JPH0641159Y2 - 発光分光分析装置における試料押さえ機構 - Google Patents
発光分光分析装置における試料押さえ機構Info
- Publication number
- JPH0641159Y2 JPH0641159Y2 JP8257789U JP8257789U JPH0641159Y2 JP H0641159 Y2 JPH0641159 Y2 JP H0641159Y2 JP 8257789 U JP8257789 U JP 8257789U JP 8257789 U JP8257789 U JP 8257789U JP H0641159 Y2 JPH0641159 Y2 JP H0641159Y2
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- JP
- Japan
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- sample
- pressing
- holding mechanism
- sample holding
- optical emission
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案は、発光分光分析装置において、試料を放電用電
極棒に対向して配置固定するための試料押さえ機構に関
する。
極棒に対向して配置固定するための試料押さえ機構に関
する。
〈従来の技術〉 金属材料等の成分元素の迅速分析には発光分光分析装置
が適用される。この発光分光分析装置では、試料を放電
発光させてその放射光を各元素固有の波長をもつスペク
トル線に分光し、これらの各スペクトル線の光強度を測
定することにより成分元素の定性、定量分析を行う。こ
の場合、試料の放電発光を大気中で行うと、試料中の
Ｃ、Ｓ、Ｐ等のスペクトル線が酸素に吸収されて分析精
度を損なうので、通常はArガス気流中で発光させるよう
にしている。
が適用される。この発光分光分析装置では、試料を放電
発光させてその放射光を各元素固有の波長をもつスペク
トル線に分光し、これらの各スペクトル線の光強度を測
定することにより成分元素の定性、定量分析を行う。こ
の場合、試料の放電発光を大気中で行うと、試料中の
Ｃ、Ｓ、Ｐ等のスペクトル線が酸素に吸収されて分析精
度を損なうので、通常はArガス気流中で発光させるよう
にしている。
ところで、試料を放電発光させるに際しては、試料を放
電用電極棒に対向する位置に配置固定する必要がある。
そのため、従来は、第２図に示すように、放電用スタン
ドａに支柱ｐを立設し、この支柱ｐに摺動部材ｂを嵌合
し、この摺動部材ｂにばね板ｆを取り付け、このばね板
ｆの端部に押さえピンｄを固定した構造のものが提供さ
れている。この構造では、摺動部材ｂを支柱ｐにそって
上下動させることで押さえピンｄを試料s0に押し付け、
この状態で摺動部材ｂを支柱ｐにねじｑで固定すること
で試料s0が固定板ｅに押圧固定される。なお、ｉはスパ
ーク放電用の電極棒、ｊはArガス流通室である。
電用電極棒に対向する位置に配置固定する必要がある。
そのため、従来は、第２図に示すように、放電用スタン
ドａに支柱ｐを立設し、この支柱ｐに摺動部材ｂを嵌合
し、この摺動部材ｂにばね板ｆを取り付け、このばね板
ｆの端部に押さえピンｄを固定した構造のものが提供さ
れている。この構造では、摺動部材ｂを支柱ｐにそって
上下動させることで押さえピンｄを試料s0に押し付け、
この状態で摺動部材ｂを支柱ｐにねじｑで固定すること
で試料s0が固定板ｅに押圧固定される。なお、ｉはスパ
ーク放電用の電極棒、ｊはArガス流通室である。
〈考案が解決しようとする課題〉 しかし、従来の上記構造のものでは、試料s0を固定板ｅ
に安定して押さえ付けることができない。すなわち、分
析対象となる試料s0の形状は必ずしも一定したものでは
なく、種々の形状のものがある。たとえば、第２図に示
すような釣り鐘形をした試料s0に対しては、押さえピン
ｄの押圧力が大きいと試料s0が矢印方向に不意に移動し
て分析位置がずれてしまう。
に安定して押さえ付けることができない。すなわち、分
析対象となる試料s0の形状は必ずしも一定したものでは
なく、種々の形状のものがある。たとえば、第２図に示
すような釣り鐘形をした試料s0に対しては、押さえピン
ｄの押圧力が大きいと試料s0が矢印方向に不意に移動し
て分析位置がずれてしまう。
一方、試料分析の自動化を図るために、第３図に示すよ
うに、エアーシリンダを構成する押圧棒ｇの一端に試料
s1に当接する傘状の試料押さえ具ｈを直接固定し、この
押さえ具ｈで試料s1を固定板ｅに押さえ付ける構成が考
えられる。
うに、エアーシリンダを構成する押圧棒ｇの一端に試料
s1に当接する傘状の試料押さえ具ｈを直接固定し、この
押さえ具ｈで試料s1を固定板ｅに押さえ付ける構成が考
えられる。
しかしながら、この構成のものでは、次の不具合があ
る。すなわち、鉄鋼分析等の試料s1では図示のようにＴ
字形状をしたものがあり、また、試料s1に中心偏析が存
在するため試料s1の中心から外れた部分を分析する必要
がある。そこで、試料s1の中心を押圧棒ｇの軸心ｃから
外れた位置に配置すると、試料s1が固定板ｅから傾いて
両者間の密着性が悪くなり、その隙間からArガス流通室
ｊ内に空気が入り込む。このため、Arガス気流中で試料
s1を放電発光させることができなくなって分析精度が悪
くなる。また、極端な場合には試料s1が転倒してしまい
分析ができなくなることもある。
る。すなわち、鉄鋼分析等の試料s1では図示のようにＴ
字形状をしたものがあり、また、試料s1に中心偏析が存
在するため試料s1の中心から外れた部分を分析する必要
がある。そこで、試料s1の中心を押圧棒ｇの軸心ｃから
外れた位置に配置すると、試料s1が固定板ｅから傾いて
両者間の密着性が悪くなり、その隙間からArガス流通室
ｊ内に空気が入り込む。このため、Arガス気流中で試料
s1を放電発光させることができなくなって分析精度が悪
くなる。また、極端な場合には試料s1が転倒してしまい
分析ができなくなることもある。
〈課題を解決するための手段〉 本考案は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、試料分析の自動化を図るに際して、試料の形状に影
響されることなく、試料を固定板に対して常に安定して
配置固定できるようにするものである。
て、試料分析の自動化を図るに際して、試料の形状に影
響されることなく、試料を固定板に対して常に安定して
配置固定できるようにするものである。
そのため、本考案の発光分光分析装置における試料押え
機構では、試料が載置される固定板に対して試料を押圧
する押圧棒が出退可能に設けられ、この押圧棒の先端部
には可とう性部材が取り付けられ、この可とう性部材に
前記試料に当接する傘状の試料押さえ具が固定されてい
る構成とした。
機構では、試料が載置される固定板に対して試料を押圧
する押圧棒が出退可能に設けられ、この押圧棒の先端部
には可とう性部材が取り付けられ、この可とう性部材に
前記試料に当接する傘状の試料押さえ具が固定されてい
る構成とした。
〈作用〉 上記構成において、試料の中心を押圧棒の軸心から外れ
た位置に配置して押圧棒で試料を押さえ付ける場合で
も、試料が傾斜する以前に可とう性部材が変形して試料
に加わる応力を緩和するようになるので、試料は固定板
に安定して密着させられる。このため、試料形状に起因
して分析精度が悪くなる等の不具合が回避される。
た位置に配置して押圧棒で試料を押さえ付ける場合で
も、試料が傾斜する以前に可とう性部材が変形して試料
に加わる応力を緩和するようになるので、試料は固定板
に安定して密着させられる。このため、試料形状に起因
して分析精度が悪くなる等の不具合が回避される。
〈実施例〉 第１図は本考案の実施例に係る発光分光分析装置におけ
る試料押え機構を含む試料発光部の一部切欠正面図であ
る。同図において、符号１は試料押さえ機構であって、
この試料押さえ機構１は、分析室を構成するハウジング
２にエアーシリンダ４が取り付けられ、このエアーシリ
ンダ４の押圧棒６が試料８が載置される固定板10に対し
て出退可能に設けられており、さらに、この押圧棒６の
先端部にはベークライト等の絶縁体12を介して防振用ゴ
ムからなる可とう性部材14が取り付けられ、この可とう
性部材14に傘状の試料押さえ具16が固定されて構成され
る。
る試料押え機構を含む試料発光部の一部切欠正面図であ
る。同図において、符号１は試料押さえ機構であって、
この試料押さえ機構１は、分析室を構成するハウジング
２にエアーシリンダ４が取り付けられ、このエアーシリ
ンダ４の押圧棒６が試料８が載置される固定板10に対し
て出退可能に設けられており、さらに、この押圧棒６の
先端部にはベークライト等の絶縁体12を介して防振用ゴ
ムからなる可とう性部材14が取り付けられ、この可とう
性部材14に傘状の試料押さえ具16が固定されて構成され
る。
なお、18はスパーク放電用の電極棒、20は電極ホルダ、
22は放電用スタンド、24は放電用スタンド22内に形成さ
れたArガス流通室、26は固定板10に形成された放電用貫
通孔である。
22は放電用スタンド、24は放電用スタンド22内に形成さ
れたArガス流通室、26は固定板10に形成された放電用貫
通孔である。
したがって、上記構成において、試料８が図示のように
Ｔ字形状をしたもので、しかも、この試料８が押圧棒６
の軸心ｃから外れた位置に配置されている場合でも、押
圧棒６で試料８を押さえ付けると、試料８が傾斜する以
前に可とう性部材14が変形して試料８に加わる応力を緩
和するので、試料８は固定板10に安定して密着させられ
る。このため、試料８と固定板10との隙間からArガス流
通室24内に空気が入り込む等の不具合が回避される。
Ｔ字形状をしたもので、しかも、この試料８が押圧棒６
の軸心ｃから外れた位置に配置されている場合でも、押
圧棒６で試料８を押さえ付けると、試料８が傾斜する以
前に可とう性部材14が変形して試料８に加わる応力を緩
和するので、試料８は固定板10に安定して密着させられ
る。このため、試料８と固定板10との隙間からArガス流
通室24内に空気が入り込む等の不具合が回避される。
〈考案の効果〉 本考案によれば、試料分析の自動化を図るに際して、試
料の形状に影響されることなく、試料を固定板に対して
常に安定して配置固定できるようになる等の優れた効果
が発揮される。
料の形状に影響されることなく、試料を固定板に対して
常に安定して配置固定できるようになる等の優れた効果
が発揮される。
第１図は本考案の実施例に係る発光分光分析装置におけ
る試料押え機構を含む試料発光部の一部切欠正面図、第
２図は従来の試料押さえ機構を含む試料発光部の一部切
欠正面図、第３図は従来の他の試料押さえ機構を含む試
料発光部の一部切欠正面図である。 １……試料押さえ機構、６……押圧棒、８……試料、10
……固定板、14……可とう性部材、16……試料押さえ
具。
る試料押え機構を含む試料発光部の一部切欠正面図、第
２図は従来の試料押さえ機構を含む試料発光部の一部切
欠正面図、第３図は従来の他の試料押さえ機構を含む試
料発光部の一部切欠正面図である。 １……試料押さえ機構、６……押圧棒、８……試料、10
……固定板、14……可とう性部材、16……試料押さえ
具。
Claims (1)
- 【請求項１】試料が載置される固定板に対して試料を押
圧する押圧棒が出退可能に設けられ、この押圧棒の先端
部には可とう性部材が取り付けられ、この可とう性部材
に前記試料に当接する傘状の試料押さえ具が固定されて
いることを特徴とする発光分光分析装置における試料押
さえ機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8257789U JPH0641159Y2 (ja) | 1989-07-13 | 1989-07-13 | 発光分光分析装置における試料押さえ機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8257789U JPH0641159Y2 (ja) | 1989-07-13 | 1989-07-13 | 発光分光分析装置における試料押さえ機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0321759U JPH0321759U (ja) | 1991-03-05 |
| JPH0641159Y2 true JPH0641159Y2 (ja) | 1994-10-26 |
Family
ID=31629521
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8257789U Expired - Lifetime JPH0641159Y2 (ja) | 1989-07-13 | 1989-07-13 | 発光分光分析装置における試料押さえ機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0641159Y2 (ja) |
-
1989
- 1989-07-13 JP JP8257789U patent/JPH0641159Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0321759U (ja) | 1991-03-05 |
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