JPH0645405A - テープ処理装置及び処理方法 - Google Patents
テープ処理装置及び処理方法Info
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- JPH0645405A JPH0645405A JP3145391A JP14539191A JPH0645405A JP H0645405 A JPH0645405 A JP H0645405A JP 3145391 A JP3145391 A JP 3145391A JP 14539191 A JP14539191 A JP 14539191A JP H0645405 A JPH0645405 A JP H0645405A
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- JP
- Japan
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- tape
- limit position
- processing
- lower limit
- pulley
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- Wire Bonding (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】複数台の処理装置を配置してテープへの連続処
理を可能にする。 【構成】処理装置1と処理装置2間に、テープ6をたる
ませるバッファ装置40を配置する。
理を可能にする。 【構成】処理装置1と処理装置2間に、テープ6をたる
ませるバッファ装置40を配置する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はテープ処理装置及び処理
方法に係り、特に複数台の処理装置を配置してテープ処
理を連続して行なうテープ処理装置及び処理方法に関す
る。
方法に係り、特に複数台の処理装置を配置してテープ処
理を連続して行なうテープ処理装置及び処理方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】例えば、タブテープによる半導体組立装
置の製造工程は、図6に示すような工程からなってい
る。先ず、インナーリードボンダ1によってタブテープ
に半導体チップが接合11される。その後、ボンドチェ
ッカー2によってボンド検査12が行なわれる。次にポ
ッティング装置3によって半導体チップを覆うように素
子保護用樹脂が滴下13され、続いてベーク炉4によっ
て乾燥14される。その後、マーカー装置5によって素
子保護用樹脂上にマーク15aを付した後にUV(紫外
線ランプ)によってキュア15bされる。
置の製造工程は、図6に示すような工程からなってい
る。先ず、インナーリードボンダ1によってタブテープ
に半導体チップが接合11される。その後、ボンドチェ
ッカー2によってボンド検査12が行なわれる。次にポ
ッティング装置3によって半導体チップを覆うように素
子保護用樹脂が滴下13され、続いてベーク炉4によっ
て乾燥14される。その後、マーカー装置5によって素
子保護用樹脂上にマーク15aを付した後にUV(紫外
線ランプ)によってキュア15bされる。
【0003】ところで、半導体組立装置の製造には、前
記したテープによる方法とリードフレームによる方法と
がある。リードフレームは、短冊状に切断されたもので
あるので、個々のリードフレームを順次送って処理する
ことができる。従って、複数台配置した各装置間にバッ
ファ装置を設け、一時的にリードフレームをバッファ装
置に蓄えるようにすることができ、一貫連続生産を容易
に行なうことができる。しかし、タブテープは、帯状の
連続したテープよりなるので、各間における相互干渉を
吸収することができない。そこで従来、テープによる処
理は、各装置の両側にテープ供給部及びテープ収納部を
配置し、各工程をそれぞれ単独に行なっている。また特
開昭55−30810号公報に示すように、長尺のテー
プにチップを接合した後、該テープを短冊状に切断して
バッファ装置に収納し、このバッファ装置より短冊状の
テープを以後の処理装置に送っ処理するものも知られて
いる。しかし、この処理方法は、従来のリードフレーム
による半導体組立装置の製造方法とほぼ同じであり、長
尺のテープを連続して各処理装置で処理するようにはな
っていない。なお、リードフレームによる半導体組立装
置の製造方法において、装置間にバッファ装置を設けた
ものとして、例えば特開昭62−126004号公報、
特開昭62−130907号公報、特開昭62−235
108号公報等があげられる。
記したテープによる方法とリードフレームによる方法と
がある。リードフレームは、短冊状に切断されたもので
あるので、個々のリードフレームを順次送って処理する
ことができる。従って、複数台配置した各装置間にバッ
ファ装置を設け、一時的にリードフレームをバッファ装
置に蓄えるようにすることができ、一貫連続生産を容易
に行なうことができる。しかし、タブテープは、帯状の
連続したテープよりなるので、各間における相互干渉を
吸収することができない。そこで従来、テープによる処
理は、各装置の両側にテープ供給部及びテープ収納部を
配置し、各工程をそれぞれ単独に行なっている。また特
開昭55−30810号公報に示すように、長尺のテー
プにチップを接合した後、該テープを短冊状に切断して
バッファ装置に収納し、このバッファ装置より短冊状の
テープを以後の処理装置に送っ処理するものも知られて
いる。しかし、この処理方法は、従来のリードフレーム
による半導体組立装置の製造方法とほぼ同じであり、長
尺のテープを連続して各処理装置で処理するようにはな
っていない。なお、リードフレームによる半導体組立装
置の製造方法において、装置間にバッファ装置を設けた
ものとして、例えば特開昭62−126004号公報、
特開昭62−130907号公報、特開昭62−235
108号公報等があげられる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のテープ処理装置
は、各装置にテープ供給部及びテープ収納部を設けてな
るので、広いフロアスペースを必要とすると共に、全体
の装置が高価になる。また各装置毎にテープの供給及び
収納を行なう必要があるので、テープ及び半導体チップ
等の試料にダメージを与える可能性が大きい。また各装
置に作業者を必要とすると共に、テープが巻回されたリ
ールの取付け、取外しを各装置において行なう必要があ
り、製品がコスト高になる。
は、各装置にテープ供給部及びテープ収納部を設けてな
るので、広いフロアスペースを必要とすると共に、全体
の装置が高価になる。また各装置毎にテープの供給及び
収納を行なう必要があるので、テープ及び半導体チップ
等の試料にダメージを与える可能性が大きい。また各装
置に作業者を必要とすると共に、テープが巻回されたリ
ールの取付け、取外しを各装置において行なう必要があ
り、製品がコスト高になる。
【0005】本発明の目的は、複数台の処理装置を配置
してテープへの連続処理が可能なテープ処理装置及び処
理方法を提供することにある。
してテープへの連続処理が可能なテープ処理装置及び処
理方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の第1の手段は、テープを処理する複数台の処理装置間
に、テープをたるませるバッファ装置を配置し、テープ
を連続処理することを特徴とする。
の第1の手段は、テープを処理する複数台の処理装置間
に、テープをたるませるバッファ装置を配置し、テープ
を連続処理することを特徴とする。
【0007】上記目的を達成するための第2の手段は、
上記第1の手段のバッファ装置を、上下動可能でテープ
を下方方向に付勢するプーリと、このプーリの下限位置
を検出する下限位置検出手段と、プーリの上限位置を検
出する上限位置検出手段とを有する構成にしたことを特
徴とする。
上記第1の手段のバッファ装置を、上下動可能でテープ
を下方方向に付勢するプーリと、このプーリの下限位置
を検出する下限位置検出手段と、プーリの上限位置を検
出する上限位置検出手段とを有する構成にしたことを特
徴とする。
【0008】上記目的を達成するための第3の手段は、
上記第1の手段のバッファ装置を、テープのたるみの下
限位置を検出する下限位置検出手段と、テープのたるみ
の上限位置を検出する上限位置検出手段とを有する構成
にしたことを特徴とする。
上記第1の手段のバッファ装置を、テープのたるみの下
限位置を検出する下限位置検出手段と、テープのたるみ
の上限位置を検出する上限位置検出手段とを有する構成
にしたことを特徴とする。
【0009】上記目的を達成するための第4の手段は、
各処理装置毎にテープのテンションを独立制御し、テー
プを複数台の処理装置で連続処理することを特徴とす
る。
各処理装置毎にテープのテンションを独立制御し、テー
プを複数台の処理装置で連続処理することを特徴とす
る。
【0010】
【作用】第1の手段によれば、処理装置間にバッファ装
置によってテープのたるみを持たせるので、処理装置相
互干渉を前記バッファ装置のテープたるみによって吸収
することができる。
置によってテープのたるみを持たせるので、処理装置相
互干渉を前記バッファ装置のテープたるみによって吸収
することができる。
【0011】第2の手段によれば、前工程処理装置より
テープがバッファ装置に送られてくると、下方方向に付
勢するプーリが下降し、また後工程処理装置よりバッフ
ァ装置のテープが引き出されると、プーリが上昇する。
即ち、プーリが下降又は上昇してたるみ量が変わる。プ
ーリの下限位置及び上限位置はそれぞれ下限位置検出手
段及び上限位置検出手段によって検出され、たるみ量は
ある一定範囲内に制御される。
テープがバッファ装置に送られてくると、下方方向に付
勢するプーリが下降し、また後工程処理装置よりバッフ
ァ装置のテープが引き出されると、プーリが上昇する。
即ち、プーリが下降又は上昇してたるみ量が変わる。プ
ーリの下限位置及び上限位置はそれぞれ下限位置検出手
段及び上限位置検出手段によって検出され、たるみ量は
ある一定範囲内に制御される。
【0012】第3の手段によれば、前工程処理装置より
テープがバッファ装置に送られてくると、テープは自然
に垂れ下がってたるみ量が大きくなり、また後工程処理
装置よりテープが引き出されると、バッファ装置のテー
プはのたるみ量は少なくなる。そこで、たるみ部の下端
の下限位置及び上限位置を下限位置検出手段及び上限位
置検出手段によって検出する。これにより、第2の手段
と同様にたるみ量はある一定範囲に制御される。
テープがバッファ装置に送られてくると、テープは自然
に垂れ下がってたるみ量が大きくなり、また後工程処理
装置よりテープが引き出されると、バッファ装置のテー
プはのたるみ量は少なくなる。そこで、たるみ部の下端
の下限位置及び上限位置を下限位置検出手段及び上限位
置検出手段によって検出する。これにより、第2の手段
と同様にたるみ量はある一定範囲に制御される。
【0013】第4の手段によれば、各処理装置毎にテー
プのテンションを独立制御するので、テープの全体搬送
が安定化する。
プのテンションを独立制御するので、テープの全体搬送
が安定化する。
【0014】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1乃至図4によ
り説明する。図1に示すように、左側から右側に順にイ
ンナーリードボンダ1、ボンドチェッカー2、ポッティ
ング装置3、ベーク炉4、マーカー装置5が配置されて
いる。またインナーリードボンダ1の左側にはテープ供
給部20が配置され、マーカー装置5の右側にはテープ
収納部30が配置されている。またインナーリードボン
ダ1とボンドチェッカー2間及びボンドチェッカー2と
ポッティング装置3間には、それぞれバッファ装置40
が配置されている。なお、インナーリードボンダ1、ボ
ンドチェッカー2、ポッティング装置3、マーカー装置
5において、1a、2a、3a、5aはテープ6の側端
側に等間隔に形成されたスプロケット孔に係合してテー
プ6を送るスプロケット、インナーリードボンダ1及び
マーカー装置5において、1b、5bはボンデイング部
及びマーク付け部におけるテープ部分にテンションを与
えるためのバックテンションローラ、マーカー装置5に
おいて、5cはベーク炉4におけるテープ部分にテンシ
ョンを与えるためのフォワードテンションローラをそれ
ぞれ示す。
り説明する。図1に示すように、左側から右側に順にイ
ンナーリードボンダ1、ボンドチェッカー2、ポッティ
ング装置3、ベーク炉4、マーカー装置5が配置されて
いる。またインナーリードボンダ1の左側にはテープ供
給部20が配置され、マーカー装置5の右側にはテープ
収納部30が配置されている。またインナーリードボン
ダ1とボンドチェッカー2間及びボンドチェッカー2と
ポッティング装置3間には、それぞれバッファ装置40
が配置されている。なお、インナーリードボンダ1、ボ
ンドチェッカー2、ポッティング装置3、マーカー装置
5において、1a、2a、3a、5aはテープ6の側端
側に等間隔に形成されたスプロケット孔に係合してテー
プ6を送るスプロケット、インナーリードボンダ1及び
マーカー装置5において、1b、5bはボンデイング部
及びマーク付け部におけるテープ部分にテンションを与
えるためのバックテンションローラ、マーカー装置5に
おいて、5cはベーク炉4におけるテープ部分にテンシ
ョンを与えるためのフォワードテンションローラをそれ
ぞれ示す。
【0015】テープ供給部20及びテープ収納部30
は、次のような構造となっている。テープ6とスペーサ
テープ7とを巻回したテープ供給リール21を装着する
供給リール軸22及びテープ6とスペーサテープ8とを
巻き取るテープ巻取りリール31を装着する巻取りリー
ル軸32は、それぞれ図示しない正逆回転可能なモータ
によって駆動される。また同様に、スペーサテープ7を
巻き取るスペーサテープ巻取りリール23を装着する巻
取りリール軸24及びスペーサテープ8を巻回したスペ
ーサテープ供給リール33を装着する供給リール軸34
は、それぞれ図示しない可変トルクモータによって駆動
される。またテープ供給部20のインナーリードボンダ
1側には、テープ6をインナーリードボンダ1のボンデ
イング部の入口側に導くガイド部材25が設けられてい
る。またテープ収納部30のマーカー装置5側にも同様
に、マーカー装置5より供給されたテープ6をテープ収
納部30に導くガイド部材35が設けられている。
は、次のような構造となっている。テープ6とスペーサ
テープ7とを巻回したテープ供給リール21を装着する
供給リール軸22及びテープ6とスペーサテープ8とを
巻き取るテープ巻取りリール31を装着する巻取りリー
ル軸32は、それぞれ図示しない正逆回転可能なモータ
によって駆動される。また同様に、スペーサテープ7を
巻き取るスペーサテープ巻取りリール23を装着する巻
取りリール軸24及びスペーサテープ8を巻回したスペ
ーサテープ供給リール33を装着する供給リール軸34
は、それぞれ図示しない可変トルクモータによって駆動
される。またテープ供給部20のインナーリードボンダ
1側には、テープ6をインナーリードボンダ1のボンデ
イング部の入口側に導くガイド部材25が設けられてい
る。またテープ収納部30のマーカー装置5側にも同様
に、マーカー装置5より供給されたテープ6をテープ収
納部30に導くガイド部材35が設けられている。
【0016】テープ供給リール21及びテープ巻取りリ
ール31の下方には、それぞれ光反射型の上限センサ2
6、36と同様の光反射型の下限センサ27、37が配
設されている。またテープ供給リール21とスペーサテ
ープ巻取りリール23間及びテープ巻取りリール31と
スペーサテープ供給リール33間には、スペーサテープ
7、8が上限センサ26、36、下限センサ27、37
に接触しないように、ガイドローラ28、38が配設さ
れている。
ール31の下方には、それぞれ光反射型の上限センサ2
6、36と同様の光反射型の下限センサ27、37が配
設されている。またテープ供給リール21とスペーサテ
ープ巻取りリール23間及びテープ巻取りリール31と
スペーサテープ供給リール33間には、スペーサテープ
7、8が上限センサ26、36、下限センサ27、37
に接触しないように、ガイドローラ28、38が配設さ
れている。
【0017】バッファ装置40は、図2乃至図4に示す
ような構造となっている。箱型の枠体41の両側板41
aには、上下に隙間を有するようにプーリ支持板42が
固定され、プーリ支持板42は、更に枠体41の背板4
1bに固定された補強板43によって補強されている。
プーリ支持板42には、中央部に断面がU字状のガイド
レール44が垂直に固定され、ガイドレール44の上方
部の両側にそれぞれプーリ支持部材45、46が固定さ
れている。プーリ支持部材45、46にはプーリ軸4
7、48が回転自在に支承され、プーリ軸47、48に
はプーリ49、50が固定されている。前記ガイドレー
ル44に沿ってプーリ支持部材51が上下動可能に、プ
ーリ支持部材51には、ガイドレール44の両側の立上
がり部44aを両側より挟持するように配設されたロー
ラ52が回転自在に支承されている。プーリ支持部材5
1には、プーリ軸53が回転自在に支承されており、プ
ーリ軸53には、プーリ54が固定されている。ここ
で、プーリ49、50、54は、幅の異なるテープ6に
適用できるように、複数の段部に形成されている。
ような構造となっている。箱型の枠体41の両側板41
aには、上下に隙間を有するようにプーリ支持板42が
固定され、プーリ支持板42は、更に枠体41の背板4
1bに固定された補強板43によって補強されている。
プーリ支持板42には、中央部に断面がU字状のガイド
レール44が垂直に固定され、ガイドレール44の上方
部の両側にそれぞれプーリ支持部材45、46が固定さ
れている。プーリ支持部材45、46にはプーリ軸4
7、48が回転自在に支承され、プーリ軸47、48に
はプーリ49、50が固定されている。前記ガイドレー
ル44に沿ってプーリ支持部材51が上下動可能に、プ
ーリ支持部材51には、ガイドレール44の両側の立上
がり部44aを両側より挟持するように配設されたロー
ラ52が回転自在に支承されている。プーリ支持部材5
1には、プーリ軸53が回転自在に支承されており、プ
ーリ軸53には、プーリ54が固定されている。ここ
で、プーリ49、50、54は、幅の異なるテープ6に
適用できるように、複数の段部に形成されている。
【0018】ガイドレール44の上方及び下方には、枠
体41の上板41c及び底板41dに固定されたスプロ
ケット支持板60、61に回転自在に支承されたスプロ
ケット62、63が配設されている。スプロケット支持
板60、61には、スプロケット62、63の背面側に
配設されたスプロケット64、65も回転自在に支承さ
れている。またプーリ支持部材51には、上端及び下端
にチェーン66、67の一端が固定されている。チェー
ン66の他端は、スプロケット62、64を通してバラ
ンス用ウエイト保持板68のフック部68aに固定さ
れ、チェーン67の他端は、スプロケット63、65を
通して前記バランス用ウエイト保持板68のフック部6
8bに固定されている。バランス用ウエイト保持板68
には、プーリ支持部材51及びこのプーリ支持部材51
に保持されたプーリ軸53、プーリ54等とのバランス
をとるために、バランス用ウエイト69が載置されてい
る。また前記プーリ支持部材51には、テープ6にテン
ションを付与するためのテンション用ウエイト保持板7
0が固定されており、このテンション用ウエイト保持板
70には、テンション用ウエイト71が載置されてい
る。
体41の上板41c及び底板41dに固定されたスプロ
ケット支持板60、61に回転自在に支承されたスプロ
ケット62、63が配設されている。スプロケット支持
板60、61には、スプロケット62、63の背面側に
配設されたスプロケット64、65も回転自在に支承さ
れている。またプーリ支持部材51には、上端及び下端
にチェーン66、67の一端が固定されている。チェー
ン66の他端は、スプロケット62、64を通してバラ
ンス用ウエイト保持板68のフック部68aに固定さ
れ、チェーン67の他端は、スプロケット63、65を
通して前記バランス用ウエイト保持板68のフック部6
8bに固定されている。バランス用ウエイト保持板68
には、プーリ支持部材51及びこのプーリ支持部材51
に保持されたプーリ軸53、プーリ54等とのバランス
をとるために、バランス用ウエイト69が載置されてい
る。また前記プーリ支持部材51には、テープ6にテン
ションを付与するためのテンション用ウエイト保持板7
0が固定されており、このテンション用ウエイト保持板
70には、テンション用ウエイト71が載置されてい
る。
【0019】プーリ支持部材51の左右両側には、検出
板75が固定されている。そして、ガイドレール44に
沿った枠体41の上方及び下方には、検出板75に対応
してプーリ54の上限位置及び下限位置を検出する上限
センサ76及び下限センサ77が配設され、更に上限セ
ンサ76及び下限センサ77の上方には、それぞれプー
リ54のオーバ上昇及び下降を防止するための安全用の
オーバー検出用センサ78、79が配設されている。
板75が固定されている。そして、ガイドレール44に
沿った枠体41の上方及び下方には、検出板75に対応
してプーリ54の上限位置及び下限位置を検出する上限
センサ76及び下限センサ77が配設され、更に上限セ
ンサ76及び下限センサ77の上方には、それぞれプー
リ54のオーバ上昇及び下降を防止するための安全用の
オーバー検出用センサ78、79が配設されている。
【0020】次に作用について説明する。先ず、各装置
1乃至5の作用について説明する。インナーリードボン
ダ1においては、テープ6に形成された1つのデバイス
部について半導体チップのボンデイングが完了すると、
スプロケット1aが駆動してテープ6の次のデバイス部
がボンデイング部に送られ、そのデバイス部に半導体チ
ップがボンデイングされる。この動作を繰り返してテー
プ6には順次ボンデイングが行なわれる。ボンドチェッ
カー2においても同様に、スプロケット2aによってテ
ープ6が間欠的に送られ、半導体チップの部分が検査部
に位置する毎にボンド検査が行なわれる。この場合、不
良のボンド部は記憶装置に記憶される。
1乃至5の作用について説明する。インナーリードボン
ダ1においては、テープ6に形成された1つのデバイス
部について半導体チップのボンデイングが完了すると、
スプロケット1aが駆動してテープ6の次のデバイス部
がボンデイング部に送られ、そのデバイス部に半導体チ
ップがボンデイングされる。この動作を繰り返してテー
プ6には順次ボンデイングが行なわれる。ボンドチェッ
カー2においても同様に、スプロケット2aによってテ
ープ6が間欠的に送られ、半導体チップの部分が検査部
に位置する毎にボンド検査が行なわれる。この場合、不
良のボンド部は記憶装置に記憶される。
【0021】ポッティング装置3においては、スプロケ
ット3aによってテープ6が間欠的に送られてボンド部
がポッティング部に位置する。そこで、ボンド部が不良
の場合には、前記したボンドチェッカー2からの信号に
より、スプロケット3aは再度駆動されて良品のボンド
部が位置するようにテープ6は送られる。そして、良品
のボンド部が送られてくる毎にポッティング装置3によ
って半導体チップを覆うように素子保護用樹脂が滴下さ
れる。ベーク炉4においては、マーカー装置5のスプロ
ケット5aによってテープ6がベーク炉4内を間欠的に
送られ、半導体チップを覆う素子保護用樹脂が乾燥され
る。マーカー装置5においては、スプロケット5aによ
ってテープ6が送られ、かつポッティング装置3によっ
て素子保護用樹脂が滴下されたもののみにマークが付さ
れ、その後キュアされる。
ット3aによってテープ6が間欠的に送られてボンド部
がポッティング部に位置する。そこで、ボンド部が不良
の場合には、前記したボンドチェッカー2からの信号に
より、スプロケット3aは再度駆動されて良品のボンド
部が位置するようにテープ6は送られる。そして、良品
のボンド部が送られてくる毎にポッティング装置3によ
って半導体チップを覆うように素子保護用樹脂が滴下さ
れる。ベーク炉4においては、マーカー装置5のスプロ
ケット5aによってテープ6がベーク炉4内を間欠的に
送られ、半導体チップを覆う素子保護用樹脂が乾燥され
る。マーカー装置5においては、スプロケット5aによ
ってテープ6が送られ、かつポッティング装置3によっ
て素子保護用樹脂が滴下されたもののみにマークが付さ
れ、その後キュアされる。
【0022】次にテープ供給部20及びテープ収納部3
0の作用について説明する。テープ供給リール21とガ
イド部材25間及びテープ巻取りリール31とガイド部
材35間においては、テープ6はたるみ部6a及び6b
を形成するようになっている。即ち、テープ供給部20
において、テープ6のたるみ部6aが実線の状態にあ
り、前記したようにインナーリードボンダ1のスプロケ
ット1aによってテープ6が間欠的に送られ、たるみ部
6aが点線のように少なくなり、上限センサ26がテー
プ6なしを検知すると、その検知信号によってテープ供
給リール21を駆動するモータによってテープ供給リー
ル21が回転し、テープ6を供給する。そして、テープ
6が供給されてたるみ部6aが実線で示すように大きく
なって下限センサ27がテープ6を検知すると、その検
知信号によってテープ供給リール21用のモータは停止
してテープ6の供給を止める。このように、上限センサ
26と下限センサ27の間隔の範囲分のたるみ部6aが
常に形成される。従って、このたるみ部6aのテープ6
の全長は、テープ6に形成されたデバイス部のピッチ以
上である必要がある。
0の作用について説明する。テープ供給リール21とガ
イド部材25間及びテープ巻取りリール31とガイド部
材35間においては、テープ6はたるみ部6a及び6b
を形成するようになっている。即ち、テープ供給部20
において、テープ6のたるみ部6aが実線の状態にあ
り、前記したようにインナーリードボンダ1のスプロケ
ット1aによってテープ6が間欠的に送られ、たるみ部
6aが点線のように少なくなり、上限センサ26がテー
プ6なしを検知すると、その検知信号によってテープ供
給リール21を駆動するモータによってテープ供給リー
ル21が回転し、テープ6を供給する。そして、テープ
6が供給されてたるみ部6aが実線で示すように大きく
なって下限センサ27がテープ6を検知すると、その検
知信号によってテープ供給リール21用のモータは停止
してテープ6の供給を止める。このように、上限センサ
26と下限センサ27の間隔の範囲分のたるみ部6aが
常に形成される。従って、このたるみ部6aのテープ6
の全長は、テープ6に形成されたデバイス部のピッチ以
上である必要がある。
【0023】テープ収納部30においては、逆に、スプ
ロケット5aよりテープ6が送られてきてたるみ部6b
が実線で示すように大きくなって下限センサ37がテー
プ6を検知すると、その検知信号によってテープ巻取り
リール31を駆動するモータによってテープ巻取りリー
ル31が回転し、テープ6を巻き取る。そして、テープ
6のたるみ部6bが点線のように少なくなって上限セン
サ36がテープ6を検知しなくなると、その検知信号に
よってテープ巻取りリール31用のモータは停止してテ
ープ6の巻取りを止める。
ロケット5aよりテープ6が送られてきてたるみ部6b
が実線で示すように大きくなって下限センサ37がテー
プ6を検知すると、その検知信号によってテープ巻取り
リール31を駆動するモータによってテープ巻取りリー
ル31が回転し、テープ6を巻き取る。そして、テープ
6のたるみ部6bが点線のように少なくなって上限セン
サ36がテープ6を検知しなくなると、その検知信号に
よってテープ巻取りリール31用のモータは停止してテ
ープ6の巻取りを止める。
【0024】次にバッファ装置40の作用について説明
する。インナーリードボンダ1とボンドチェッカー2間
のバッファ装置40とボンドチェッカー2とポッティン
グ装置3間のバッファ装置40の作用は同じであるの
で、以下、ボンドチェッカー2とポッティング装置3間
の作用について説明する。プーリ54を回転自在に支承
したプーリ支持部材51は、ローラ52がガイドレール
44に沿って上下動可能であり、プーリ54はテンショ
ン用ウエイト71によって常に下方に荷重が加えられて
いるので、ポッティング装置3のテープ6部分にはテン
ション用ウエイト71によるバックテンションが加えら
れた状態にある。そこで、テンション用ウエイト71の
荷重によりプーリ54は下降する。また後工程のポッテ
ィング装置3のスプロケット3aによってバッファ装置
40内のテープ6が引き出されると、テンション用ウエ
イト71の荷重に抗してプーリ54が上昇させられる。
する。インナーリードボンダ1とボンドチェッカー2間
のバッファ装置40とボンドチェッカー2とポッティン
グ装置3間のバッファ装置40の作用は同じであるの
で、以下、ボンドチェッカー2とポッティング装置3間
の作用について説明する。プーリ54を回転自在に支承
したプーリ支持部材51は、ローラ52がガイドレール
44に沿って上下動可能であり、プーリ54はテンショ
ン用ウエイト71によって常に下方に荷重が加えられて
いるので、ポッティング装置3のテープ6部分にはテン
ション用ウエイト71によるバックテンションが加えら
れた状態にある。そこで、テンション用ウエイト71の
荷重によりプーリ54は下降する。また後工程のポッテ
ィング装置3のスプロケット3aによってバッファ装置
40内のテープ6が引き出されると、テンション用ウエ
イト71の荷重に抗してプーリ54が上昇させられる。
【0025】下限センサ77は前工程であるボンドチェ
ッカー2のスプロケット2aの駆動をストップ及びスタ
ートさせる信号を出力する。即ち、プーリ54が下降し
て下限センサ77が検出板75を塞ぐと、前工程である
ボンドチェッカー2のスプロケット2aの駆動をストッ
プさせる信号を出力する。そして、この状態より後工程
であるポッティング装置3のスプロケット3aが駆動し
てプーリ54が上昇し、検出板75が下限センサ77よ
り離れると、前工程のボンドチェッカー2のスプロケッ
ト2aの駆動をスタートさせる信号を出力する。また上
限センサ76は後工程のポッティング装置3のスプロケ
ット3aの駆動をストップ及びスタートさせる信号を出
力する。即ち、プーリ54が上昇して検出板75が上限
センサ76を塞ぐと、後工程のポッティング装置3のス
プロケット3aの駆動をストップする信号を出力する。
そして、この状態より前工程のボンドチェッカー2のス
プロケット2aが駆動してプーリ54が下降し、検出板
75が上限センサ76より離れると、後工程のポッティ
ング装置3のスプロケット3aの駆動をスタートさせる
信号を出力する。従って、プーリ54は上限センサ76
と下限センサ77間を上下動することができるので、こ
の上下動距離の約2倍の長さのテープ6部分をバッファ
装置40内に蓄えることができる。このため、前後工程
の処理による相互干渉による停止がなく、テープ処理を
連続して行なうことができる。
ッカー2のスプロケット2aの駆動をストップ及びスタ
ートさせる信号を出力する。即ち、プーリ54が下降し
て下限センサ77が検出板75を塞ぐと、前工程である
ボンドチェッカー2のスプロケット2aの駆動をストッ
プさせる信号を出力する。そして、この状態より後工程
であるポッティング装置3のスプロケット3aが駆動し
てプーリ54が上昇し、検出板75が下限センサ77よ
り離れると、前工程のボンドチェッカー2のスプロケッ
ト2aの駆動をスタートさせる信号を出力する。また上
限センサ76は後工程のポッティング装置3のスプロケ
ット3aの駆動をストップ及びスタートさせる信号を出
力する。即ち、プーリ54が上昇して検出板75が上限
センサ76を塞ぐと、後工程のポッティング装置3のス
プロケット3aの駆動をストップする信号を出力する。
そして、この状態より前工程のボンドチェッカー2のス
プロケット2aが駆動してプーリ54が下降し、検出板
75が上限センサ76より離れると、後工程のポッティ
ング装置3のスプロケット3aの駆動をスタートさせる
信号を出力する。従って、プーリ54は上限センサ76
と下限センサ77間を上下動することができるので、こ
の上下動距離の約2倍の長さのテープ6部分をバッファ
装置40内に蓄えることができる。このため、前後工程
の処理による相互干渉による停止がなく、テープ処理を
連続して行なうことができる。
【0026】このように、前記実施例はバッファ装置4
0内にテープ6のたるみを持たせるのに、テープ6を下
方に付勢するプーリ54を上下動可能に設け、このプー
リ54の上限位置及び下限位置をそれぞれ上限センサ7
6及び下限センサ77によって検出し、該上限センサ7
6及び下限センサ77によって前後工程処理装置を制御
する。このため、処理装置相互干渉をバッファ装置40
内のテープたるみによって吸収することができるので、
テープ6を連続処理することができる。また各処理装置
にテープ供給部20及びテープ収納部30を配置する必
要がないので、フロアスペースが少なくて済むと共に、
装置コストの低減化が図れる。また各処理装置毎にテー
プ供給部20よりテープを供給及びテープをテープ収納
部30に収納する必要がないので、試料に与えるダメー
ジが低減し、また一連の工程を連続処理することにより
歩留りが向上すると共に、作業者の削減が可能となる。
0内にテープ6のたるみを持たせるのに、テープ6を下
方に付勢するプーリ54を上下動可能に設け、このプー
リ54の上限位置及び下限位置をそれぞれ上限センサ7
6及び下限センサ77によって検出し、該上限センサ7
6及び下限センサ77によって前後工程処理装置を制御
する。このため、処理装置相互干渉をバッファ装置40
内のテープたるみによって吸収することができるので、
テープ6を連続処理することができる。また各処理装置
にテープ供給部20及びテープ収納部30を配置する必
要がないので、フロアスペースが少なくて済むと共に、
装置コストの低減化が図れる。また各処理装置毎にテー
プ供給部20よりテープを供給及びテープをテープ収納
部30に収納する必要がないので、試料に与えるダメー
ジが低減し、また一連の工程を連続処理することにより
歩留りが向上すると共に、作業者の削減が可能となる。
【0027】またテープ6のテンションは、インナーリ
ードボンダ1ではバックテンションローラ1bで制御さ
れゝボンドチェッカー2では該ボンドチェッカー2後方
のバッファ装置40で制御され、ポッティング装置3で
は同様に該ポッティング装置3後方のバッファ装置40
で制御され、マーカー装置5ではバックテンションロー
ラ5b、フォワードテンションローラ5cでそれぞれ制
御される。このように、処理装置1乃至5はそれぞれテ
ープ6のテンションを独立して制御するので、テープ6
の全体搬送が安定化する。
ードボンダ1ではバックテンションローラ1bで制御さ
れゝボンドチェッカー2では該ボンドチェッカー2後方
のバッファ装置40で制御され、ポッティング装置3で
は同様に該ポッティング装置3後方のバッファ装置40
で制御され、マーカー装置5ではバックテンションロー
ラ5b、フォワードテンションローラ5cでそれぞれ制
御される。このように、処理装置1乃至5はそれぞれテ
ープ6のテンションを独立して制御するので、テープ6
の全体搬送が安定化する。
【0028】またテープ6の先端又は後端にダミテー
プ、ブランクテープ、デバイスのないリードテープ等を
取付けておき、またダミテープ等を検知する検知手段を
テープ供給部20及びテープ収納部30に設け、ダミテ
ープ等を検知手段によって検知するようにすることによ
り、テープ供給終了又は収納終了信号が得られ、ブザー
等によって作業者に知らせるようにすることができ、作
業効率が向上する。この場合、処理されているテープの
終末が最初の処理装置1に供給される前に、新ロットの
テープの先端を処理中のロットのテープに繋ぐことによ
り、新ロットのテープは自動的に各処理装置1乃至5に
供給されるので、各処理装置へのテープ通しを行わなく
てすみ、この点からも作業効率が向上する。また前記の
ようにロットの先端又は後端にダミテープ等を設けてお
くか、又はロットとロット間を予めダミテープ等で繋い
でおき、更にテープ供給部20内又はテープ収納部30
内にテープ切断又は繋ぎ処理部を設けておくと、1つの
ロットの処理終了時にロット毎の管理が行える。
プ、ブランクテープ、デバイスのないリードテープ等を
取付けておき、またダミテープ等を検知する検知手段を
テープ供給部20及びテープ収納部30に設け、ダミテ
ープ等を検知手段によって検知するようにすることによ
り、テープ供給終了又は収納終了信号が得られ、ブザー
等によって作業者に知らせるようにすることができ、作
業効率が向上する。この場合、処理されているテープの
終末が最初の処理装置1に供給される前に、新ロットの
テープの先端を処理中のロットのテープに繋ぐことによ
り、新ロットのテープは自動的に各処理装置1乃至5に
供給されるので、各処理装置へのテープ通しを行わなく
てすみ、この点からも作業効率が向上する。また前記の
ようにロットの先端又は後端にダミテープ等を設けてお
くか、又はロットとロット間を予めダミテープ等で繋い
でおき、更にテープ供給部20内又はテープ収納部30
内にテープ切断又は繋ぎ処理部を設けておくと、1つの
ロットの処理終了時にロット毎の管理が行える。
【0029】図5は本発明の他の実施例を示す。本実施
例に示すバッファ装置40は、前記実施例の上限センサ
76及び下限センサ77と同様の作用をする上限センサ
80及び下限センサ81のみを設け、上限センサ80及
び下限センサ81によってテープ6自体を検出するよう
に構成してなる。即ち、上限センサ80及び下限センサ
81は、光反射型又は近接センサよりなり、テープ6自
体を検出するように配置されている。従って、本実施例
の場合は、例えばボンドチェッカー2とポッティング装
置3間のバッファ装置40においては、スプロケット2
aが駆動されてテープ6がバッファ装置40内に送られ
てくると、そのテープ6部分はプーリ49と50間に自
然に垂れ下がる。ポッティング装置3のスプロケット3
aが駆動されると、バッファ装置40内のテープ6はバ
ッファ装置40より引き出される。そして、テープ6の
垂れ下がりの下端部の下限位置は下限センサ81によっ
て検出され、またテープ6の垂れ下がりの下端部の上限
位置は上限センサ80によって検出され、それぞれ前記
実施例と同様に前後工程の処理装置2、3が制御され
る。
例に示すバッファ装置40は、前記実施例の上限センサ
76及び下限センサ77と同様の作用をする上限センサ
80及び下限センサ81のみを設け、上限センサ80及
び下限センサ81によってテープ6自体を検出するよう
に構成してなる。即ち、上限センサ80及び下限センサ
81は、光反射型又は近接センサよりなり、テープ6自
体を検出するように配置されている。従って、本実施例
の場合は、例えばボンドチェッカー2とポッティング装
置3間のバッファ装置40においては、スプロケット2
aが駆動されてテープ6がバッファ装置40内に送られ
てくると、そのテープ6部分はプーリ49と50間に自
然に垂れ下がる。ポッティング装置3のスプロケット3
aが駆動されると、バッファ装置40内のテープ6はバ
ッファ装置40より引き出される。そして、テープ6の
垂れ下がりの下端部の下限位置は下限センサ81によっ
て検出され、またテープ6の垂れ下がりの下端部の上限
位置は上限センサ80によって検出され、それぞれ前記
実施例と同様に前後工程の処理装置2、3が制御され
る。
【0030】このように構成しても前記実施例と同様の
効果が得られる。また本実施例の場合には、単に上限セ
ンサ80及び下限センサ81とを設けた非常に簡単な構
造よりなるので、一層装置のコスト低減が図れる。
効果が得られる。また本実施例の場合には、単に上限セ
ンサ80及び下限センサ81とを設けた非常に簡単な構
造よりなるので、一層装置のコスト低減が図れる。
【0031】なお、上記各実施例においては、一連のテ
ープ処理を行なう場合について説明したが、処理装置を
2台以上配置して連続処理する場合に広く適用できる。
ープ処理を行なう場合について説明したが、処理装置を
2台以上配置して連続処理する場合に広く適用できる。
【0032】
【発明の効果】本発明によれば、処理装置間において、
バッファ装置によってテープのたるみ部を有するので、
複数台の処理装置によってテープを連続処理することが
できる。また各処理装置にテープ供給部及びテープ収納
部を配置する必要がないので、処理装置コストの低減化
及びフロアスペースの縮小化が図れる。また各処理装置
毎にテープ供給部よりテープの供給及びテープ収納部に
テープの収納をする必要がなく、試料に与えるダメージ
が低減し、また連続処理によって歩留りが向上し、更に
作業者の削減も可能となる。また各処理装置毎にテープ
のテンションを独立して制御するので、テープの全体搬
送が安定化する。
バッファ装置によってテープのたるみ部を有するので、
複数台の処理装置によってテープを連続処理することが
できる。また各処理装置にテープ供給部及びテープ収納
部を配置する必要がないので、処理装置コストの低減化
及びフロアスペースの縮小化が図れる。また各処理装置
毎にテープ供給部よりテープの供給及びテープ収納部に
テープの収納をする必要がなく、試料に与えるダメージ
が低減し、また連続処理によって歩留りが向上し、更に
作業者の削減も可能となる。また各処理装置毎にテープ
のテンションを独立して制御するので、テープの全体搬
送が安定化する。
【図1】本発明の一実施例を示す概略構成図である。
【図2】バッファ装置の正面図である。
【図3】図2のA−A線断面図である。
【図4】図2のB−B線断面拡大図である。
【図5】本発明の他の実施例を示す概略構成図である。
【図6】テープによる半導体組立装置の製造工程図であ
る。
る。
1 インナーリードボンダ 2 ボンドチェッカー 3 ポッティング装置 6 テープ 40 バッファ装置 44 ガイドレール 51 プーリ支持部材 54 プーリ 71 テンション用ウエイト 75 検出板 76 上限センサ 77 下限センサ 80 上限センサ 81 下限センサ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岡本 道夫 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 株 式会社日立製作所武蔵工場内 (72)発明者 三井 一彦 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 株 式会社日立製作所武蔵工場内
Claims (5)
- 【請求項1】 テープを処理する複数台の処理装置間
に、テープをたるませるバッファ装置を配置し、テープ
を連続処理することを特徴とするテープ処理装置。 - 【請求項2】 請求項1において、バッファ装置は、上
下動可能でテープを下方方向に付勢するプーリと、この
プーリの下限位置を検出する下限位置検出手段と、プー
リの上限位置を検出する上限位置検出手段とを有するこ
とを特徴とするテープ処理装置。 - 【請求項3】 請求項1において、バッファ装置は、テ
ープのたるみの下限位置を検出する下限位置検出手段
と、テープのたるみの上限位置を検出する上限位置検出
手段とを有することを特徴とするテープ処理装置。 - 【請求項4】 請求項2又は3において、下限位置検出
手段は、前工程の処理装置のテープ送り駆動部材を制御
し、上限位置検出手段は、後工程処理装置のテープ送り
駆動部材を制御することを特徴とするテープ処理装置。 - 【請求項5】 各処理装置毎にテープのテンションを独
立制御し、テープを複数台の処理装置で連続処理するこ
とを特徴とするテープ処理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3145391A JPH0645405A (ja) | 1991-05-21 | 1991-05-21 | テープ処理装置及び処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3145391A JPH0645405A (ja) | 1991-05-21 | 1991-05-21 | テープ処理装置及び処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0645405A true JPH0645405A (ja) | 1994-02-18 |
Family
ID=15384175
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3145391A Pending JPH0645405A (ja) | 1991-05-21 | 1991-05-21 | テープ処理装置及び処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0645405A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6984125B2 (en) | 2002-03-22 | 2006-01-10 | Seiko Epson Corporation | Apparatus for manufacturing electronic device, method of manufacturing electronic device, and program for manufacturing electronic device |
| US7017636B2 (en) | 2002-03-22 | 2006-03-28 | Seiko Epson Corporation | Apparatus for manufacturing an electronic device, method of manufacturing an electronic device, and program for manufacturing an electronic device |
| JP2008018348A (ja) * | 2006-07-13 | 2008-01-31 | Seiko Epson Corp | 描画装置および描画方法 |
| JP2010016332A (ja) * | 2008-07-01 | 2010-01-21 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | チップ・レベルのアンダーフィル・プロセスおよびその構造 |
| JP2013146918A (ja) * | 2012-01-19 | 2013-08-01 | Nissei Plastics Ind Co | 成形システム及びフープ材のインサート成形方法 |
-
1991
- 1991-05-21 JP JP3145391A patent/JPH0645405A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6984125B2 (en) | 2002-03-22 | 2006-01-10 | Seiko Epson Corporation | Apparatus for manufacturing electronic device, method of manufacturing electronic device, and program for manufacturing electronic device |
| US7017636B2 (en) | 2002-03-22 | 2006-03-28 | Seiko Epson Corporation | Apparatus for manufacturing an electronic device, method of manufacturing an electronic device, and program for manufacturing an electronic device |
| US7410826B2 (en) | 2002-03-22 | 2008-08-12 | Seiko Epson Corporation | Apparatus for manufacturing an electronic device, method of manufacturing an electronic device, and program for manufacturing an electronic device |
| US7562806B2 (en) | 2002-03-22 | 2009-07-21 | Seiko Epson Corporation | Apparatus for manufacturing electronic device, method of manufacturing electronic device, and program for manufacturing electronic device |
| JP2008018348A (ja) * | 2006-07-13 | 2008-01-31 | Seiko Epson Corp | 描画装置および描画方法 |
| JP2010016332A (ja) * | 2008-07-01 | 2010-01-21 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | チップ・レベルのアンダーフィル・プロセスおよびその構造 |
| JP2013146918A (ja) * | 2012-01-19 | 2013-08-01 | Nissei Plastics Ind Co | 成形システム及びフープ材のインサート成形方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19991108 |