JPH0646391U - テストヘッド - Google Patents

テストヘッド

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JPH0646391U
JPH0646391U JP8171992U JP8171992U JPH0646391U JP H0646391 U JPH0646391 U JP H0646391U JP 8171992 U JP8171992 U JP 8171992U JP 8171992 U JP8171992 U JP 8171992U JP H0646391 U JPH0646391 U JP H0646391U
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JP
Japan
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hole
positioning pin
pin
positioning
test head
Prior art date
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Pending
Application number
JP8171992U
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English (en)
Inventor
芳一 吉川
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 位置決め用ピンの落下を防止するとともに、
コンタクトリングに設けられる位置決め用ピンをハンド
ラおよびプローバーの両方に適用できるテストヘッドを
実現することを目的にする。 【構成】 本考案は、コンタクトリングに貫通孔を設
け、この貫通孔に位置決め用ピンを挿入し、この位置決
め用ピンは、パフォーマンスボードに設けられた位置決
め用孔にも挿入されている構成になったテストヘッドに
改良を加えたものである。本装置の位置決め用ピンは、
貫通孔を貫通した部分に、貫通孔に対して交わる方向に
設けられた貫通穴と、この貫通穴に挿入し、ボールが位
置決め用ピンの側面より突出しているボールプランジャ
ーと、を具備し、ボールは貫通孔内にあるときはボール
プランジャー内に引っ込められ、位置決め用ピンが貫通
孔を貫通しているときは、位置決め用ピンの側面より突
出して位置決め用ピンの抜き止めを行っていることを特
徴とするテストヘッドである。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、LSIテスタのテストヘッドに関し、特に、LSIをテストヘッド に搬送するハンドラ、および、半導体ウェハーを検査するプローバーの両方に接 続できるテストヘッドに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図7は従来のLSIテスタのテストヘッドのハンドラ接続用の分解構成斜視図 である。 図において、10はテストヘッド、20はパフォーマンスボードで、固定リン グ21により、コンタクトリング11のコンタクトピン111に押しつけられ、 テストヘッド10と電気的に接続する。
【0003】 パフォーマンスボード20は、被検査対象(DUT)の種類に応じて交換され るようになっている。そして、ハンドラ(図示せず)から供給されるDUT(図 示せず)と信号の授受を行う。 なお、コンタクトピン111は、図中では一部のみが表されているが、実際は 、複数のコンタクトピンがコンタクトリング11の周囲に沿って設けられている 。
【0004】 112は位置決め用のピンで、パフォーマンスボード20の位置決め用孔20 1に挿入することにより、コンタクトピン111とパフォーマンスボード20の 位置決めを行う。 固定リング21は、パフォーマンスボード20の挿入孔202に、固定リング 21のアーム211を通して、位置決めされたパフォーマンスボード20に搭載 される。
【0005】 12は回転リングで、コンタクトリング11に沿って回転し、傾斜溝121に 挿入されているアーム211を引き下げて、固定リング21を押し下げる。 このため、固定リング21は、パフォーマンスボード20をコンタクトピン1 11に強く押しつける。
【0006】 図8は、図7のA−A’断面図で、ハンドラに位置合わせされたテストヘッド にパフォーマンスボードを取り付けるときの動作説明図である。なお、図は、パ フォーマンスボードをテストヘッドに取り付けやすいように、ハンドラがテスト ヘッドから上昇されている状態を示している。 パフォーボード20は、矢印Rで示すように横方向から差し込まれ、位置決め 用孔201がコンタクトリング11の位置決め用ピン112に合うように位置だ しされる。
【0007】 パフォーマンスボード20の位置だしがされてから、パフォーマンスボード2 0上に固定リングが搭載される。 固定リングは、回転リング12の回転によって押し下げられ、テストヘッド1 0にパフォーマンスボード20を押しつけて固定する。 パフォーマンスボード20がテストヘッド10に固定された後、ハンドラ30 は、元の状態まで降下され、パフォーマンスボード20に位置合わせされる。
【0008】 ここで、位置決め用ピン112は貫通孔113に挿入されており、取り外し可 能である。位置決め用ピン112を貫通孔113より取り外すことにより、半導 体ウェハーを検査するプローバーに設けられた位置決めピンを挿入して、プロー バーの位置だしをする。そして、プローバーをコンタクトピン111に接続する 。
【0009】
【考案が解決しようとする課題】
このような構成の場合、位置決め用ピン112を取り外さずに、プローバ接続 のためにテストヘッド10を回転すると、位置決め用ピン112が下方向を向い たとき、位置決め用ピン112が落下してプローバ側部品を損傷させてしまうと いう問題点があった。
【0010】 落下対策として、プローバーの位置決めピンを挿入する孔を別に設け、位置決 め用ピン112をコンタクトリング11に固定する構成が考えられる。しかし、 位置決め用ピン112は、パフォーマンスボード20がコンタクトピン111に 接触する前に位置決めできるようにコンタクトピン111の高さより、更に高さ hだけ高くなっている。このため、固定する構成にすると、プローバーが位置決 め用ピン112によりコンタクトピン111に接続できなくなるので、位置決め 用ピン112はコンタクトリング11に固定できない。
【0011】 本考案の目的は、位置決め用ピンの落下を防止するとともに、コンタクトリン グに設けられる位置決め用ピンをハンドラおよびプローバーの両方に適用できる テストヘッドを実現することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】
本考案は、 信号の授受を行うコンタクトピンが立てられたコンタクトリングに貫通孔を設 け、この貫通孔に位置決め用ピンを挿入し、この位置決め用ピンは、前記コンタ クトピンを介して、信号の授受を行うパフォーマンスボードに設けられた位置決 め用孔にも挿入されている構成になったテストヘッドにおいて、 前記位置決め用ピンは、 前記貫通孔を貫通した部分に、貫通孔に対して交わる方向に設けられた貫通穴 と、 この貫通穴に挿入し、ボールが前記位置決め用ピンの側面より突出しているボ ールプランジャーと、 を具備し、前記ボールは貫通孔内にあるときはボールプランジャー内に引っ込め られ、位置決め用ピンが貫通孔を貫通しているときは、位置決め用ピンの側面よ り突出して位置決め用ピンの抜き止めを行っていることを特徴とするものである 。
【0013】 また、 信号の授受を行うコンタクトピンが立てられたコンタクトリングに位置決め用 ピンが設けられ、この位置決め用ピンはコンタクトピンと信号の授受を行うパフ ォーマンスボードに設けられた位置決め用孔に挿入された構成になったテストヘ ッドにおいて、 前記コンタクトリングと前記位置決め用ピンとの間に介在する弾性部材と、 前記コンタクトリングに固定し、前記位置決め用ピンをコンタクトリング内に 回避可能に保持する保持部材と、 を具備することを特徴とするものである。
【0014】
【作用】
このような本考案では、位置決め用孔に挿入する位置決め用ピンにボールプラ ンジャーを設けたので、テストヘッドを回転しても落下しない。あるいは、コン タクトリングに固定する位置決め用ピンを弾性部材により、回避動作を行うよう にしたので、パフォーマンスボード装着時には、位置決め用ピンとして作用し、 それ以外の障害となるときは弾性部材により、コンタクトリング内に格納される 。
【0015】
【実施例】
以下図面を用いて本考案を説明する。 図1は本考案の一実施例を示した要部構成図で、コンタクトリングの貫通孔に 挿入する位置決め用ピン40を示している。この位置決め用ピン40は、コンタ クトリングに設けられた貫通孔に挿入されるとともに、パフォーマンスボードに 設けられた位置決め用孔にも挿入される。
【0016】 図において、41はガイドピンで、位置決め用ピン40の挿入孔401に取り 付けられていて、挿入孔401内に設けられたばね42によって上方に押し上げ られている。 402は挿入孔401内にバネ42を保持する蓋部である。 ガイドピン41は、挿入孔401から飛び出さないように下部にはストッパ4 11が設けられていて、挿入孔401の上部に設けられている段付部403に接 続されている。 このガイドピン41は、固定リングがパフォーマンスボードに搭載されると、 固定リングからの力を受けて、位置決め用ピン40の挿入孔401内に格納され る。
【0017】 蓋部402において、42は、コンタクトリングの貫通孔を貫通した部分に、 貫通孔に対して交わる方向に設けられた貫通穴で、雌ねじになっている。43は 外部が雄ねじであるボールプランジャーで、貫通穴42に挿入し、ボール431 が位置決め用ピン40の側面より突出している。ボールプランジャー43は、内 部に弾性部材であるばねと、このばねと接続し、内部より外部ヘ飛び出している ボール431とで構成されている。
【0018】 44はナットで、ボールプランジャー43をネジ締めすることにより、ボール プランジャー43を蓋部402に固定する。 404は位置決め用ピン40に設けられたつば部で、位置決め用ピン40をコ ンタクトリングの貫通孔に挿入したときに、位置決め用ピン40の位置止め行う 。
【0019】 このような装置の動作を以下で説明する。 図2,図3は、図1の装置の動作説明図である。以下図7と同一のものは同一 符号を付す。 図において、(A)は、コンタクトリングに位置決め用ピンを取り付ける状態 、(B)は、パフォーマンスボードをコンタクトリングに取り付ける状態、(C )は、固定リングをコンタクトリングに取り付ける状態、(D)は、すべて取り 付けた状態を示す。
【0020】 (A)図において、位置決め用ピン40をコンタクトリング11の貫通孔11 3に入れる。このとき、ボールプランジャー43は、貫通孔113を通るとき、 ボール431がバネを押して、ボールプランジャー43の内部に格納される。そ して、ボールプランジャー43が貫通孔113を通り過ぎると、ボール431が ばね力により押し出される。その結果、ボールプランジャー43のボール431 に対して、ある程度の力が加わらないと、ボール431は、ばねを押して、内部 に格納されず、位置決め用ピン40を抜き取ることができない。また、テストヘ ッド10の表裏を回転させても、位置決め用ピン40が抜け落ちることがない。
【0021】 (B)図において、コンタクトリング11に位置決め用ピン40が取り付けら れた状態で、パフォーマンスボード20の挿入孔201をガイドピン41に合わ せ、矢印の方向に挿入する。そして、位置決め用ピン40の本体に挿入孔201 を挿入する。
【0022】 (C)図において、パフォーマンスボード20がコンタクトリング11に搭載 された状態で、パフォーマンスボード20をコンタクトピン111に押しつける ために、固定リング21をテストヘッド10に搭載する。固定リング21には、 ガイドピン41を位置決め用ピン40の内部に格納させる位置決め用溝212が ある。位置決め用溝212をガイドピン41に合わせて、固定リング21を矢印 の方向に下げることにより、ガイドピン41は押され位置決め用ピン40の内部 に格納される。そして、固定リング21により、パフォーマンスボード20を固 定する。この結果、(D)図となる。
【0023】 その他の実施例を以下に示す。 図4は本考案の他の実施例を示した構成図である。図は図7のB−B’断面図 である。 図において、50は位置決め用ピンで、図7の装置の位置決め用孔201とは 別にパフォーマンスボード上に位置決め用孔を設け、この位置決め用孔に挿入し 、パフォーマンスボードの位置を決める。位置決め用ピン50は、ストッパ50 1と保持部502とで構成される。51は弾性部材であるばねで、コンタクトリ ング11と位置決め用ピン50との間に介在する。バネ51は、ストッパ501 と接続し、保持部502により保持される。52は、コンタクトリング11にネ ジにより固定し、位置決め用ピン50をコンタクトリング11内に回避可能に保 持する保持部材であるブラケットである。
【0024】 このような構成の装置の動作を以下に示す。 図5は、図4の装置のパフォーマンスボードの取付け動作説明図である。 図において、202は、図7における位置決め用孔201とは別の位置決め用 孔である。 パフォーマンスボード20を位置決め用孔202を位置決め用ピン50に合わ せて矢印の方向に下げる。そして、位置決め用ピン50に位置決め用孔202を 挿入して、パフォーマンスボード20の位置決めを行う。
【0025】 図6は、図4の装置のプローバーの取付け動作説明図である。 図において、60は半導体ウェハーを検査するプローバー、61はプローバー 60に設けられたソケットリングで、パフォーマンスボード20を固定する。6 2は位置決めピンで、パフォーマンスボード20の位置決め用孔201を通り、 コンタクトリング11の貫通孔113に挿入し、パフォーマンスボード20とコ ンタクトリング11との位置を決める。611はソケットリングに設けられた突 起部で、パフォーマンスボード20の位置決め用孔202に挿入し、パフォーマ ンスボード20とソケットリング61との位置を決定する。
【0026】 プローバー60に固定したパフォーマンスボード20をコンタクトリング11 の貫通孔113に位置決めピン62を合わせて挿入する。そのとき、位置決め用 ピン50は、突起部611が位置決め用孔202に挿入されているので、プロー バー60をコンタクトリング11に接続するときは、ばね51が縮んで、コンタ クトリング11内に位置決め用ピン50が格納される。
【0027】 以上のように、位置決め用ピン50は、コンタクトリング11に固定してある ので、テストヘッド10を回転させてコンタクトリング11を床方向に向けても 、落下しない。そして、プローバー60を接続する場合において、ばね51によ り、位置決め用ピン50がコンタクトリング11内に格納されるので、位置決め 用ピン50が邪魔にならない。
【0028】
【考案の効果】
本考案によれば、以下のような効果がある。 位置決め用ピンにボールプランジャーを設けたことにより、ボールプランジャ ーのボールが、貫通孔の引っ掛かりになり、テストヘッドを回転しても、落下し ない。また、ボールプランジャーのボールは、貫通孔通過時には、ボールプラン ジャー内に格納されるので、位置決め用ピンは取り外しが可能である。 位置決め用ピンは、コンタクトリングに固定してあるので、テストヘッドの表 裏を回転させてコンタクトリングを床方向に向けても、落下しない。そして、プ ローバーを接続する場合において、ばねにより、位置決め用ピンがコンタクトリ ング内に格納されるので、位置決め用ピンが邪魔にならない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例を示した要部構成図である。
【図2】図1の装置の動作説明図である。
【図3】図1の装置の動作説明図である。
【図4】本考案の他の実施例を示した構成図である。
【図5】図4の装置のパフォーマンスボードの取付け動
作説明図である。
【図6】図4の装置のプローバーの取付け動作説明図で
ある。
【図7】従来のLSIテスタのテストヘッドのハンドラ
接続用の分解構成斜視図である。
【図8】図7のA−A’断面図で、ハンドラに位置合わ
せされたテストヘッドにパフォーマンスボードを取り付
けるときの動作説明図である。
【符号の説明】
10 テストヘッド 11 コンタクトリング 20 パフォーマンスボード 40,50 位置決め用ピン 42 貫通穴 43 ボールプランジャー 51 ばね 52 ブラケット 111 コンタクトピン 113 貫通孔 201,202 位置決め用孔 431 ボール

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 信号の授受を行うコンタクトピンが立て
    られたコンタクトリングに貫通孔を設け、この貫通孔に
    位置決めピン用を挿入し、この位置決め用ピンは、前記
    コンタクトピンを介して、信号の授受を行うパフォーマ
    ンスボードに設けられた位置決め用孔にも挿入されてい
    る構成になったテストヘッドにおいて、 前記位置決め用ピンは、 前記貫通孔を貫通した部分に、貫通孔に対して交わる方
    向に設けられた貫通穴と、 この貫通穴に挿入し、ボールが前記位置決め用ピンの側
    面より突出しているボールプランジャーと、 を具備し、前記ボールは貫通孔内にあるときはボールプ
    ランジャー内に引っ込められ、位置決め用ピンが貫通孔
    を貫通しているときは、位置決め用ピンの側面より突出
    して位置決め用ピンの抜き止めを行っていることを特徴
    とするテストヘッド。
  2. 【請求項2】 信号の授受を行うコンタクトピンが立て
    られたコンタクトリングに位置決め用ピンが設けられ、
    この位置決め用ピンはコンタクトピンと信号の授受を行
    うパフォーマンスボードに設けられた位置決め用孔に挿
    入された構成になったテストヘッドにおいて、 前記コンタクトリングと前記位置決め用ピンとの間に介
    在する弾性部材と、 前記コンタクトリングに固定し、前記位置決め用ピンを
    コンタクトリング内に回避可能に保持する保持部材と、 を具備することを特徴とするテストヘッド。
JP8171992U 1992-11-26 1992-11-26 テストヘッド Pending JPH0646391U (ja)

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