JPH0729486Y2 - 残留塩素計 - Google Patents
残留塩素計Info
- Publication number
- JPH0729486Y2 JPH0729486Y2 JP9701288U JP9701288U JPH0729486Y2 JP H0729486 Y2 JPH0729486 Y2 JP H0729486Y2 JP 9701288 U JP9701288 U JP 9701288U JP 9701288 U JP9701288 U JP 9701288U JP H0729486 Y2 JPH0729486 Y2 JP H0729486Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- purified water
- sensor
- standard solution
- calibration
- solution
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Water Treatment By Electricity Or Magnetism (AREA)
- Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案は、自動校正機能付き残留塩素計に関する。
〈従来の技術〉 従来、残留塩素計では自動校正は行なわれていない。従
来の校正方法は、内容が既知のサンプル液を使用してオ
ルト・トリジン法（OT法）、ジエチル−ｐ−フェニレン
ジアミン法（DPD法）、ヨウ素滴定法、電流滴定法等を
使って手分析で測定し、残留塩素計の指示値がこの測定
値と一致するように校正を行っている。手分析による校
正作業は煩雑で、時間が掛かる。
来の校正方法は、内容が既知のサンプル液を使用してオ
ルト・トリジン法（OT法）、ジエチル−ｐ−フェニレン
ジアミン法（DPD法）、ヨウ素滴定法、電流滴定法等を
使って手分析で測定し、残留塩素計の指示値がこの測定
値と一致するように校正を行っている。手分析による校
正作業は煩雑で、時間が掛かる。
残留塩素計で自動校正が出来ない最大の理由は、校正用
標準液としての塩素水は不安定で濃度が経時変化するた
め、塩素水を長期保存しておくことが出来ないことによ
る。
標準液としての塩素水は不安定で濃度が経時変化するた
め、塩素水を長期保存しておくことが出来ないことによ
る。
〈考案が解決しようとする課題〉 本考案の解決しようとする技術的課題は、前記残留塩素
計において、繁雑な手分析による作業によらず、自動で
校正が行えるようにすることにある。
計において、繁雑な手分析による作業によらず、自動で
校正が行えるようにすることにある。
〈課題を解決するための手段〉 このような目的を達成するために、本考案は、 ポーラログラフ法により測定溶液中の有効塩素濃度を測
定する残留塩素計において、 測定溶液中の有効塩素濃度を測定するセンサと、 一定濃度のNaCl水溶液を供給する塩水供給手段と、 浄水を供給する浄水供給手段と、 前記塩水供給手段から導入される所定量のNaCl水溶液を
電解して一定濃度の有効塩素を発生する標準液発生手段
と、 この標準液発生手段に備えられた電極間に電解のために
一定電流を流す定電流発生源と、 前記浄水供給手段から供給される浄水と前記標準液発生
手段から供給される校正標準液とが流れる流路と、前記
測定溶液が流れる流路とを前記センサに切り替えて接続
する流路切換手段と、 前記センサからの検出信号に演算を施すと共に各種の制
御信号を発生する演算制御部とを設け、 前記流路切換手段を介し前記浄水供給手段より前記セン
サに供給された浄水に基づいて前記センサのゼロ校正を
行うと共に、前記校正標準液に基づいてスパン校正を行
いことを特徴としている。
定する残留塩素計において、 測定溶液中の有効塩素濃度を測定するセンサと、 一定濃度のNaCl水溶液を供給する塩水供給手段と、 浄水を供給する浄水供給手段と、 前記塩水供給手段から導入される所定量のNaCl水溶液を
電解して一定濃度の有効塩素を発生する標準液発生手段
と、 この標準液発生手段に備えられた電極間に電解のために
一定電流を流す定電流発生源と、 前記浄水供給手段から供給される浄水と前記標準液発生
手段から供給される校正標準液とが流れる流路と、前記
測定溶液が流れる流路とを前記センサに切り替えて接続
する流路切換手段と、 前記センサからの検出信号に演算を施すと共に各種の制
御信号を発生する演算制御部とを設け、 前記流路切換手段を介し前記浄水供給手段より前記セン
サに供給された浄水に基づいて前記センサのゼロ校正を
行うと共に、前記校正標準液に基づいてスパン校正を行
いことを特徴としている。
〈作用〉 前記の技術手段は次のように作用する。即ち、校正開始
信号が加わると、前記浄水供給手段及び前記塩水供給手
段から所定量の浄水とNaCl水溶液が前記標準液発生手段
に導入され、この標準液発生手段は一定濃度のNaCl水溶
液で満たされる。NaCl水溶液は安定で濃度の経時変化は
ない。この後、前記標準液発生手段内の電極間に一定時
間、前記定電流発生源から電流を流し、電気分解によっ
て一定量の有効塩素を発生させる。これにより、前記標
準液発生手段内には一定有効塩素濃度の校正用標準液が
貯留され、これを前記センサに流し自動校正を行う。
信号が加わると、前記浄水供給手段及び前記塩水供給手
段から所定量の浄水とNaCl水溶液が前記標準液発生手段
に導入され、この標準液発生手段は一定濃度のNaCl水溶
液で満たされる。NaCl水溶液は安定で濃度の経時変化は
ない。この後、前記標準液発生手段内の電極間に一定時
間、前記定電流発生源から電流を流し、電気分解によっ
て一定量の有効塩素を発生させる。これにより、前記標
準液発生手段内には一定有効塩素濃度の校正用標準液が
貯留され、これを前記センサに流し自動校正を行う。
〈実施例〉 以下図面に従い本考案の実施例を説明する。第１図は本
考案実施例装置の基本構成を示すブロック図である。図
中、１は被測定液Ｍが供給される流路、２は流路１と校
正用標準液Ｓが流される流路３とを切換える三方電磁
弁、４は三方電磁弁２の下流側に設けられた定流量ポン
プ、５はポーラログラフ法により測定液中の有効塩素濃
度を測定する残留塩素センサで、排液は流路６から排出
される。
考案実施例装置の基本構成を示すブロック図である。図
中、１は被測定液Ｍが供給される流路、２は流路１と校
正用標準液Ｓが流される流路３とを切換える三方電磁
弁、４は三方電磁弁２の下流側に設けられた定流量ポン
プ、５はポーラログラフ法により測定液中の有効塩素濃
度を測定する残留塩素センサで、排液は流路６から排出
される。
７は一定高濃度のNaCl水溶液を供給する塩水供給手段、
８は浄水を供給する浄水供給手段、９は塩水供給手段７
及び浄水供給手段８から所定量のNaCl水溶液と浄水とが
導入され、これらの混合液に金属不活性電極対が浸漬さ
れていて、一定濃度の有効塩素（標準塩素）を得る標準
液発生手段である。尚、NaCl水溶液は、浄水で希釈しな
いでそのまま使用してもよい。この場合は、第２図で示
す二方電磁弁が閉じられる。10はこの標準液発生手段の
電極間に一定電流を流す定電流発生源、11はセンサ５の
検出信号に各種の演算処理（感度調整も含む）を行い、
定電流源10、三方電磁弁２等に対し制御信号を与える演
算制御部である。
８は浄水を供給する浄水供給手段、９は塩水供給手段７
及び浄水供給手段８から所定量のNaCl水溶液と浄水とが
導入され、これらの混合液に金属不活性電極対が浸漬さ
れていて、一定濃度の有効塩素（標準塩素）を得る標準
液発生手段である。尚、NaCl水溶液は、浄水で希釈しな
いでそのまま使用してもよい。この場合は、第２図で示
す二方電磁弁が閉じられる。10はこの標準液発生手段の
電極間に一定電流を流す定電流発生源、11はセンサ５の
検出信号に各種の演算処理（感度調整も含む）を行い、
定電流源10、三方電磁弁２等に対し制御信号を与える演
算制御部である。
このように構成された装置の基本動作は、測定時、三方
電磁弁２を流路１側に切換え、定流量ポンプ４によって
センサ５に被測定液Ｍを供給する。センサ５からの検出
出力S1は演算制御部11に与えられ、各種の演算処理が施
された後、指示出力S2として出力される。
電磁弁２を流路１側に切換え、定流量ポンプ４によって
センサ５に被測定液Ｍを供給する。センサ５からの検出
出力S1は演算制御部11に与えられ、各種の演算処理が施
された後、指示出力S2として出力される。
校正は、次のように行われる。校正開始の信号が入る
と、浄水供給手段８からの浄水が、標準液発生手段９→
三方電磁弁２→定流量ポンプ４を通ってセンサ５に与え
られる。この浄水でゼロ調整が行われる。
と、浄水供給手段８からの浄水が、標準液発生手段９→
三方電磁弁２→定流量ポンプ４を通ってセンサ５に与え
られる。この浄水でゼロ調整が行われる。
ゼロ調整が終了すると、演算制御部11から制御信号が浄
水供給手段８及び塩水供給手段７に加えられ、所定量の
浄水とNaCl水溶液が標準液発生手段９に導入される。攪
拌し濃度を均一にした後、定電流源10をオンにして、標
準液発生手段９の電極間に一定時間、電流を流す。これ
によって一定量の有効塩素が発生し、標準液発生手段９
には一定有効塩素濃度の校正用標準液Ｓが貯留される。
この後、三方電磁弁２を標準液発生手段９側に切換え、
標準液Ｓをセンサ５に与えて自動校正を行う。自動校正
は例えば標準液Ｓの有効塩素濃度に対応した指示出力が
出力されるように感度調整を自動で行う。校正終了後、
三方電磁弁２を切換え、定流量ポンプ４によってセンサ
５に被測定液Ｍを供給し測定に戻る。
水供給手段８及び塩水供給手段７に加えられ、所定量の
浄水とNaCl水溶液が標準液発生手段９に導入される。攪
拌し濃度を均一にした後、定電流源10をオンにして、標
準液発生手段９の電極間に一定時間、電流を流す。これ
によって一定量の有効塩素が発生し、標準液発生手段９
には一定有効塩素濃度の校正用標準液Ｓが貯留される。
この後、三方電磁弁２を標準液発生手段９側に切換え、
標準液Ｓをセンサ５に与えて自動校正を行う。自動校正
は例えば標準液Ｓの有効塩素濃度に対応した指示出力が
出力されるように感度調整を自動で行う。校正終了後、
三方電磁弁２を切換え、定流量ポンプ４によってセンサ
５に被測定液Ｍを供給し測定に戻る。
標準液発生手段９の具体構成を第２図の構成図に従い詳
しく説明する。第２図において第１図における要素と実
質的に同じ要素には同一符号を付しこれらについての説
明は省略する。尚、破線で示した部分が第１図の標準液
発生手段９に対応する部分で、以下に構成の詳細を説明
する。9aは標準液発生手段９の容器で、内部はテフロン
膜のような、電気的には導通するが、ある大きさ以上の
分子は通さない性質の隔膜9bで仕切られ、室A,Bが形成
されている。このうち室Ａには陽極9cが、室ＢにはNaCl
電解液が充填され陰極9dが設けられている。
しく説明する。第２図において第１図における要素と実
質的に同じ要素には同一符号を付しこれらについての説
明は省略する。尚、破線で示した部分が第１図の標準液
発生手段９に対応する部分で、以下に構成の詳細を説明
する。9aは標準液発生手段９の容器で、内部はテフロン
膜のような、電気的には導通するが、ある大きさ以上の
分子は通さない性質の隔膜9bで仕切られ、室A,Bが形成
されている。このうち室Ａには陽極9cが、室ＢにはNaCl
電解液が充填され陰極9dが設けられている。
12,13,14は室Ａに接続された流路、15は容器9a内の液を
攪拌する攪拌器、16は流路12に設けられた三方電磁弁
で、他の二つの接続口は塩水供給手段７及びドレン17に
接続されている。18は流路13に設けられた二方電磁弁、
19は流路14に設けられた三方電磁弁である。20はCl2除
去器で、調圧弁21を介し浄水供給手段８に接続されてい
る。22,23はこのCl2除去器でCl2が除去された浄水が流
れる流路で、流路22は二方電磁弁18に接続され、流路23
は三方電磁弁19に接続されている。この三方電磁弁の接
続口の残りの一つは三方電磁弁２に接続されている。24
は三方電磁弁２と定流量ポンプ４との間に設けられた流
量計である。
攪拌する攪拌器、16は流路12に設けられた三方電磁弁
で、他の二つの接続口は塩水供給手段７及びドレン17に
接続されている。18は流路13に設けられた二方電磁弁、
19は流路14に設けられた三方電磁弁である。20はCl2除
去器で、調圧弁21を介し浄水供給手段８に接続されてい
る。22,23はこのCl2除去器でCl2が除去された浄水が流
れる流路で、流路22は二方電磁弁18に接続され、流路23
は三方電磁弁19に接続されている。この三方電磁弁の接
続口の残りの一つは三方電磁弁２に接続されている。24
は三方電磁弁２と定流量ポンプ４との間に設けられた流
量計である。
このような構成で、校正開始の信号が入力されると、三
方電磁弁19,2が切換えられ、浄水供給手段８からの浄水
が、Cl2除去器20→三方電磁弁19→三方電磁弁２→定流
量ポンプ４を通ってセンサ５に与えられる。過器20に
は活性炭が充填されこの部分を通過した浄水の残留塩素
濃度はゼロとなる。この浄水を用いてゼロ調整が行われ
る。
方電磁弁19,2が切換えられ、浄水供給手段８からの浄水
が、Cl2除去器20→三方電磁弁19→三方電磁弁２→定流
量ポンプ４を通ってセンサ５に与えられる。過器20に
は活性炭が充填されこの部分を通過した浄水の残留塩素
濃度はゼロとなる。この浄水を用いてゼロ調整が行われ
る。
同時に、二方電磁弁18が開、三方電磁弁16はドレン17方
向に開いて、Cl2除去器20からの浄水は標準液発生手段
９の容器9aに導入され、塩水供給手段７からのNaCl水溶
液はドレンされている。
向に開いて、Cl2除去器20からの浄水は標準液発生手段
９の容器9aに導入され、塩水供給手段７からのNaCl水溶
液はドレンされている。
容器9aが浄水で満たされる充分な時間経過後、二方電磁
弁18が閉じられ、三方電磁弁16は塩水供給手段７側に切
換えられる。また、三方電磁弁19,2を切換え、標準液発
生手段９→三方電磁弁19→三方電磁弁２→定流量ポンプ
４の流路を形成する。定流量ポンプ４を一定時間回転さ
せ塩水供給手段７から一定量の高濃度のNaCl溶液を容器
9a内に導入する。この間、標準液発生手段９の底部より
浄水がセンサ５に供給されている。
弁18が閉じられ、三方電磁弁16は塩水供給手段７側に切
換えられる。また、三方電磁弁19,2を切換え、標準液発
生手段９→三方電磁弁19→三方電磁弁２→定流量ポンプ
４の流路を形成する。定流量ポンプ４を一定時間回転さ
せ塩水供給手段７から一定量の高濃度のNaCl溶液を容器
9a内に導入する。この間、標準液発生手段９の底部より
浄水がセンサ５に供給されている。
高濃度のNaClの希釈率は定流量ポンプ４の回転時間によ
って決まり、この時間経過後、三方電磁弁19,2を切換
え、再びCl2除去器20→三方電磁弁19→三方電磁弁２→
定流量ポンプ４→センサ５の方向に浄水を流し、また、
三方電磁弁16をドレン17方向に切換える。
って決まり、この時間経過後、三方電磁弁19,2を切換
え、再びCl2除去器20→三方電磁弁19→三方電磁弁２→
定流量ポンプ４→センサ５の方向に浄水を流し、また、
三方電磁弁16をドレン17方向に切換える。
攪拌器15により容器9a内の溶液を攪拌し、NaCl濃度を均
一にした後、定電流源10をオンにして電極9c,9d間に一
定時間、電流を流す。これにより電極9cに一定量のCl2
が発生する。塩素濃度は通電時間によって決まる。尚、
NaCl濃度が所定の値以上であれば、塩素濃度は通電時間
にのみ依存することが実験的に確かめられており、先の
NaClの希釈率は余り精度を問わない。
一にした後、定電流源10をオンにして電極9c,9d間に一
定時間、電流を流す。これにより電極9cに一定量のCl2
が発生する。塩素濃度は通電時間によって決まる。尚、
NaCl濃度が所定の値以上であれば、塩素濃度は通電時間
にのみ依存することが実験的に確かめられており、先の
NaClの希釈率は余り精度を問わない。
一定量のCl2を発生させた後、三方電磁弁19,2を切換
え、標準液発生手段９→三方電磁弁19→三方電磁弁２→
定流量ポンプ４→センサ５の流路を形成し、標準液発生
手段９から有効塩素濃度既知の標準液をセンサ５に供給
しスパン校正を行う。校正終了後、三方電磁弁19,2を切
換え、定流量ポンプ４によってセンサ５に被測定液Ｍを
供給し測定に戻る。
え、標準液発生手段９→三方電磁弁19→三方電磁弁２→
定流量ポンプ４→センサ５の流路を形成し、標準液発生
手段９から有効塩素濃度既知の標準液をセンサ５に供給
しスパン校正を行う。校正終了後、三方電磁弁19,2を切
換え、定流量ポンプ４によってセンサ５に被測定液Ｍを
供給し測定に戻る。
尚、容器9a内部は隔膜9bで仕切られているため、陽極9c
で発生したCl2が陰極9dで逆電解されたり、或は陰極9d
で発生するH2と反応して消費されるというようなことが
ない。
で発生したCl2が陰極9dで逆電解されたり、或は陰極9d
で発生するH2と反応して消費されるというようなことが
ない。
〈考案の効果〉 本考案によれば、安定で濃度の経時変化のない一定、高
濃度のNaCl水溶液を保管し、必要に応じ電気分解で塩素
を発生させ、一定有効塩素濃度の校正用標準液を作るよ
うにしたため、安定した校正用標準液が得られ自動校正
が行える。更に、高濃度のNaCl水溶液を希釈して使って
いるのでNaCl水溶液の補給頻度が少なくて済む。
濃度のNaCl水溶液を保管し、必要に応じ電気分解で塩素
を発生させ、一定有効塩素濃度の校正用標準液を作るよ
うにしたため、安定した校正用標準液が得られ自動校正
が行える。更に、高濃度のNaCl水溶液を希釈して使って
いるのでNaCl水溶液の補給頻度が少なくて済む。
第１図は本考案実施例装置の基本構成を示すブロック
図、第２図は本考案実施例装置の要部を示す構成図であ
る。 2:三方電磁弁、4:定流量ポンプ、5:センサ、7:一定高濃
度のNaCl水溶液を供給する塩水供給手段、8:浄水供給手
段、9:標準液発生手段、9a:容器、9b:隔膜、9c:陽極、9
d:陰極、10:定電流源、11:演算制御部、15:攪拌器、16:
三方電磁弁、17:ドレン、18:二方電磁弁、19:三方電磁
弁、20:Cl2除去器
図、第２図は本考案実施例装置の要部を示す構成図であ
る。 2:三方電磁弁、4:定流量ポンプ、5:センサ、7:一定高濃
度のNaCl水溶液を供給する塩水供給手段、8:浄水供給手
段、9:標準液発生手段、9a:容器、9b:隔膜、9c:陽極、9
d:陰極、10:定電流源、11:演算制御部、15:攪拌器、16:
三方電磁弁、17:ドレン、18:二方電磁弁、19:三方電磁
弁、20:Cl2除去器
Claims (1)
- 【請求項１】ポーラログラフ法により測定溶液中の有効
塩素濃度を測定する残留塩素計において、 測定溶液中の有効塩素濃度を測定するセンサと、 一定濃度のNaCl水溶液を供給する塩水供給手段と、 浄水を供給する浄水供給手段と、 前記塩水供給手段から導入される所定量のNaCl水溶液を
電解して一定濃度の有効塩素を発生する標準液発生手段
と、 この標準液発生手段に備えられた電極間に電解のために
一定電流を流す定電流発生源と、 前記浄水供給手段から供給される浄水と前記標準液発生
手段から供給される校正標準液とが流れる流路と、前記
測定溶液が流れる流路とを前記センサに切り替えて接続
する流路切換手段と、 前記センサからの検出信号に演算を施すと共に各種の制
御信号を発生する演算制御部とを設け、 前記流路切換手段を介し前記浄水供給手段より前記セン
サに供給された浄水に基づいて前記センサのゼロ校正を
行うと共に、前記校正標準液に基づいてスパン校正を行
いことを特徴とした残留塩素計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9701288U JPH0729486Y2 (ja) | 1988-07-22 | 1988-07-22 | 残留塩素計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9701288U JPH0729486Y2 (ja) | 1988-07-22 | 1988-07-22 | 残留塩素計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0217656U JPH0217656U (ja) | 1990-02-05 |
| JPH0729486Y2 true JPH0729486Y2 (ja) | 1995-07-05 |
Family
ID=31322194
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9701288U Expired - Lifetime JPH0729486Y2 (ja) | 1988-07-22 | 1988-07-22 | 残留塩素計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0729486Y2 (ja) |
-
1988
- 1988-07-22 JP JP9701288U patent/JPH0729486Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0217656U (ja) | 1990-02-05 |
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