JPH0641967B2 - 論理波形生成装置 - Google Patents

論理波形生成装置

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JPH0641967B2
JPH0641967B2 JP59049584A JP4958484A JPH0641967B2 JP H0641967 B2 JPH0641967 B2 JP H0641967B2 JP 59049584 A JP59049584 A JP 59049584A JP 4958484 A JP4958484 A JP 4958484A JP H0641967 B2 JPH0641967 B2 JP H0641967B2
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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
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    • G01R31/317—Testing of digital circuits
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Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は例えばIC試験装置において論理波形を発生
し、しかもその論理波形の種類を高速度に切り換えて発
生する論理波形生成装置に関する。
「従来の技術」 従来のこの種の論理波形生成装置においては、例えば特
開昭57−111470号公報の第4図あるいは第7図
に示されているように、被試験装置に対し各種の論理波
形を発生する必要があり、そのため選択信号によって各
種の波形を選択して発生することができ、従って選択信
号を実時間で切り換えることによって実時間で各種波形
を発生することができる。
例えばスターティックカラム方式のメモリに対する試験
においては、そのアドレスデータとしてNRZ波形とR
Z波形との排他的論理和をとった波形(以下EXOR波
形と記す)と、NRZ波形とを交互に実時間で切り換え
て発生する必要がある。このような異なる種類の波形を
切り換えて発生することは、前記公開公報に記載した論
理波形生成装置においては、端子426〜431をすべ
て“1”にして、つまり3つのクロック513,51
4,515のすべてを使ってEXOR波形の発生を発生
し、端子426と429のみを“1”として、つまり3
つのクロック513,514,515のうち、クロック
513のみを用いてNRZ波形を発生することを実時間
で切り換えて実施することができる。しかし論理波形の
生成を高速度に行うためインターリブ方式を用いたもの
があるが、このインターリブ方式を前記公開公報に記載
した論理波形生成回路に適用した場合は、前記NRZ波
形発生時に、クロック514,515が除去され、その
除去されたり、されなかったりするクロック514,5
15をそれぞれ空間分割することになり、そのままでは
実時間で目的とする各種の波形を切り換えて発生するこ
とはできない。
「発明の構成」 この発明の目的はインターリブ方式を用い、従って高速
度に論理波形を発生することができ、しかもその波形の
種類を実時間で切り換えて発生することができる論理波
形生成装置を提供することにある。
この発明によれば、論理波形入力端子から入力された入
力論理データは、第1データ分割回路により1タイムス
ロットずつ位相の異なるn個の空間に分割され、かつn
タイムスロットを有効期間とするデータに変換される。
また禁止用論理データ入力端子より入力された禁止用論
理データは、第2データ分割回路により1タイムスロッ
トずつ位相の異なるn個の空間に分割され、かつnタイ
ムスロットを有効期間とするデータに変換される。また
複数のクロック列がクロック分割回路で、その各クロッ
ク列について、その1つのクロックで立上り、次のクロ
ックで立下り、周期をそのクロック列のクロック周期の
n周期分とした低速クロック列で、順次1クロックずつ
位相がずれたn個の低速クロック列に空間分割される。
上記第1データ分割回路により分割された第1論理デー
タと、上記空間分割された低速クロックの対応するもの
との論理積が、上記複数のクロック列についてそれぞれ
第1論理回路によってとられ、また第2データ分割回路
で分割された禁止用論理データと、上記空間分割された
低速クロックの対応するものとの論理積が、上記複数の
クロック列についてそれぞれ複数の第2論理回路によっ
てとられる。これら第1論理回路の出力信号は第1多重
化回路によって、上記複数のクロック列の各クロック列
対応にそれぞれ時間的に多重化され、また第2論理回路
の出力信号は第2多重化回路によって、上記複数のクロ
ック列の各クロック列対応にそれぞれ時間的に多重化さ
れる。この第1多重化回路の出力データと、第2多重化
回路の出力データと、上記複数のクロック列との論理積
が、その各クロック列対応にそれぞれ複数の論理積手段
によってとられ、これら論理積手段の出力中の上記低速
クロック列の対応するものがそれぞれ論理和がとられ
て、その論理和出力によってフリップフロップがセット
リセットされる。
「実施例」 第1図はこの発明による論理波形生成装置の一例を示
す。論理データ入力端子11から入力論理データが入力
され、これは第1データ分割回路12へ供給される。第
1データ分割回路においてはこの例では1タイムスロッ
トずつずれた2個の空間に分割し、かつ2タイムスロッ
トの有効な期間を持つデータに変換される。例えば入力
端子11より入力の論理データは第1データ分割回路1
2内のD形フリップフロップ13,14のデータ端子D
にそれぞれ供給される。一方、端子15から上記タイム
スロットを周期とするクロックが供給され、そのクロッ
クは分割回路16に供給されて1タイムスロット位相が
異なり、2タイムスロットを周期とするクロックに分割
され、これらのクロックによってフリップフロップ1
3,14のクロック端子Cが駆動される。
また禁止用論理データ入力端子17より禁止用論理デー
タが入力され、これは第2データ分割回路18において
第1データ分割回路12と同様に1タイムスロットずつ
位相が異なった2個の空間に分割され、かつ2タイムス
ロットの有効期間を持つデータに変換される。第2デー
タ分割回路18もD形フリップフロップ21,22を備
え、そのデータ端子Dに端子17よりの禁止用論理デー
タが供給される。クロック分割回路16よりの2つのク
ロックがフリップフロップ21,22のクロック端子C
にそれぞれ供給される。
複数のクロック端子33,34,35からの各クロック
列Ac,Bc,Ccはクロック分割回路36,37,3
8へ供給され、クロック分割回路36で、クロック列A
cについて1つのクロックで立上り、次のクロック立下
り、周期をクロック列Acのクロック周期の2周期分と
した低速クロック列で順次1クロックずつ位相がずれた
2個の第1,第2の低速クロック列A1,A2に空間分
割され、同様にクロック列Bc,Ccがそれぞれクロッ
ク分割回路37,38で2個の第1,第2低速クロック
列B1,B2,C1,C2に空間分割される。
この空間分割された低速クロック列はそれぞれ空間分割
された論理データの対応するものとの論理積が、各クロ
ック列Ac,Bc,Ccについて論理回路においてとら
れる。即ち第1データ分割回路12の出力であるフリッ
プフロップ13の出力はアンド回路41,42,43に
それぞれ供給され、またフリップフロップ14の出力は
アンド回路44,45,46にそれぞれ供給される。分
割回路36よりの分割された第1,第2低速クロック列
A1,A2はアンド回路41,42の他方の入力側に供
給され、クロック分割回路37よりの2つの分割された
第1,第2低速クロック列B1,B2はアンド回路4
2,45にそれぞれ供給され、クロック分割回路38の
第1,第2低速クロック列C1,C2はアンド回路4
3,46にそれぞれ供給される。またフリップフロップ
21の出力はアンド回路47,48,49に供給され、
フリップフロップ22の出力はアンド回路51,52,
53に供給され、アンド回路47,51にクロック分割
回路36の第1,第2低速クロック列A1,A2がそれ
ぞれ供給され、アンド回路48,52にクロック分割回
路37の第1,第2低速クロック列B1,B2がそれぞ
れ供給され、アンド回路49,53にクロック分割回路
38の第1,第2低速クロック列C1,C2がぞれぞれ
供給される。
これらアンド回路の出力信号は入力論理データ、禁止用
論理データ、各クロック列Ac,Bc,Cc対応に多重
化回路では時間的に多重化される。即ちアンド回路4
1,44の各出力信号はオア回路54において多重化さ
れ、アンド回路42,45の出力はオア回路55で多重
化され、アンド回路43,46の出力はオア回路56で
多重化されて入力論理データ側について各クロック列A
c,Bc,Cc対応にそれぞれ多重化される。同様にア
ンド回路47,51の出力はオア回路57で多重化さ
れ、アンド回路48,52の出力はオア回路58で多重
化され、アンド回路49,53の出力はオア回路59で
多重化されて禁止用論理データ側について多重化され
る。オア回路54,55,56の各出力は必要に応じて
極性反転制御回路61,62,63に供給される。極性
反転制御回路61,62,63は排他的論理和回路から
構成されており、その極性反転指示入力端子64,6
5,66に論理1が入力されている場合は極性反転が行
われ、論理0が入力されている場合は極性反転が行われ
ない。
極性反転制御回路61,62,63の各正極性出力はア
ンド回路67,68,69に供給され、反対極性出力は
アンド回路71,72,73に供給される。またオア回
路57,58,59の各出力はナンド回路74,75,
76の一方の入力側に供給され、これらナンド回路7
4,75,76には制御端子77,78,79より制御
信号が供給される。ナンド回路74,75,76の出力
は対応するアンド回路、つまりナンド回路74の出力は
アンド回路67,71に供給され、ナンド回路75の出
力はアンド回路68,72に供給され、ナンド回路76
の出力はアンド回路69,73に供給される。更に端子
33,34,35のクロックは遅延回路81,82,8
3をそれぞれ通じてアンド回路の対応するものに供給さ
れる。つまりクロック33の出力はアンド回路67,7
1に供給され、クロック34はアンド回路68,72に
供給され、端子35のクロックはアンド回路69,73
に供給される。つまりクロック列Acと、第1低速クロ
ック列と対応するオア回路54,57の各出力との論理
積がアンド回路67でとられ、クロック列Acと第2低
速クロック列と対応するオア回路55,58の各出力と
の論理積がアンド回路71でとられる。他のアンド回路
68,72,69,73についてもそれぞれクロック列
Bc,Ccについて同様のことがなされると言える。
アンド回路67,68,69の出力は遅延回路84,8
5,86をそれぞれ通じてオア回路87に供給され、ア
ンド回路71,72,73の各出力は遅延回路88,8
9,91をそれぞれ通じてオア回路92に供給される。
オア回路87,および92の各出力はセットリセット形
フリップフロップ93のセット端子Sおよびリセット端
子Rにそれぞれ供給され、フリップフロップ93の出力
は生成波形出力端子94に供給される。
この第1図の構成において例えば端子11より第2図に
示すように論理データLDが入力され、端子17には論
理データIDが入力され、更にクロック端子15にはク
ロックMcが入力され、端子33,34,35にはクロ
ック列Ac,Bc,Ccが入力される。クロックMcに
対し、クロック列Acは僅か位相が遅れており、クロッ
ク列Bc,Ccは1つおきに1タイムスロット内におい
て位相が異なったものと位相が一致したものとが交互に
生じる。
このような論理データおよびクロックが入力されたとす
ると、クロック分割回路36においてはクロック列Ac
が1クロックずれて、2クロック周期を周期とし1クロ
ック周期の幅を持つ第1,第2低速クロック列A1,A
2に分割される。同様にしてクロック列Bcは分割回路
37により第1,第2低速クロック列B1,B2に分割
され、更にクロック列Ccはクロック分割回路38によ
って第1,第2低速クロック列C1,C2に分割され
る。
端子11の入力論理データLDはクロックMcの1つお
きのものによりサンプリングされ、第2図に示すように
2タイムスロット継続するデータD1と、これに対して
1タイムスロット位相がずれたデータD2とがフリップ
フロップ13,14からそれぞれ得られる。この分割さ
れたデータD1,D2は分割された第1,第2低速クロ
ック列A1,A2との論理積がそれぞれアンド回路4
1,44によってとられ、更にその出力はオア回路54
で時間的に多重化され、第2図に示すように出力Laが
得られる。同様にしてデータD1,D2と分割された第
1,第2低速クロック列B1,B2との論理積の出力を
時間的に多重化した出力Lbがオア回路55から得ら
れ、データD1,D2と分割された第1,第2低速クロ
ック列C1,C2との論理積の論理和をとった出力Lc
が論理和回路56から得られる。
端子17よりの禁止用論理データIDはクロックMcの
1つおきによってサンプリングされてそれぞれフリップ
フロップ21,22よりi1,i2として出力される。
この分割された論理データi1,i2と分割された第
1,第2低速クロックA1,A2とのそれぞれの論理積
がアンド回路47,51でとられ、更にその出力はオア
回路57で時間的に多重化されてデータiaとなる。ま
た同様にして分割されたデータi1,i2と分割された
第1,第2低速クロックB1,B2との論理積がとら
れ、その論理和が論理和回路58から出力ibとして出
力される。更にデータi1,i2と分割された第1,第
2低速クロックC1,C2との論理積を論理和した出力
が論理和回路59よりicとして得られる。
この第2図の例ではタイムスロットごとにEXOR,N
RZ,EXOR,NRZ波形をそれぞれ出力する場合
で、制御端子77,79に対しては論理1が与えられ、
端子78には論理0が与えられる。従ってナンド回路7
4,76の出力はオア回路57,59の出力がそれぞれ
反転されて出力され、オア回路57,59の出力が
“1”のとき、アンド回路67,71,69,73がそ
れぞれれ禁止され、出力は“0”となり、一方、ナンド
回路75の出力は常に論理1のまゝである。またアンド
回路67,68,69,71,72,73には選択端子
95乃至100が接続され、これに対し選択信号が論理
1として与えられている。このため、アンド回路67,
71の出力は第2図に示すAs,Arとなり、アンド回
路68,72の出力は出力Bs,Brとなり、アンド回
路69,73の出力はCs,Crとなる。従ってオア回
路87および92の各出力はS,Rとなり、フリップフ
ロップ93の出力はD0となり、所望の波形、つまりE
XOR,NRZ,EXOR,NRZを交互に繰り返すモ
ードが得られる。このように禁止用論理データが“1”
のとき、アンド回路67,71,69,73に対するク
ロックが禁止され、NRZ波形が得られ、しかもクロッ
ク列Ac,Bc,Ccは除去されることなく、空間時分
割されるため正しく動作する。
第3図にクロック入力が2種類の場合の例を第1図と対
応する部分に同一符号を付けて示し説明は省略する。な
お、端子95〜100は前記公開公報の第4図、第7図
中の端子426〜431と対応し、また端子64〜66
は同公報中の端子422と対応し、同公報の第6図に示
すように各端子を制御することにより各種の波形を発生
することができる。
「発明の効果」 以上述べたように、この発明による論理波形生成装置に
よれば各種の論理波形を実時間で切り換えて発生するこ
とができ、しかもインターリブ方式としているため高速
度に波形を生成することができる。かつ、端子17に与
える禁止用論理データを選択することによって各種の論
理データを実時間で切り換えて出力することが可能であ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による論理波形生成装置の一例を示す
論理回路図、第2図はその動作の一例を示すタイムチャ
ート、第3図はこの発明の論理波形生成装置の他の例を
示す論理回路図である。 11,17:論理データ入力端子、12,18:データ
分割回路、15,33,34,35:クロック入力端
子、16,36,37,38:クロック分割回路、54
乃至59:多重化回路としての論理和回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】論理データ入力端子よりの入力論理データ
    を1タイムスロットずつ位相の異なるn個の空間に分割
    し、かつnタイムスロットの有効期間を持つデータに変
    換する第1データ分割回路と、 禁止用論理データ入力端子より入力された禁止用論理デ
    ータをそれぞれ1タイムスロットずつ位相の異なるn個
    の空間に分割し、かつnタイムスロットの有効期間を有
    するデータに変換する第2データ分割回路と、 複数のクロック列の各クロック列について、その1つの
    クロックで立上り、次のクロックで立下り、周期をその
    クロック列のクロック周期のn周期分とした低速クロッ
    ク列で、順次1クロックずつ位相がずれたn個の低速ク
    ロック列に空間分割するクロック分割回路と、 上記空間分割された第1入力論理データと、上記空間分
    割された低速クロックの対応するものとの論理積を、上
    記複数のクロック列についてそれぞれとる複数の第1論
    理回路と、 上記空間分割された禁止用論理データと上記空間分割さ
    れた低速クロック列の対応するものとの論理積を、上記
    複数のクロック列についてそれぞれとる複数の第2論理
    回路と、 上記第1論理回路の出力信号を、上記複数のクロック列
    の各クロック列対応に時間的に多重化する複数の第1多
    重化回路と、 上記第2論理回路の出力信号を、上記複数のクロック列
    の各クロック列対応に時間的に多重化する複数の第2多
    重化回路と、 上記第1多重化回路の出力と、第2多重化回路の出力と
    上記複数のクロック列との論理積をその各クロック列対
    応にそれぞれとる論理積手段とを具備する論理波形生成
    装置。
JP59049584A 1984-03-14 1984-03-14 論理波形生成装置 Expired - Lifetime JPH0641967B2 (ja)

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CN100424519C (zh) * 2003-05-15 2008-10-08 爱德万测试株式会社 测试装置

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