極にCl2が発生する。このCl2の量はNaCl
水溶液の濃度、流量並びに電解電流によって決まる一定
量である。陽極と陰極とは隔膜で離隔されており、陽極
で発生したCl2が陰極部分で逆電解されたり、或は陰極
で発生するH2と反応して消費されるこくとはない。前記
塩素発生フローセルで生成された一定既知量の有効塩素
を含む溶液は校正用標準液として前記センサに加えら
れ、スパン校正が行われる。
信号が加わると、流路が切換えられ、前記塩水供給手段
から一定濃度のNaCl水溶液が一定流速で前記塩素発生フ
ローセルに流される。同時に、この塩素発生フローセル
の電極間に前記定電流発生源より定電流が流され、電気
分解によって陽極にCl2が発生する。このCl2の量はNaCl
水溶液の濃度、流量並びに電解電流によって決まる一定
量である。陽極と陰極とは隔膜で離隔されており、陽極
で発生したCl2が陰極部分で逆電解されたり、或は陰極
で発生するH2と反応して消費されるこくとはない。前記
塩素発生フローセルで生成された一定既知量の有効塩素
を含む溶液は校正用標準液として前記センサに加えら
れ、スパン校正が行われる。
〈実施例〉 以下図面に従い本考案の実施例を説明する。第２図は本
考案実施例装置の基本構成を示すブロック図である。図
中、１は被測定液Ｍが供給される流路、２は流路１と校
正用標準液Ｓが流される流路３とを切換える三方電磁
弁、４は三方電磁弁２の下流側に設けられた定流量ポン
プ、５はポーラログラフ法により測定液中の有効塩素濃
度を測定する残留塩素センサで、６はこのセンサの排液
流路である。
考案実施例装置の基本構成を示すブロック図である。図
中、１は被測定液Ｍが供給される流路、２は流路１と校
正用標準液Ｓが流される流路３とを切換える三方電磁
弁、４は三方電磁弁２の下流側に設けられた定流量ポン
プ、５はポーラログラフ法により測定液中の有効塩素濃
度を測定する残留塩素センサで、６はこのセンサの排液
流路である。
７は一定濃度のNaCl水溶液を貯留するタンクで、ここか
らのNaCl水溶液は定流量ポンプ４で一定流速にされ塩素
発生フローセル８に供給される。９は塩素発生フローセ
ル８の電極間に一定電流を流す定電流発生源、10は演算
制御部で、センサ５の検出信号に各種の演算処理（感度
調整も含む）を行い、定電流源９、三方電磁弁２等に対
し制御信号を与える演算制御部である。
らのNaCl水溶液は定流量ポンプ４で一定流速にされ塩素
発生フローセル８に供給される。９は塩素発生フローセ
ル８の電極間に一定電流を流す定電流発生源、10は演算
制御部で、センサ５の検出信号に各種の演算処理（感度
調整も含む）を行い、定電流源９、三方電磁弁２等に対
し制御信号を与える演算制御部である。
第１図の断面図に従い本考案実施例装置の要部である塩
素発生フローセル８を説明する。図中、801はボディ、8
02はタンク７より一定濃度、一定流速のNaCl水溶液が流
入する流入口、803はNaCl水溶液が流れる流路、804は流
出口、805は流路803の上流側に設けられた陽極で、先端
に例えば白金等、金属不活性電極チップ805aが設けられ
ている。805bは白金リードである。
素発生フローセル８を説明する。図中、801はボディ、8
02はタンク７より一定濃度、一定流速のNaCl水溶液が流
入する流入口、803はNaCl水溶液が流れる流路、804は流
出口、805は流路803の上流側に設けられた陽極で、先端
に例えば白金等、金属不活性電極チップ805aが設けられ
ている。805bは白金リードである。
806は流路803の下流側に設けられた陰極で、806aは樹脂
製のパイプ、806bはこのパイプの先端に設けられたシリ
コン栓、806cはこのシリコン栓の中心部に設けられたセ
ラミック・ジャンクションである。セラミック・ジャン
クション806cは隔膜として作用し、電気的には導通する
がある大きさ以上の分子は通さない。806dはパイプ806a
の他端に設けられた蓋、806eはパイプ806aのKCl内部液L
1に浸漬されたAg/AgCl電極、806fはこの電極からのAgリ
ードである。
製のパイプ、806bはこのパイプの先端に設けられたシリ
コン栓、806cはこのシリコン栓の中心部に設けられたセ
ラミック・ジャンクションである。セラミック・ジャン
クション806cは隔膜として作用し、電気的には導通する
がある大きさ以上の分子は通さない。806dはパイプ806a
の他端に設けられた蓋、806eはパイプ806aのKCl内部液L
1に浸漬されたAg/AgCl電極、806fはこの電極からのAgリ
ードである。
次に、このように構成された本考案実施例装置の動作に
ついて説明する。測定時、三方電磁弁２を流路１側に切
換え、定流量ポンプ４によってセンサ５に被測定液Ｍを
供給する。センサ５からの検出出力S1は演算制御部11に
与えられ、各種の演算処理が施された後、指示出力S2と
して出力される。
ついて説明する。測定時、三方電磁弁２を流路１側に切
換え、定流量ポンプ４によってセンサ５に被測定液Ｍを
供給する。センサ５からの検出出力S1は演算制御部11に
与えられ、各種の演算処理が施された後、指示出力S2と
して出力される。
校正時、校正開始信号が入ると、タンク７から、一定濃
度、一定流速のNaCl水溶液が塩素発生フローセル８内に
流入する。同時に、三方電磁弁２が塩素発生フローセル
８側に切換えられ、定電流発生源９から電極805,806間
に定電流が流される。電気分解によって陽極805に発生
するCl2の濃度は次式で表わされる。
度、一定流速のNaCl水溶液が塩素発生フローセル８内に
流入する。同時に、三方電磁弁２が塩素発生フローセル
８側に切換えられ、定電流発生源９から電極805,806間
に定電流が流される。電気分解によって陽極805に発生
するCl2の濃度は次式で表わされる。
ｃ＝η・｛i/（Ｆ・Ｑ）｝・ ｛35.5×60×106｝ …（１） 但し、c:発生した有効塩素濃度［mg/l］ η：発生効率、i:電解電流［Ａ］＝［coul/sec］、F:フ
ァラデー定数、Q:NaCl水溶液の流量［ml/min］。
ァラデー定数、Q:NaCl水溶液の流量［ml/min］。
陽極805と陰極806のAg/AgCl内部極806eとは、セラミッ
ク・ジャンクション806cで隔離されており、陽極805で
発生したCl2は陰極部分で逆電解されたり、或は陰極で
発生するH2と反応して消費されることはなく、流出口80
4からはCl2濃度が一定のNaCl水溶液がセンサ５に与えら
れる。
ク・ジャンクション806cで隔離されており、陽極805で
発生したCl2は陰極部分で逆電解されたり、或は陰極で
発生するH2と反応して消費されることはなく、流出口80
4からはCl2濃度が一定のNaCl水溶液がセンサ５に与えら
れる。
センサ５に最初に導かれた水溶液の有効塩素濃度は安定
していないが、安定したところで自動校正が行われる。
演算制御部10には有効塩素濃度ｃに対応した指示出力S
2cが予めセットされている。校正を行い指示出力が
S2c′に変化しているとき、 （S2c）／（S2c′）＝Ｇ …（２） なる演算を行いＧによって感度を校正する。この作業は
全て自動で行われる。
していないが、安定したところで自動校正が行われる。
演算制御部10には有効塩素濃度ｃに対応した指示出力S
2cが予めセットされている。校正を行い指示出力が
S2c′に変化しているとき、 （S2c）／（S2c′）＝Ｇ …（２） なる演算を行いＧによって感度を校正する。この作業は
全て自動で行われる。
尚、ゼロ点校正は、上記の感度の校正に先立ち、定電流
発生源９から塩素発生フローセル８に電流を流さない状
態で行う。
発生源９から塩素発生フローセル８に電流を流さない状
態で行う。
〈考案の効果〉 本考案によれば、安定で濃度の経時変化のない塩化ナト
リウム水溶液を保存し、校正時にこれを電気分解して塩
素を発生させ、一定有効塩素濃度の校正用標準液を作る
ようにしたため、残留塩素計において校正の自動化が行
えるようになった。
リウム水溶液を保存し、校正時にこれを電気分解して塩
素を発生させ、一定有効塩素濃度の校正用標準液を作る
ようにしたため、残留塩素計において校正の自動化が行
えるようになった。
また、塩素発生フローセルの陽極を、陰極の上流側に配
置したので、未だ、水素の発生していない塩化ナトリウ
ム水溶液から塩素を発生することができ、精度が高い有
効塩素濃度が一定な校正用標準液を作り出すことができ
る。しかし、作成された高精度の有効塩素濃度が一定な
校正用標準液も、下流に存在する陰極の影響により精度
が低下する恐れがあるが、本考案の陰極は、陽極とは隔
膜で隔離されており、陽極で発生した塩素が陰極部分で
逆電解されたり、或いは、陰極で発生する水素と反応し
て消費されることはなく、発生した塩素と水素とが混じ
り合わないようにし、常に有効塩素濃度が一定な校正用
標準液を作り出すことができる。
置したので、未だ、水素の発生していない塩化ナトリウ
ム水溶液から塩素を発生することができ、精度が高い有
効塩素濃度が一定な校正用標準液を作り出すことができ
る。しかし、作成された高精度の有効塩素濃度が一定な
校正用標準液も、下流に存在する陰極の影響により精度
が低下する恐れがあるが、本考案の陰極は、陽極とは隔
膜で隔離されており、陽極で発生した塩素が陰極部分で
逆電解されたり、或いは、陰極で発生する水素と反応し
て消費されることはなく、発生した塩素と水素とが混じ
り合わないようにし、常に有効塩素濃度が一定な校正用
標準液を作り出すことができる。
更に、塩素発生フローセルの陽極を、陰極の上流側に配
置したので、電流の流れが、標準液の流れと同じ方向と
なり、高精度で安定な電流供給ができ、高精度の有効塩
素濃度が一定な校正用標準液が作成でき、高精度自動校
正機能付き残留塩素計が得られる。
置したので、電流の流れが、標準液の流れと同じ方向と
なり、高精度で安定な電流供給ができ、高精度の有効塩
素濃度が一定な校正用標準液が作成でき、高精度自動校
正機能付き残留塩素計が得られる。
第１図は本考案実施例装置の要部を示す断面図、第２図
は本考案実施例装置の基本構成を示す構成図である。 1:被測定液Ｍが流される流路、2:三方電磁弁、3:校正用
標準液Ｓが流される流路、5:残留塩素センサ、7:NaCl水
溶液を貯留するタンク、8:塩素発生フローセル、803:流
路、805:陽極、806:陰極、806c：セラミック・ジャクシ
ョン、L1：電解液、9:定電流発生源、10:演算制御部
は本考案実施例装置の基本構成を示す構成図である。 1:被測定液Ｍが流される流路、2:三方電磁弁、3:校正用
標準液Ｓが流される流路、5:残留塩素センサ、7:NaCl水
溶液を貯留するタンク、8:塩素発生フローセル、803:流
路、805:陽極、806:陰極、806c：セラミック・ジャクシ
ョン、L1：電解液、9:定電流発生源、10:演算制御部
Claims (1)
- 【請求項１】ポーラログラフ法により測定液中の有効塩
素濃度を測定する残留塩素計において、 測定液中の有効塩素濃度を測定するセンサと、 一定濃度の塩化ナトリウム水溶液を一定流速で供給する
塩水供給手段と、 この塩水供給手段からの塩化ナトリウム水溶液が流され
る流路と この流路に設けられた金属不活性陽極と この金属不活性陽極より下流の前記流路に設けられ前記
流路と隔膜を介して離隔された電解液室内に設けられた
陰極とを具備する塩素発生フローセルと、 この塩素発生フローセルの電極間に一定電流を流す定電
流発生源と、 測定液側流路と前記塩素発生フローセル側流路とを切換
えて前記センサに接続する流路切換手段と、 前記センサからの検出信号に演算を施すと共に各種の制
御信号を発生する演算制御部とを設け、 校正時に前記塩素発生フローセルの電極間に前記定電流
発生源より電流を流し一定有効塩素濃度の標準液を発生
させこの標準液を前記センサに与えてスパン校正を行う
ようにした自動校正機能付き残留塩素計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988097011U JPH0639329Y2 (ja) | 1988-07-22 | 1988-07-22 | 自動校正機能付き残留塩素計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988097011U JPH0639329Y2 (ja) | 1988-07-22 | 1988-07-22 | 自動校正機能付き残留塩素計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0217655U JPH0217655U (ja) | 1990-02-05 |
| JPH0639329Y2 true JPH0639329Y2 (ja) | 1994-10-12 |
Family
ID=31322193
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1988097011U Expired - Lifetime JPH0639329Y2 (ja) | 1988-07-22 | 1988-07-22 | 自動校正機能付き残留塩素計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0639329Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0717000Y2 (ja) * | 1988-02-08 | 1995-04-19 | 横河電機株式会社 | 残留塩素計 |
-
1988
- 1988-07-22 JP JP1988097011U patent/JPH0639329Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0217655U (ja) | 1990-02-05 |
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