JPH0645405A - Apparatus and method for processing tape - Google Patents

Apparatus and method for processing tape

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JPH0645405A
JPH0645405A JP3145391A JP14539191A JPH0645405A JP H0645405 A JPH0645405 A JP H0645405A JP 3145391 A JP3145391 A JP 3145391A JP 14539191 A JP14539191 A JP 14539191A JP H0645405 A JPH0645405 A JP H0645405A
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JP
Japan
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tape
limit position
processing
lower limit
pulley
Prior art date
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Pending
Application number
JP3145391A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kimiharu Sato
公治 佐藤
Akio Bando
昭雄 板東
Michio Okamoto
道夫 岡本
Kazuhiko Mitsui
一彦 三井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinkawa Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Shinkawa Ltd
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Shinkawa Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Shinkawa Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】複数台の処理装置を配置してテープへの連続処
理を可能にする。 【構成】処理装置1と処理装置2間に、テープ6をたる
ませるバッファ装置40を配置する。
(57) [Summary] [Purpose] A plurality of processing units are arranged to enable continuous processing on tape. A buffer device 40 for slackening a tape 6 is arranged between a processing device 1 and a processing device 2.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はテープ処理装置及び処理
方法に係り、特に複数台の処理装置を配置してテープ処
理を連続して行なうテープ処理装置及び処理方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a tape processing apparatus and a processing method, and more particularly to a tape processing apparatus and a processing method for arranging a plurality of processing apparatuses to continuously perform tape processing.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、タブテープによる半導体組立装
置の製造工程は、図6に示すような工程からなってい
る。先ず、インナーリードボンダ1によってタブテープ
に半導体チップが接合11される。その後、ボンドチェ
ッカー2によってボンド検査12が行なわれる。次にポ
ッティング装置3によって半導体チップを覆うように素
子保護用樹脂が滴下13され、続いてベーク炉4によっ
て乾燥14される。その後、マーカー装置5によって素
子保護用樹脂上にマーク15aを付した後にUV(紫外
線ランプ)によってキュア15bされる。
2. Description of the Related Art For example, a manufacturing process of a semiconductor assembling apparatus using a tab tape includes the steps shown in FIG. First, the inner lead bonder 1 joins 11 the semiconductor chip to the tab tape. Thereafter, the bond checker 2 performs the bond inspection 12. Next, the potting device 3 drops 13 the element protection resin so as to cover the semiconductor chip, and subsequently it is dried 14 by the baking oven 4. After that, a mark 15a is put on the element protection resin by the marker device 5, and then the resin is cured by UV (ultraviolet lamp) 15b.

【0003】ところで、半導体組立装置の製造には、前
記したテープによる方法とリードフレームによる方法と
がある。リードフレームは、短冊状に切断されたもので
あるので、個々のリードフレームを順次送って処理する
ことができる。従って、複数台配置した各装置間にバッ
ファ装置を設け、一時的にリードフレームをバッファ装
置に蓄えるようにすることができ、一貫連続生産を容易
に行なうことができる。しかし、タブテープは、帯状の
連続したテープよりなるので、各間における相互干渉を
吸収することができない。そこで従来、テープによる処
理は、各装置の両側にテープ供給部及びテープ収納部を
配置し、各工程をそれぞれ単独に行なっている。また特
開昭55−30810号公報に示すように、長尺のテー
プにチップを接合した後、該テープを短冊状に切断して
バッファ装置に収納し、このバッファ装置より短冊状の
テープを以後の処理装置に送っ処理するものも知られて
いる。しかし、この処理方法は、従来のリードフレーム
による半導体組立装置の製造方法とほぼ同じであり、長
尺のテープを連続して各処理装置で処理するようにはな
っていない。なお、リードフレームによる半導体組立装
置の製造方法において、装置間にバッファ装置を設けた
ものとして、例えば特開昭62−126004号公報、
特開昭62−130907号公報、特開昭62−235
108号公報等があげられる。
Incidentally, in manufacturing a semiconductor assembly device, there are the above-mentioned tape method and lead frame method. Since the lead frame is cut into strips, the individual lead frames can be sequentially fed and processed. Therefore, a buffer device can be provided between the devices arranged in plural units, and the lead frame can be temporarily stored in the buffer device, so that the continuous continuous production can be easily performed. However, since the tab tape is composed of a continuous tape in a band shape, it is impossible to absorb mutual interference between the tab tapes. Therefore, conventionally, in the processing using a tape, a tape supply unit and a tape storage unit are arranged on both sides of each device, and each process is performed independently. Further, as shown in JP-A-55-30810, after joining a chip to a long tape, the tape is cut into strips and accommodated in a buffer device. There is also known one that is sent to a processing device of the above for processing. However, this processing method is almost the same as the conventional method for manufacturing a semiconductor assembly device using a lead frame, and a long tape is not processed continuously by each processing device. In the method of manufacturing a semiconductor assembly device using a lead frame, a device provided with a buffer device between the devices is disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 62-126004.
JP-A-62-130907, JP-A-62-235
No. 108 publication is cited.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来のテープ処理装置
は、各装置にテープ供給部及びテープ収納部を設けてな
るので、広いフロアスペースを必要とすると共に、全体
の装置が高価になる。また各装置毎にテープの供給及び
収納を行なう必要があるので、テープ及び半導体チップ
等の試料にダメージを与える可能性が大きい。また各装
置に作業者を必要とすると共に、テープが巻回されたリ
ールの取付け、取外しを各装置において行なう必要があ
り、製品がコスト高になる。
Since the conventional tape processing apparatus is provided with a tape supply section and a tape storage section in each apparatus, a wide floor space is required and the entire apparatus becomes expensive. Further, since it is necessary to supply and store the tape for each device, there is a high possibility that the tape and the sample such as the semiconductor chip will be damaged. Further, an operator is required for each device, and the reel around which the tape is wound must be attached and detached in each device, resulting in a high cost of the product.

【0005】本発明の目的は、複数台の処理装置を配置
してテープへの連続処理が可能なテープ処理装置及び処
理方法を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a tape processing apparatus and a processing method capable of continuously processing a tape by arranging a plurality of processing apparatuses.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の第1の手段は、テープを処理する複数台の処理装置間
に、テープをたるませるバッファ装置を配置し、テープ
を連続処理することを特徴とする。
A first means for achieving the above object is to dispose a buffer device for slackening a tape between a plurality of processing devices for processing the tape and continuously process the tape. Is characterized by.

【0007】上記目的を達成するための第2の手段は、
上記第1の手段のバッファ装置を、上下動可能でテープ
を下方方向に付勢するプーリと、このプーリの下限位置
を検出する下限位置検出手段と、プーリの上限位置を検
出する上限位置検出手段とを有する構成にしたことを特
徴とする。
A second means for achieving the above object is to:
In the buffer device of the first means, a pulley that can move up and down and biases the tape downward, a lower limit position detecting means for detecting the lower limit position of the pulley, and an upper limit position detecting means for detecting the upper limit position of the pulley. It is characterized in that it has a configuration including and.

【0008】上記目的を達成するための第3の手段は、
上記第1の手段のバッファ装置を、テープのたるみの下
限位置を検出する下限位置検出手段と、テープのたるみ
の上限位置を検出する上限位置検出手段とを有する構成
にしたことを特徴とする。
A third means for achieving the above object is
The buffer device of the first means is configured to have a lower limit position detecting means for detecting a lower limit position of the slack of the tape and an upper limit position detecting means for detecting an upper limit position of the slack of the tape.

【0009】上記目的を達成するための第4の手段は、
各処理装置毎にテープのテンションを独立制御し、テー
プを複数台の処理装置で連続処理することを特徴とす
る。
A fourth means for achieving the above object is to:
The tape tension is independently controlled for each processing device, and the tape is continuously processed by a plurality of processing devices.

【0010】[0010]

【作用】第1の手段によれば、処理装置間にバッファ装
置によってテープのたるみを持たせるので、処理装置相
互干渉を前記バッファ装置のテープたるみによって吸収
することができる。
According to the first means, since the tape slack is provided between the processing devices by the buffer device, mutual interference of the processing devices can be absorbed by the tape slack of the buffer device.

【0011】第2の手段によれば、前工程処理装置より
テープがバッファ装置に送られてくると、下方方向に付
勢するプーリが下降し、また後工程処理装置よりバッフ
ァ装置のテープが引き出されると、プーリが上昇する。
即ち、プーリが下降又は上昇してたるみ量が変わる。プ
ーリの下限位置及び上限位置はそれぞれ下限位置検出手
段及び上限位置検出手段によって検出され、たるみ量は
ある一定範囲内に制御される。
According to the second means, when the tape is sent from the pre-processing device to the buffer device, the pulley urging downward is lowered, and the tape of the buffer device is pulled out from the post-processing device. Then, the pulley rises.
That is, the amount of slack changes as the pulley descends or rises. The lower limit position and the upper limit position of the pulley are detected by the lower limit position detecting means and the upper limit position detecting means, respectively, and the amount of slack is controlled within a certain fixed range.

【0012】第3の手段によれば、前工程処理装置より
テープがバッファ装置に送られてくると、テープは自然
に垂れ下がってたるみ量が大きくなり、また後工程処理
装置よりテープが引き出されると、バッファ装置のテー
プはのたるみ量は少なくなる。そこで、たるみ部の下端
の下限位置及び上限位置を下限位置検出手段及び上限位
置検出手段によって検出する。これにより、第2の手段
と同様にたるみ量はある一定範囲に制御される。
According to the third means, when the tape is sent from the pre-processing device to the buffer device, the tape naturally hangs and the amount of slack increases, and when the tape is pulled out from the post-processing device. , The tape of the buffer device has less slack. Therefore, the lower limit position and the upper limit position of the lower end of the slack portion are detected by the lower limit position detecting means and the upper limit position detecting means. As a result, the amount of slack is controlled within a certain range as in the case of the second means.

【0013】第4の手段によれば、各処理装置毎にテー
プのテンションを独立制御するので、テープの全体搬送
が安定化する。
According to the fourth means, the tension of the tape is independently controlled for each processing device, so that the entire feeding of the tape is stabilized.

【0014】[0014]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図1乃至図4によ
り説明する。図1に示すように、左側から右側に順にイ
ンナーリードボンダ1、ボンドチェッカー2、ポッティ
ング装置3、ベーク炉4、マーカー装置5が配置されて
いる。またインナーリードボンダ1の左側にはテープ供
給部20が配置され、マーカー装置5の右側にはテープ
収納部30が配置されている。またインナーリードボン
ダ1とボンドチェッカー2間及びボンドチェッカー2と
ポッティング装置3間には、それぞれバッファ装置40
が配置されている。なお、インナーリードボンダ1、ボ
ンドチェッカー2、ポッティング装置3、マーカー装置
5において、1a、2a、3a、5aはテープ6の側端
側に等間隔に形成されたスプロケット孔に係合してテー
プ6を送るスプロケット、インナーリードボンダ1及び
マーカー装置5において、1b、5bはボンデイング部
及びマーク付け部におけるテープ部分にテンションを与
えるためのバックテンションローラ、マーカー装置5に
おいて、5cはベーク炉4におけるテープ部分にテンシ
ョンを与えるためのフォワードテンションローラをそれ
ぞれ示す。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. As shown in FIG. 1, an inner lead bonder 1, a bond checker 2, a potting device 3, a baking furnace 4, and a marker device 5 are arranged in this order from left to right. A tape supply section 20 is arranged on the left side of the inner lead bonder 1, and a tape storage section 30 is arranged on the right side of the marker device 5. A buffer device 40 is provided between the inner lead bonder 1 and the bond checker 2 and between the bond checker 2 and the potting device 3, respectively.
Are arranged. In addition, in the inner lead bonder 1, the bond checker 2, the potting device 3, and the marker device 5, 1a, 2a, 3a, and 5a engage with sprocket holes formed at equal intervals on the side end side of the tape 6 to form the tape 6 In the sprocket, the inner lead bonder 1 and the marker device 5, 1b and 5b are back tension rollers for applying tension to the tape portion in the bonding portion and the marking portion, and in the marker device 5, 5c is the tape portion in the baking oven 4. The forward tension roller for applying tension to each is shown.

【0015】テープ供給部20及びテープ収納部30
は、次のような構造となっている。テープ6とスペーサ
テープ7とを巻回したテープ供給リール21を装着する
供給リール軸22及びテープ6とスペーサテープ8とを
巻き取るテープ巻取りリール31を装着する巻取りリー
ル軸32は、それぞれ図示しない正逆回転可能なモータ
によって駆動される。また同様に、スペーサテープ7を
巻き取るスペーサテープ巻取りリール23を装着する巻
取りリール軸24及びスペーサテープ8を巻回したスペ
ーサテープ供給リール33を装着する供給リール軸34
は、それぞれ図示しない可変トルクモータによって駆動
される。またテープ供給部20のインナーリードボンダ
1側には、テープ6をインナーリードボンダ1のボンデ
イング部の入口側に導くガイド部材25が設けられてい
る。またテープ収納部30のマーカー装置5側にも同様
に、マーカー装置5より供給されたテープ6をテープ収
納部30に導くガイド部材35が設けられている。
The tape supply section 20 and the tape storage section 30
Has the following structure. A supply reel shaft 22 for mounting a tape supply reel 21 around which the tape 6 and the spacer tape 7 are wound and a take-up reel shaft 32 for mounting a tape take-up reel 31 for winding the tape 6 and the spacer tape 8 are respectively illustrated. Not driven by a motor that can rotate forward and backward. Similarly, a take-up reel shaft 24 for mounting a spacer tape take-up reel 23 for winding the spacer tape 7 and a supply reel shaft 34 for mounting a spacer tape supply reel 33 on which the spacer tape 8 is wound.
Are each driven by a variable torque motor (not shown). On the inner lead bonder 1 side of the tape supply unit 20, a guide member 25 that guides the tape 6 to the entrance side of the bonding section of the inner lead bonder 1 is provided. Similarly, a guide member 35 for guiding the tape 6 supplied from the marker device 5 to the tape storage portion 30 is also provided on the side of the marker storage device 30 of the tape storage portion 30.

【0016】テープ供給リール21及びテープ巻取りリ
ール31の下方には、それぞれ光反射型の上限センサ2
6、36と同様の光反射型の下限センサ27、37が配
設されている。またテープ供給リール21とスペーサテ
ープ巻取りリール23間及びテープ巻取りリール31と
スペーサテープ供給リール33間には、スペーサテープ
7、8が上限センサ26、36、下限センサ27、37
に接触しないように、ガイドローラ28、38が配設さ
れている。
Below the tape supply reel 21 and the tape take-up reel 31, respectively, light reflecting upper limit sensors 2 are provided.
Light reflection type lower limit sensors 27 and 37 similar to those of 6 and 36 are provided. Further, between the tape supply reel 21 and the spacer tape take-up reel 23 and between the tape take-up reel 31 and the spacer tape supply reel 33, the spacer tapes 7 and 8 are the upper limit sensors 26 and 36 and the lower limit sensors 27 and 37.
The guide rollers 28 and 38 are arranged so as not to come into contact with.

【0017】バッファ装置40は、図2乃至図4に示す
ような構造となっている。箱型の枠体41の両側板41
aには、上下に隙間を有するようにプーリ支持板42が
固定され、プーリ支持板42は、更に枠体41の背板4
1bに固定された補強板43によって補強されている。
プーリ支持板42には、中央部に断面がU字状のガイド
レール44が垂直に固定され、ガイドレール44の上方
部の両側にそれぞれプーリ支持部材45、46が固定さ
れている。プーリ支持部材45、46にはプーリ軸4
7、48が回転自在に支承され、プーリ軸47、48に
はプーリ49、50が固定されている。前記ガイドレー
ル44に沿ってプーリ支持部材51が上下動可能に、プ
ーリ支持部材51には、ガイドレール44の両側の立上
がり部44aを両側より挟持するように配設されたロー
ラ52が回転自在に支承されている。プーリ支持部材5
1には、プーリ軸53が回転自在に支承されており、プ
ーリ軸53には、プーリ54が固定されている。ここ
で、プーリ49、50、54は、幅の異なるテープ6に
適用できるように、複数の段部に形成されている。
The buffer device 40 has a structure as shown in FIGS. Both side plates 41 of the box-shaped frame body 41
A pulley support plate 42 is fixed to a so as to have a vertical gap, and the pulley support plate 42 further includes the back plate 4 of the frame body 41.
It is reinforced by a reinforcing plate 43 fixed to 1b.
A guide rail 44 having a U-shaped cross section is vertically fixed to the center of the pulley support plate 42, and pulley support members 45 and 46 are fixed to both sides of the upper portion of the guide rail 44, respectively. The pulley shaft 4 is attached to the pulley supporting members 45 and 46.
7, 48 are rotatably supported, and pulleys 49, 50 are fixed to the pulley shafts 47, 48. The pulley support member 51 is vertically movable along the guide rail 44, and the pulley support member 51 is rotatably provided with rollers 52 arranged so as to sandwich the rising portions 44a on both sides of the guide rail 44 from both sides. It is supported. Pulley support member 5
1, a pulley shaft 53 is rotatably supported, and a pulley 54 is fixed to the pulley shaft 53. Here, the pulleys 49, 50, 54 are formed in a plurality of step portions so that they can be applied to the tapes 6 having different widths.

【0018】ガイドレール44の上方及び下方には、枠
体41の上板41c及び底板41dに固定されたスプロ
ケット支持板60、61に回転自在に支承されたスプロ
ケット62、63が配設されている。スプロケット支持
板60、61には、スプロケット62、63の背面側に
配設されたスプロケット64、65も回転自在に支承さ
れている。またプーリ支持部材51には、上端及び下端
にチェーン66、67の一端が固定されている。チェー
ン66の他端は、スプロケット62、64を通してバラ
ンス用ウエイト保持板68のフック部68aに固定さ
れ、チェーン67の他端は、スプロケット63、65を
通して前記バランス用ウエイト保持板68のフック部6
8bに固定されている。バランス用ウエイト保持板68
には、プーリ支持部材51及びこのプーリ支持部材51
に保持されたプーリ軸53、プーリ54等とのバランス
をとるために、バランス用ウエイト69が載置されてい
る。また前記プーリ支持部材51には、テープ6にテン
ションを付与するためのテンション用ウエイト保持板7
0が固定されており、このテンション用ウエイト保持板
70には、テンション用ウエイト71が載置されてい
る。
Above and below the guide rail 44, sprockets 62 and 63 are rotatably supported by sprocket support plates 60 and 61 fixed to the upper plate 41c and the bottom plate 41d of the frame 41, respectively. . On the sprocket support plates 60, 61, sprockets 64, 65 arranged on the back side of the sprockets 62, 63 are also rotatably supported. Further, one ends of chains 66 and 67 are fixed to the upper and lower ends of the pulley supporting member 51. The other end of the chain 66 is fixed to the hook portion 68a of the balance weight holding plate 68 through the sprockets 62 and 64, and the other end of the chain 67 is passed through the sprockets 63 and 65 to the hook portion 6 of the balance weight holding plate 68.
It is fixed to 8b. Balance weight holding plate 68
The pulley support member 51 and the pulley support member 51.
A balance weight 69 is placed to balance the pulley shaft 53, the pulley 54, and the like held by the. The pulley supporting member 51 is provided with a tension weight holding plate 7 for applying tension to the tape 6.
0 is fixed, and a tension weight 71 is placed on the tension weight holding plate 70.

【0019】プーリ支持部材51の左右両側には、検出
板75が固定されている。そして、ガイドレール44に
沿った枠体41の上方及び下方には、検出板75に対応
してプーリ54の上限位置及び下限位置を検出する上限
センサ76及び下限センサ77が配設され、更に上限セ
ンサ76及び下限センサ77の上方には、それぞれプー
リ54のオーバ上昇及び下降を防止するための安全用の
オーバー検出用センサ78、79が配設されている。
Detection plates 75 are fixed to the left and right sides of the pulley supporting member 51. An upper limit sensor 76 and a lower limit sensor 77 that detect the upper limit position and the lower limit position of the pulley 54 corresponding to the detection plate 75 are disposed above and below the frame body 41 along the guide rail 44, and the upper limit is further increased. Above the sensor 76 and the lower limit sensor 77, safety over detection sensors 78 and 79 for preventing the pulley 54 from over rising and falling are provided.

【0020】次に作用について説明する。先ず、各装置
1乃至5の作用について説明する。インナーリードボン
ダ1においては、テープ6に形成された1つのデバイス
部について半導体チップのボンデイングが完了すると、
スプロケット1aが駆動してテープ6の次のデバイス部
がボンデイング部に送られ、そのデバイス部に半導体チ
ップがボンデイングされる。この動作を繰り返してテー
プ6には順次ボンデイングが行なわれる。ボンドチェッ
カー2においても同様に、スプロケット2aによってテ
ープ6が間欠的に送られ、半導体チップの部分が検査部
に位置する毎にボンド検査が行なわれる。この場合、不
良のボンド部は記憶装置に記憶される。
Next, the operation will be described. First, the operation of each of the devices 1 to 5 will be described. In the inner lead bonder 1, when the bonding of the semiconductor chip is completed for one device portion formed on the tape 6,
The sprocket 1a is driven to send the next device portion of the tape 6 to the bonding portion, and the semiconductor chip is bonded to the device portion. By repeating this operation, the tape 6 is sequentially bonded. Similarly, in the bond checker 2, the tape 6 is intermittently sent by the sprocket 2a, and the bond inspection is performed every time the semiconductor chip portion is located in the inspection portion. In this case, the defective bond portion is stored in the storage device.

【0021】ポッティング装置3においては、スプロケ
ット3aによってテープ6が間欠的に送られてボンド部
がポッティング部に位置する。そこで、ボンド部が不良
の場合には、前記したボンドチェッカー2からの信号に
より、スプロケット3aは再度駆動されて良品のボンド
部が位置するようにテープ6は送られる。そして、良品
のボンド部が送られてくる毎にポッティング装置3によ
って半導体チップを覆うように素子保護用樹脂が滴下さ
れる。ベーク炉4においては、マーカー装置5のスプロ
ケット5aによってテープ6がベーク炉4内を間欠的に
送られ、半導体チップを覆う素子保護用樹脂が乾燥され
る。マーカー装置5においては、スプロケット5aによ
ってテープ6が送られ、かつポッティング装置3によっ
て素子保護用樹脂が滴下されたもののみにマークが付さ
れ、その後キュアされる。
In the potting device 3, the tape 6 is intermittently fed by the sprocket 3a so that the bond portion is located at the potting portion. Therefore, when the bond portion is defective, the sprocket 3a is driven again by the signal from the above-mentioned bond checker 2 and the tape 6 is fed so that the good bond portion is positioned. Then, each time a non-defective bond portion is sent, the element protecting resin is dropped by the potting device 3 so as to cover the semiconductor chip. In the baking oven 4, the tape 6 is intermittently sent through the baking oven 4 by the sprocket 5a of the marker device 5 to dry the element protection resin covering the semiconductor chip. In the marker device 5, only the tape 6 is sent by the sprocket 5a, and the element protecting resin is dropped by the potting device 3 to give a mark, and then the resin is cured.

【0022】次にテープ供給部20及びテープ収納部3
0の作用について説明する。テープ供給リール21とガ
イド部材25間及びテープ巻取りリール31とガイド部
材35間においては、テープ6はたるみ部6a及び6b
を形成するようになっている。即ち、テープ供給部20
において、テープ6のたるみ部6aが実線の状態にあ
り、前記したようにインナーリードボンダ1のスプロケ
ット1aによってテープ6が間欠的に送られ、たるみ部
6aが点線のように少なくなり、上限センサ26がテー
プ6なしを検知すると、その検知信号によってテープ供
給リール21を駆動するモータによってテープ供給リー
ル21が回転し、テープ6を供給する。そして、テープ
6が供給されてたるみ部6aが実線で示すように大きく
なって下限センサ27がテープ6を検知すると、その検
知信号によってテープ供給リール21用のモータは停止
してテープ6の供給を止める。このように、上限センサ
26と下限センサ27の間隔の範囲分のたるみ部6aが
常に形成される。従って、このたるみ部6aのテープ6
の全長は、テープ6に形成されたデバイス部のピッチ以
上である必要がある。
Next, the tape supply section 20 and the tape storage section 3
The operation of 0 will be described. Between the tape supply reel 21 and the guide member 25 and between the tape take-up reel 31 and the guide member 35, the tape 6 has slack portions 6a and 6b.
Are formed. That is, the tape supply unit 20
, The slack portion 6a of the tape 6 is in the state of a solid line, the tape 6 is intermittently fed by the sprocket 1a of the inner lead bonder 1 as described above, and the slack portion 6a is reduced as shown by the dotted line. When the absence of the tape 6 is detected, the motor for driving the tape supply reel 21 rotates the tape supply reel 21 by the detection signal and supplies the tape 6. Then, when the tape 6 is supplied and the slack portion 6a becomes large as shown by the solid line and the lower limit sensor 27 detects the tape 6, the motor for the tape supply reel 21 is stopped by the detection signal and the tape 6 is supplied. stop. In this way, the slack portion 6a corresponding to the range of the interval between the upper limit sensor 26 and the lower limit sensor 27 is always formed. Therefore, the tape 6 of the slack portion 6a
Must be equal to or larger than the pitch of the device parts formed on the tape 6.

【0023】テープ収納部30においては、逆に、スプ
ロケット5aよりテープ6が送られてきてたるみ部6b
が実線で示すように大きくなって下限センサ37がテー
プ6を検知すると、その検知信号によってテープ巻取り
リール31を駆動するモータによってテープ巻取りリー
ル31が回転し、テープ6を巻き取る。そして、テープ
6のたるみ部6bが点線のように少なくなって上限セン
サ36がテープ6を検知しなくなると、その検知信号に
よってテープ巻取りリール31用のモータは停止してテ
ープ6の巻取りを止める。
On the contrary, in the tape accommodating section 30, the tape 6 is fed from the sprocket 5a and the slack section 6b is provided.
When the lower limit sensor 37 detects the tape 6 as indicated by the solid line, the motor for driving the tape take-up reel 31 rotates the tape take-up reel 31 by the detection signal, and the tape 6 is taken up. When the slack portion 6b of the tape 6 is reduced as indicated by the dotted line and the upper limit sensor 36 no longer detects the tape 6, the motor for the tape take-up reel 31 is stopped by the detection signal and the tape 6 is taken up. stop.

【0024】次にバッファ装置40の作用について説明
する。インナーリードボンダ1とボンドチェッカー2間
のバッファ装置40とボンドチェッカー2とポッティン
グ装置3間のバッファ装置40の作用は同じであるの
で、以下、ボンドチェッカー2とポッティング装置3間
の作用について説明する。プーリ54を回転自在に支承
したプーリ支持部材51は、ローラ52がガイドレール
44に沿って上下動可能であり、プーリ54はテンショ
ン用ウエイト71によって常に下方に荷重が加えられて
いるので、ポッティング装置3のテープ6部分にはテン
ション用ウエイト71によるバックテンションが加えら
れた状態にある。そこで、テンション用ウエイト71の
荷重によりプーリ54は下降する。また後工程のポッテ
ィング装置3のスプロケット3aによってバッファ装置
40内のテープ6が引き出されると、テンション用ウエ
イト71の荷重に抗してプーリ54が上昇させられる。
Next, the operation of the buffer device 40 will be described. Since the operation of the buffer device 40 between the inner lead bonder 1 and the bond checker 2 and the operation of the buffer device 40 between the bond checker 2 and the potting device 3 are the same, the operation between the bond checker 2 and the potting device 3 will be described below. In the pulley supporting member 51 that rotatably supports the pulley 54, the roller 52 can move up and down along the guide rail 44, and the pulley 54 is always loaded downward by the tension weight 71. Back tension is applied to the tape 6 portion of No. 3 by the tension weight 71. Then, the pulley 54 descends due to the load of the tension weight 71. Further, when the tape 6 in the buffer device 40 is pulled out by the sprocket 3a of the potting device 3 in the subsequent step, the pulley 54 is raised against the load of the tension weight 71.

【0025】下限センサ77は前工程であるボンドチェ
ッカー2のスプロケット2aの駆動をストップ及びスタ
ートさせる信号を出力する。即ち、プーリ54が下降し
て下限センサ77が検出板75を塞ぐと、前工程である
ボンドチェッカー2のスプロケット2aの駆動をストッ
プさせる信号を出力する。そして、この状態より後工程
であるポッティング装置3のスプロケット3aが駆動し
てプーリ54が上昇し、検出板75が下限センサ77よ
り離れると、前工程のボンドチェッカー2のスプロケッ
ト2aの駆動をスタートさせる信号を出力する。また上
限センサ76は後工程のポッティング装置3のスプロケ
ット3aの駆動をストップ及びスタートさせる信号を出
力する。即ち、プーリ54が上昇して検出板75が上限
センサ76を塞ぐと、後工程のポッティング装置3のス
プロケット3aの駆動をストップする信号を出力する。
そして、この状態より前工程のボンドチェッカー2のス
プロケット2aが駆動してプーリ54が下降し、検出板
75が上限センサ76より離れると、後工程のポッティ
ング装置3のスプロケット3aの駆動をスタートさせる
信号を出力する。従って、プーリ54は上限センサ76
と下限センサ77間を上下動することができるので、こ
の上下動距離の約2倍の長さのテープ6部分をバッファ
装置40内に蓄えることができる。このため、前後工程
の処理による相互干渉による停止がなく、テープ処理を
連続して行なうことができる。
The lower limit sensor 77 outputs a signal for stopping and starting the driving of the sprocket 2a of the bond checker 2 which is the previous process. That is, when the pulley 54 descends and the lower limit sensor 77 closes the detection plate 75, a signal for stopping the drive of the sprocket 2a of the bond checker 2 in the previous step is output. Then, when the sprocket 3a of the potting device 3 which is a post-process is driven from this state and the pulley 54 rises and the detection plate 75 moves away from the lower limit sensor 77, the drive of the sprocket 2a of the bond checker 2 in the previous process is started. Output a signal. The upper limit sensor 76 outputs a signal for stopping and starting the driving of the sprocket 3a of the potting device 3 in the subsequent process. That is, when the pulley 54 rises and the detection plate 75 closes the upper limit sensor 76, a signal for stopping the driving of the sprocket 3a of the potting device 3 in the subsequent step is output.
Then, from this state, when the sprocket 2a of the bond checker 2 in the previous process is driven and the pulley 54 descends and the detection plate 75 moves away from the upper limit sensor 76, a signal for starting the drive of the sprocket 3a of the potting device 3 in the subsequent process Is output. Therefore, the pulley 54 is the upper limit sensor 76.
Since it is possible to vertically move between the lower limit sensor 77 and the lower limit sensor 77, it is possible to store in the buffer device 40 a tape 6 portion having a length approximately twice the vertical moving distance. Therefore, the tape process can be continuously performed without stopping due to mutual interference due to the processes of the front and rear steps.

【0026】このように、前記実施例はバッファ装置4
0内にテープ6のたるみを持たせるのに、テープ6を下
方に付勢するプーリ54を上下動可能に設け、このプー
リ54の上限位置及び下限位置をそれぞれ上限センサ7
6及び下限センサ77によって検出し、該上限センサ7
6及び下限センサ77によって前後工程処理装置を制御
する。このため、処理装置相互干渉をバッファ装置40
内のテープたるみによって吸収することができるので、
テープ6を連続処理することができる。また各処理装置
にテープ供給部20及びテープ収納部30を配置する必
要がないので、フロアスペースが少なくて済むと共に、
装置コストの低減化が図れる。また各処理装置毎にテー
プ供給部20よりテープを供給及びテープをテープ収納
部30に収納する必要がないので、試料に与えるダメー
ジが低減し、また一連の工程を連続処理することにより
歩留りが向上すると共に、作業者の削減が可能となる。
As described above, the buffer device 4 is used in the above embodiment.
In order to allow the slack of the tape 6 in 0, a pulley 54 for urging the tape 6 downward is provided so as to be movable up and down, and the upper limit position and the lower limit position of the pulley 54 are set to the upper limit sensor 7 respectively.
6 and the lower limit sensor 77, and the upper limit sensor 7
6 and the lower limit sensor 77 control the front and rear process equipment. For this reason, the processing device mutual interference is reduced by the buffer device
Since it can be absorbed by the tape slack inside,
The tape 6 can be continuously processed. Further, since it is not necessary to dispose the tape supply unit 20 and the tape storage unit 30 in each processing device, the floor space can be reduced, and
The device cost can be reduced. Further, since it is not necessary to supply the tape from the tape supply unit 20 and store the tape in the tape storage unit 30 for each processing device, damage to the sample is reduced, and the yield is improved by continuously processing a series of steps. In addition, it is possible to reduce the number of workers.

【0027】またテープ6のテンションは、インナーリ
ードボンダ1ではバックテンションローラ1bで制御さ
れゝボンドチェッカー2では該ボンドチェッカー2後方
のバッファ装置40で制御され、ポッティング装置3で
は同様に該ポッティング装置3後方のバッファ装置40
で制御され、マーカー装置5ではバックテンションロー
ラ5b、フォワードテンションローラ5cでそれぞれ制
御される。このように、処理装置1乃至5はそれぞれテ
ープ6のテンションを独立して制御するので、テープ6
の全体搬送が安定化する。
The tension of the tape 6 is controlled by the back tension roller 1b in the inner lead bonder 1 and is controlled by the buffer device 40 behind the bond checker 2 in the bond checker 2, and the potting device 3 is similarly controlled in the potting device 3. Rear buffer device 40
The marker device 5 is controlled by the back tension roller 5b and the forward tension roller 5c, respectively. In this way, since the processing devices 1 to 5 independently control the tension of the tape 6, the tape 6
The whole conveyance of is stabilized.

【0028】またテープ6の先端又は後端にダミテー
プ、ブランクテープ、デバイスのないリードテープ等を
取付けておき、またダミテープ等を検知する検知手段を
テープ供給部20及びテープ収納部30に設け、ダミテ
ープ等を検知手段によって検知するようにすることによ
り、テープ供給終了又は収納終了信号が得られ、ブザー
等によって作業者に知らせるようにすることができ、作
業効率が向上する。この場合、処理されているテープの
終末が最初の処理装置1に供給される前に、新ロットの
テープの先端を処理中のロットのテープに繋ぐことによ
り、新ロットのテープは自動的に各処理装置1乃至5に
供給されるので、各処理装置へのテープ通しを行わなく
てすみ、この点からも作業効率が向上する。また前記の
ようにロットの先端又は後端にダミテープ等を設けてお
くか、又はロットとロット間を予めダミテープ等で繋い
でおき、更にテープ供給部20内又はテープ収納部30
内にテープ切断又は繋ぎ処理部を設けておくと、1つの
ロットの処理終了時にロット毎の管理が行える。
A dummy tape, a blank tape, a lead tape without a device, or the like is attached to the front or rear end of the tape 6, and a detection means for detecting the dummy tape is provided in the tape supply unit 20 and the tape storage unit 30. And the like are detected by the detecting means, a tape supply end or storage end signal can be obtained, and a worker can be notified by a buzzer or the like, and the work efficiency is improved. In this case, before the end of the tape being processed is supplied to the first processing device 1, the leading end of the tape of the new lot is connected to the tape of the lot being processed, so that the tape of the new lot is automatically processed. Since it is supplied to the processing devices 1 to 5, it is not necessary to pass the tape through each processing device, and the work efficiency is improved also from this point. Further, as described above, a dami tape or the like is provided at the front end or the rear end of the lot, or the lots are preliminarily connected with each other by a dami tape or the like, and further in the tape supply unit 20 or the tape storage unit 30.
If a tape cutting or connection processing unit is provided inside, management of each lot can be performed at the end of processing of one lot.

【0029】図5は本発明の他の実施例を示す。本実施
例に示すバッファ装置40は、前記実施例の上限センサ
76及び下限センサ77と同様の作用をする上限センサ
80及び下限センサ81のみを設け、上限センサ80及
び下限センサ81によってテープ6自体を検出するよう
に構成してなる。即ち、上限センサ80及び下限センサ
81は、光反射型又は近接センサよりなり、テープ6自
体を検出するように配置されている。従って、本実施例
の場合は、例えばボンドチェッカー2とポッティング装
置3間のバッファ装置40においては、スプロケット2
aが駆動されてテープ6がバッファ装置40内に送られ
てくると、そのテープ6部分はプーリ49と50間に自
然に垂れ下がる。ポッティング装置3のスプロケット3
aが駆動されると、バッファ装置40内のテープ6はバ
ッファ装置40より引き出される。そして、テープ6の
垂れ下がりの下端部の下限位置は下限センサ81によっ
て検出され、またテープ6の垂れ下がりの下端部の上限
位置は上限センサ80によって検出され、それぞれ前記
実施例と同様に前後工程の処理装置2、3が制御され
る。
FIG. 5 shows another embodiment of the present invention. The buffer device 40 shown in the present embodiment is provided with only an upper limit sensor 80 and a lower limit sensor 81 that operate in the same manner as the upper limit sensor 76 and the lower limit sensor 77 of the above-described embodiment, and the tape 6 itself is protected by the upper limit sensor 80 and the lower limit sensor 81. It is configured to detect. That is, the upper limit sensor 80 and the lower limit sensor 81 are light reflection type or proximity sensors, and are arranged so as to detect the tape 6 itself. Therefore, in the case of this embodiment, for example, in the buffer device 40 between the bond checker 2 and the potting device 3, the sprocket 2 is used.
When a is driven and the tape 6 is fed into the buffer device 40, the tape 6 portion naturally hangs between the pulleys 49 and 50. Sprocket 3 of potting device 3
When a is driven, the tape 6 in the buffer device 40 is pulled out from the buffer device 40. Then, the lower limit position of the lower end portion of the tape 6 hanging down is detected by the lower limit sensor 81, and the upper limit position of the lower end portion of the tape 6 hanging down is detected by the upper limit sensor 80, respectively, as in the previous embodiment. The devices 2, 3 are controlled.

【0030】このように構成しても前記実施例と同様の
効果が得られる。また本実施例の場合には、単に上限セ
ンサ80及び下限センサ81とを設けた非常に簡単な構
造よりなるので、一層装置のコスト低減が図れる。
Even with this structure, the same effect as that of the above embodiment can be obtained. Further, in the case of this embodiment, the cost of the apparatus can be further reduced because it has a very simple structure in which only the upper limit sensor 80 and the lower limit sensor 81 are provided.

【0031】なお、上記各実施例においては、一連のテ
ープ処理を行なう場合について説明したが、処理装置を
2台以上配置して連続処理する場合に広く適用できる。
In each of the above embodiments, the case where a series of tape processes is performed has been described, but the present invention can be widely applied to a case where two or more processing devices are arranged for continuous processing.

【0032】[0032]

【発明の効果】本発明によれば、処理装置間において、
バッファ装置によってテープのたるみ部を有するので、
複数台の処理装置によってテープを連続処理することが
できる。また各処理装置にテープ供給部及びテープ収納
部を配置する必要がないので、処理装置コストの低減化
及びフロアスペースの縮小化が図れる。また各処理装置
毎にテープ供給部よりテープの供給及びテープ収納部に
テープの収納をする必要がなく、試料に与えるダメージ
が低減し、また連続処理によって歩留りが向上し、更に
作業者の削減も可能となる。また各処理装置毎にテープ
のテンションを独立して制御するので、テープの全体搬
送が安定化する。
According to the present invention, between processing devices,
Since the buffer device has a slack in the tape,
The tape can be continuously processed by a plurality of processing devices. Further, since it is not necessary to dispose the tape supply unit and the tape storage unit in each processing apparatus, it is possible to reduce the processing apparatus cost and the floor space. In addition, it is not necessary to supply tape from the tape supply unit and store the tape in the tape storage unit for each processing device, reducing damage to the sample and improving yield by continuous processing, further reducing the number of workers It will be possible. Further, since the tension of the tape is independently controlled for each processing device, the entire feeding of the tape is stabilized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す概略構成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】バッファ装置の正面図である。FIG. 2 is a front view of a buffer device.

【図3】図2のA−A線断面図である。3 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG.

【図4】図2のB−B線断面拡大図である。FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view taken along line BB of FIG.

【図5】本発明の他の実施例を示す概略構成図である。FIG. 5 is a schematic configuration diagram showing another embodiment of the present invention.

【図6】テープによる半導体組立装置の製造工程図であ
る。
FIG. 6 is a manufacturing process diagram of a semiconductor assembling apparatus using a tape.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 インナーリードボンダ 2 ボンドチェッカー 3 ポッティング装置 6 テープ 40 バッファ装置 44 ガイドレール 51 プーリ支持部材 54 プーリ 71 テンション用ウエイト 75 検出板 76 上限センサ 77 下限センサ 80 上限センサ 81 下限センサ 1 Inner lead bonder 2 Bond checker 3 Potting device 6 Tape 40 Buffer device 44 Guide rail 51 Pulley support member 54 Pulley 71 Tension weight 75 Detection plate 76 Upper limit sensor 77 Lower limit sensor 80 Upper limit sensor 81 Lower limit sensor

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岡本 道夫 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 株 式会社日立製作所武蔵工場内 (72)発明者 三井 一彦 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 株 式会社日立製作所武蔵工場内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Michio Okamoto 5-20-1 Kamimizumoto-cho, Kodaira-shi, Tokyo Inside Musashi Plant, Hitachi, Ltd. (72) Kazuhiko Mitsui 5 Sanmizumoto-cho, Kodaira-shi, Tokyo 20-1 No. 1 In stock company Hitachi Ltd. Musashi factory

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 テープを処理する複数台の処理装置間
に、テープをたるませるバッファ装置を配置し、テープ
を連続処理することを特徴とするテープ処理装置。
1. A tape processing device, wherein a buffer device for slackening the tape is arranged between a plurality of processing devices for processing the tape, and the tape is continuously processed.
【請求項2】 請求項1において、バッファ装置は、上
下動可能でテープを下方方向に付勢するプーリと、この
プーリの下限位置を検出する下限位置検出手段と、プー
リの上限位置を検出する上限位置検出手段とを有するこ
とを特徴とするテープ処理装置。
2. The buffer device according to claim 1, wherein the buffer device is vertically movable and biases the tape downward, a lower limit position detecting means for detecting a lower limit position of the pulley, and an upper limit position of the pulley. A tape processing apparatus comprising: an upper limit position detecting means.
【請求項3】 請求項1において、バッファ装置は、テ
ープのたるみの下限位置を検出する下限位置検出手段
と、テープのたるみの上限位置を検出する上限位置検出
手段とを有することを特徴とするテープ処理装置。
3. The buffer device according to claim 1, further comprising: a lower limit position detecting means for detecting a lower limit position of the slack of the tape, and an upper limit position detecting means for detecting an upper limit position of the slack of the tape. Tape processing device.
【請求項4】 請求項2又は3において、下限位置検出
手段は、前工程の処理装置のテープ送り駆動部材を制御
し、上限位置検出手段は、後工程処理装置のテープ送り
駆動部材を制御することを特徴とするテープ処理装置。
4. The lower limit position detection means according to claim 2 or 3, wherein the lower limit position detection means controls the tape feed drive member of the processing apparatus of the previous process, and the upper limit position detection means controls the tape feed drive member of the post processing device. A tape processing device characterized by the above.
【請求項5】 各処理装置毎にテープのテンションを独
立制御し、テープを複数台の処理装置で連続処理するこ
とを特徴とするテープ処理方法。
5. A tape processing method, wherein the tape tension is independently controlled for each processing device, and the tape is continuously processed by a plurality of processing devices.
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Cited By (5)

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