JPH064249Y2 - 光学式距離測定装置 - Google Patents
光学式距離測定装置Info
- Publication number
- JPH064249Y2 JPH064249Y2 JP1986035551U JP3555186U JPH064249Y2 JP H064249 Y2 JPH064249 Y2 JP H064249Y2 JP 1986035551 U JP1986035551 U JP 1986035551U JP 3555186 U JP3555186 U JP 3555186U JP H064249 Y2 JPH064249 Y2 JP H064249Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- output
- light
- circuit
- abnormality determination
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 8
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 29
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 ［技術分野］ 本考案は、光ビームを被測定物体に照射し、その反射光
を用いて被測定物体までの距離を測定する光学式距離測
定装置に関するものである。
を用いて被測定物体までの距離を測定する光学式距離測
定装置に関するものである。
［背景技術］ 従来、この種の光学式距離測定装置としては第３図に示
すようなものがあった。すなわち、投光素子１および投
光レンズ系２によって被測定物体３に光ビームを投光す
る投光手段が形成され、被測定物体３に形成される光ス
ポットの反射光を受光する受光レンズ系４および１次元
位置検出素子よりなる受光素子５にて受光手段が形成さ
れており、受光手段は投光手段の側方に所定間隔をもっ
て配置され、光スポットは受光素子５上に結像される。
この受光素子５上に結像された光スポットは、被測定物
体３が第３図中においてａ→ｂ→ｃと移動することによ
って、同図中a′→b′→c′と移動するようになってい
る。つまり、被測定物体３との距離は、受光素子５上の
光スポットの位置を知ることによって明らかになる。こ
の受光素子５は前述したように光スポットの位置を検出
する１次元位置検出素子（例えば、浜松フォトニクス社
製のＰＳＤ素子）であり、出力として光スポットの位置
に対応した出力電流i1，i2（相反した電流）を出力す
る。受光素子５から出力される両出力電流i1，i2は、そ
れぞれ減算器６および加算器７に入力され、（v1−
v2），（v1＋v2）が演算される。その後、割算器８を用
いて（v1−v2）／（v1＋v2）を演算することにより、受
光量に関係無く距離に対応した電圧値を得ることができ
る。すなわち、三角測量方式の距離測定が行なわれるよ
うになっており、第４図は割算器８の出力と距離との関
係を示す図である。この図から明らかなように、被測定
物体３の距離a,b,cは割算器８の出力a″，b″，c″に対
応して求められることになる。したがって、この割算器
８の後段に比較器９を設けることにより、ある設定距離
dTよりも被測定物体３が近くにあるか、遠くにあるかの
判定を容易に行なうことができ、例えば被測定物体３が
所定距離dT内に存在することを示す物体検知信号ＶＯを
出力回路１２を介して出力端子Ｏ２に出力する。すなわ
ち第４図において、しきい値電圧設定回路９ａによりし
きい値ＶＴを設定すれば、設定距離dTを基準にした被測
定物体３の遠近を判定してその判定結果を出力するよう
になっている。また、割算器８出力は測距信号Ｖｌ（距
離に応じた直流電圧）としてアナログ出力回路１１を介
して出力端子Ｏ１に出力されるようになっている。さら
にまた、加算器７出力は受光レベル判定回路１２に入力
されており、受光レベル判定手段１２では、受光量が過
大になっているかあるいは受光量が過小になっているか
を判定して判定結果を異常判定信号Vb,Vdとして出力回
路１３を介して出力端子Ｏ３，Ｏ４に出力するととも
に、表示回路１４にて判定結果を表示するようになって
いる。すなわち、受光量が予め設定されたブライトレベ
ルよりも大きい場合には、受光増幅器が飽和して正確な
距離が測定されていないと判定して過大判定信号Ｖｂを
出力端子Ｏ３を介して出力するとともに、発光ダイオー
ドＬ１を点灯し、一方、受光量が予め設定されたダーク
レベルよりも小さい場合には、割算器８の演算精度が低
下して正確な距離が測定されていないと判定して過小判
定信号Ｖｄを出力端子Ｏ４を介して出力するとともに、
発光ダイオードＬ２を点灯して、その旨を表示するよう
になっている。しかしながら、このような従来例におい
ては、受光レベル判定回路１２にて受光量を判定した判
定結果をそれぞれ出力端子Ｏ３，Ｏ４に出力するように
なっているが、測距信号Ｖｌが出力される出力端子Ｏ１
とは別の出力端子Ｏ３，Ｏ４を介して異常判定信号Vb,V
dがそれぞれ出力されているので、ユーザが出力端子Ｏ
１から出力される測距信号Ｖｌを監視する場合におい
て、別の出力端子Ｏ３，Ｏ４から出力される異常判定信
号Vb,Vdを常に監視して論理処理を行う必要があり、信
号処理回路への出力配線が複雑になるとともに、信号処
理回路内における論理回路の構成が複雑になるという問
題があった。また、各出力信号にそれぞれ対応して出力
端子Ｏ１，Ｏ２，Ｏ３，Ｏ４を設けているので、出力端
子部の占有スペースが大きくなって小型化ができないと
いう問題があった。
すようなものがあった。すなわち、投光素子１および投
光レンズ系２によって被測定物体３に光ビームを投光す
る投光手段が形成され、被測定物体３に形成される光ス
ポットの反射光を受光する受光レンズ系４および１次元
位置検出素子よりなる受光素子５にて受光手段が形成さ
れており、受光手段は投光手段の側方に所定間隔をもっ
て配置され、光スポットは受光素子５上に結像される。
この受光素子５上に結像された光スポットは、被測定物
体３が第３図中においてａ→ｂ→ｃと移動することによ
って、同図中a′→b′→c′と移動するようになってい
る。つまり、被測定物体３との距離は、受光素子５上の
光スポットの位置を知ることによって明らかになる。こ
の受光素子５は前述したように光スポットの位置を検出
する１次元位置検出素子（例えば、浜松フォトニクス社
製のＰＳＤ素子）であり、出力として光スポットの位置
に対応した出力電流i1，i2（相反した電流）を出力す
る。受光素子５から出力される両出力電流i1，i2は、そ
れぞれ減算器６および加算器７に入力され、（v1−
v2），（v1＋v2）が演算される。その後、割算器８を用
いて（v1−v2）／（v1＋v2）を演算することにより、受
光量に関係無く距離に対応した電圧値を得ることができ
る。すなわち、三角測量方式の距離測定が行なわれるよ
うになっており、第４図は割算器８の出力と距離との関
係を示す図である。この図から明らかなように、被測定
物体３の距離a,b,cは割算器８の出力a″，b″，c″に対
応して求められることになる。したがって、この割算器
８の後段に比較器９を設けることにより、ある設定距離
dTよりも被測定物体３が近くにあるか、遠くにあるかの
判定を容易に行なうことができ、例えば被測定物体３が
所定距離dT内に存在することを示す物体検知信号ＶＯを
出力回路１２を介して出力端子Ｏ２に出力する。すなわ
ち第４図において、しきい値電圧設定回路９ａによりし
きい値ＶＴを設定すれば、設定距離dTを基準にした被測
定物体３の遠近を判定してその判定結果を出力するよう
になっている。また、割算器８出力は測距信号Ｖｌ（距
離に応じた直流電圧）としてアナログ出力回路１１を介
して出力端子Ｏ１に出力されるようになっている。さら
にまた、加算器７出力は受光レベル判定回路１２に入力
されており、受光レベル判定手段１２では、受光量が過
大になっているかあるいは受光量が過小になっているか
を判定して判定結果を異常判定信号Vb,Vdとして出力回
路１３を介して出力端子Ｏ３，Ｏ４に出力するととも
に、表示回路１４にて判定結果を表示するようになって
いる。すなわち、受光量が予め設定されたブライトレベ
ルよりも大きい場合には、受光増幅器が飽和して正確な
距離が測定されていないと判定して過大判定信号Ｖｂを
出力端子Ｏ３を介して出力するとともに、発光ダイオー
ドＬ１を点灯し、一方、受光量が予め設定されたダーク
レベルよりも小さい場合には、割算器８の演算精度が低
下して正確な距離が測定されていないと判定して過小判
定信号Ｖｄを出力端子Ｏ４を介して出力するとともに、
発光ダイオードＬ２を点灯して、その旨を表示するよう
になっている。しかしながら、このような従来例におい
ては、受光レベル判定回路１２にて受光量を判定した判
定結果をそれぞれ出力端子Ｏ３，Ｏ４に出力するように
なっているが、測距信号Ｖｌが出力される出力端子Ｏ１
とは別の出力端子Ｏ３，Ｏ４を介して異常判定信号Vb,V
dがそれぞれ出力されているので、ユーザが出力端子Ｏ
１から出力される測距信号Ｖｌを監視する場合におい
て、別の出力端子Ｏ３，Ｏ４から出力される異常判定信
号Vb,Vdを常に監視して論理処理を行う必要があり、信
号処理回路への出力配線が複雑になるとともに、信号処
理回路内における論理回路の構成が複雑になるという問
題があった。また、各出力信号にそれぞれ対応して出力
端子Ｏ１，Ｏ２，Ｏ３，Ｏ４を設けているので、出力端
子部の占有スペースが大きくなって小型化ができないと
いう問題があった。
［考案の目的］ 本考案は上記の点に鑑みて為されたものであり、その目
的とするところは、信号処理回路への出力配線および信
号処理回路の回路構成を簡略化でき、しかも出力数を少
なくすることができ、小型化も容易にできる光学式距離
測定装置を提供することにある。
的とするところは、信号処理回路への出力配線および信
号処理回路の回路構成を簡略化でき、しかも出力数を少
なくすることができ、小型化も容易にできる光学式距離
測定装置を提供することにある。
［考案の開示］ （実施例１） 第１図は本考案一実施例を示すもので、被測定物体３に
対して光ビームを投光する投光手段と、投光手段の側方
に所定間隔をもって配置され被測定物体３からの反射光
を受光する受光手段と、受光手段にて受光された光スポ
ットの位置に基いて被測定物体３までの距離を測定する
測距回路１０と、受光量の過大あるいは過小を判定する
受光レベル判定回路１２とで構成され、測距回路１０か
ら距離に応じた電圧レベルの信号として出力される測距
信号Ｖｌおよび受光レベル判定回路１２から出力される
異常判定信号Vb,Vdを出力端子を介して出力するように
した従来例と同様の光学式距離測定装置において、測距
信号Ｖｌおよび異常判定信号Vb′，Vd′を出力する共通
出力端子Ｏ１を設けるとともに、受光レベル判定回路１
２から異常判定信号Vb,Vdが出力されたときに測距信号
Ｖｌの出力を停止して異常判定信号Vb′，Vd′を出力さ
せる信号切換回路１５を設け、異常判定信号Vb′，Vd′
を測距信号Ｖｌの電圧レベル変動範囲外の所定電圧に設
定したものであり、実施例にあっては、測距信号Ｖｌの
電圧レベル変動範囲は＋５Ｖ〜−５Ｖであるので、異常
判定信号Vb′，Vd′は＋１０Ｖ（過大判定信号Ｖｂ）、
−１０Ｖ（過小判定信号Ｖｄ）に設定されている。な
お、他の構成および動作は従来例と同様である。
対して光ビームを投光する投光手段と、投光手段の側方
に所定間隔をもって配置され被測定物体３からの反射光
を受光する受光手段と、受光手段にて受光された光スポ
ットの位置に基いて被測定物体３までの距離を測定する
測距回路１０と、受光量の過大あるいは過小を判定する
受光レベル判定回路１２とで構成され、測距回路１０か
ら距離に応じた電圧レベルの信号として出力される測距
信号Ｖｌおよび受光レベル判定回路１２から出力される
異常判定信号Vb,Vdを出力端子を介して出力するように
した従来例と同様の光学式距離測定装置において、測距
信号Ｖｌおよび異常判定信号Vb′，Vd′を出力する共通
出力端子Ｏ１を設けるとともに、受光レベル判定回路１
２から異常判定信号Vb,Vdが出力されたときに測距信号
Ｖｌの出力を停止して異常判定信号Vb′，Vd′を出力さ
せる信号切換回路１５を設け、異常判定信号Vb′，Vd′
を測距信号Ｖｌの電圧レベル変動範囲外の所定電圧に設
定したものであり、実施例にあっては、測距信号Ｖｌの
電圧レベル変動範囲は＋５Ｖ〜−５Ｖであるので、異常
判定信号Vb′，Vd′は＋１０Ｖ（過大判定信号Ｖｂ）、
−１０Ｖ（過小判定信号Ｖｄ）に設定されている。な
お、他の構成および動作は従来例と同様である。
以下、実施例の動作について説明する。いま、受光手段
にて受光される受光量が正常範囲内であって、加算器７
出力が予め設定された範囲内の場合には、受光レベル判
定回路１２から異常判定信号Vb,Vdが出力されていない
ので、信号切換回路１５では、割算器８から出力される
測距信号Ｖｌをアナログ出力回路１１を介して共通出力
端子Ｏ１に出力するようになっており、従来例と全く同
一の動作となる。一方、受光手段にて受光される受光量
が正常範囲を逸脱して加算器７出力が予め設定された範
囲よりも大きくなったり、あるいは小さくなった場合に
は、受光レベル判定回路１２から過大判定信号Ｖｂある
いは過小判定信号Ｖｄが出力され、信号切換回路１５で
は、割算器８から出力される測距信号Ｖｌの出力を停止
して異常判定信号Vb′，Vd′（＋１０Ｖあるいは−１０
Ｖ）をアナログ出力回路１１を介して共通出力端子Ｏ１
から出力するようになっている。
にて受光される受光量が正常範囲内であって、加算器７
出力が予め設定された範囲内の場合には、受光レベル判
定回路１２から異常判定信号Vb,Vdが出力されていない
ので、信号切換回路１５では、割算器８から出力される
測距信号Ｖｌをアナログ出力回路１１を介して共通出力
端子Ｏ１に出力するようになっており、従来例と全く同
一の動作となる。一方、受光手段にて受光される受光量
が正常範囲を逸脱して加算器７出力が予め設定された範
囲よりも大きくなったり、あるいは小さくなった場合に
は、受光レベル判定回路１２から過大判定信号Ｖｂある
いは過小判定信号Ｖｄが出力され、信号切換回路１５で
は、割算器８から出力される測距信号Ｖｌの出力を停止
して異常判定信号Vb′，Vd′（＋１０Ｖあるいは−１０
Ｖ）をアナログ出力回路１１を介して共通出力端子Ｏ１
から出力するようになっている。
したがって、ユーザ側の信号処理回路では、共通出力端
子Ｏ１の信号レベルを測定するだけで、測距動作が正常
に行なわれているかが判定できるとともに、異常が発生
していない場合すなわち出力信号電圧が＋５Ｖ〜−５Ｖ
内の場合には、その出力信号電圧を測距信号Ｖｌとして
処理することができ、信号処理回路への出力配線および
信号処理回路の回路構成が簡略化されることになる。ま
た、共通出力端子Ｏ１から測距信号Ｖｌおよび異常判定
信号Vb′，Vd′が出力されるので、従来例に比べて端子
数を少なくすることができ、出力端子部の占有スペース
が少なくなって小型化が容易に行えることになる。
子Ｏ１の信号レベルを測定するだけで、測距動作が正常
に行なわれているかが判定できるとともに、異常が発生
していない場合すなわち出力信号電圧が＋５Ｖ〜−５Ｖ
内の場合には、その出力信号電圧を測距信号Ｖｌとして
処理することができ、信号処理回路への出力配線および
信号処理回路の回路構成が簡略化されることになる。ま
た、共通出力端子Ｏ１から測距信号Ｖｌおよび異常判定
信号Vb′，Vd′が出力されるので、従来例に比べて端子
数を少なくすることができ、出力端子部の占有スペース
が少なくなって小型化が容易に行えることになる。
（実施例２） 第２図は他の実施例を示すもので、受光レベル判定回路
１２から出力される異常判定信号Vb,Vdの論理和を演算
するオア回路ＯＲを付加した信号切換回路１５ａを設
け、いずれかの異常判定信号Vb,Vdが得られたときに、
所定電圧（例えば＋１０Ｖ）の異常判定信号Ｖbdを共通
出力端子Ｏ１から出力させるようにしたものであり、他
の構成および動作は実施例１と同様である。
１２から出力される異常判定信号Vb,Vdの論理和を演算
するオア回路ＯＲを付加した信号切換回路１５ａを設
け、いずれかの異常判定信号Vb,Vdが得られたときに、
所定電圧（例えば＋１０Ｖ）の異常判定信号Ｖbdを共通
出力端子Ｏ１から出力させるようにしたものであり、他
の構成および動作は実施例１と同様である。
［考案の効果］ 本考案は上述のように、被測定物体に対して光ビームを
投光する投光手段と、投光手段の側方に所定間隔をもっ
て配置され被測定物体からの反射光を受光する受光手段
と、受光手段にて受光された光スポットの位置に基いて
被測定物体までの距離を測定する測距回路と、受光量の
過大あるいは過小を判定する受光レベル判定回路とで構
成され、測距回路から距離に応じた電圧レベルの信号と
して出力される測距信号および受光レベル判定回路から
出力される異常判定信号を出力端子を介して出力するよ
うにした光学式距離測定装置において、測距信号および
異常判定信号を出力する共通出力端子を設けるととも
に、受光レベル判定回路から異常判定信号が出力された
ときに測距信号の出力を停止して異常判定信号を出力さ
せる信号切換回路を設け、異常判定信号を測距信号の電
圧レベル変動範囲外の所定電圧に設定したものであり、
共通出力端子を介して測距信号および異常判定信号を出
力しているので、信号処理回路への出力配線および信号
処理回路の回路構成を簡略化でき、しかも端子数を少な
くすることができ、小型化も容易にできるという効果が
あり、また、測距信号と異常判定信号とを共通出力端子
から出力するにもかかわらず、受光量の過大・過小時に
発生する異常判定信号については、測距信号の電圧レベ
ル変動範囲外の所定電圧に設定しているので、異常判定
信号の電圧が測距信号の電圧変動範囲に重なることがな
く、測距信号と異常判定信号とを電圧レベルの判定だけ
で確実に識別することができるという効果を奏する。
投光する投光手段と、投光手段の側方に所定間隔をもっ
て配置され被測定物体からの反射光を受光する受光手段
と、受光手段にて受光された光スポットの位置に基いて
被測定物体までの距離を測定する測距回路と、受光量の
過大あるいは過小を判定する受光レベル判定回路とで構
成され、測距回路から距離に応じた電圧レベルの信号と
して出力される測距信号および受光レベル判定回路から
出力される異常判定信号を出力端子を介して出力するよ
うにした光学式距離測定装置において、測距信号および
異常判定信号を出力する共通出力端子を設けるととも
に、受光レベル判定回路から異常判定信号が出力された
ときに測距信号の出力を停止して異常判定信号を出力さ
せる信号切換回路を設け、異常判定信号を測距信号の電
圧レベル変動範囲外の所定電圧に設定したものであり、
共通出力端子を介して測距信号および異常判定信号を出
力しているので、信号処理回路への出力配線および信号
処理回路の回路構成を簡略化でき、しかも端子数を少な
くすることができ、小型化も容易にできるという効果が
あり、また、測距信号と異常判定信号とを共通出力端子
から出力するにもかかわらず、受光量の過大・過小時に
発生する異常判定信号については、測距信号の電圧レベ
ル変動範囲外の所定電圧に設定しているので、異常判定
信号の電圧が測距信号の電圧変動範囲に重なることがな
く、測距信号と異常判定信号とを電圧レベルの判定だけ
で確実に識別することができるという効果を奏する。
第１図は本考案一実施例の要部ブロック回路図、第２図
は他の実施例を示す要部ブロック回路図、第３図は従来
例のブロック回路図、第４図は同上の動作説明図であ
る。 １は投光素子、２は投光レンズ系、３は被測定物体、４
は受光レンズ系、５は受光素子、１０は測距回路、１２
は受光レベル判定回路、Ｏ１は出力端子である。
は他の実施例を示す要部ブロック回路図、第３図は従来
例のブロック回路図、第４図は同上の動作説明図であ
る。 １は投光素子、２は投光レンズ系、３は被測定物体、４
は受光レンズ系、５は受光素子、１０は測距回路、１２
は受光レベル判定回路、Ｏ１は出力端子である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 山本 慎太郎 大阪府門真市大字門真1048番地 松下電工 株式会社内 (72)考案者 浅井 真生雄 大阪府門真市大字門真1048番地 松下電工 株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−81520（ＪＰ，Ａ) 実開 昭60−143306（ＪＰ，Ｕ)
Claims (1)
- 【請求項１】被測定物体に対して光ビームを投光する投
光手段と、投光手段の側方に所定間隔をもって配置され
被測定物体からの反射光を受光する受光手段と、受光手
段にて受光された光スポットの位置に基いて被測定物体
までの距離を測定する測距回路と、受光量の過大あるい
は過小を判定する受光レベル判定回路とで構成され、測
距回路から距離に応じた電圧レベルの信号として出力さ
れる測距信号および受光レベル判定回路から出力される
異常判定信号を出力端子を介して出力するようにした光
学式距離測定装置において、測距信号および異常判定信
号を出力する共通出力端子を設けるとともに、受光レベ
ル判定回路から異常判定信号が出力されたときに測距信
号の出力を停止して異常判定信号を出力させる信号切換
回路を設け、異常判定信号を測距信号の電圧レベル変動
範囲外の所定電圧に設定したことを特徴とする光学式距
離測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986035551U JPH064249Y2 (ja) | 1986-03-12 | 1986-03-12 | 光学式距離測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986035551U JPH064249Y2 (ja) | 1986-03-12 | 1986-03-12 | 光学式距離測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62146912U JPS62146912U (ja) | 1987-09-17 |
| JPH064249Y2 true JPH064249Y2 (ja) | 1994-02-02 |
Family
ID=30845152
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986035551U Expired - Lifetime JPH064249Y2 (ja) | 1986-03-12 | 1986-03-12 | 光学式距離測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH064249Y2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5834312A (ja) * | 1981-08-24 | 1983-02-28 | Canon Inc | 能動型測距装置 |
| JPS5964817A (ja) * | 1982-10-05 | 1984-04-12 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | カメラの自動焦点調節装置 |
| JPS6281520A (ja) * | 1985-10-04 | 1987-04-15 | Mitsubishi Electric Corp | 距離測定装置 |
-
1986
- 1986-03-12 JP JP1986035551U patent/JPH064249Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62146912U (ja) | 1987-09-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0324636B2 (ja) | ||
| US5210585A (en) | Range finder having a plurality of signal reception means | |
| JPH064249Y2 (ja) | 光学式距離測定装置 | |
| JPH0746052B2 (ja) | 光変位計 | |
| JPS58151506A (ja) | 光学式相対位置測定装置 | |
| US5781282A (en) | Distance measurement device | |
| JPH0875413A (ja) | 測距装置 | |
| JPS629212A (ja) | 半導体光位置検出素子を用いた測距装置 | |
| JPH0599620A (ja) | エツジ検出装置 | |
| JP3137559B2 (ja) | 測距装置 | |
| JP2970250B2 (ja) | 測距装置 | |
| JP2901748B2 (ja) | 距離測定装置 | |
| JPH0714808Y2 (ja) | 光学式距離測定装置 | |
| JP3394090B2 (ja) | 変位計 | |
| JPH0714809Y2 (ja) | 光学式変位計 | |
| JPH0750569A (ja) | 光電スイッチ | |
| JPH03199912A (ja) | 変位測定装置 | |
| JP2581480B2 (ja) | 距離センサ | |
| JP3439521B2 (ja) | 光電センサ | |
| JP3010642B2 (ja) | 光方式零相電流電圧センサ信号処理回路 | |
| CN117687038A (zh) | ToF传感器的深度检测方法、装置、电子设备以及介质 | |
| JPH09196665A (ja) | 測距装置 | |
| JPH0511173A (ja) | 測距装置 | |
| JPH04276514A (ja) | 非接触変位測定装置 | |
| JP3117389B2 (ja) | 測距装置 |