JPH0646257B2

JPH0646257B2 - 焦点検出装置

Info

Publication number: JPH0646257B2
Application number: JP2024066A
Authority: JP
Inventors: 健歌川
Original assignee: Nikon Corp
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 1990-02-02
Filing date: 1990-02-02
Publication date: 1994-06-15
Anticipated expiration: 2009-06-15
Also published as: JPH02244020A

Description

【発明の詳細な説明】（発明の技術分野）本発明は対象物体の光像を形成する結像光学系の焦点調
節状態を検出するカメラ等の光学装置用の焦点検出装置
に関する。

（発明の背景）従来の一眼レフカメラ用焦点検出装置は、撮像レンズの
瞳上の異った領域を通った光束による被写体のほぼ同一
部分に関する２像を、多数の光電変換素子が配列されて
成る一対の光電変換素子アレイ上に導き、上記光電変換
素子アレイの光電出力を演算処理して上記光電変換素子
アレイ上の光像の相対的変位を検出し、この検出結果か
ら焦点検出を行う相対変位検出方式が知られている。

このような相対変位検出方式による焦点検出装置の光学
的構成としては特開昭５４−１５９２５９号公報に記載
の微少レンズ列アレイを用いるタイプと、一対の再結像
光学系を用いるタイプとが知られている。

いずれも被写体のほぼ同一部分に関する２像を一対の光
電素子アレイ上に導き、光像の相対的変位を検出してお
り、焦点検出光学系の構成に依存して光電素子アレイの
配列は異なるものの、対の前記光電素子アレイ出力とし
ては原理的には同等のものが得られ、光学系としては等
価である。

この場合、該２像をサンプルするピッチは、微少レンズ
アレイを用いるタイプでは微少レンズのピッチがこれに
相当し、再結像レンズタイプでは光電素子アレイを再結
像レンズにより焦点検出面に逆投影した時の画素像のピ
ッチがこれに相当する。

焦点検出精度を高め、より微細な被写体像に対しても検
出を可能にする為には前記のサンプルピッチを小さくす
る必要がある。しかしながら、サンプルピッチを細かく
すると、これに反比例して画素数が増大するため、演算
処理の時間が増大し応答性が悪くなるという問題点があ
った。

また、像の対相的変位を検出するための像の比較に際し
ては、精度を満たすためにある程度の画素数を用いる必
要があり、（サンプルピッチ×画素数）で決まる検出領
域が大きくなる為に、検出領域内に奥行きのある被写体
が入った場合には焦点検出が不能もしくは精度が悪くあ
るという問題点があった。

（発明の目的）本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたもので、焦点
検出で得られた焦点検出信号の信頼度を判断し、どのよ
うな被写体に対しても焦点検出精度の良い焦点検出装置
を提供することを目的としている。

（問題点を解決するための手段）本願発明の第一発明は、空間周波数成分を抑制する第一
フィルター処理を施し、該処理済のデータを第一サンプ
リングピッチで作成する第一処理手段と、空間周波数成
分を抑制する第二フィルター処理を施し、該処理済のデ
ータを第二サンプリングピッチで作成する第二処理手段
とを有し、サンプリングピッチによりデフォーカス量算
出の比例定数を変更することを特徴とするものである。

また、本願発明の第二発明は、空間周波数成分を抑制す
る第一フィルター処理を施し、焦点検出の為に使用する
光電素子アレイ上の焦点検出領域の広がり（データのサ
ンプリング領域の広がり）によりデータ作成する第一処
理手段と、空間周波数成分を抑制する第二フィルター処
理を施し、焦点検出の為に使用する光電素子アレイ上の
焦点検出領域の異なる広がり（データのサンプリング領
域の広がり）によりデータ作成する第二処理手段とを有
し、第一もしくは第二処理手段のデータに基づき焦点検
出を行うことを特徴とするものである。

また、本願発明の第三発明は、第一処理手段により求め
られた第一デフォーカス量と、第二処理手段により求め
られた第二デフォーカス量とを合成処理することを特徴
とするものである。

（実施例）本発明の実施例を以下に説明する。

第１図において、撮影レンズの如き結像光学系の予定焦
点面の近傍に、フィールドレンズ１５が配置され、この
フィールドレンズ１５はその中央部に矩形の光透過領域
１５ａを有し、その領域１５ａ以外は遮光領域となって
いる。ほぼ直方体状の透明ブロック１６はガラスやプラ
スチック等の高屈折率物質から成り、この一端面１６ａ
には上記フィールドレンズ１５が貼付されている。この
一端面１６ａに対向した他端面１６ｂには、互に逆方向
にわずかに傾いた一対の凹面鏡１７、１８が設けられて
いる。この両端面１６ａ、１６ｂの間のブロック１６中
には所定の間隙を隔てて一対のミラー１９、２０がほぼ
４５゜の角度で斜設されている。透明ブロック１６の下
方には、夫々光電変換装置２１が配置されている。この
光電変換装置２１は、上記ミラー１９、２０の下方に夫
々対応した光電変換素子アレイ２２、２３が形成されて
いる。

結像光学系１を通過した光束はフィールドレンズ１５の
光透過領域１５ａを通過しブロック１６内に入り、ミラ
ー１９、２０の間の間隙を通って一対の凹面鏡１７、１
８に入射する。一方の凹面鏡１７は入射光をミラー１９
の方へ、他方の凹面鏡１８は入射光をミラー２０の方へ
夫々反射し、各反射光はミラー１９、２０を介して夫々
光電変換素子アレイ２２、２３に到達する。こうしてほ
ぼ同一被写体についての一対の被写体像がアレイ２２、
２３上に形成される。

この光電装置２１からの光電出力を処理する回路系を第
２図により説明する。

第２図において、光電装置２１は、ＣＣＤイメージセン
サーであり第１光電変換素子アレイ２２と、第２光電変
換素子アレイ２３と、トランスファーゲート２４と転送
部２５、２６とを少なくとも含み、これらの外に光電出
力を線形又は対数増幅する増幅器等を含んでいてもよ
い。勿論光電装置としてはＭＯＳ型イメージセンサやそ
の他の構造のものであっても構わない。第１光電変換素
子アレイ２２を構成する光電変換素子ａ_１…ａ_ｎは互に
極く近接した状態で一列状にピッチＰｏで配列され、第
２光電変換素子アレイ２３の構成も全く同一である。こ
の光電装置２１は第１アレイ２２の光電出力ａ_１…ａ_ｎ
と、第２アレイ２３の光電出力ｂ_１…ｂ_ｎとを、ａ_１、
ｂ_１，ａ_２、ｂ_２…ａ_ｎ、ｂ_ｎの如く互に交互に出力す
ると共に、この一連の光電出力ａ_１、ｂ_１…ａ_ｎ、ｂ_ｎ
を所定時間間隔で繰返し出力する。この様な光電変換素
子アレイ２２、２３は夫々第３図（ａ）の如きＭＴＦ特
性を有する。第１、第２フィルタ手段２７、２８は入力
端子が光電装置２１の出力端子に接続されている。この
第１フィルタ手段２７は第３図（ｂ）に示す如く低次空
間周波数成分を通すが、周波数１／８Ｐｏ付近以上の高
次空間周波数成分を充分抑制するようなＭＴＦ特性を有
し、第２フィルタ手段２８は第３図（ｃ）に示す如く低
次空間周波数成分を通すが、周波数１／４Ｐｏ付近以上
の高次空間周波数成分を充分抑制するようなＭＴＦ特性
を有する。このように第２フィルタ手段２８は第１フィ
ルタ手段２７に比べて高次側の空間周波数成分をも通過
するように定められている。選択手段２９は第１、第２
フィルタ手段２７、２８の出力を択一的に選択し、サン
プルホールド手段３０に送る。このサンプルホールド手
段３０は互に直列接続された前段サンプルホールド手段
３０Ａと後段サンプルホールド手段３０Ｂとから構成さ
れている。Ａ／Ｄ変換器３１はサンプルホールド回路３
０Ｂの出力をＡ／Ｄ変換する。メモリ手段３２は結果を
記憶する。

演算手段３３の演算内容の例に関しては簡単に以下に述
べる。

一方の光電変換素子アレイに関するフィルタ済出力を複
数の領域Ａ（１）、Ａ（２）、Ａ（３）…Ａ（ｉ）…Ａ
（Ｌ）に区切り、又他方の光電変換素子アレイに関する
フィルタ済出力も対応してＢ（１）、Ｂ（２）、Ｂ
（３）…Ｂ（ｊ）…Ｂ（Ｌ）に区切り、これらの領域の
複数のＡ（ｉ）、Ｂ（ｊ）の対に関してその整合性を演
算し、最も整合性の良い組合せ（ｉ、ｊ）及びその近傍
の組合せの値を用いて両アレイ上の光像の相対的変位の
量を演算しデフォーカス量Ｚｉを算出する。例えば各領
域の構成要素の数が等しく（Ｍ＋１）個である場合にはＡ（ｉ）＝｛Ａ_ｉ、Ａ_i+1、Ａ_i+2、…Ａ_i+M｝Ｂ（ｊ）＝｛Ｂ_ｊ、Ｂ_j+1、Ｂ_j+2、…Ｂ_j+M｝である。整合性の程度を表わす相関量は、ｌ個分のデー
タ位置だけ像のずれた場合に対してｌ＝ｉ−ｊを用い、
〔ｘ〕をｘを越えない最大整数を表わすものとして、により与えられる。

この相関量Ｃ（ｌ）をｌ＝−（Ｌ−１）、…−１、０、
１…（Ｌ−１）の各ずらし量に関して演算し最大相関の
位置即ちＣ（ｌ）が最も小さい値となるずれの量ｌ＝ｌ
_０が求まる。ｌ_０が両端の値（Ｌ−１又は−Ｌ＋１）に
等しくない時にはさらに細かいずれ量の端数△ｌ_０を例
えば以下の式により外挿する事ができる。

この様にして求められた端数を含むずれ量ｌ_０＋△ｌ_０
からデフォーカス量を表わす焦点検出信号Ｚｉが求めら
れる。

実施例では後述するように第１フィルタ手段を用いる場
合と第２フィルタ手段を用いる場合でサンプリングピッ
チが異なり、上記ずれ量ｌ_０＋△ｌ_０からデフォーカス
量を算出するときの比例定数が異なる。又第１フィルタ
手段選択の場合と第２フィルタ手段選択の場合で前記区
分された複数領域の数Ｌも必ずしも同じでないので演算
手段３３の演算内容は選択されたフィルタ手段によって
幾分違う事になる。この事は第２図で判別手段３４から
フィルタ手段選択信号３４ａを演算手段３３にも入力す
る事で識別され一部異なった演算が行なわれる。

又第１、第２フィルタ手段の出力中の情報量を表わす。
情報量信号Ｄｉとしては、例えばフィルタ手段の出力デ
ータのうち最大のものと最小のものの差を用いる事もで
きるが、上記相関量Ｃ（ｌ）の最大のものＣ（ｌ）_MAX
と最小のものＣ（ｌ）_MINの差をとってもよい。又像ず
れ量が像ずれ判定領域、−（Ｌ−１）≦ｌ≦（Ｌ−１）
の範囲に入らない場合について考えてみると、この場合
にもＣ（ｌ）の値は上記範囲内のｌのある値で最小とな
っておりまぎらわしい。しかしこの様な場合には、Ｃ
（ｌ）_MIN／（Ｃ（ｌ）_MAX−Ｃ（ｌ）_MIN）は像ずれ量
が判定領域の範囲内にある場合程に小さくならないので
適当なしきい値Ｃ_THを設けて除外することができる。即
わちＣ（ｌ）_MIN／（Ｃ（ｌ）_MAX−Ｃ（ｌ）_MIN）＞Ｃ
_THの時は通常は正の値をとる前記情報量信号Ｄｉに零又
は負の値を付与する事により相関外として除外する。判
別手段３４はこのような焦点検出信号Ｚｉと情報量信号
Ｄｉとを入力し、第１、第２フィルタ手段選択時の情報
量信号Ｄｉ（１）、Ｄｉ（２）が夫々の所定値Ｄｏ
（１）、Ｄｏ（２）より小さい場合、焦点検出信号Ｚｉ
に無関係に、選択手段２９が現在第１フィルタ手段２７
を選択しているとしたら、第２フィルタ手段２８を選択
させる第２フィルタ選択信号、具体的にはＨレベル出力
を、逆に現在第２フィルタ手段２８を選択しているとし
たら第１フィルタ手段２７を選択させる第１フィルタ選
択信号、具体的にはＬレベル出力を夫々出力端子３４ａ
に発生し、他方、情報量信号Ｄｉ（１）又はＤｉ（２）
が対応の所定量Ｄｏ（１）、Ｄｏ（２）以上である場
合、焦点検出信号Ｚｉ（１）又はＺｉ（２）の絶対値が
対応の所定値Ｚｏ（１）、Ｚｏ（２）より大きい時、上
記第１フィルタ選択信号を、所定値Ｚｏ（１）、Ｚｏ
（２）以下の時、上記第２フィルタ選択信号を夫々出力
端子３４ａに発生する。更にこの判別手段３４は、情報
量信号Ｄｉ（１）、Ｄｉ（２）が所定量Ｄｏ（１）、Ｄ
ｏ（２）以上である時、記憶更新信号を出力端子３４ｂ
に発生する。この記憶更新信号に応じてメモリ回路３５
は、その時の焦点検出信号Ｚｉを記憶する。このメモリ
回路３５に記憶された焦点検出信号Ｚｉに応じて、表示
装置３６は焦点調節状態を表示し、駆動装置３７は結像
光学系１を合焦位置の方へ駆動する。サンプルパルス発
生回路３８は判別手段３４の出力端子３４ａに接続さ
れ、サンプルホールド回路３０Ａ、３０Ｂにサンプルホ
ールドを開始させるサンプルパルスを供給する。このサ
ンプルパルスの周期は判別手段３４の出力に応じて変化
し、それが第１フィルタ手段選択信号であるときの上記
周期は、第２フィルタ手段選択信号のときよりも大き
く、本実施例では２倍に選定されている。上記サンプル
パルス発生回路３８は第１カウンタ３９の出力端子３９
ａからスタート信号、具体的にはＨレベル信号を受ける
と、上記サンプルパルスの発生を開始し、第２カウンタ
４０の出力端子４０ａからの終了信号、具体的にはＨレ
ベル信号を受けると、上記サンプルパルスの発生を停止
する。この第１カウンタ３９はプリセッタブルカウンタ
で、設定部４１からゲート手段４２を介して送られるプ
リセット値をプリセットすると共に、ＡＮＤゲート４３
からのパルス出力をダウンカウントし、内容が零になっ
たとき、Ｈレベルのスタート信号を出力する。第２カウ
ンタ４０もプリセッタブルカウンタでありゲート手段４
４を介した設定部４１からのプリセット値にプリセット
されると共に、後段サンプルホールド回路３０Ｂへのサ
ンプルパルスをダウンカウントし、内容が零になったと
きＨレベルの終了信号を発生する。上記設定部４１は、
第１フィルタ手段２７の選択時に用いられる第１カウン
タ用第１プリセット値と第２カウンタ用第１プリセット
値及び第２フィルタ手段の選択時に用いられる第１カウ
ンタ用第２プリセット値と第２カウンタ用第２プリセッ
ト値が予め記憶されており、出力端子４１ａ、４１ｃに
夫々第１フィルタ手段選択時の第１カウンタ用第１プリ
セットと第２カウンタ用第１プリセット値が出力された
出力端子４１ｂ、４１ｄには夫々第２フィルタ手段選択
時の第１カウンタ用第２プリセット値と第２カウンタ用
第２プリセット値とが出力される。この例では出力端子
４１ａの第１プリセット値は、出力端子４１ｂの第２プ
リセット値より小さく、また出力端子４１ｃの第１プリ
セット値は、出力端子４１ｄの第２プリセット値に等し
く定められている。

入力端子４５には、光電装置２１からの一連の光電出力
ａ_１、ｂ_１…ａ_ｎ、ｂ_ｎの転送開始に同期して図示なき
シークエンスコントロール部からＨレベル信号が入力さ
れる。この信号はすべてのデータのサンプルホールド終
了後から次回のプリセット値をプリセットカウンター３
９、４０にセットするまでの適当な時期にＬレベルにリ
セットされる。入力端子４６には、上記一連の光電出力
を転送する転送クロックに同期したクロックが入力され
る。

この作用を以下に説明する。

判別手段３４が出力端子３４ａに第１フィルタ手段選択
信号であるＬレベル出力を発生しているとする。この選
択信号により、選択手段２９は第１フィルタ手段２７を
選択し、ゲート手段４２と４４は設定部４１の出力端子
４１ａと４１ｃからの第１カウンタ用プリセット値と第
２カウンタ用プリセット値とを夫々第１カウンタ３９と
第２カウンタ４０とに入力し、それぞれのカウンタをそ
のプリセット値にプリセットする。この後シークエンス
コントロール部からの信号により光電装置２１から一連
の光電出力ａ_１、ｂ_１、ａ_２、ｂ_２…ａ_ｎ、ｂ_ｎが読み
出される。この一連の光電出力ａ_１、ｂ_１…ａ_ｎ、ｂ_ｎ
のうち第１光電変換素子アレイ２２からの光電出力
ａ_１、ａ_２…ａ_ｎを第４図（ａ）に示す。上記一連の光
電出力ａ_１、ｂ_１…ａ_ｎ、ｂ_ｎは第１フィルタ手段２７
によりフィルタリング処理され、第５図（ａ）に示すフ
ィルタ済出力Ａ_１、Ｂ_１…Ａ_ｎ、Ｂ_ｎに変換される。こ
のフィルタ済出力Ａ_１、Ｂ_１…Ａ_ｎ、Ｂ_ｎのうち第１光
電変換素子アレイに関連するものＡ_１、…Ａ_ｎを第４図
（ｂ）に示す。この第４図（ｂ）と（ａ）とを比べる
と、第１フィルタ手段２７による高次空間周波数成分の
抑制効果が明らかである。一方、上記光電装置２１から
の読出に同期して入力端子４５にＨレベル信号が入力さ
れるので、ＡＮＤゲート４３は入力端子４６からの転送
クロックを出力する。第１カウンタ３９は上記プリセッ
ト値から、転送クロック数を減算し、入力クロック数が
上記プリセット値に等しくなったとき、スタート信号で
あるＨレベル出力を発生する。このスタート信号は、サ
ンプルパルス発生回路３８に入力されると共に、反転さ
れてＡＮＤゲート４３に入力されそのゲートを閉じる。
サンプルパルス発生回路３８は上記スタート信号に応じ
て第５図（ｂ）と（ｃ）に示す前段用及び後段用サンプ
ルパルスＳＰ１、ＳＰ２を前段及び後段サンプルホール
ド回路３０Ａと３０Ｂとに夫々給供する。前段サンプル
ホールド回路３０Ａは前段用サンプルパルスＳＰ１に応
じて、フィルタ済出力Ａ_１、Ｂ_１…Ａ_ｎ、Ｂ_ｎから
Ａ_４、Ｂ_４、Ａ_８、Ｂ_８、Ａ₁₂、Ｂ₁₂…をサンプリング
する。この前段サンプルホールド回路３０Ａは第５図
（ｂ）に矢印の範囲で示した如く第１光電変換素子アレ
イに関連する出力Ａ_４、Ａ_８…を短時間、第２光電変換
素子アレイに関連する出力Ｂ_４、Ｂ_８…を比較的長時間
夫々保持する。この両者の保持時間を等しくする為に、
後段サンプルホールド回路３０Ｂは、後段サンプルパル
スＳＰ２に応じて前段サンプルホールド回路３０Ａの出
力をサンプルホールドする。第２カウンタ４０は後段用
サンプルパルスＳＰ２を計数し、それが第１プリセット
値に等しくなったとき終了信号を発生し前段及び後段サ
ンプルパルスＳＰ１、ＳＰ２の発生を停止させる。

第４図（ｂ）において、第１光電変換素子アレイに関す
るフィルタ済出力Ａ_１…Ａ_ｎのうちサンプリングされた
フィルタ済出力Ａ_４、Ａ_８、Ａ₁₂…には、その出力の下
にマークＭ_ｓが付されている。この図から分るように、
このサンプリングされたフィルタ済出力の分布範囲（以
下サンプリング領域という。）ｌ_２はフィルタ済出力Ａ
_１…Ａ_ｎの範囲の大部分を占めていることが分る。

Ａ／Ｄ変換器３１は後段サンプルホールド回路３０Ｂの
出力をＡ／Ｄ変換し、メモリ手段３２に送る。尚、後段
サンプルホールド回路３０Ｂを設けた理由は以下の通り
である。もし前段サンプルホールド回路３０Ａの出力を
直接Ａ／Ｄ変換するならば、前段サンプルホールド回路
３０Ａの、出力Ｂ_４、Ｂ_８…の保持時間に比べて出力Ａ
_４、Ａ_８…の保持時間が短かいので、その短い方の保持
時間内でＡ／Ｄ変換動作が終了するように、Ａ／Ｄ変換
器３１として高価な高速Ａ／Ｄ変換器を使用しなければ
ならない。また高速Ａ／Ｄ変換器を用いても、保持時間
の長い出力Ｂ_４、Ｂ_８…のＡ／Ｄ変換においては、その
高速性の特長が生かされない。ところが、後段サンプル
ホールド回路３０Ｂの使用により上述の問題は解消され
る。尚、第５図（ｄ）（ｅ）に示されるように第２フィ
ルタ手段選択時のサンプリング周期は第１フィルタ手段
選択時のそれよりも小さいので、換言すると後段サンプ
ルホールド回路３０Ｂの保持時間は第２フィルタ手段選
択時の方が短いので、Ａ／Ｄ変換器３１の変換所要時間
は、この第２フィルタ手段選択時の上記保持時間によっ
て決定されることになる。すると、当然第１フィルタ手
段選択時には変換所要時間に比べて後段サンプルホール
ド回路の保持時間が不必要に長くなる。この無駄を避け
るためには第１フィルタ手段選択時の光電出力の転送ク
ロックの周波数を第２フィルタ手段選択時よりも大きく
し、両選択時における後段サンプルホールド回路３０Ｂ
の保持時間を等しくすればよい。

演算手段３３はメモリ手段３２に記憶されたフィルタ済
出力を演算して焦点検出信号Ｚｉ（１）と情報量出力Ｄ
ｉ（１）を出力する。判別手段３４は上記信号Ｚｉ
（１）、Ｄｉ（１）を対応する所定値Ｚｏ（１）、Ｄｏ
（１）と比較する。

（イ）Ｄｉ（１）がＤｏ（１）以上である場合この場合、判別手段３４は記憶更新信号を出力端子３４
ｂに発生し、このときの焦点検出信号Ｚｉ（１）をメモ
リ回路３５に記憶させる。表示装置３６と駆動装置３７
はこの記憶された信号Ｚｉ（１）に基づき夫々焦点調節
状態の表示及び、結像光学系１の合焦位置への駆動を行
う。また、上記判別手段３４は、信号Ｚｉ（１）が所定
値Ｚｏ（１）より大きい時、出力端子３４ａに第１フィ
ルタ手段選択信号を出力し続ける。従ってこの時、光電
装置２１が更に一連の光電出力ａ_１、ｂ_１…ａ_ｎ、ｂ_ｎ
を出力すると、この全回路は上述と同一動作を行う。

信号Ｚｉ（１）が所定値Ｚｏ（１）以下である時は、判
別手段３４は、第２フィルタ手段選択信号であるＨレベ
ル出力を端子３４ａに出力する。この第２フィルタ手段
選択信号に応じて、選択手段２９は第２フィルタ手段２
８を選択し、またゲート手段４２、４４は設定部４１の
出力端子４１ｂ、４１ｄからの第１、第２カウンタ用第
２プリセット値を夫々第１、第２カウンタ３９、４０に
送る。その後に光電装置２１から読出された一連の光電
出力ａ_１、ｂ_１…ａ_ｎ、ｂ_ｎは第２フィルタ手段２８に
よりフィルタリング処理されＡ_１、Ｂ_１…Ａ_ｎ、Ｂ_ｎに
変換される。このときの第１光電変換素子アレイに関す
るフィルタ済出力Ａ_１、Ａ_５…Ａ_ｎを第４図（ｃ）に示
す。この第４図（ｃ）と第４図（ｂ）を比べると、第４
図（ｃ）の図形の方が滑らかでなく、第２フィルタ手段
２８が第１フィルタ手段２７よりも高次空間周波数成分
は通過させていることが分る。一方第１カウンタ３９は
上記光電出力の読出に同期してＡＮＤゲート４３の出力
転送パルスを計数し、その計数値が第２プリセット値に
一致したときスタート信号を発生する。この第２フィル
タ手段選択時の第１カウンタ用第２プリセット値は、第
１フィルタ手段選択時の第１カウンタ用第１プリセット
値よりも大きく定められているので、この時のスタート
信号発生時点は、第１フィルタ手段選択時のスタート信
号発生時点よりも遅くなっている。このスタート信号に
よりサンプルパルス発生回路３８は第５図（ｄ）（ｅ）
に示す前段及び後段用サンプルパルスＳＰ３、ＳＰ４を
発生する。このサンプルパルスＳＰ３、ＳＰ４の周期
は、判別手段３４から送られる第２フィルタ手段選択信
号に従い、第１フィルタ手段選択時のサンプルパルスＳ
Ｐ１、ＳＰ２よりも短かく、本実施例では１／２倍に定
められている。従って、前記及び後段サンプルホールド
回路３０Ａ、３０Ｂは第５図（ｄ）（ｅ）に示す如く、
第１フィルタ手段選択時の１／２倍の周期でフィルタ済
出力Ａ_１、Ｂ_１…Ａ_ｎ、Ｂ_ｎをサンプリングし、Ａ_８、
Ｂ_８、Ａ₁₀、Ｂ₁₀、Ａ₁₂、Ｂ₁₂…を出力する。第２カウ
ンタ４０は、後段用サンプルパルスＳＰ４を計数しその
計数値が第２プリセット値に一致した時、終了信号を発
生し、サンプルパルスＳＰ３、ＳＰ４の発生を停止させ
る。この第２カウンタ用第２プリセット値は第１フィル
タ手段選択時の第２カウンタ用第１プリセット値と等し
く定められているので、この第２フィルタ手段選択時に
サンプリングされるフィルタリング済出力Ａ_８、Ｂ_８、
Ａ₁₀、Ｂ₁₀…の数は第１フィルタ手段選択時のそれと等
しくなっている。

こうしてサンプリングされたフィルタ済出力のうち第１
光電変換素子アレイに関するものが第４図（ｃ）にマー
クＭ_ｓで示されている。本実施例では第１フィルタ手段
選択時のサンプリング周期及びサンプル数を夫々第２フ
ィルタ手段選択時の１／２及び同等としたので、第４図
（ｂ）に示すサンプリング領域ｌ_１は、第４図（ｃ）の
ｌ_２の２倍になっている。勿論両者のサンプル数は必ず
しも等しくなくても良い。なお、第５図（ｄ）、（ｅ）
のグラフは作図の関係上、サンプリングの開始時点を早
めて描いてある。

上記サンプリングされた出力はＡ／Ｄ変換器３１とメモ
リ手段３２を介して演算手段３３に送られ演算される。
この時のフィルタ済出力は第１フィルタ手段選択時より
も高次空間周波数成分を多く含んでいるので、この第２
フィルタ手段選択時の焦点検出信号Ｚｉ（２）は合焦位
置近傍において一層高精度となっている。Ｄｉ（２）≧
Ｄｏ（２）かつ｜Ｚｉ（２）｜≦Ｚｏ（２）の時には判
別手段３４は第２フィルタ手段選択信号を出力端子３４
ａに出力し続けると共に記憶更新信号を出力端子３４ｂ
に送り、この時の焦点検出信号Ｚｉ（２）をメモリ回路
３５に記憶させる。この記憶内容に応じて、表示及び結
像光学系駆動が行われる。Ｄｉ（２）≧Ｄｏ（２）で、
｜Ｚｉ（２）｜＞｜Ｚｏ（２）｜の場合には、判別回路
３４は第１フィルタ手段選択信号を出力する。

（ロ）Ｄｉ（１）又はＤｉ（２）がＤｏ（１）又はＤ
ｏ（２）より小さい場合。

この場合は焦点検出信号Ｚｉに無関係に判別手段３４は
もしその時が第１フィルタ手段選択時であれば第２フィ
ルタ手段選択信号を、逆に第２フィルタ手段選択時であ
れば第１フィルタ手段選択信号を出力端子３４ａに夫々
出力する。これにより選択手段２９を選択するフィルタ
手段を切換える。またこの信号Ｄｉが所定値Ｄｏより小
さい場合の焦点検出信号Ｚｉは精度的に極めて低いの
で、判別手段３４は記憶更新信号を発生しない。従って
この時の信号Ｚｉは表示及び結像光学系の駆動には使用
されない。尚、信号Ｚｉに無関係なフィルタ手段の切換
は以下の理由の為に行われる。即ち、例えばその被写体
が低次空間周波数成分をほとんど含まず高次空間周波数
成分を多量に含む場合、第２フィルタ手段２８の選択に
より必要な情報が得られるからである。

本実施例では、第１フィルタ手段の選択時、即ちデフォ
ーカス量が大きく、第１、第２光電素子アレイ上の被写
体像の相対的ずれ量が大きい時には、第４図（ｂ）に示
す如くサンプリング領域ｌ_１を広く、第２フィルタ手段
選択時、即ち上記ずれ量が小さい時には、第４図（ｃ）
に示す如くサンプリング領域ｌ_２を狭く定めている。こ
のことは焦点検出上、非常に有効である。即ち、サンプ
リング領域を広くすると、上記被写体像が相対的に大き
くずれてもそのずれを検出できる。従って撮影レンズが
合焦位置から大きく離れていてもデフォーカス量の検出
が可能となる。他方、サンプリング領域を向広くするこ
はそことに距離の異った被写体又は、奥行きのある被写
体が入って来る可能性が増大する。デフォーカス量が大
きい時の焦点検出は前ピンか後ピンかの判別かあるいは
おおよそのデフォーカス量の決定が出来れば充分で、デ
フォーカス量の絶対値の正確な測定は必ずしも必要ない
ので、奥行きある被写体等がサンプリング領域に存在し
ても影響は少ない。ところが、デフォーカス量が小さ
く、その絶対値を正確に測定しなければならない時に
は、上記奥行きある被写体の存在は上記測定に大きな誤
差を引き起こしがちである。そこで高精度の焦点検出の
必要な第２フィルタ手段選択時には高次の空間周波数成
分情報を用いる事で検出精度を上げるとともにサンプリ
ング領域を狭くして奥行きある被写体がそこに入り込む
可能性が少なくしている。

一般的にはサンプリング領域広くしたからといってサン
プリング周期を必ずしも大きくする必要はなく、例えば
第４図（ｂ）の出力に関するｌ_１の領域を図示のサンプ
リングピッチ４Ｐｏより小さくとりＰｏあるいは２Ｐｏ
のピッチでサンプリングしても良い事は勿論である。し
かし、サンプリングピツチをＰｏ又は２Ｐｏと小さくす
る事はサンプリング数がそれぞれ４倍、２倍となりメモ
リ手段３２の記憶容量や演算手段３３の演算規模の著し
い増大を招きあまり好ましい事ではない。従って本実施
例のごとくサンプリング領域を変えた場合にも、サンプ
ル数は同程度とする事が極めて有効である。

このように低次空間周波数成分のみ通過する第１フィル
タ手段の選択時にはサンプリング周期を４Ｐｏと大きく
し、高次空間周波数を通す第２フィルタ手段の選択時に
はサンプリング周期を２Ｐｏと小さくすることは情報の
利用の点で極めて有利である。ここでサンプリングピッ
チとフィルタのＭＴＦ特性の関係について詳述すると、
第１フィルタ選択時にはサンプリング周期を４Ｐｏとし
たので、この時のナイキスト周波数は１／８Ｐｏとな
る。サンプリング定理からこの周波数１／８Ｐｏ以上の
空間周波数成分は誤動作の原因ともなるので除去されて
いる事が望ましい。第３図（ｂ）に示される様に、第１
フィルタ手段のＭＴＦは上記ナイキスト周波数１／８Ｐ
ｏ付近以上の成分を充分抑制し、それ以下の成分を通過
させるので、この通過した成分を有効に利用できる。と
ころが第１フィルタ手段選択時にもしサンプリング周期
をＰｏとすると、この時のナイキスト周波数は１／２Ｐ
ｏとなり、この周波数以下の空間周波数成分を焦点検出
に利用できることになる。しかし第３図（ｂ）に示され
る様に周波数１／８Ｐｏ以上の成分は第１フィルタ手段
によって除去されているので、結局、サンプリング周期
Ｐｏは、サンプリング周期４Ｐｏに比べサンプリング数
を４倍も増加しても、利用できる空間周波数成分の量は
同一となり、上記サンプリング数の増加は全く無駄に帰
する。以上から明らかなようにサンプリング周期の決定
は、情報の有効利用と言う観点からは、その周期により
決まるナイキスト周波数がフィルタ手段のＭＴＦ周波数
帯域の端部付近に有するように定めることが望ましい。
また、設定手段４１のプリセット値を外部から変更可能
にすれば、サンプリング領域即ち焦点検出に使用する被
写体領域の広がりを任意に可変とすることができ、奥行
きある被写体が上記領域内に入ることを防止できる。

次に第２図のブロックの具体的構成例を説明する。

第６図は、フィルタ手段２７、２８の一例を示すもので
一画素分の遅延回路Ｄ_１、Ｄ_２…Ｄ_ｍが直列に接続さ
れ、遅延回路Ｄ_１、Ｄ_２、Ｄ_３…Ｄ_ｍには夫々増幅器Ａ
_ｍを介して乗算器Ｗ_１…Ｗ_ｓに接続されている。これら
の乗算器Ｗ_１…Ｗ_ｓは入力に夫々重みＷ_１…Ｗ_ｓを乗ず
る。この重みは正又は負の数である。加算回路Ｔ_２は各
乗算器の出力を加算する。遅延回路Ｄ_１に光電装置２１
からの一連の光電出力が順次入力されると、加算回路Ｔ
_２からフィルタリング済出力が出力される。所定のＭＴ
Ｆ特性を与える重みＷ_１…Ｗ_ｓのとり方はいろいろ考え
られる一意的に決定されるものではないが、以下に幾つ
か具体的な例を示す。

第３図（ｃ）の如きＭＴＦ特性のフィルタ手段を得るに
はＤ_ｍ＝Ｄ_９、Ｗ_ｓ＝Ｗ_５とし、Ｗ_１…Ｗ_５をその相互
の大きさの傾向が第７図（ａ）に示す如きものとなる様
に定める。具体的一例としてはＷ_１＝0.28 Ｗ_２＝0.76
Ｗ_３＝１Ｗ_４＝0.76、Ｗ_５＝0.28である。同様に第
３図（ｂ）のＭＴＦ特性のフィルタ手段を得るにはＤ_ｍ
＝Ｄ₁₇、Ｗ_ｓ＝Ｗ_９としＷ_１…Ｗ_９を第７図（ｂ）の如
く定める。具体的一例としてはＷ_１＝0.28 Ｗ_２＝0.52
Ｗ_３＝0.76 Ｗ_４＝0.94 Ｗ_５＝１Ｗ_６＝0.94 Ｗ
_７＝0.76 Ｗ_８＝0.52 Ｗ_９＝0.28である。第３図
（ｄ）の特性には第７図（ｃ）又は（ｄ）の重みを、第
３図（ｅ）の点線（ｅ_１）、実線（ｅ_２）の特性にはそ
れぞれ第７図（ｅ）（ｆ）の重みを、第３図（ｆ）の特
性には第７図（ｇ）の重みを夫々用いればよい。

このような第７図（ａ）〜（ｇ）のＭＴＦ特性を適宜組
合せることにより第８図に示した第１フィルタ手段と第
２フィルタ手段との組合せが得られる。

またこのフィルタ手段としてＣＣＤトランスバーサルフ
ィルタを使用すると簡単にフィルタ手段を構成する事が
できる。

第９図に第２図の判別手段３４の具体的構成例を示す。

第９図（ａ）において第１メモリ３４０と第２メモリ３
４１は夫々所定値Ｄｏ（１）、Ｄｏ（２）、Ｚｏ
（１）、Ｚｏ（２）をゲート手段３４２、３４３を介し
て、コンパレータ３４４、３４５に送る。このコンパレ
ータ３４４はゲート手段３４２により選択されたメモリ
３４０の出力Ｄｏ（１）、Ｄｏ（２）の一方と演算手段
３３からの情報量信号Ｄｉとを比較する。同様にコンパ
レータ３４５はメモリ３４１の出力Ｚｏ（１）、Ｚｏ
（２）の一方と焦点検出信号Ｚｉとを比較する。ゲート
手段３４６はコンパレータ３４４の出力αとコンパレー
タ３４５の出力βとこの判別手段３４の出力γとを入力
する。このゲート手段３４６の具体的構成を第２図
（ｂ）に示す。Ｄ型フリップフロップ３４７は上記α、
βの出力が決定された後のタイミングで発生するクロッ
クパルスを３４８に受けゲート手段３４６の出力δを入
力し記憶する。このフリップフロップ３４７の更新され
た出力が判別手段３４の出力として使用される。この判
別手段３４の動作例を以下の表に示す。

ただし Di(1)＜Do(1)又はDi(2)＜Do(2)でα＝Ｌ Di(1)≧Do(1)又はDi(2)≧Do(2)でα＝Ｈ｜Zi(1)｜＜Zo(1)又は｜Zi(2)｜＜Zo(2)で β＝Ｌ上記以外で β＝Ｈであるとする。

実施例の説明では情報量Ｄｉとデフォーカス量Ｚｉとに
依存させて複数のフィルタ手段を切り変えることを主題
として話を進め、それに従属する形で情報量Ｄｉとデフ
ォーカス量Ｚｉとに依存させてサンプリング領域の広が
りを切り換えかつ対応してサンプリングピッチを切り換
える事を述べた。実際には実施例のごとくこの両者をか
ね具えるのが最も好ましいが、情報量Ｄｉとデフォーカ
ス量Ｚｉとに依存させてフィルターを切り換える事と、
情報量Ｄｉとデフォーカス量Ｚｉとに依存させてサンプ
リング領域及びサンプリングピッチを切り換える事はナ
イキスト周波数に関連した問題はあるものの一応別の事
であり、後者だけを用いてもそれなりに有効な焦点検出
装置を提供する事が可能である。例えフィルタ手段とし
ては第３図（ｃ）のＭＴＦ特性のものを１つだけ用い、
合焦近傍では第４図（ｃ）のごとくサンプリング周期２
Ｐｏでｌ_２の領域にわたってサンプリングしたデータで
演算を行ない、デフォーカスの大きい所ではフィルタ手
段はこのままとするがサンプリング周期４Ｐｏで第４図
（ｂ）のｌ_１相当の広がりの領域にわたってサンプリン
グしたデータで前後ピン判定の演算を行なう。この場合
デフォーカスの大きい所でフィルタ手段のＭＴＦ特性を
第３図（ｂ）のものに切り換える場合に比べてナイキス
ト周波数以上の成分を少し抽出してしまうので幾分誤動
作を起こしやすかったり、高次の空間周波数成分の存在
による偽合焦発生の可能性は増大するが、これらの幾分
の可能性を除けばデフォーカスの大きい所では光像のボ
ケも大きい事も手伝ってそれなりの効果が期待され得
る。即ち前述したデフォーカス量によってサンプリング
領域を変えかつサンプリングピッチを変える事の効果は
そのまま期待される。勿論単一フィルタとしてはそのＭ
ＴＦ特性が第３図（ｃ）のものに限らず第３図（ｅ）の
点線（ｅ_２）やその他の特性のものであっても構わな
い。

以上の実施例では第１フィルタ手段のフィルタ済出力に
基づく焦点検出信号と第２フィルタリング手段のフィル
タ済出力に基づく焦点検出信号とを、情報量Ｄｉとデフ
ォーカス量に応じて択一的に選択するものであった。

次に、上記択一的選択の代りに、夫々の焦点検出信号を
所定の関係で同時に使用する本発明の別の実施例を説明
する。

第１０図において、光電装置５０からの一連の光電出力
ａ_１、ｂ_１…ａ_ｎ、ｂ_ｎは遅延手段５１を介して第１フ
ィルタ手段５２と、直接に第２フィルタ手段５３とを夫
々送られる。上記光電装置５０は第１又は第２実施例の
ものと同様の構成であり、第１、第２フィルタ手段５
２、５３も前述の実施例のものと同様で、第１フィルタ
手段５２のＭＴＦ周波帯域の中心が第２フィルタ手段５
３のそれよりも低次空間周波数側にずれている。上記遅
延手段５１の遅延時間は、上記一連の光電出力について
第２フィルタ手段５３のフィルタ済出力がすべてサンプ
ルホールド手段５４に送られた後に、第１フィルタ手段
５２のフィルタ済出力が上記サンプルホールド手段５４
に送られる様に、設定されている。もちろんこの遅延手
段５１は第２フィルタ手段側に設けることもできる。こ
のサンプルホールド手段５４及びそれに続くＡ／Ｄ変換
器５５、メモリ手段５６、演算手段５７は夫々前述の実
施例のものと同様の構成である。この演算手段は最初に
送られた第２フィルタ手段５３のフィルタ済出力につい
て演算し、信号Ｄｉ（２）、Ｚｉ（２）を算出し、次い
で第１フィルタ手段５２のフィルタ済出力について信号
Ｄｉ（１）、Ｚｉ（１）を算出する。メモリ回路５８は
演算手段５７からの信号Ｄｉ（１）、Ｄｉ（２）、Ｚｉ
（１）、Ｚｉ（２）をすべて記憶する。合成手段５９
は、メモリ回路５８からの上記信号を入力し、焦点検出
信号Ｚｉ（１）と、Ｚｉ（２）とを以下の所定の関係で
合成した出力Ｚを算出する。即ちＺ＝（１−α）Ｚｉ
（１）＋αＺｉ（２）ここで、重みαは０以上１以下の
数で、信号Ｚｉ（１）、Ｚｉ（２）、Ｄｉ（１）、Ｄｉ
（２）の大きさに応じて決定される。具体的にはαの決
定は、信号Ｚｉ（１）又はＺｉ（２）が小さい時、即ち
結像光学系が合焦位置の近傍に位置している時には、帯
域が高次空間周波数側の第２フィルタ手段５３の出力に
基づく信号Ｚｉ（２）が、強調されるようにαを１又は
それに近い値とし、逆に信号Ｚｉ（１）、Ｚｉ（２）が
充分大きい時には帯域が低次空間周波数側の第１フィル
タ手段５２の出力に基づく信号Ｚｉ（１）が強調される
様にαを零又はそれに近い値とする。また、合焦近傍に
おいて信号Ｄｉ（２）が非常に小さい場合には信号Ｚｉ
（２）は精度的に低下しているので、このとき信号Ｄｉ
（１）が大きければ、信号Ｚｉ（１）の重みが増加する
ようにし、その逆に合焦位置が離れていても、信号Ｄｉ
（１）が非常に小さい場合には信号Ｄｉ（２）が大きけ
れば、信号Ｚｉ（２）の重みを増すようにする。

メモリ手段６０は、信号Ｄｉ（１）とＤｉ（２）との少
なくとも一方が対応の所定値Ｄｏ（１）、Ｄｏ（２）を
越えている時の合成出力Ｚを記憶する。このメモリ回路
６０の出力に応じて、前述の実施例と同様に表示及び結
像光学系駆動が行われる。サンプルパルス発生回路６１
は第２図のそれと同様ある。

（発明の効果）以上のように本願の第一発明によれば、被写体が有する
空間周波数成分に応じて、焦点検出演算に用いる光電出
力のサンプリングピッチを可変にして、第一処理手段あ
るいは第二処理手段のいずれかの焦点検出演算結果を用
いるようにしたので、被写体の有する空間周波数成分に
応じた最適な焦点検出演算時間で処理ができ、該演算時
間の増大を抑えることができる。また、サンプリングピ
ッチによって異なる比例定数を用いて焦点検出演算を行
っているので、高精度の焦点検出ができる。

また、第二発明によれば、焦点検出領域についてその広
さを可変としているので、奥行きのある被写体や高周波
数成分の少ない被写体に対しても高精度な焦点検出がで
きる。例えば、奥行きのある被写体に対しては狭い焦点
検出領域を用いることで焦点検出精度を向上でき、また
高周波数成分の少ない被写体に対しては広い焦点検出領
域を用いることで焦点検出精度を向上できる。

また、第三発明によれば、第一処理手段で第一情報量及
び第一デフォーカス量を求め、また第二処理手段で第二
情報量及び第二デフォーカス量を求め、第一，第二情報
量もしくは第一，第二デフォーカス量に依存させて第
一，第二デフォーカス量を合成したデフォーカス量を算
出しているので、どのような被写体が存在しても焦点検
出精度を向上できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１実施例の光学系を示す光学図、第
２図は第１実施例の回路系を示すブロック図、第３図
（ａ）は光電変換素子アレイのＭＴＦ特性のグラフ、第
３図（ｂ）〜（ｆ）はフィルタ手段のＭＴＦ特性のグラ
フ、第４図（ａ）（ｂ）（ｃ）は夫々光電出力、第１フ
ィルタ手段の出力及び第２フィルタ手段の出力を示す波
形図、第５図（ａ）〜（ｅ）はフィルタ手段の出力及び
サンプルパルスを示すタイミングチャート、第６図はフ
ィルタ手段の具体的構成例を示すブロック図、第７図
（ａ）〜（ｇ）はフィルタ手段の重みを示す図、第８図
（ａ）（ｂ）（ｃ）は第１，第２フィルター手段のＭＴ
Ｆ特性を示すグラフ、第９図（ａ）（ｂ）は判別手段の
具体的構成例を示すブロック図、第１０図は本発明の別
の実施例の回路系を示すブロック図である。（主要部分の符号の説明）４；２１；５０……光電装置、５；２７；５２……第１
フィルタ手段、６；２８；５３……第２フィルタ手段、
７；２９……選択手段、１０；３３；５７……演算手段

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光電変換素子が多数配列された一対の光電
変換素子アレイと、前記一対の光電変換素子アレイ上にそれぞれ対象物のほ
ぼ同一部分の２像を投影する焦点検出光学系と、前記一対の光電変換素子アレイの光電出力に基づいて２
像の相対的変位を算出し、その演算結果に基づいて前記
結像光学系の焦点調節状態を検出する焦点検出装置にお
いて、前記一対の光電変換素子アレイの光電出力に対して、所
定の空間周波数成分を抑制する第一のフィルター処理を
施し、該処理済のデータを第一のサンプルピッチで作成
する第一処理手段と、前記一対の光電変換素子アレイの光電出力に対して、前
記第一のフィルター処理とは異なる第二のフィルター処
理を施し、該処理済のデータを前記第一のサンプリング
ピッチと異なる第二のサンプリングピッチでデータを作
成する第二処理手段と、前記第一処理手段もしくは前記第二処理手段によるデー
タに基づいて、前記２像の相対的変位を算出するずれ量
検出手段と、前記ずれ量算出手段で算出されたずれ量に対して、元に
なるデータのサンプリングピッチによって異なる比例定
数を用いてデフォーカス量を算出し、前記焦点調節状態
を検出する焦点検出手段とを備えたことを特徴とする焦
点検出装置。
【請求項２】前記第一のフィルター処理は、主に低次の
空間周波数成分を抽出し、前記第二のフィルター処理
は、主に高次の空間周波数成分を抽出することを特徴と
する特許請求の範囲第(1)項記載の焦点検出装置。
【請求項３】前記第一のサンプリングピッチは、前記第
二のサンプリングピッチより粗いピッチに設定されてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の焦点
検出装置。
【請求項４】光電変換素子が多数配列された一対の光電
変換素子アレイと、前記一対の光電変換素子アレイ上にそれぞれ対象物のほ
ぼ同一部分の２像を投影する焦点検出光学系と、前記一対の光電変換素子アレイの光電出力に基づいて２
像の相対的変位を算出し、その演算結果に基づいて前記
結像光学系の焦点調節状態を検出する焦点検出装置にお
いて、前記一対の光電変換素子アレイの光電出力に対して、所
定の空間周波数成分を抑制する第一のフィルター処理を
施すと共に、前記相対的変位を検出する為に使用する前
記光電変換素子アレイ上の焦点検出領域の広がりを設定
し、該処理済のデータを作成する第一処理手段と、前記一対の光電変換素子アレイの光電出力に対して、前
記第一のフィルター処理とは異なる第二のフィルター処
理を施すると共に、前記第一処理手段と異なる前記焦点
検出領域の広がりを設定し、該処理済のデータを作成す
る第二処理手段と、前記第一処理手段もしくは前記第二処理手段によるデー
タに基づいて、前記焦点調節状態を検出する焦点検出手
段とを備えたことを特徴とする焦点検出装置。
【請求項５】前記第一のフィルター処理は、主に低次の
空間周波数成分を抽出し、前記第二のフィルター処理
は、主に高次の空間周波数成分を抽出することを特徴と
する特許請求の範囲第(4)項記載の焦点検出装置。
【請求項６】前記第一処理手段の前記光電変換素子アレ
イ上の焦点検出領域の広がりは、前記第二処理手段の前
記光電変換素子アレイ上の焦点検出領域の広がりより広
く設定されていることを特徴とする特許請求の範囲第
(4)項の焦点検出装置。
【請求項７】光電変換素子が多数配列された一対の光電
変換素子アレイと、前記一対の光電変換素子アレイ上にそれぞれ対象物のほ
ぼ同一部分の２像を投影する焦点検出光学系と、前記一対の光電変換素子アレイの光電出力に基づいて２
像の相対的変位を算出し、その演算結果に基づいて前記
結像光学系の焦点調節状態を検出する焦点検出装置にお
いて、前記一対の光電変換素子アレイの光電出力に対して、所
定の空間周波数成分を抑制する第一のフィルター処理を
施し、該処理済のデータを作成する第一処理手段と、前記一対の光電変換素子アレイの光電出力に対して、前
記第一のフィルター処理とは異なる第二のフィルター処
理を施し、該処理済のデータを作成する第二処理手段
と、前記第一処理手段によるデータに基づいて、前記光電出
力の信頼度を示す第一情報量と前記結像光学系の焦点外
れの大きさを示す第一デフォーカス量を算出し、同様
に、前記第二処理手段によるデータに基づいて、前記光
電出力の信頼度を示す第二情報量と前記結像光学系の焦
点外れの大きさを示す第二デフォーカス量を算出し、前
記第一，第二情報量もしくは前記第一，第二デフォーカ
ス量に依存させて、前記第一デフォーカス量と前記第二
デフォーカス量とを合成したデフォーカス量を算出する
焦点検出手段とを備えたことを特徴とする焦点検出装
置。
【請求項８】前記第一のフィルター処理は、主に低次の
空間周波数成分を抽出し、前記第二のフィルター処理
は、主に高次の空間周波数成分を抽出することを特徴と
する特許請求の範囲第(7)項記載の焦点検出装置。