JPH0640713A - 石英粉の脱水方法 - Google Patents

石英粉の脱水方法

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JPH0640713A JP21559092A JP21559092A JPH0640713A JP H0640713 A JPH0640713 A JP H0640713A JP 21559092 A JP21559092 A JP 21559092A JP 21559092 A JP21559092 A JP 21559092A JP H0640713 A JPH0640713 A JP H0640713A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 石英粉の効果的な脱水方法の提供 【構成】 石英粉を塩素ガスまたは塩素含有化合物ガス
に接触させることからなり、好ましくは、石英粉に、1
000〜1500℃の温度下で、塩素ガスまたは塩素含
有化合物ガスを0.1〜10%含有する流動化ガスを導
入して該石英粉を流動化状態で脱水することを特徴とす
る石英粉の脱水方法。 【効果】 従来よりも低い温度で、かつ短時間に従来を
上回る脱水効果を達成できる。本発明の方法で脱水した
石英粉を原料として製造した石英ルツボはOH基含有量
が少ないために高温強度が大きく、気泡含有率が極めて
小さいので、シリコン単結晶の引上げ時にルツボ内壁の
剥離を生じる虞がなく、単結晶化率が高く不純物の少な
い良質の単結晶シリコンを得ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体用シリコン単結
晶を引き上げるのに用いる石英ルツボの製造の際に、製
造原料である石英粉についての好適な脱水方法に関す
る。
【0002】
【従来技術とその問題点】半導体用シリコン単結晶は、
主に、フローティングゾーン法(FZ法)や引上げ法
(CZ法)によって製造されている。引上げ法は、溶融
した多結晶シリコンから単結晶シリコンを凝固させなが
ら引上げる方法であり、多結晶シリコンを溶融して溜め
るために石英ルツボが用いられる。多結晶シリコンを入
れた石英ルツボはシリコンの融点(約1414℃)以上に加
熱される。石英の軟化点は約1550℃であるが、高温に加
熱された溶融シリコンによって石英ルツボの内壁面は次
第に溶損し、一回の引上げでルツボの内壁面の厚さが約
0.7 〜1.0mm 程度減少する。従って、石英ルツボに不純
物が混入していると、これがシリコン融液に取り込ま
れ、単結晶化率を大幅に低下させ、またシリコン単結晶
の不純物汚染の原因となる。このため、石英ルツボの製
造原料としては高純度の石英粉が用いられている。因み
に、ルツボ用石英粉として、現在主に天然石英粉が用い
られているが、特に高純度が要求される場合は、天然石
英以上の純度の得られる合成石英粉が用いられており、
不純物の混入を極力防止している。
【0003】石英粉に含まれる水分も同様であり、OH
基含有量の高いルツボを使用するとルツボの加熱時にル
ツボの壁体内部に微細な気泡が発生し、これが単結晶化
率を低下させる原因となる。またOH基が高いと高温強
度が低下し、シリコン単結晶引上げ時にルツボが変型し
て引上げ不能となることがある。このため、OH基の高
い石英粉を原料として石英ルツボを製造する際には、石
英粉の脱水処理が不可欠である。従来行われている脱水
方法は、石英粉を約1400℃程度に加熱して乾燥する方法
であるが、粒径約150μm の石英粒子に含まれている
OH基を加熱によって50ppm 程度に低下するには約4
8時間前後に及ぶ長時間の加熱処理が必要であり、OH
基含有量をさらに50ppm 以下に除去するのは難しい。
また脱水効果を高めるために加熱温度を上げると加熱炉
炉材の損傷が急増し石英粉の焼結を招く虞がある。
【0004】
【発明の解決課題】本発明は、従来の加熱による脱水方
法における上記問題を解決した脱水方法を提供すること
を目的とし、比較的低温で、かつ短時間で高い脱水効果
を達成し、後処理も不要な脱水方法を提供するものであ
る。
【0005】
【課題の解決手段:発明の構成】本発明によれば、石英
粉を塩素ガスまたは塩素含有化合物ガスに接触させるこ
とにより該石英粉を脱水することを特徴とする石英粉の
脱水方法が提供される。また、その好適な実施態様とし
て、石英粉に、1000〜1300℃の温度下で、塩素
ガスまたは塩素含有化合物ガスを0.1〜10%含有す
る流動化ガスを導入して該石英粉を流動化状態で脱水す
ることを特徴とする石英粉の脱水方法が提供される。
【0006】石英粉としては、天然石英粉と合成石英粉
の何れも用いることができる。通常、天然石英粉のOH
基含有量は40〜60ppm であり、合成石英粉のOH基
含有量は60〜1000ppm である。石英粉の粒度は制
限されないが、通常、石英ルツボの製造原料としては粒
径約150μm 前後の石英粉が用いられている。
【0007】好ましくは、流動床を用い、石英粉を10
00〜1600℃の温度下で、塩素ガスまたは塩素含有
化合物ガスを含有する空気などの流動化ガスを導入して
該石英粉を流動化した状態で脱水する。塩素含有化合物
としては、導入温度において石英と反応せずに塩素を放
出するものであればよく、具体的には、COCl2 、S
OCl2 、SO2 Cl2 などを用いることができる。塩
素ガスおよび放出された塩素は、上記温度下において石
英粉のOH基と結合して塩化水素を生成する。この塩化
水素は空気などの流動化ガスおよび未反応の塩素ガス等
と共に外部に排出される。
【0008】導入する塩素ガスまたは塩素含有化合物ガ
スの量は、塩素ガス換算で、石英粉1kg当たり0.05
リットル/min程度であれば良い。具体的には、空気を導
入して石英粉を流動化する場合、塩素ガスまたは塩素含
有化合物ガスの量は、導入ガス中、塩素ガスに換算して
0.1〜10%程度含有されていればよい。また、流動
化ガスの導入量は石英粉を流動化するに足りる量であれ
ばよい。塩素ガスの導入量が少ないと、石英粉の脱水に
時間がかかり、また導入量が多過ぎると、脱水効果は変
わらずに排ガス処理の負担が増すので好ましくない。
【0009】
【実施例および比較例】
実施例 平均粒径150μm 、OH基含有量70ppm の非晶質合
成石英粉200gを容量0.5lit.の流動槽に装入し、
1200℃の温度下で、塩素ガスを1%含有する空気を
4lit/min の割合で槽内に導入し、石英粉を流動化した
状態で2時間脱水処理したところ、石英粉のOH基含有
量は45ppm に低下した。 比較例 一方、実施例と同様の石英粉200gを電気炉に装入し、14
00℃に加熱して48時間脱水処理を行ったところ、石英
粉のOH基含有量は50ppm であった。
【0010】実施例および比較例の結果を次表に示す。
【表1】
【0011】
【発明の効果】本発明の脱水方法によれば、従来よりも
低い温度で石英粉の脱水処理を行なうことができ、従来
みられた石英粉の焼結を生じる虞がなく後処理が不要で
ある。さらに、従来の方法では、必要な脱水効果を達成
するには48時間に及ぶ長時間の加熱処理が必要であっ
たが、本発明の方法では約2時間の処理で済み、処理時
間が大幅に短縮される。しかも、従来の方法ではOH基
含有量を50ppm 以下に低下させるのは困難であった
が、本発明の脱水方法によれば、短時間で48ppm程度
にまで脱水することができる。この結果、本発明の方法
によって脱水した石英粉を原料として製造した石英ルツ
ボはOH基含有量が少ないために高温強度が大きく、し
かも気泡含有率が極めて小さいので、シリコン単結晶の
引上げに用いると、単結晶化率が高く不純物の少ない良
質の単結晶シリコンを得ることができる。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 石英粉を塩素ガスまたは塩素含有化合物
    ガスに接触させることにより該石英粉を脱水することを
    特徴とする石英粉の脱水方法。
  2. 【請求項2】 石英粉に、1000〜1500℃の温度
    下で、塩素ガスまたは塩素含有化合物ガスを0.1〜1
    0%含有する流動化ガスを導入して該石英粉を流動化状
    態で脱水することを特徴とする請求項1の脱水方法。
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