JPH0641981B2 - 放射線線量測定装置 - Google Patents
放射線線量測定装置Info
- Publication number
- JPH0641981B2 JPH0641981B2 JP61054059A JP5405986A JPH0641981B2 JP H0641981 B2 JPH0641981 B2 JP H0641981B2 JP 61054059 A JP61054059 A JP 61054059A JP 5405986 A JP5405986 A JP 5405986A JP H0641981 B2 JPH0641981 B2 JP H0641981B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- energy
- sensor
- radiation
- radiation dose
- dose measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、小型で身体に装置して使用するポケット線量
計や可搬型のサーベイメータ等の放射線線量測定装置に
関する。
計や可搬型のサーベイメータ等の放射線線量測定装置に
関する。
従来の技術 ポケット線量計やポケット警報計などの被ばく線量測定
器においては、従来はＧＭ管や電離箱式のセンサが使用
されており、被ばくした放射線の種類やエネルギの測定
は不可能であった。
器においては、従来はＧＭ管や電離箱式のセンサが使用
されており、被ばくした放射線の種類やエネルギの測定
は不可能であった。
発明が解決しようとする問題点 個人線量計やサーバイメータなどの測定は被ばく線量値
の測定のみがなされてきたが、被ばく環境管理の高度化
にともない。被ばくにおける放射線の種類やエネルギの
測定に対する要求が強くなっている。本発明は、個人線
量計用の小型のセンサにおいて、被ばく放射線の平均エ
ネルギを測定するとともに、その測定値を使って、従来
困難であった被ばく放射線のエネルギ情報の報知や種々
の制御を行なう装置を提供するものである。
の測定のみがなされてきたが、被ばく環境管理の高度化
にともない。被ばくにおける放射線の種類やエネルギの
測定に対する要求が強くなっている。本発明は、個人線
量計用の小型のセンサにおいて、被ばく放射線の平均エ
ネルギを測定するとともに、その測定値を使って、従来
困難であった被ばく放射線のエネルギ情報の報知や種々
の制御を行なう装置を提供するものである。
問題点を解決するための手段 入射放射線のエネルギに対応したパルス波高分布を出力
するセンサを使用し、これに各々接続された複数個のパ
ルス波高弁別器を有し、このパルス波高弁別器よりの出
力パルス数の比を計算する手段を設け、その計算値より
検出する放射線の平均エネルギを求める。
するセンサを使用し、これに各々接続された複数個のパ
ルス波高弁別器を有し、このパルス波高弁別器よりの出
力パルス数の比を計算する手段を設け、その計算値より
検出する放射線の平均エネルギを求める。
作 用 線量測定においては、散乱線を含めた二次電子平衡状態
での測定が行なわれるため、特に高エネルギの放射線の
小型センサでの検出放射線のパルス波高出力は、センサ
内部で発生した二次電子による出力と同時に多くの数の
センサ外部に発生した二次電子の信号も含まれている。
そして、その信号のエネルギ分布は、入射放射線に対応
してセンサの材質と形状さらに周囲の材質により決ま
る。そして、その波高分布は、照射した放射線エネルギ
を最大エネルギとし、コンプトン散乱による信号が低エ
ネルギに行くにしたがって増加する分布となる。このた
め、例えば高レベルと低レベルの２段のディスクリミネ
ータでパルス波高弁別を行なった場合、照射された放射
線エネルギに対応した応答を各々のレベルで行なう。本
発明ではこの作用を使い、高レベルと低レベルの出力の
比より逆に、照射された放射線エネルギ値が得られる。
での測定が行なわれるため、特に高エネルギの放射線の
小型センサでの検出放射線のパルス波高出力は、センサ
内部で発生した二次電子による出力と同時に多くの数の
センサ外部に発生した二次電子の信号も含まれている。
そして、その信号のエネルギ分布は、入射放射線に対応
してセンサの材質と形状さらに周囲の材質により決ま
る。そして、その波高分布は、照射した放射線エネルギ
を最大エネルギとし、コンプトン散乱による信号が低エ
ネルギに行くにしたがって増加する分布となる。このた
め、例えば高レベルと低レベルの２段のディスクリミネ
ータでパルス波高弁別を行なった場合、照射された放射
線エネルギに対応した応答を各々のレベルで行なう。本
発明ではこの作用を使い、高レベルと低レベルの出力の
比より逆に、照射された放射線エネルギ値が得られる。
実施例 本発明は、比例計数管，シンチレータと光検出器の組合
せによるパルス検出器そしてパルス検出法による半導体
センサを使った線量測定器，線量率測定器に適用出来
る。近年、パルス検出法よる半導体センサが、個人線量
計用に開発され、低線量率から大線量率まで優れた直線
性を有している。Ｓｉ，GaAs，CdTeなどが、冷却の必要
のないセンサとして、実用化され、本発明の適用が可能
である。
せによるパルス検出器そしてパルス検出法による半導体
センサを使った線量測定器，線量率測定器に適用出来
る。近年、パルス検出法よる半導体センサが、個人線量
計用に開発され、低線量率から大線量率まで優れた直線
性を有している。Ｓｉ，GaAs，CdTeなどが、冷却の必要
のないセンサとして、実用化され、本発明の適用が可能
である。
第１図に、本発明の実施の一例を示す。センサ１よりの
パルス出力はアンプ２により増幅され、複数のディスク
リミネータ３でパルス波高弁別される。本実施例におい
ては、ディスクリミネータ３は２個としているが、より
多くすることにより、複雑になるがより詳しい測定が可
能となる。波高弁別された出力は、線量表示のため次段
に送られるとともにわり算器５にて、高レベルの出力ｎ
１と低レベルの出力ｎ２との比を計算し、出力する。こ
れらの回路構成は、アナログ回路でデジタル回路でも、
マイクロコンピユータでも、実施出来る。計算のタイミ
ングは、一定時間，一定線量毎種々適用できる。第４図
はCdTe半導体センサを１×１×０．３mmの形状にし、周
囲にＰｂシールド０．８ｔ（厚さ０．８mm）を付加した
状態で使用し、その出力を約１０KeVと約１５０KeVのデ
ィスクリ電圧で分離した場合の、低ディスクリ特性と高
ディスクリ特性を示す。このように、１５０KeV〜１０M
eVまで測定可能な応答を示すことがわかる。高ディスク
リレベルをもっと低エネルギにすることにより、１００
KeV以下のエネルギについても測定可能となる。
パルス出力はアンプ２により増幅され、複数のディスク
リミネータ３でパルス波高弁別される。本実施例におい
ては、ディスクリミネータ３は２個としているが、より
多くすることにより、複雑になるがより詳しい測定が可
能となる。波高弁別された出力は、線量表示のため次段
に送られるとともにわり算器５にて、高レベルの出力ｎ
１と低レベルの出力ｎ２との比を計算し、出力する。こ
れらの回路構成は、アナログ回路でデジタル回路でも、
マイクロコンピユータでも、実施出来る。計算のタイミ
ングは、一定時間，一定線量毎種々適用できる。第４図
はCdTe半導体センサを１×１×０．３mmの形状にし、周
囲にＰｂシールド０．８ｔ（厚さ０．８mm）を付加した
状態で使用し、その出力を約１０KeVと約１５０KeVのデ
ィスクリ電圧で分離した場合の、低ディスクリ特性と高
ディスクリ特性を示す。このように、１５０KeV〜１０M
eVまで測定可能な応答を示すことがわかる。高ディスク
リレベルをもっと低エネルギにすることにより、１００
KeV以下のエネルギについても測定可能となる。
第２図，第３図に第１図で例示したわり算器５よりの出
力の使用の実施例を示す。
力の使用の実施例を示す。
第２図は、第１図のわり算器５の出力に比較器６を付加
したものである。この実施例では、ある特定なエネルギ
ー領域の出力信号に対する情報を区分することが可能で
ある。例えば、高エネルギ放射線の多い場所に行った場
合は、線量値が同じでも、ｎ１／ｎ２の値は増加する。
このため、そのような場合への立入りを禁止したい場合
には、あらかじめ比較器６の値を設定しておくことによ
り可能となる。また、低エネルギ放射線においても同様
に可能である。また、エネルギ分布変化を既定値よりの
ズレから判別することが出来るため一定作業中で異常事
態の検知等も可能となる。
したものである。この実施例では、ある特定なエネルギ
ー領域の出力信号に対する情報を区分することが可能で
ある。例えば、高エネルギ放射線の多い場所に行った場
合は、線量値が同じでも、ｎ１／ｎ２の値は増加する。
このため、そのような場合への立入りを禁止したい場合
には、あらかじめ比較器６の値を設定しておくことによ
り可能となる。また、低エネルギ放射線においても同様
に可能である。また、エネルギ分布変化を既定値よりの
ズレから判別することが出来るため一定作業中で異常事
態の検知等も可能となる。
第３図は、第１図のわり算５の力に対応した定数ｋを出
力する回路７を付加したものである。回路７よりの出力
ｋ線量測定値にかけ算又はわり算処理される。本実施例
においては、線量計のエネルギ応答特性を自由に調整出
来るため、レントゲン表示，レム表示等も自由に行なえ
るように出来る。
力する回路７を付加したものである。回路７よりの出力
ｋ線量測定値にかけ算又はわり算処理される。本実施例
においては、線量計のエネルギ応答特性を自由に調整出
来るため、レントゲン表示，レム表示等も自由に行なえ
るように出来る。
また、本発明はシリコンのように低原子番号のセンサ材
料への適用が考えられるがセンサ材料や形状による応答
特性の補正も可能となるため、従来、線量測定には、不
適当と言われていた高原子番号材料であるヒ化ガリウ
ム，テルル化カドミウム，沃化第２水銀のセンサの使用
も可能となる。逆に高原子番号材料のほうが、エネルギ
分離性能は向上することとなる。
料への適用が考えられるがセンサ材料や形状による応答
特性の補正も可能となるため、従来、線量測定には、不
適当と言われていた高原子番号材料であるヒ化ガリウ
ム，テルル化カドミウム，沃化第２水銀のセンサの使用
も可能となる。逆に高原子番号材料のほうが、エネルギ
分離性能は向上することとなる。
本発明は、サーベイメータ，エリアモニタにも適用可能
であり、安価で高精度な測定を可能とする。
であり、安価で高精度な測定を可能とする。
発明の効果 小型・軽量な個人用線量計のエネルギ評価が可能とな
り、安全管理の精度を高めることが出来るとともに、個
人用線量計の低コスト化をはかるとが出来る。
り、安全管理の精度を高めることが出来るとともに、個
人用線量計の低コスト化をはかるとが出来る。
第１図は本発明の基本となる放射線線量測定装置の一実
施例の構成を示すブロック図、第２図，第３図は本発明
の他の実施例の構成を示すブロック図、第４図は第１図
に示した実施例の低ディスクリと高ディスクリのエネル
ギ応答特性を示すグラフ、第５図は半導体センサよりの
パルス出力波高分布の一例を示すグラフである。 １……センサ，アンプ、３……パルス波高弁別器、５…
…わり算器。
施例の構成を示すブロック図、第２図，第３図は本発明
の他の実施例の構成を示すブロック図、第４図は第１図
に示した実施例の低ディスクリと高ディスクリのエネル
ギ応答特性を示すグラフ、第５図は半導体センサよりの
パルス出力波高分布の一例を示すグラフである。 １……センサ，アンプ、３……パルス波高弁別器、５…
…わり算器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 筒井 博司 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 大森 康以知 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭57−29976（ＪＰ，Ａ)
Claims (3)
- 【請求項１】入射放射線のエネルギに対応したパルス波
高分布を出力するセンサを使用し、これに各々接続され
た複数個のパルス波高弁別器を有し、このパルス波高弁
別器よりの出力パルス数の比を計算する手段を有するこ
とを特徴とする放射線線量測定装置。 - 【請求項２】センサが半導体センサであることを特徴と
する特許請求の範囲第１項に記載の放射線線量測定装
置。 - 【請求項３】半導体センサ材料がシリコン，ヒ化ガリカ
ム，テルル化カドミウム、沃化第２水銀のいずれか１つ
であることを特徴とする特許請求の範囲第２項に記載の
放射線線量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61054059A JPH0641981B2 (ja) | 1986-03-12 | 1986-03-12 | 放射線線量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61054059A JPH0641981B2 (ja) | 1986-03-12 | 1986-03-12 | 放射線線量測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62211578A JPS62211578A (ja) | 1987-09-17 |
| JPH0641981B2 true JPH0641981B2 (ja) | 1994-06-01 |
Family
ID=12960041
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61054059A Expired - Lifetime JPH0641981B2 (ja) | 1986-03-12 | 1986-03-12 | 放射線線量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0641981B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100499665B1 (ko) * | 2002-06-05 | 2005-07-07 | 국방과학연구소 | 광대역 감마 방사선 측정장치 및 방법 |
| WO2011039819A1 (ja) * | 2009-10-01 | 2011-04-07 | 株式会社島津製作所 | パルス波高分析器およびこれを備える核医学診断装置 |
-
1986
- 1986-03-12 JP JP61054059A patent/JPH0641981B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62211578A (ja) | 1987-09-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4767929A (en) | Extended range radiation dose-rate monitor | |
| US6002741A (en) | Technique for obtaining sub-pixel spatial resolution and corrected energy determination from room temperature solid state gamma and X-ray detectors with segmented readout | |
| US4317038A (en) | Device for determining the spatial distribution of radiation | |
| Lindborg et al. | The use of TEPC for reference dosimetry | |
| US3366791A (en) | Geiger-muller radiation detector with means to prevent erroneous readings at high radiation intensity | |
| US4295045A (en) | Background compensation type plutonium air monitor | |
| JPH0641981B2 (ja) | 放射線線量測定装置 | |
| JPS6312179A (ja) | 放射線検出器 | |
| JP2939363B2 (ja) | 放射線線量計 | |
| US4751390A (en) | Radiation dose-rate meter using an energy-sensitive counter | |
| US3290500A (en) | Fast neutron spectrometer utilizing lithium containing films | |
| US4179608A (en) | Right/left assignment in drift chambers and proportional multiwire chambers (PWC's) using induced signals | |
| JPH05281364A (ja) | 中性子線量当量測定装置 | |
| JP3777909B2 (ja) | β線直読検出装置 | |
| Tojo | Nonlinear scintillation response of thin NaI (Tl) crystals | |
| JPH0720246A (ja) | β線検出器およびこのβ線検出器の線量測定回路 | |
| JP3064218B2 (ja) | 放射線測定装置 | |
| JP2500886B2 (ja) | 中性子検出装置 | |
| JP2000098038A (ja) | 放射線検出器および放射線モニタ | |
| JPH07306267A (ja) | 放射線測定装置 | |
| JPH0933660A (ja) | β線線量測定器 | |
| JPH03239986A (ja) | 個人モニタリング装置 | |
| JP2742214B2 (ja) | 中性子測定装置 | |
| JPH0627814B2 (ja) | 放射線線量測定器 | |
| JP2005049144A (ja) | 放射線計測方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |