JPH064136A - 光学的読み取りユニットの自動調整装置 - Google Patents

光学的読み取りユニットの自動調整装置

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JPH064136A
JPH064136A JP16253692A JP16253692A JPH064136A JP H064136 A JPH064136 A JP H064136A JP 16253692 A JP16253692 A JP 16253692A JP 16253692 A JP16253692 A JP 16253692A JP H064136 A JPH064136 A JP H064136A
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正治 岡部
Hiroshi Kumasaka
博 熊坂
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明の目的は、位置調整後のイメージセン
サ基板への固定で位置ずれを考慮して、迅速な位置調整
が可能な光学的読み取りユニットの自動調整装置を提供
することである。 【構成】 レンズとイメージセンサとを基本構成要素と
する光学的読み取りユニットのパラメータを調整する光
学的読み取りユニットの自動調整装置であって、前記イ
メージセンサの調整位置基準にある光学チャートを照明
する照明手段と、前記イメージセンサの出力信号から位
置ずれ量を算出し、位置制御信号を送出する制御手段
と、該位置制御信号に基づいて前記イメージセンサの位
置を動かす駆動手段と、前記イメージセンサの出力信号
が所定位置ずれ量を示す場合に、前記イメージセンサの
位置を固定する固定手段と、を備えることを特徴とす
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光学的読み取りユニッ
トの自動調整装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の光学的読み取りユニットの調整
は、光学チャートをイメージセンサで読み取り、イメー
ジセンサのピントずれ及び位置ずれをオシロスコープに
出力信号波形として描かせ、作業者がこの波形を確認し
ながら手で調整を行っている。
【0003】
【発明が解決しようとしている課題】ところが、イメー
ジセンサの位置調整には、ピント調整,アオリ調整,上
下左右のずれ調整,回転調整があり、すべての調整を規
定の範囲内に入れる必要がある。しかしながら、上記従
来の方法にあっては作業者の熟練が必要であるうえ、位
置調整後のイメージセンサ基板への固定で位置ずれが生
ずるため、調整に長時間かかるという問題点があった。
【0004】本発明は、前記従来の欠点を除去し、位置
調整後のイメージセンサ基板への固定で位置ずれを考慮
して、迅速な位置調整が可能な光学的読み取りユニット
の自動調整装置を提供する。
【0005】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に、本発明の光学的読み取りユニットの自動調整装置
は、レンズとイメージセンサとを基本構成要素とする光
学的読み取りユニットのパラメータを調整する光学的読
み取りユニットの自動調整装置であって、前記イメージ
センサの調整位置基準にある光学チャートを照明する照
明手段と、前記イメージセンサの出力信号から位置ずれ
量を算出し、位置制御信号を送出する制御手段と、該位
置制御信号に基づいて前記イメージセンサの位置を動か
す駆動手段と、前記イメージセンサの出力信号が所定位
置ずれ量を示す場合に、前記イメージセンサの位置を固
定する固定手段とを備える。
【0006】ここで、前記パラメータはピント,アオ
リ,左右,上下及び回転位置の5軸に対応する。また、
前記光学チャートは、光学読み取りユニットの焦点位置
に固定あるいはデフォーカス方向に駆動可能で、ピン
ト,アオリ,左右,上下及び回転方向の位置ずれ検出部
パターンを有し、各位置ずれ検出部のパターンは光透過
性である。また、前記照明手段は、光学読み取りユニッ
トの焦点深度外に位置設定されて前記光学チャートとは
密着しない均一な照明光を得るための拡散板を有し、光
学チャートを透過照明する。また、前記制御手段は、調
整対象のイメージセンサ出力信号を用いて位置ずれ量を
算出する手段と、イメージセンサ基板固定時の位置ずれ
分を読み取り、イメージセンサ基板固定によるずれを見
込んで位置固定後に最適位置となるよう固定時の位置ず
れを補正する位置調整手段とを備える。また、前記駆動
手段は、ピント調整方向に滑りにくい表面構造をイメー
ジセンサ基板把持部に設けた3本のイメージセンサ基板
板把持ピンと、イメージセンサ基板後方からの突き当て
により初期位置規正を行うピンとを有する。また、前記
固定手段は、各固定箇所毎に独立に固定動作及び解放動
作の反復が可能な構造を有し、固定トルクも各固定手段
毎に可変である。
【0007】
【作用】本発明によれば、調整基準となる光学チャート
像を光学的読み取りユニットのイメージセンサ出力信号
として読み取り、この信号から光学的読み取りユニット
のピント,アオリ,上下,左右及び回転調整に必要なイ
メージセンサの位置を検出し、イメージセンサを適正な
方向へ適正な距離位置調整制御する駆動制御手段を設け
たことにより、各方向の位置調整を自動的に行える。さ
らにイメージセンサの固定手段と解放手段を設けたこと
により、イメージセンサ固定時のずれを予測し補正する
ための再調整を自動的に行える。
【0008】
【実施例】図1は本発明の一実施例である光学的読み取
りユニットの自動調整装置の構成ブロック図であり、図
2は自動調整装置の構造説明図である。
【0009】1はイメージセンサ、2はイメージセンサ
基板、3はセルフォックレンズアレイ、4はイメージセ
ンサ位置設定金具、5は光学的読み取りユニット、6は
イメージセンサ位置設定金具固定ビス、7はイメージセ
ンサ基板固定ビス、8aはイメージセンサ位置設定金具
ビスドライバ、8bはイメージセンサ基板固定ビスドラ
イバ、9は光学チャート、10aは側方基板把持ピン、
10bは上方基板把持ピン、11aは左右位置調整ステ
ージ、11bはピント位置調整ステージ、11cは回転
位置調整ステージ、11dは上下位置調整ステージ、1
1eはアオリ位置調整ステージ、12はイメージセンサ
初期位置設定ピン、13は光源、14は拡散板、15は
光学レール、16は下方突き当てピン、17は摺動コ
マ、20は小型計算機、21はイメージセンサ信号、2
2は駆動指示信号、23は位置調整ステージ(11a,
11b,11c,11d,11e)、把持ツメ(10
a,10b)及びビス締めドライバ(8a,8b)など
の駆動部である。
【0010】光学的読み取りユニット5の構造として
は、イメージセンサ1がイメージセンサ基板2に半田付
けされ、イメージセンサ基板2はイメージセンサ位置設
定金具4にイメージセンサ基板固定ビス7で固定され、
イメージセンサ位置設定金具4は光学的読み取りユニッ
ト5にイメージセンサ位置設定金具固定ビス6で固定さ
れている。ピントとアオリ方向はイメージセンサ位置設
定金具固定ビス6により位置設定され、左右と上下と回
転方向はイメージセンサ基板固定ビス7により位置設定
される。セルフォックレンズアレイ3は光学的読み取り
ユニット5に固定されており、光学調整はイメージセン
サ1の位置を調整することにより行う。
【0011】光学的読み取りユニット5の取り付け位置
は、光学レール15と下方突き当てピン16と摺動コマ
17とで設定し、図示されていない光学的読み取りユニ
ットクランプ機構によって当該自動調整装置に固定され
る。光学チャート9の位置は、光学的読み取りユニット
5にとっての原稿位置に設定され、光源13と拡散板1
4とにより均一に透過照明される。拡散板14の表面の
ムラを光学的読み取りユニット5が拾わないようにする
ため、拡散板14は光学的読み取りユニット5の焦点深
度外に位置設定し、光学チャート9とは密着させない。
【0012】イメージセンサ1の信号21はアナログ/
デジタル変換され、高速のバッファメモリを介して小型
計算機20内のメモリに格納される。小型計算機20は
このイメージセンサ信号21をデジタル演算処理して、
各調整方向の位置ずれ量を算出する。小型計算機20
は、この位置ずれ量に基づき、各位置調整ステージ,把
持ツメ,ビス締めドライバの駆動機構23に駆動信号2
2を出力する。
【0013】イメージセンサ1の位置調整は、イメージ
センサ基板2の両側面を側方基板把持ピン10aで把持
し、上面を基板把持ピン10bで支え、左右位置を左右
位置調整ステージ11aで調整、ピント位置をピント位
置調整ステージ11bで調整し、回転位置を回転位置調
整ステージ11cで調整し、上下位置を上下位置調整ス
テージ11dで調整し、アオリ位置をアオリ位置調整ス
テージ11eで調整する。回転位置調整ステージ11c
とアオリ位置調整ステージ11eとはイメージセンサ1
の中心が回転中心となるように配置し、調整時の軸間干
渉を少なくする。
【0014】イメージセンサ位置設定金具固定ビスドラ
イバ8a及びイメージセンサ基板固定ビスドライバ8b
は、図示されていないモータにより回転駆動する。ドラ
イバ駆動用のモータに流す電流を切り換えてドライバ駆
動トルクを制御する。ドライバ8a,8bの先端部は図
3のような構造であり、801はドライバビット、80
2はフレキシブルジョイント、803は角度復元ゴム、
804はドライバビット押しつけバネ、805はドライ
バ駆動軸である。ドライバビット801は、フレキシブ
ルジョイント802を設けたことにより首振り方向に自
由に動くことができ、さらにドライバビット押しつけバ
ネ804により伸縮方向に自由に動くことができる。通
常時のドライバビット801の姿勢は、角度復元ゴム8
03によりドライバ駆動軸805と同軸上の姿勢になっ
ており、かつドライバビット押しつけバネ804により
最も突き出した状態である。これらの首振りと伸縮方向
には弱い力で動ける。
【0015】上記構成の当該光学的読み取りユニット自
動調整装置における調整方法を図4の調整手順に沿って
説明する。
【0016】<ステップ4a>−光学的読み取りユニッ
トの取り付け まず、調整対象となる光学的読み取りユニット5を光学
レール15に沿ってセットし、自動調整を開始する。光
学的読み取りユニット5は、図示されていない光学読み
取りユニツトクランプ機構によってクランプされ、当該
自動調整装置に固定される。このとき光学的読み取りユ
ニット5は、光学レール15と下方向突き当てピン16
と図示されていない摺動コマ17との突き当てによって
位置きめされる。
【0017】<ステップ4b>−ステージの初期位置設
定 光学的読み取りユニット5をクランプすると同時に、各
調整ステージ11a〜11bを予め決められた初期位置
に移動させる。この初期位置は電源投入後に行う原点出
しで決定する。原点出しは、図示されていないリミット
スイッチまで各ステージを移動させ、その位置を基準に
して決められたパルス数だけステージ位置を戻した位置
を原点としている。
【0018】<ステップ4c>−イメージセンサ基板の
把持 まずイメージセンサ位置設定金具ドライバ8aを下降さ
せ、ドライバ先端部をイメージセンサ位置設定金具固定
ビス6の頭部に押し当てる。このままの状態ではビス頭
部6とドライバ線端部とで回転角度が一致していないの
で、ビス頭部6にイメージセンサ位置設定金具固定ビス
ドライバ8aの先端部は進入できない。そこで小さい電
流で図示されていないドライバモータを駆動すること
で、ドライバを弱いトルクでゆっくりと右回転させる。
ここには六角ビスを用いているため、原理的にはドライ
バを60度回転させる間にイメージセンサ位置設定金具
固定ビス6とドライバ先端部の角度は合って、イメージ
センサ位置設定金具固定ビスドライバ8aの先端がビス
頭部に進入する。実際はフレキシブルジョイントなどの
ガタ分を見込んで60度以上右回転させている。一旦イ
メージセンサ位置設定金具固定ビスドライバ8aがセッ
トされると、弱いトルクで回転しているモータはそれ以
上回転しない。仮止めしてあるイメージセンサ位置設定
金具固定ビスは、弱いトルクではそれ以上増し締めでき
ないためである。このモータ回転角をモータ軸に取り付
けた図示しないロータリーエンコーダで監視し、それ以
上ロータリーエンコーダが回転しなくなったことで、モ
ータの停止即ちイメージセンサ位置設定金具固定ビスド
ライバ8a先端がビス頭部に確実にセットされていると
いうことを検出する。
【0019】イメージセンサ位置設定金具固定ビスドラ
イバ8aを確実にセットした後、モータ電流を最大に切
り換え、強ドライバトルクでイメージセンサ位置設定金
具固定ビスドライバ8aを左回転させ、イメージセンサ
位置設定金具固定ビス6を緩める。こうしてイメージセ
ンサ位置設定金具固定ビス6を緩め、イメージセンサ基
板2がピント方向に自由に動ける状態で、ピント位置調
整ステージ11bが前進し、イメージセンサ初期位置設
定ピン12をイメージセンサ基板2の裏側に突き当て
る。イメージセンサ初期位置設定ピン12は絶縁体で構
成されており、イメージセンサ基板2と電気的に干渉す
ることはない。イメージセンサ1の全面部と光学的読み
取りユニット5との間には図示されないスポンジがあ
り、このスポンジによってイメージセンサ基板2はイメ
ージセンサ初期位置設定ピン12に確実に押し当てら
れ、仮止め姿勢によらずイメージセンサ基板2のピント
位置は機械的に略位置決めされる。
【0020】次にイメージセンサ基板固定ビスドライバ
8bが前進し、ドライバ先端部をイメージセンサ基板固
定ビス7に押し当てる。イメージセンサ位置設定金具固
定ビスドライバ8aをセットしたのと同様に、弱いモー
タ駆動電流でイメージセンサ基板固定ビスドライバ8b
を右回転させビス頭部にセットし、ロータリーエンコー
ダで確実にセットしたことを確認した後、モータ駆動電
流を最大に切り換え、ドライバ8bを左回転させ、イメ
ージセンサ基板固定ビス7を緩める。
【0021】イメージセンサ基板固定ビス7が緩んでイ
メージセンサ基板2が上下,左右,回転方向に自由に動
ける状態で、側方基板把持ピン10aでイメージセンサ
基板側部に設けられている図示されていない把持部を把
持する。その後上方基板把持ピン10bで基板を把持す
ることで、イメージセンサ基板2を三点で把持する。図
示されていない側方基板把持部は、上方基板把持ピンの
力が加わっても滑らないように長円形に切りかいた形状
にしている。また側方基板把持ピン10aと情報基板把
持ピン10bの基板と接触する部分の面にはネジ状の細
かい溝を多数設けて、ピント方向の調整をピント位置調
整ステージ11bで行う際にイメージセンサ基板2の把
持部が滑らないようにしている。
【0022】しかしここで、イメージセンサ基板2の姿
勢は、ビス締めして基板を解放した時の姿勢とは一致し
ない。ビスを緩めた時の基板姿勢になっているからであ
る。そこで一旦すべてのビスを締めた状態で基板を解放
し、その姿勢のまま再び把持し直す。
【0023】まずイメージセンサ位置固定ビス6を締め
る。イメージセンサ位置固定ビスドライバ8aを弱いト
ルクで右回転させ締めつける。弱いトルクでの締めつけ
が完了すると、図示されていないビス締めモータはそれ
以上回転しなくなる。この回転角を図示されていないロ
ータリーエンコーダで監視し、締めつけ完了の検出を行
う。その後十分大きなトルクに切り換えて増し締めを行
う。ドライバを右回転させたままではドライバビット先
端とビスの頭とが噛んだままなので、増し締め後にドラ
イバを弱いトルクでわずかに左回転させ、噛み付きをな
くしておく。
【0024】イメージセンサ基板固定ビス8bも同様に
締めつけを行う。そしてイメージセンサ基板2が固定さ
れた状態で、側方基板把持ピン8aと情報基板把持ピン
8bを解放する。そしてイメージセンサ初期位置設定ピ
ン12がイメージセンサ基板2に接触しないように、ピ
ント位置調整ステージをわずかに後退させる。そしてイ
メージセンサ基板2の姿勢を基板解放時と同じ状態のま
ま、側方基板把持ピン10aと情報基板把持ピン10b
とで再び基板を把持する。
【0025】<ステップ4d>−上下,左右,回転方向
の粗調整 位置調整は上下,左右,回転方向の粗調整から行う。ま
ずイメージセンサ基板固定ビスドライバ8bを強トルク
で左回転させ、イメージセンサ基板固定ビス7を緩め、
左右位置調整ステージ11a、上下位置調整ステージ1
1d,回転位置調整ステージ11cの動きに従ってイメ
ージセンサ基板2が動ける状態にする。
【0026】次にイメージセンサ1の出力信号21を小
型計算機20に読み込み、その信号から位置ずれ量を算
出する。イメージセンサ1には光学チャート9のパター
ンが結像され、各方向のずれに対応したイメージセンサ
1の受光面での光量信号がイメージセンサ信号波形とし
て得られる。光学チャート9は図5の(a)に示すよう
な構成であり、ここで得られるイメージセンサ信号21
の波形は、イメージセンサ1に光が当たっている部分は
大きな光量信号になり、光の当たっていない部分は信号
レベルが低くなり、図5の(b)から図5の(f)に示
すような波形となる。このイメージセンサ信号21の取
り込みでは、雑音レベル低減のために信号取り込みを複
数回行い平均化する。
【0027】図5の(b)から図5の(f)までのp
1,p2,p3,p4,p5,p6,p7のピーク部
は、それぞれ図5の(a)に示す光学チャートのパター
ン901,902,903,904,905,906,
907の部分に対応する。図5の(b)は、ピント,ア
オリ,上下,左右,回転の各方向ともベスト位置に合っ
ている時の波形である。図5の(c)は、ピントとアオ
リ方向が合っていない時の波形である。図5の(d)は
ピントとアオリ方向は合っているが、イメージセンサ1
が右に,上に,時計方向にずれている時の波形である。
図5の(e)は、イメージセンサ1が上に,時計方向に
ずれている時の波形である。図5の(f)は、イメージ
センサ1が下に,時計方向にずれている時の波形であ
る。
【0028】このイメージセンサ信号21から各方向の
ずれ量を検出するためには、まず得られたイメージ信号
21の各ピーク部が光学チャートのどの部分に対応して
いるのかを求めなければならない。そこで、イメージセ
ンサ信号21中央付近のある領域内で光量重心を求め
る。このときの重心を算出する際に用いるデータ領域
は、初期状態でのイメージセンサ1の左右方向ずれが最
大であったとしても、中央スリット904のみが入る領
域である。そのためここで求めた光量重心は中央スリッ
ト904による中央ピーク波形p4の重心となる。更に
重心の精度を上げるため、ここで求めた中央ピーク波形
p4の近傍のデータに絞って光量重心を求め、中央スリ
ット904のイメージセンサ1に対する位置とする。以
後、チャート各部901〜907に対するピーク波形p
1〜p7がイメージセンサ信号21のどこにあるかは、
上で求めた中央スリット904の位置からの相対位置で
求まる。
【0029】ここまでは、イメージセンサ信号21の暗
信号は無視して行ってきた。しかしこれ以降の計算は、
光学チャートの暗部に対応する画素信号の平均を暗信号
として、前記複数回信号取り込み平均信号の原信号から
この暗信号を差し引いたイメージセンサ信号21を用い
て、各方向のずれを算出してゆく。
【0030】左右方向位置…イメージセンサ1の中央画
素位置n0(画素)に対する中央スリットピーク波形p4
の重心画素位置n4(画素)からイメージセンサ1の左右
方向位置x(μm)は、x=d・(n4 −n0 )で求め
る。ただし、d(μm)はイメージセンサ画素ピッチと
する。左右方向位置が合っている時は、図5のbに見ら
れるようにイメージセンサ信号21の中央にピーク信号
p4が来るため、左右方向位置は零となるが、左右方向
にイメージセンサ1がずれている時には、図5のdのよ
うに中央スリットピーク波形p4がイメージセンサ信号
21の中央からずれ、左右方向の位置が求まる。
【0031】上下方向位置…上下方向の基準位置は、三
角形部902,903,905,906による信号p
2,p3,p5,p6がほとんどなくなる位置である。
この基準に対してイメージセンサ1が上にずれると、下
向三角形部902,906の信号p2,p6が大にな
り、上向三角形部903,905の信号p3,p5は零
となり、図5のeのようなイメージセンサ信号波形が得
られる。これとは逆に、イメージセンサ1が下にずれる
と、下向三角形部902,906の信号p2,p6が零
になり、上向三角計部903,905の信号p3,p5
が大となり、図5のfのような波形が得られる。そして
三角形部902,903,905,906の形状がテー
パ状になっていることから上下位置ずれ量に比例して光
量が増加する。
【0032】そこで光学チャート三角形部902,90
3を例にとれば、下向三角形部902のピーク波形p2
の光量をi2 、上向三角形部903のピーク波形p3の
光量をi3 とすれば、この位置での上下位置ずれy
23(μm)は、y23=y0 (i2 −i3 )/io とな
る。ただし、i0 は単位光量、y0 (μm)は単位光量
あたりの上下ずれ量である。各ピーク波形の光量は、ピ
ーク波形近傍の画素の光量和で得る。ここで、i0 とし
てスリット部901,904,907の光量i1 ,i
4 ,i7 の平均、i0 =(i1 +i4 +i7 )/3を用
い、y0 としてスリット部901,904,907の幅
を用いることで光源の輝度変化による光量変化を相殺す
る。
【0033】光学チャート三角形部905,906で同
様に検出される上下位置ずれy56は、y56=y0 (i6
−i5 )/i0 となる。ただし、i6 は下向三角形部9
06のピーク波形p6の光量、i5 は上向三角形部90
5のピーク波形p5の光量である。そこで、イメージセ
ンサ1の上下方向位置y(μm)は光学チャート三角形
部902,903での上下位置y23と三角形部905,
906での上下位置y 56の平均から、y=(y23
56)/2として求める。
【0034】回転方向位置…イメージセンサ1の回転方
向位置θ(rad)は、上下方向位置を求める際の中間
結果である光学チャート三角形部902,903での上
下位置y23と三角形部905、906での上下位置y56
の差から、θ=tan-1 (( y56−y23)/d1)≒(y56
23)/d1 として求める。ただし、d1 は光学チャート
左側の下向三角形部902と上向三角形部903との中
心位置から右側の下向三角形部906と上向三角形部9
05の中心位置までの間隔(μm)である。
【0035】上で求めた左右方向位置xだけ、左右位置
調整ステージ11aに駆動指示を出し、左右位置補正を
行う。同時に上下方向位置yに対しては上下位置調整ス
テージ11dに、回転方向位置θに対しては回転位置調
整ステージ11cに駆動指示を出し、それぞれ位置補正
を行う。ここで、左右位置調整ステージ11aと上下位
置調整ステージ11bとは直行させ、回転位置調整ステ
ージ11cの回転中心はイメージセンサ1の中心とほぼ
一致させ、それぞれの調整軸が干渉し合わない構成とし
ている。
【0036】<ステップ4e>−調整規格内か? イメージセンサ1中心と回転位置調整ステージ11cの
回転中心とが完全には合っていないためや測定誤差のた
めに、上記位置調整を一度行っただけでは十分な位置精
度内に調整できない場合もある。そこで必要な位置精度
内に入るまで、イメージセンサ1の信号21を読み、ず
れ量を算出し、位置調整を繰り返す。ずれ量を算出した
時点で必要な位置精度内に入っていれば、上下,左右,
回転方向粗調整は終了し、次の調整手順に移る。しか
し、繰り返し回数が規定回数以上になる場合には調整不
可能として終了する。
【0037】上下,左右,回転方向粗調整が終了後にイ
メージセンサ基板固定ビス7を締める。ビス締め後の上
下,左右,回転方向のイメージセンサ位置とビス締め前
のイメージセンサ位置との差から、このビス締めで生じ
る上下,左右,回転方向の位置ずれを求めておき、後述
する上下,左右,回転方向微調整に利用する。
【0038】<ステップ4f>−ピントとアオリ方向の
調整 ピントとアオリ方向の調整は、まずイメージセンサ位置
設定金具固定ビス6を緩め、イメージセンサ基板2とイ
メージセンサ位置設定金具4が一体となってピント方向
に移動可能な状態にする。
【0039】ピントの検出は光学チャートのスリット部
901,904,907で行う。ピントとアオリが合っ
ている状態では、イメージセンサ信号21は図5のbの
ピーク波形p1,p4,p7のようにいずれのピーク波
形も鋭い波形となる。しかし、ピントが合っていない場
合では、図5のcのピーク波形p1,p4,p7のよう
に鈍く広がった波形となる。図5のcはアオリ方向のず
れもある場合の波形であり、イメージセンサ1のスリッ
ト901側でのピントずれが大きく、スリット907側
はそれよりピントずれは小さい場合のイメージセンサ信
号を表している。そのため、スリット901のピーク波
形p1がスリット907のピーク波形p7よりさらに鈍
く広がった波形になっている。このスリット部のピーク
波形に注目すると、ピントが合っている時の方がピーク
全体の光量が中心部に集まっていることが分かる。そこ
で、これをピントの合い具合い(合焦度合)とする。
【0040】合焦度合の算出法は、上下,左右,回転方
向の位置算出の場合と同様に、イメージセンサ1の信号
21を小型計算機20に読み込み、その信号から合焦度
合を算出する。まず、イメージセンサ信号21を複数回
取り込み平均化し雑音レベルを低減したイメージセンサ
信号21を得る。これから合焦度合を検出するために
は、まず得られたイメージセンサ信号21の各ピーク部
が光学チャートのどの部分に対応しているのかを求めな
ければならない。そこで上下,左右,回転方向位置ずれ
を算出する場合と同様に、中央スリット904のピーク
波形p4の光量重心を求める。以後、チャートスリット
部901、907に対するピーク波形p1,p7がイメ
ージセンサ信号21のどこにあるかは、前記で求めた中
央スリット904の位置からの相対位置で決まる。さら
に、光学チャートの暗部に対応する画素信号の平均を暗
信号として、前記複数回信号取り込み平均信号の原信号
からこの暗信号を差し引いたイメージセンサ信号21を
用いて、各スリット部901,904,907での合焦
度合を求める。
【0041】いずれのスリット部901,904,90
7もイメージセンサの1画素分の幅を持たせてあり、理
想的にピントが合った時にはスリット光はイメージセン
サの1画素上または2画素にまたがって結像する。スリ
ット部901に例をとれば、この位置での合焦度合u1
は、ピーク全体の光量i1 に対するピーク中央2画素の
光量j1 の比、u1 =j1 /i1 で求まる。合焦度合u
1 は、ピントが合った状態で最大値1になり、前にピン
トずれした場合でも後ろにピントずれした場合でも同じ
ようにその値が小さくなる。
【0042】スリット部904の合焦度合u4 とスリッ
ト部907の合焦度合u7 も同様に、u4 =j4 /i
4 , u7 =j7 /i7 として求める。ただし、i4
スリット部904のピーク波形p4全体の光量、j4
スリット部904のピーク波形中央2画素の光量、i7
はスリット部907のピーク波形p7の全体の光量、j
7 はスリット部907のピーク波形中央2画素の光量で
ある。
【0043】上記の合焦度合をピントが最良な位置付近
を数点測定し、そのピント特性から最良な位置を求め
る。まず最初の合焦度合測定位置までピント位置調整ス
テージ11bを駆動し、イメージセンサ1をピント方向
に動かす。ただし、ステージはバックラッシュがあるた
めステージ前進中に停止させた場合と、ステージ後退中
に停止させた場合とでは、小型計算機20が指示した指
令値が同じであっても、バックラッシュ分だけ停止位置
が異なる。そのため精度良く位置調整ステージを停止さ
せたい時は、ステージ前進中に停止させるのみまたはス
テージ後退中に停止させるのみとする。ここでは、ステ
ージ前進中に停止をさせることにする。そのためここ
で、ピント位置調整ステージ11bを駆動し望の位置で
停止させる場合、停止位置が現在より前方にある場合に
は、単にその距離に対応する指令値を小型計算機20か
らピント位置調整ステージ11bに与えればよい。逆に
目的の位置が現在位置より後方にあるときには、目的の
位置までの距離に加えて十分にバックラッシュ分より大
きな距離後方へ移動させる指令値をピント位置調整ステ
ージ11bに送り、その後目的位置への前進指令値をピ
ント位置調整ステージ11bに送ることで、常にステー
ジが前進中に停止を行う。
【0044】測定位置にイメージセンサが移動した後、
上記の手順で光学チャートスリット部901,904,
907の合焦度合を算出する。この合焦度合を焦点位置
前後の9ステップ(9点)で測定した時の特性を図6に
示す。黒点で表しているのが測定値で、実線が近似曲線
である。ピントが合っているところでは図6のbに表す
ようにスリット部の信号が鋭いピーク波形となり、合焦
度合も1に近づく。一方、ピントがずれた位置では、ス
リット像は図6のa,cのように広がった波形になるた
め、合焦度合は小さい値になる。そして焦点位置近傍で
は、この特性曲線はほぼ対象で2次曲線とみなすことが
できるので、この測定値から2次の近似曲線を求め、近
似曲線の中央をピントが最もよく合う位置とする。
【0045】しかし、合焦度合測定範囲の中心と焦点位
置ずれが大きいと、焦点位置算出の精度が悪くなる。そ
こで、算出した近似曲線の中心が測定範囲の中心より合
焦位置測定半ステップ間隔以上前方にある場合は、更に
もう1ステップ前進し合焦度合を追加測定する。この測
定値を含めた9点の測定値を用いて再度近似曲線から焦
点位置を算出し、再び算出した焦点位置がまだ測定範囲
の中心より半ステップ間隔以上前方にある場合は、再び
上記の手順で合焦度合の追加測定を繰り返す。逆に算出
した近似曲線の中心が測定範囲の中心より合焦位置測定
半ステップ間隔以上後方にある場合は、測定開始位置よ
りも1ステップ後退した位置で合焦度合を追加測定す
る。この測定値を含めた9点の測定値を用いて再度近似
曲線から焦点位置を算出し、再び算出した焦点位置が測
定範囲の中心より半ステップ間隔以上後方にある場合に
は、更に1ステップ後退し上記の手順で合焦度合の追加
測定を繰り返す。
【0046】上記の手順によると、最終的に測定した合
焦度合の特性曲線は図6のようにほぼ曲線の中心と測定
範囲の中心の距離が合焦位置測定半ステップ間隔以下と
なり、焦点位置算出の誤差を少なくできる。
【0047】ここで光学チャートスリット部901に例
をとると、まずこの位置での合焦度合特性曲線を二次曲
線u1 (t)を、u1(t)=a12 +b1 t+c1
近似する。ただし、tはピント方向のセンサ位置、a
1 ,b1 ,c1 は二次曲線の各係数であり、測定値から
最小自乗法で求めることができる。そこでスリット部9
01での焦点位置z1 は二次曲線の中心なので、z1
−b1 /(2a1 )で算出できる。
【0048】同様にスリット部904の焦点位置z4
スリット部907の焦点位置z7 は、z4 =−b4
(2a4 ), z7 =−b7 /(2a7 )で求まる。た
だし、a4 ,b4 はスリット部904での合焦度合特性
曲線の近似式、u4(t) =a42 +b4 t+c4 の係
数、a7 ,b7 はスリット部907での合焦度合特性曲
線の近似式、u7(t)=a72 +b7 t+c7 の係数で
ある。
【0049】イメージセンサ1のピント位置zは、スリ
ット部901,904,907それぞれの焦点位置z
1 ,z4 ,z7 の平均、z=(z1 +z4 +z7 )/3
で求め、アオリ位置φはスリット部901の焦点位置z
1 とスリット部907の焦点位置z7 との差から、φ=
tan-1 ((z1 −z7 ) /d2 )≒(z1 −z7 )/d2
として算出する。ただし、d2 はスリット部901とス
リット部907の間隔である。
【0050】上記手順でピント位置,アオリ位置を算出
した時には、ピント位置調整ステージは最前位置の合焦
度合測定点かまたは最後部位置の合焦度合測定点にあ
る。そこで、得られたピント位置へピント位置調整ステ
ージを駆動し、アオリ位置へアオリ位置調整ステージを
駆動する。アオリ位置調整ステージ11eの回転中心は
イメージセンサ1の中心とほぼ一致させ、他の調整軸と
干渉し合わないようにする。
【0051】<ステップ4g>−調整規格内か? ここで、検出したピント位置とアオリ位置とが調整規格
内であれば次の調整手順に進み、規格に入っていなけれ
ば合焦度合を再び測定し、ピント位置とアオリ位置を再
度算出し調整する。ただし、2回目以降の合焦度合測定
範囲は前回算出したピント位置を中心として測定を行
う。またピント調整が規定回数を費やしても調整規格内
に入らない場合には、調整不可能として終了する。
【0052】ピント位置とアオリ位置とが規格内に調整
できた後、イメージセンサ位置設定金具固定ビス6を締
める。以降このビスは締めたままとすることから、イメ
ージセンサ位置設定金具固定ビスドライバ8aは上昇し
ビスの頭部からドライバが離れる。
【0053】<ステップ4h>−上下,左右,回転方向
の位置調整 上下,左右,回転方向の位置調整を行うため、まずイメ
ージセンサ基板固定ビス7を緩める。そして、上下,左
右,回転方向粗調整の場合と同様に、イメージセンサ信
号21を読み込み、上下,左右,回転方向の位置ずれを
算出する。ここで、あらかじめ上下,左右,回転方向粗
調整後のビス締めの際に測定しておいたビス締めによる
ずれ量を見込んで、ビス締めの値のイメージセンサ位置
がちょうど調整目標の位置になるように、各方向のステ
ージ駆動指示を出す。この左右方向指示量xV ,上下方
向指示量yV ,回転方向指示量θV は、検出した現在位
置をそれぞれx,y,θ、粗調整時に測定しておいたビ
ス締めの際のずれ量をそれぞれxdd ,θd とすれ
ば、xV =x−xd , yV =y−yd , θV =θ−
θd となる。この左右方向指示量xV ,上下方向指示量
V ,回転方向指示量θV だけステージ駆動を行ない、
イメージセンサ基板固定ビス7を締めつける。このビス
締めの際の位置ずれに再現性があることからビス締め時
のずれを見込んだ位置調整が有効である。
【0054】上下,左右,回転方向微調整では、イメー
ジセンサ位置の検出をイメージセンサ基板2の把持を解
放した状態で行なう。まず、イメージセンサ基板固定ビ
スドライバ8bが後退し、ビス頭部から離れる。そし
て、イメージセンサ基板2を把持している側方基板把持
ピン10aと上方基板把持ピン10bとを解放にする。
さらに、ビス締めによって生じた光読み取りユニット全
体の位置ずれを取り除き再位置決めするため、図示され
ていない光学的読み取りユニットクランプ機構を一旦解
放し、再び把持を行なう。この状態でイメージセンサ信
号21を取り込み、上下,左右,回転方向のイメージセ
ンサ位置ずれ量を算出し、これが規格内に納まったなら
ば次に調整手順へ進み、規格内に入らない場合には再び
イメージセンサ基板2を側方把持ピン10aと上方把持
ピン10bとで把持し、イメージセンサ基板固定ビスド
ライバ8bが前進して、ビス頭部にドライバ先端を挿入
する。
【0055】この時は、ドライバの角度は先ほど抜いた
時の角度が保存されているためビスの頭部の角度と一致
しており、イメージセンサ基板固定ビスドライバ8bを
前進させるだけでビス頭部に確実に挿入できるので、前
記のドライバ挿入手順で行なっていた弱トルクでの右回
転はここでは必要ない。そこで、イメージセンサ基板固
定ビスドライバ8bを強トルクで左回転させ、イメージ
センサ基板固定ビス7を緩め、基板開放時に読み取った
上下,左右,回転位置ずれ量分の位置調整指示を各ステ
ージ11b,11a,11dに与え、上下,左右,回転
方向の位置調整後にイメージセンサ基板固定ビス7を締
める。そして再び、イメージセンサ基板固定ビスドライ
バ8bが後退し、イメージセンサ基板2の把持を解放
し、光学的読み取りユニット5の取り付けを位置決めし
なおし、イメージセンサの上下,左右,回転位置ずれ量
を読み込む。
【0056】<ステップ4i>−調整規格内か? ここで検出した上下,左右,回転位置ずれが規格内に納
まったならば次に調整手順へ進む。調整規格内に入らな
い場合には再びイメージセンサ基板2を把持し上記の調
整を繰り返す。ただし、上下,左右,回転方向微調整の
反復回数が規定回数以上になる場合には調整不可能とし
て終了する。
【0057】すべての調整方向の位置調整が終了した
後、調整後のイメージセンサの各方向位置を表示し、光
学的読み取りユニット単体での精度を保証し、光学的読
み取りユニットのクランプを解放し、正常に調整を終了
する。
【0058】[第2の実施例]前記実施例の光学チャー
トのパターン図5のaの三角形部902,903,90
4,905,906にかえて、図7のような斜めのスリ
ットとしてもよい。この場合、上下ずれを斜めスリット
912と913または斜めスリット915と916が一
組で検出する。斜めスリット912,913に例をとれ
ば、斜めスリット912によるイメージセンサ信号21
のピーク波形重心位置と斜めスリット913による重心
位置との差が基準値以上であれば、イメージセンサ1が
上方にずれており、基準値以下であればイメージセンサ
1が下方にずれていることが分かり、位置に比例した値
が得られる。
【0059】[第3の実施例]固定されている光学チャ
ート9を立体的に構成し、ピント検出用スリットを前記
実施例の原稿位置となる焦点位置とその前後のデフォー
カス位置に設けた光学チャートを用いてもよい。図8は
光学チャートを複数のガラス基板に分けて作成し、張り
合せて一枚の光学チャートを構成する例である。焦点位
置には、上下,左右,回転方向位置検出用のパターン9
22,923,924,925,926を設ける。ピン
ト検出用としては、焦点位置にスリットパターン921
b,927bを設けるとともに、前後のデフォーカス位
置にスリットパターン921a,921c,927a,
927cを設ける。そしてスリット部921a,921
b,921c、及び927a,927b,927cの各
々ピント方向の3点で合焦度合を求めピント位置を算出
することで、イメージセンサ1と光学チャート9のどち
らも固定したままピント位置を検出できる。
【0060】また、前記実施例の光学チャート9の設定
位置を図示しない位置調整ステージで可変にしピント位
置検出を行なってもよい。この場合には、イメージセン
サ1をデフォーカス方向に走査するかわりに光学チャー
ト9をデフォーカス方向に走査し、光学チャートスリッ
ト部901,904,907の合焦度合変化からピント
位置確認を行なえる。こうすることで、イメージセンサ
1を固定したままピント位置検出できる。
【0061】なお、光学チャート9の位置を位置調整ス
テージで可変にすることで、光学チャート位置を容易に
光学読み取りユニットの基準原稿位置に合わせられるこ
とから、原稿位置仕様などの変更に対応しやすくなる。
また、標準の光学読み取りユニットを基準にして調整機
側の光学チャート位置を合わせることも容易に可能であ
る。
【0062】[第4の実施例]前記実施例の基板把持ピ
ンの基板把持部表面は、ゴムなどの摩擦の大きい材料と
してもよい。また、基板把持ピンがイメージセンサ初期
位置設定ピンを兼ねてもよい。また、基板把持ピンはイ
メージセンサ1の上下,左右,回転方向を調整するのみ
とし、ピントとアオリ方向の位置調整は別に設けたピン
をイメージセンサ位置設定金具の所定穴に挿入して位置
調整するとし、上下,左右,回転方向とピント,アオリ
方向とを独立の位置駆動ピンにより位置決めするように
してもよい。
【0063】尚、本発明は、複数の機器から構成される
システムに適用しても1つの機器から成る装置に適用し
ても良い。また、本発明は、システム或は装置にプログ
ラムを供給することによって達成される場合にも適用で
きることはいうまでもない。
【0064】
【発明の効果】本発明により、位置調整後のイメージセ
ンサ基板への固定で位置ずれを考慮して、迅速な位置調
整が可能な光学的読み取りユニットの自動調整装置を提
供できる。さらに、イメージセンサの固定時の位置ずれ
が問題となっていたが、イメージセンサ基板の固定手段
と解放手段を設けイメージセンサ基板固定時のずれを予
測し補正するための再調整を自動的に行なうことで、固
定後の位置精度を保証することができるようになった。
【0065】詳細には、各調整方向の位置ずれ検出パタ
ーンを設けた光学チャート一枚のみで調整することで、
調整項目ごとに専用チャートを交換する煩雑さがない
上、毎回のチャート交換取り付け誤差を除ける。
【0066】また、光学チャートの位置ずれ検出部パタ
ーンを光透過性とすることで透過照明を可能にし、透過
照明を用いることで光学読み取りユニットの焦点距離が
短い場合でも、均一な照明光を得やすい光学系構成をと
れる。
【0067】また、拡散板を光学読み取りユニットの焦
点深度外に配置し、光学チャートと密着させないこと
で、均一な光学チャートの照明が得られ、光学ユニツト
が拡散板表面のムラの影響を受けることがない。
【0068】また、イメージセンサの最適位置からのず
れ量を検出する手段を設けたことと、イメージセンサ基
板の固定、解放を固定箇所毎に行なう機構を設け、イメ
ージセンサ基板固定、解放を反復可能としたことで、イ
メージセンサ基板固定前の位置と固定後の位置の差から
イメージセンサ基板固定時のずれを読み取り、この固定
時のずれを見込んでイメージセンサ基板固定時のずれ量
を補正し調整することで、固定後の位置精度を保証する
ことができる。
【0069】また、イメージセンサ基板を把持するピン
を3本にし、かつ把持部が滑らない構造としたことで、
イメージセンサ基板を一定姿勢のまま把持し位置調整を
行うことができ、イメージセンサ基板位置調整時の姿勢
を基板開放時の姿勢とすることで、調整後の基板開放前
後での位置ずれを防げる。
【0070】また、イメージセンサ基板後方からの突き
当てによる初期位置規正を行なうピンを設け、機械的に
基板の位置決めを行なうことで、イメージセンサ基板の
初期仮止め位置によらずイメージセンサ基板を毎回ほぼ
同一位置で把持でき、毎回同一の初期位置から位置調整
を開始できる。
【0071】また、イメージセンサ固定手段をトルク可
変にすることで、固定手段を光学読み取りユニットにセ
ットする時には弱いトルクで回転させ、セット完了時の
負荷トルク増大による回転停止を検出して固定手段のセ
ット完了を確認できる。またイメージセンサ基板の複数
の固定箇所を固定する時には先に固定完了になった箇所
から他の固定未完箇所に伝わる力が基板位置ずれの原因
になるが、最初に弱いトルクで固定を行なうことで、前
記力は弱く、小さい基板ずれ量に抑えて仮固定ができ、
その後強トルクで各固定箇所を固定する際には仮固定に
よる基板と基板取り付け部間の接触摩擦力があるため、
最初から強トルクで固定する場合と比べて、イメージセ
ンサ基板固定時のずれ量を小さくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施例の光学的読み取りユニットの自動調整
装置の構成図である。
【図2】本実施例の光学的読み取りユニットの自動調整
装置の機械部の構造を示す斜視図である。
【図3】ドライバ先端部の構造図である。
【図4】調整手順の流れ図である。
【図5】光学チャートの概念図及びイメージセンサの出
力信号波形を示す図であり、(a)は光学チャートの概
念図、(b)は調整後の波形、(c)はピントとアオリ
方向が合っていない時の波形、(d)はピントとアオリ
方向は合っているが、イメージセンサ1が右に,上に,
時計方向にずれている時の波形、(e)はイメージセン
サ1が上に,時計方向にずれている時の波形、(f)は
イメージセンサ1が下に,時計方向にずれている時の波
形を示す図である。
【図6】ピント方向に走査した場合の合焦度合を示す図
である。
【図7】第2の実施例による光学チャートパターンを示
す図である。
【図8】第3の実施例による光学チャート構成を示す図
である。
【符号の説明】
1…イメージセンサ、2…イメージセンサ基板、3…セ
フフォックレンズアレイ、4…イメージセンサ位置設定
金具、5…光学読み取りユニット、6…イメージセンサ
位置設定金具固定ビス、7…イメージセンサ基板固定ビ
ス、8a…イメージセンサ位置設定金具固定ビスドライ
バ、8b…イメージセンサ基板固定ビスドライバ、9…
光学チャート、10a…側方基板把持ピン、10b…上
方基板把持ピン、11a…左右位置調整ステージ、11
b…ピント位置調整ステージ、11c…回転位置調整ス
テージ、11d…上下位置調整ステージ、11e…アオ
リ位置調整ステージ、12…イメージセンサ初期位置設
定ピン、13…光源、14…拡散板、15…光学レー
ル、16…下方付き当てピン、17…摺動コマ、20…
小型計算機、21…イメージセンサ信号、22…駆動指
示信号、23…位置調整ステージ、把持ツメ及び締めド
ライバ、801…ドライバビット、802…フレキシブ
ルジョイント、803…角度復元ゴム、804…ドライ
バビット押しつけバネ、805…ドライバ駆動軸、90
1…光学チャートスリット部1、902…光学チャート
下三角部2、903…光学チャート上三角部3、904
…光学チャートスリット部4、905…光学チャート上
三角部5、906…光学チャート下三角部6、907…
光学チャートスリット部7、911…実施例2による光
学チャートスリット部1、912…実施例2による光学
チャート斜めスリット部2、913…実施例2による光
学チャート斜めスリット部3、914…実施例2による
光学チャートスリット部4、915…実施例2による光
学チャート斜めスリット部5、916…実施例2による
光学チャート斜めスリット部6、917…実施例2によ
る光学チャートスリット部7、921a…実施例3によ
る光学チャートスリット部1、921b…実施例3によ
る光学チャートスリット部1、921c…実施例3によ
る光学チャートスリット部1、922…実施例3による
光学チャート下三角部2、923…実施例3による光学
チャート上三角部3、924…実施例3による光学チャ
ートスリット部4、925…実施例3による光学チャー
ト上三角部5、926…実施例3による光学チャート下
三角部6、927a…実施例3による光学チャートスリ
ット部7、927b…実施例3による光学チャートスリ
ット部7、927c…実施例3による光学チャートスリ
ット部7

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レンズとイメージセンサとを基本構成要
    素とする光学的読み取りユニットのパラメータを調整す
    る光学的読み取りユニットの自動調整装置であって、 前記イメージセンサの調整位置基準にある光学チャート
    を照明する照明手段と、 前記イメージセンサの出力信号から位置ずれ量を算出
    し、位置制御信号を送出する制御手段と、 該位置制御信号に基づいて前記イメージセンサの位置を
    動かす駆動手段と、 前記イメージセンサの出力信号が所定位置ずれ量を示す
    場合に、前記イメージセンサの位置を固定する固定手段
    と、 を備えることを特徴とする光学的読み取りユニットの自
    動調整装置。
  2. 【請求項2】 前記パラメータはピント,アオリ,左
    右,上下及び回転位置の5軸に対応することを特徴とす
    る請求項1記載の光学的読み取りユニットの自動調整装
    置。
  3. 【請求項3】 前記光学チャートは、光学読み取りユニ
    ットの焦点位置に固定あるいはデフォーカス方向に駆動
    可能で、ピント,アオリ,左右,上下及び回転方向の位
    置ずれ検出部パターンを有し、各位置ずれ検出部のパタ
    ーンは光透過性であることを特徴とする請求項1または
    2記載の光学的読み取りユニットの自動調整装置。
  4. 【請求項4】 前記照明手段は、光学読み取りユニット
    の焦点深度外に位置設定されて前記光学チャートとは密
    着しない均一な照明光を得るための拡散板を有し、光学
    チャートを透過照明することを特徴とする請求項1記載
    の光学的読み取りユニットの自動調整装置。
  5. 【請求項5】 前記制御手段は、調整対象のイメージセ
    ンサ出力信号を用いて位置ずれ量を算出する手段と、イ
    メージセンサ基板固定時の位置ずれ分を読み取り、イメ
    ージセンサ基板固定によるずれを見込んで位置固定後に
    最適位置となるよう固定時の位置ずれを補正する位置調
    整手段とを備えることを特徴とする請求項1記載の光学
    的読み取りユニットの自動調整装置。
  6. 【請求項6】 前記駆動手段は、ピント調整方向に滑り
    にくい表面構造をイメージセンサ基板把持部に設けた3
    本のイメージセンサ基板板把持ピンと、イメージセンサ
    基板後方からの突き当てにより初期位置規正を行うピン
    とを有することことを特徴とする請求項1記載の光学的
    読み取りユニットの自動調整装置。
  7. 【請求項7】 前記固定手段は、各固定箇所毎に独立に
    固定動作及び解放動作の反復が可能な構造を有し、固定
    トルクも各固定手段毎に可変であることを特徴とする請
    求項1記載の光学的読み取りユニットの自動調整装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5851599A (en) * 1995-09-28 1998-12-22 Sumitomo Electric Industries Co., Ltd. Battery electrode substrate and process for producing the same
CN100409058C (zh) * 2005-05-11 2008-08-06 奥林巴斯映像株式会社 摄像元件的偏斜测量装置及其测量方法
KR101493697B1 (ko) * 2008-09-26 2015-02-16 삼성전자주식회사 이미지 센서 모듈 및 이를 구비한 디지털 카메라

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100845419B1 (ko) * 2007-10-17 2008-07-10 (주)에이디에스 테크놀로지 센서를 이용한 광학부품 조립용 자유도 조정장치

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5851599A (en) * 1995-09-28 1998-12-22 Sumitomo Electric Industries Co., Ltd. Battery electrode substrate and process for producing the same
US5888658A (en) * 1995-09-28 1999-03-30 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Battery electrode substrate and process for producing the same
US6103319A (en) * 1995-09-28 2000-08-15 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Battery electrode substrate and process for producing the same
CN100409058C (zh) * 2005-05-11 2008-08-06 奥林巴斯映像株式会社 摄像元件的偏斜测量装置及其测量方法
KR101493697B1 (ko) * 2008-09-26 2015-02-16 삼성전자주식회사 이미지 센서 모듈 및 이를 구비한 디지털 카메라

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