JPS635003Y2 - - Google Patents
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- JPS635003Y2 JPS635003Y2 JP15440282U JP15440282U JPS635003Y2 JP S635003 Y2 JPS635003 Y2 JP S635003Y2 JP 15440282 U JP15440282 U JP 15440282U JP 15440282 U JP15440282 U JP 15440282U JP S635003 Y2 JPS635003 Y2 JP S635003Y2
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Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、直流プラズマ発光分光分析法で用い
るプラズマジエツト装置の陰極ブロツクに、タン
グステン電極を容易に装填できるようにするため
の治具に関し、特に限定されるものではないが、
マニプレータによる電極交換を可能としうるよう
なタングステン電極装填用のスペーサに関するも
のである。
るプラズマジエツト装置の陰極ブロツクに、タン
グステン電極を容易に装填できるようにするため
の治具に関し、特に限定されるものではないが、
マニプレータによる電極交換を可能としうるよう
なタングステン電極装填用のスペーサに関するも
のである。
原子力関係分野における、高レベル放射性物質
研究に伴う分析では、外界と遮断されたホツトセ
ルを使用した遠隔操作による分析が必要となる。
しかし従来の滴定分析、比色分析等はもともと実
験室を対象とした分析操作であり、セル内分析法
に適用することは困難である。また分析操作が複
雑であり、多種多様な試薬を使用し、そのわりに
は分析対象範囲が狭く、分析所要時間が長い等の
欠点がある。
研究に伴う分析では、外界と遮断されたホツトセ
ルを使用した遠隔操作による分析が必要となる。
しかし従来の滴定分析、比色分析等はもともと実
験室を対象とした分析操作であり、セル内分析法
に適用することは困難である。また分析操作が複
雑であり、多種多様な試薬を使用し、そのわりに
は分析対象範囲が狭く、分析所要時間が長い等の
欠点がある。
その点分析試料を励起発光させ、その発光スペ
クトルの波長及びスペクトル線強度を測定し、分
析試料中の成分及び濃度を同定する発光分光分析
法は、分析操作が簡単であり、検出感度が高く、
また測定濃度範囲が広く、多元素を同時に分析で
きる利点を有している。また光の測定を原理とし
ているので、ホツトセル内で大きな妨害要因とな
る高放射線の影響も受けず安定した測定が可能で
あり、セル内分析法として最も適した分析法であ
る。
クトルの波長及びスペクトル線強度を測定し、分
析試料中の成分及び濃度を同定する発光分光分析
法は、分析操作が簡単であり、検出感度が高く、
また測定濃度範囲が広く、多元素を同時に分析で
きる利点を有している。また光の測定を原理とし
ているので、ホツトセル内で大きな妨害要因とな
る高放射線の影響も受けず安定した測定が可能で
あり、セル内分析法として最も適した分析法であ
る。
直流プラズマ発光分光分析装置は、第1図に示
すように、直流プラズマジエツト装置(発光部)
1、分光器2、検出部3、データ処理部等により
構成され、高温の直流プラズマ中に分析試料を導
き励起発光させ、発光スペクトル線を分光器によ
り検出し、そのスペクトル線及びスペクトル線強
度から、分析試料中の元素及び含有量を測定する
多元素同時分析型の装置であり、従来公知であ
る。なお、符号4は、スペクトルの焦点面におか
れた出口スリツトである。
すように、直流プラズマジエツト装置(発光部)
1、分光器2、検出部3、データ処理部等により
構成され、高温の直流プラズマ中に分析試料を導
き励起発光させ、発光スペクトル線を分光器によ
り検出し、そのスペクトル線及びスペクトル線強
度から、分析試料中の元素及び含有量を測定する
多元素同時分析型の装置であり、従来公知であ
る。なお、符号4は、スペクトルの焦点面におか
れた出口スリツトである。
ここで直流プラズマジエツト装置1は、例え
ば、第2図にも詳細に示されているように、2本
の陽極ブロツク10と1本の陰極ブロツク11と
が逆Y字型に設置された構造をなしている。陽極
には黒鉛電極12(例えば2.3φ×46.6mm)が、ま
た陰極にはタングステン電極13(例えば1φ×
61mm)が使用される。符号14は、各々の電極ブ
ロツクに取付けられるセラミツクスリーブであ
る。プラズマ点灯時は、電極ブロツク10,11
からアルゴンガスを吹込み、黒鉛電極12とタン
グステン電極13を突出させ、接触させて放電さ
せる。プラズマ点灯と同時に3本の電極はセラミ
ツクスリーブ14内に引き込まれ、アルゴンの電
離が持続し、プラズマ15が形成される。ネブラ
イザにより霧化された分析試料は、石英製のサン
プル導入管16を通つてプラズマ15中に導か
れ、励起発光する。
ば、第2図にも詳細に示されているように、2本
の陽極ブロツク10と1本の陰極ブロツク11と
が逆Y字型に設置された構造をなしている。陽極
には黒鉛電極12(例えば2.3φ×46.6mm)が、ま
た陰極にはタングステン電極13(例えば1φ×
61mm)が使用される。符号14は、各々の電極ブ
ロツクに取付けられるセラミツクスリーブであ
る。プラズマ点灯時は、電極ブロツク10,11
からアルゴンガスを吹込み、黒鉛電極12とタン
グステン電極13を突出させ、接触させて放電さ
せる。プラズマ点灯と同時に3本の電極はセラミ
ツクスリーブ14内に引き込まれ、アルゴンの電
離が持続し、プラズマ15が形成される。ネブラ
イザにより霧化された分析試料は、石英製のサン
プル導入管16を通つてプラズマ15中に導か
れ、励起発光する。
陰極ブロツクの詳細を第3図に示す。陰極ブロ
ツクは、クーリングブロツク20、シリンダ2
1、ジヨイント22により構成される。タングス
テン電極13は、クーリングブロツク20内の多
孔板23の中心孔(約1mmφ)に通したのち、シ
リンダ21内のプツシヤー24の先端部に固定さ
れる。このプツシヤー24は、その軸方向に移動
可能に収容されており、ジヨイント22からのア
ルゴンガス圧によつて前進し、また、アルゴンガ
スの供給を停止したときスプリング(図示せず)
の力によつて後退する構成となつている。プツシ
ヤー24先端のタングステン電極固定部は、クリ
ツプ状になつており、プラズマ点灯時にアルゴン
ガスによりプツシヤー24が押し上げられるとク
リツプが閉じタングステン電極13が固定される
ようになつている。タングステン電極装填時の突
出長さの調整は通常は目視により行なうが、この
作業はかなりの熟練が要求される。前記突出長さ
の調整は、電極クーリングブロツク内に引込まれ
た状態で6.5±0.5mmの精度を必要とする。この寸
法に調整すればプラズマ点灯時、電極が押し上げ
られたとき陰極を確実に陽極に接触させることが
できる。なお、セラミツクスリーブ14は、電極
交換時に取外される。
ツクは、クーリングブロツク20、シリンダ2
1、ジヨイント22により構成される。タングス
テン電極13は、クーリングブロツク20内の多
孔板23の中心孔(約1mmφ)に通したのち、シ
リンダ21内のプツシヤー24の先端部に固定さ
れる。このプツシヤー24は、その軸方向に移動
可能に収容されており、ジヨイント22からのア
ルゴンガス圧によつて前進し、また、アルゴンガ
スの供給を停止したときスプリング(図示せず)
の力によつて後退する構成となつている。プツシ
ヤー24先端のタングステン電極固定部は、クリ
ツプ状になつており、プラズマ点灯時にアルゴン
ガスによりプツシヤー24が押し上げられるとク
リツプが閉じタングステン電極13が固定される
ようになつている。タングステン電極装填時の突
出長さの調整は通常は目視により行なうが、この
作業はかなりの熟練が要求される。前記突出長さ
の調整は、電極クーリングブロツク内に引込まれ
た状態で6.5±0.5mmの精度を必要とする。この寸
法に調整すればプラズマ点灯時、電極が押し上げ
られたとき陰極を確実に陽極に接触させることが
できる。なお、セラミツクスリーブ14は、電極
交換時に取外される。
さて、このような従来の直流プラズマ発光分光
分析装置は、前述のように通常の実験室で利用す
るうえでは極めて有効な分析装置である。しか
し、かかる装置をそのままホツトセル内に設置
し、分析を実施することは不可能である。という
のは、ホツトセル内は、高温多湿で、しかも酸蒸
気等が存在する劣悪な環境であり、装置の保守管
理上問題があり、また、マニプレータによりこれ
らの運転及びメンテナンスを行なうことは難しい
からである。そこで複雑な光学系及び電気回路を
有する分光器及びデータ処理部等をセル外に設置
し、直流プラズマジエツト装置1をセル内に設置
して、セル内の光情報をセル外へ取出す方法を検
討した。その場合、各電極は、プラズマジエツト
運転中に消耗するため定期的に交換する必要があ
る。ホツトセル内に直流プラズマジエツトを設置
して運転する場合は、ホツトセル内でマニプレー
タにより電極交換が行なえなけばならない。しか
し、電極部は非常に狭く、しかも前述のようにタ
ングステン電極の装填には、約1mmφの微細な孔
への挿入及び電極先端部の突出長さ調整を行なわ
なければならない。このタングステン陰極の突出
長さ調整は、黒鉛陽極との接触を持たせ、2極間
にアークを発生させる上で必要でありプラズマ形
成上重要な寸法である。ホツトセル内という特殊
な条件下では、このタングステン電極の突出長さ
調整を目視で行なうことはできないという新たな
条件も加わる。
分析装置は、前述のように通常の実験室で利用す
るうえでは極めて有効な分析装置である。しか
し、かかる装置をそのままホツトセル内に設置
し、分析を実施することは不可能である。という
のは、ホツトセル内は、高温多湿で、しかも酸蒸
気等が存在する劣悪な環境であり、装置の保守管
理上問題があり、また、マニプレータによりこれ
らの運転及びメンテナンスを行なうことは難しい
からである。そこで複雑な光学系及び電気回路を
有する分光器及びデータ処理部等をセル外に設置
し、直流プラズマジエツト装置1をセル内に設置
して、セル内の光情報をセル外へ取出す方法を検
討した。その場合、各電極は、プラズマジエツト
運転中に消耗するため定期的に交換する必要があ
る。ホツトセル内に直流プラズマジエツトを設置
して運転する場合は、ホツトセル内でマニプレー
タにより電極交換が行なえなけばならない。しか
し、電極部は非常に狭く、しかも前述のようにタ
ングステン電極の装填には、約1mmφの微細な孔
への挿入及び電極先端部の突出長さ調整を行なわ
なければならない。このタングステン陰極の突出
長さ調整は、黒鉛陽極との接触を持たせ、2極間
にアークを発生させる上で必要でありプラズマ形
成上重要な寸法である。ホツトセル内という特殊
な条件下では、このタングステン電極の突出長さ
調整を目視で行なうことはできないという新たな
条件も加わる。
このように、従来技術では、上述した保守操作
をホツトセル内でマニプレータにより実行するこ
とは全く不可能であり、直流プラズマジエツトを
ホツトセル内で運転するためにはこれらを解決す
る必要があつた。またこれらが解決されない限
り、ホツトセル内分析法として直流プラズマ発光
分光分析法を適用することは不可能だつたのであ
る。
をホツトセル内でマニプレータにより実行するこ
とは全く不可能であり、直流プラズマジエツトを
ホツトセル内で運転するためにはこれらを解決す
る必要があつた。またこれらが解決されない限
り、ホツトセル内分析法として直流プラズマ発光
分光分析法を適用することは不可能だつたのであ
る。
本考案は、上記のような従来技術の実情に鑑み
なされたもので、その目的は、ホツトセル内でマ
ニプレータによりタングステン電極の交換や突出
長さの調整を容易に行なえるようなタングステン
電極装填用スペーサを提供することにある。
なされたもので、その目的は、ホツトセル内でマ
ニプレータによりタングステン電極の交換や突出
長さの調整を容易に行なえるようなタングステン
電極装填用スペーサを提供することにある。
以下、本考案について詳述する。第4図は本考
案に係るタングステン電極装填用スペーサの一実
施例を示す説明図である。同図から明らかなよう
に、このスペーサ30は、直流プラズマジエツト
装置の陰極ブロツク先端開口(第3図参照)に丁
度嵌入する小径脚部31と、タングステン電極の
突出長さに等しい高さhを有し前記小径脚部31
の上部に連設される膨出ヘツド部32とからな
り、それらの中心部にはタングステン電極装填用
の貫通孔33が穿設され、かつ該貫通孔33のヘ
ツド部側端にすり鉢状のテーパー入口部34が形
成された構造である。本実施例では、スペーサ3
0は、ステンレス鋼等で製作されており、中心の
貫通孔33はタングステン電極を挿入しうる寸法
(約1mmφ)、テーパー入口部34の開き角度は約
60度となつている。また、膨出ヘツド部32の高
さは、この場合6.5mmに設定されている。タング
ステン電極13の装填時の状況を第5図に示す。
まず、スペーサ30をマニプレータで把持して、
陰極ブロツクを構成しているクーリングブロツク
20の先端開口に嵌着する。次に、タングステン
電極13をつかんで貫通孔33に挿入する。この
とき、前述の如く、ヘツド部側端にはすり鉢状の
テーパー入口部34が形成されているので、タン
グステン電極13を容易に貫通孔33内に挿入で
き、その後はタングステン電極13はその自重で
滑り落ち、クーリングブロツク20内の多孔板2
3の中心孔に確実に入る。その後は単にマニプレ
ータハンド部35の平面でタングステン電極13
を、その先端がスペーサ30の上端面に一致する
まで押込むことにより、タングステン電極13の
装填及びその突出長さの調整が終了する。従つ
て、最後にマニプレータでスペーサ30をつか
み、抜き取ることにより、タングステン電極13
の陰極ブロツクへの装填作業は完了することにな
る。
案に係るタングステン電極装填用スペーサの一実
施例を示す説明図である。同図から明らかなよう
に、このスペーサ30は、直流プラズマジエツト
装置の陰極ブロツク先端開口(第3図参照)に丁
度嵌入する小径脚部31と、タングステン電極の
突出長さに等しい高さhを有し前記小径脚部31
の上部に連設される膨出ヘツド部32とからな
り、それらの中心部にはタングステン電極装填用
の貫通孔33が穿設され、かつ該貫通孔33のヘ
ツド部側端にすり鉢状のテーパー入口部34が形
成された構造である。本実施例では、スペーサ3
0は、ステンレス鋼等で製作されており、中心の
貫通孔33はタングステン電極を挿入しうる寸法
(約1mmφ)、テーパー入口部34の開き角度は約
60度となつている。また、膨出ヘツド部32の高
さは、この場合6.5mmに設定されている。タング
ステン電極13の装填時の状況を第5図に示す。
まず、スペーサ30をマニプレータで把持して、
陰極ブロツクを構成しているクーリングブロツク
20の先端開口に嵌着する。次に、タングステン
電極13をつかんで貫通孔33に挿入する。この
とき、前述の如く、ヘツド部側端にはすり鉢状の
テーパー入口部34が形成されているので、タン
グステン電極13を容易に貫通孔33内に挿入で
き、その後はタングステン電極13はその自重で
滑り落ち、クーリングブロツク20内の多孔板2
3の中心孔に確実に入る。その後は単にマニプレ
ータハンド部35の平面でタングステン電極13
を、その先端がスペーサ30の上端面に一致する
まで押込むことにより、タングステン電極13の
装填及びその突出長さの調整が終了する。従つ
て、最後にマニプレータでスペーサ30をつか
み、抜き取ることにより、タングステン電極13
の陰極ブロツクへの装填作業は完了することにな
る。
なお、スペーサ30を抜き取つたとき、タング
ステン電極13の位置がずれないようにするた
め、タングステン電極13とスペーサ30との摩
擦力が、タングステン電極13と陰極ブロツクの
プツシヤー24先端の電極固定部の摩擦力よりも
はるかに小さくなるようにスペーサ30を製作し
ておく。このためには、スペーサ30の貫通孔3
3の直径をタングステン電極13の外径より若干
大きめにし、タングステン電極13が遊嵌するよ
うにしておくだけで充分である。
ステン電極13の位置がずれないようにするた
め、タングステン電極13とスペーサ30との摩
擦力が、タングステン電極13と陰極ブロツクの
プツシヤー24先端の電極固定部の摩擦力よりも
はるかに小さくなるようにスペーサ30を製作し
ておく。このためには、スペーサ30の貫通孔3
3の直径をタングステン電極13の外径より若干
大きめにし、タングステン電極13が遊嵌するよ
うにしておくだけで充分である。
かかるスペーサ30を用いてマニプレータによ
りタングステン電極の装填作業を繰返した結果は
充分満足しうるものであつた。10回の測定結果で
は、平均値6.5mm、最大値6.8mm、最小値6.3mmで
6.5mm±0.5mmという要求精度内に完全に収まるこ
とが確認された。
りタングステン電極の装填作業を繰返した結果は
充分満足しうるものであつた。10回の測定結果で
は、平均値6.5mm、最大値6.8mm、最小値6.3mmで
6.5mm±0.5mmという要求精度内に完全に収まるこ
とが確認された。
このタングステン電極装填作業をさらに有利に
するためには、第6図、第7図に示すような直流
プラズマジエツト装置を用いるとよい。第6図は
使用時の状態を示し、第7図は電極交換時の状態
を示す。
するためには、第6図、第7図に示すような直流
プラズマジエツト装置を用いるとよい。第6図は
使用時の状態を示し、第7図は電極交換時の状態
を示す。
2本の陽極ブロツク10と1本の陰極ブロツク
11は、それぞれ装置上方に向つて起立固定でき
るよう回転可能に取付けられている。すなわち回
転ラチエツト機構40によつて発光位置(第6図
に示す)と電極交換位置(第7図に示す)とのい
ずれかで位置決め固定できる構成である。陽極ブ
ロツク10及び陰極ブロツク11は、取手41を
マニプレータで操作することにより、アーム42
を動かし、それによつて回転させることができ
る。第7図に示すように、電極の交換時には電極
装填用の穴が上方を向き、しかも各電極ブロツク
の間隔はかなり広くなるため、電極交換作業は極
めて容易となるのである。なお、第6図、第7図
において、符号43は得られた分析試料の発光ス
ペクトルをセル外の分光器まで伝送するための光
フアイバの脱着機構、符号44は光フアイバ微動
装置である。
11は、それぞれ装置上方に向つて起立固定でき
るよう回転可能に取付けられている。すなわち回
転ラチエツト機構40によつて発光位置(第6図
に示す)と電極交換位置(第7図に示す)とのい
ずれかで位置決め固定できる構成である。陽極ブ
ロツク10及び陰極ブロツク11は、取手41を
マニプレータで操作することにより、アーム42
を動かし、それによつて回転させることができ
る。第7図に示すように、電極の交換時には電極
装填用の穴が上方を向き、しかも各電極ブロツク
の間隔はかなり広くなるため、電極交換作業は極
めて容易となるのである。なお、第6図、第7図
において、符号43は得られた分析試料の発光ス
ペクトルをセル外の分光器まで伝送するための光
フアイバの脱着機構、符号44は光フアイバ微動
装置である。
本考案は上記のように構成したタングステン電
極装填用スペーサであるから、従来不可能と考え
られていたマニプレータによるタングステン電極
の装填が可能となり、電極交換に要する時間が短
縮され、しかも交換操作に熟練を必要としないな
ど、数々のすぐれた効果を奏しうるものである。
これらの効果により、ホツトセル内における直流
プラズマジエツトの遠隔保守が可能となり、ホツ
トセル用直流プラズマ発光分光分析システムが実
用化し、それにより、セル内における分析対象元
素が大幅に拡大され、また作業の省力化、能率化
が実現し、高レベル放射性物質の試験、研究を強
力に支援できるようになつたものである。
極装填用スペーサであるから、従来不可能と考え
られていたマニプレータによるタングステン電極
の装填が可能となり、電極交換に要する時間が短
縮され、しかも交換操作に熟練を必要としないな
ど、数々のすぐれた効果を奏しうるものである。
これらの効果により、ホツトセル内における直流
プラズマジエツトの遠隔保守が可能となり、ホツ
トセル用直流プラズマ発光分光分析システムが実
用化し、それにより、セル内における分析対象元
素が大幅に拡大され、また作業の省力化、能率化
が実現し、高レベル放射性物質の試験、研究を強
力に支援できるようになつたものである。
なお、本考案は、ホツトセル内に設置する場合
のみならず、通常の実験室等に設置する場合にも
適用でき、電極交換等を容易に行なえることは言
うまでもなく明らかであろう。
のみならず、通常の実験室等に設置する場合にも
適用でき、電極交換等を容易に行なえることは言
うまでもなく明らかであろう。
第1図は直流プラズマジエツト発光分光分析装
置の概念図、第2図はその直流プラズマジエツト
装置の説明図、第3図は従来の陰極ブロツクの分
解説明図、第4図は本考案に係るスペーサの説明
図、第5図はその使用状態の説明図、第6図及び
第7図はホツトセル用の直流プラズマジエツト装
置の説明図である。 1……直流プラズマジエツト装置、2……分光
器、3……検出部、10……陽極ブロツク、11
……陰極ブロツク、13……タングステン電極、
15……プラズマ、16……サンプル導入管、2
0……クーリングブロツク、21……シリンダ、
23……多孔板、24……プツシヤー、30……
スペーサ、31……小径脚部、32……膨出ヘツ
ド部、33……貫通孔、34……テーパー入口
部、35……マニプレータハンド部。
置の概念図、第2図はその直流プラズマジエツト
装置の説明図、第3図は従来の陰極ブロツクの分
解説明図、第4図は本考案に係るスペーサの説明
図、第5図はその使用状態の説明図、第6図及び
第7図はホツトセル用の直流プラズマジエツト装
置の説明図である。 1……直流プラズマジエツト装置、2……分光
器、3……検出部、10……陽極ブロツク、11
……陰極ブロツク、13……タングステン電極、
15……プラズマ、16……サンプル導入管、2
0……クーリングブロツク、21……シリンダ、
23……多孔板、24……プツシヤー、30……
スペーサ、31……小径脚部、32……膨出ヘツ
ド部、33……貫通孔、34……テーパー入口
部、35……マニプレータハンド部。
Claims (1)
- 直流プラズマジエツト装置の陰極ブロツク先端
開口に丁度嵌入する小径脚部と、タングステン電
極の突出長さに等しい高さを有し前記小径脚部の
上部に連設される膨出ヘツド部とからなり、それ
らの中心部にはタングステン電極装填用の貫通孔
が穿設され、かつ該貫通孔のヘツド部側端にすり
鉢状のテーパー入口部が形成されてなるタングス
テン電極装填用スペーサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15440282U JPS5958351U (ja) | 1982-10-12 | 1982-10-12 | タングステン電極装填用スペ−サ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15440282U JPS5958351U (ja) | 1982-10-12 | 1982-10-12 | タングステン電極装填用スペ−サ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5958351U JPS5958351U (ja) | 1984-04-16 |
| JPS635003Y2 true JPS635003Y2 (ja) | 1988-02-10 |
Family
ID=30341317
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15440282U Granted JPS5958351U (ja) | 1982-10-12 | 1982-10-12 | タングステン電極装填用スペ−サ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5958351U (ja) |
-
1982
- 1982-10-12 JP JP15440282U patent/JPS5958351U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5958351U (ja) | 1984-04-16 |
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