JPH0646543B2 - How to measure the convergence of a picture tube - Google Patents

How to measure the convergence of a picture tube

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JPH0646543B2
JPH0646543B2 JP60118269A JP11826985A JPH0646543B2 JP H0646543 B2 JPH0646543 B2 JP H0646543B2 JP 60118269 A JP60118269 A JP 60118269A JP 11826985 A JP11826985 A JP 11826985A JP H0646543 B2 JPH0646543 B2 JP H0646543B2
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center
convergence
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picture tube
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  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は各種画像表示装置に適用して好適な受像管の
コンバージェンス測定装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial application] The present invention relates to a picture tube convergence measuring apparatus suitable for application to various image display apparatuses.

〔発明の概要〕[Outline of Invention]

この発明は各種画像表示装置に適用して好適な受像管の
コンバージェンス測定装置に関し、特に電子ビーム到達
位置決定電極を通過したR,G,Bの各ビームスポット
を水平走査方向に所定のピッチをもって順次移動させた
ときに得られるビームスポットの全形状における輝度デ
ータから、R,G,Bの各測定パターンの中心点を算出
し、これら中心点のデータに基づいてコンバージェンス
状態を測定することにより、R,G,Bの各中心点を正
確に測定できるようにしたものであり、これによってコ
ンバージェンスの良否を容易かつ確実に判別できるよう
にしたものである。
The present invention relates to a convergence measuring device for a picture tube which is suitable for application to various image display devices, and in particular, R, G, B beam spots passing through an electron beam arrival position determining electrode are sequentially arranged at a predetermined pitch in the horizontal scanning direction. By calculating the center point of each measurement pattern of R, G, and B from the brightness data in all the shapes of the beam spot obtained when the beam spot is moved, and measuring the convergence state based on the data of these center points, R , G, B center points can be accurately measured, whereby the quality of convergence can be easily and surely determined.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

カラー受像管におけるR,G,Bの各螢光体に対応する
電子ビームの集中度を測定するためのコンバージェンス
測定は目視による場合と、測定装置を使用する場合とが
あり、測定精度に関する限り測定装置を使用した方が良
い。測定装置を使用する場合の一例は、特開昭59−7
4781号公報などによって既に知られている。
Convergence measurement for measuring the concentration of electron beams corresponding to each of the R, G, and B phosphors in the color picture tube may be conducted visually or with a measuring device. It is better to use the device. An example of using a measuring device is disclosed in JP-A-59-7.
It is already known from Japanese Patent No. 4781.

この測定装置は測定すべき任意の螢光体に、シャドーマ
スクあるいはアパーチャーグリルなどの電子ビーム到達
位置決定電極を介して電子ビームを当てることにより、
そのビーム形状に対応した表示面積を算出することによ
りその中心(ビーム重心)を求めるものである。この場
合電子ビームのパターンの表示位置によって第12図A
〜Dに示すようにドットパターン(図ではGのドットパ
ターン)と螢光体Gとの位置関係が変化してしまう。
This measuring device applies an electron beam to an arbitrary fluorescent body to be measured through an electron beam arrival position determining electrode such as a shadow mask or an aperture grill,
The center (beam center of gravity) is obtained by calculating the display area corresponding to the beam shape. In this case, depending on the display position of the electron beam pattern, FIG.
As shown in D to D, the positional relationship between the dot pattern (dot pattern G in the figure) and the fluorescent body G changes.

このように測定ドットパターンと螢光体との位置関係が
変化すると、同一面積の測定パターンを表示しているに
もかかわらず、測定パターン中における螢光体の重心
(測定結果の重心)が、真の重心位置Oに対して変化す
ることになる。このずれは測定誤差になるので、上述し
た先行技術ではこの測定誤差を回避するために、次のよ
うな手段を採っている。
When the positional relationship between the measurement dot pattern and the phosphor changes in this way, the center of gravity of the phosphor in the measurement pattern (the center of gravity of the measurement result) is displayed, even though the measurement pattern of the same area is displayed. It changes with respect to the true center of gravity position O. Since this deviation causes a measurement error, the above-mentioned prior art employs the following means in order to avoid this measurement error.

すなわち、重心の測定値が測定パターンと螢光体との位
置関係に対して三角関数的に変化することに着目して、
任意の位置関係、例えば第13図のTにおいて測定パタ
ーンを撮像した場合にはこの位置関係と対称な位置(螢
光体の配列ピッチの1/2)Tに、測定パターンを発
生させて、そのパターンを撮像し、夫々の平均値を求め
ることにより、測定値の誤差を相殺して、測定精度を向
上させたものである。
That is, focusing on the fact that the measured value of the center of gravity changes in a trigonometric function with respect to the positional relationship between the measurement pattern and the fluorescent body,
When the measurement pattern is imaged at an arbitrary positional relationship, for example, T 1 in FIG. 13, the measurement pattern is generated at a position (1/2 of the array pitch of the fluorescent bodies) T 2 that is symmetrical to this positional relationship. The pattern is imaged, and the average value of each pattern is obtained to offset the error in the measurement value and improve the measurement accuracy.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

ところで、このような従来のコンバージェンス測定装置
でも、ビーム集中度を正確に求めることができない。
By the way, even such a conventional convergence measuring device cannot accurately obtain the beam concentration.

すなわち、上述の測定装置は、CRT上のドット信号を
1/2ピッチ移動することにより、ビームスポット位置
と螢光体の位置の相互の関係から生じる誤差をキャンセ
ルするものであるが、この手段では電子ビーム到達位置
決定電極で欠けているビームスポット形状の撮像情報を
そのまま基にして重心位置を算出するものであるから、
ビームスポット重心の算出誤差は必ず存在し、その累積
がコンバージェンス測定の誤差となって表れるからであ
る。
That is, the above-described measuring device cancels an error caused by the mutual relationship between the beam spot position and the position of the fluorescent body by moving the dot signal on the CRT by 1/2 pitch. Since the position of the center of gravity is calculated based on the image information of the beam spot shape that is missing in the electron beam arrival position determination electrode as it is,
This is because there is always an error in the calculation of the center of gravity of the beam spot, and the accumulated error appears as an error in convergence measurement.

そこで、この発明ではこのような従来の問題点を解決し
たものであって、電子ビーム到達位置決定電極によりビ
ームスポット形状が変形している場合であっても、ビー
ム中心を正確に算出できるようにして、コンバージェン
ス測定の精度を向上させたものである。
Therefore, the present invention solves such a conventional problem, and enables to accurately calculate the beam center even when the beam spot shape is deformed by the electron beam arrival position determining electrode. It improves the accuracy of convergence measurement.

〔問題点を解決するための手段〕 上述の問題点を解決するため、この発明では第1図〜第
4図に示すように、受像管面の水平方向に所定のピッチ
をもって順次配されたR,G,Bの各螢光体ストライプ
に対応させて夫々その垂直方向に、少なくとも3本のデ
ータサンプリングラインが設定され、R,G,Bの各測
定パターンを同時に水平方向に所定のピッチをもって移
動させ、水平方向の移動ピッチごとに上記各データサン
プリングラインでのR,G,Bに関する各測定パターン
領域内の垂直方向における夫々の輝度データを順次メモ
リする。輝度データの測定はサンプリングラインをビー
ムが完全に通過し終わるまで実行する。
[Means for Solving the Problems] In order to solve the above problems, in the present invention, as shown in FIGS. 1 to 4, Rs are sequentially arranged at a predetermined pitch in the horizontal direction of the picture tube surface. , G, B corresponding to the respective fluorescent stripes, at least three data sampling lines are set in the vertical direction of each stripe, and the R, G, B measurement patterns are simultaneously moved in the horizontal direction at a predetermined pitch. Then, the respective luminance data in the vertical direction in each measurement pattern region regarding R, G, B in each of the data sampling lines are sequentially stored for each horizontal movement pitch. Luminance data measurement is performed until the beam has completely passed through the sampling line.

これら輝度データに基づきR,G,Bの各測定パターン
の中心点を算出し、これら中心点のデータに基づいてコ
ンバージェンスの状態を測定するようにしたものであ
る。
The center point of each measurement pattern of R, G, and B is calculated based on these brightness data, and the state of convergence is measured based on the data of these center points.

〔作用〕[Action]

この構成によれば、サンプリングラインを横切る全ての
輝度データからそのビームの中心すなわち、ビームの重
心が算出されるため、R,G,Bの各ビームについての
重心を正確に算出することができる。各ビームの重心を
正確に算出できれば、これら重心よりビームの集中度も
正確に算出することができるので、コンバージェンス測
定の精度を向上させることができる。
According to this configuration, the center of the beam, that is, the center of gravity of the beam is calculated from all the luminance data that cross the sampling line, so that the center of gravity of each of the R, G, and B beams can be accurately calculated. If the center of gravity of each beam can be calculated accurately, the degree of concentration of the beam can also be calculated accurately from these centers of gravity, so that the accuracy of convergence measurement can be improved.

〔実施例〕〔Example〕

第1図はこの発明に係る受像管のコンバージェンス測定
方法10の一例を示す系統図であるが、説明の便宜上、
この発明の測定原理をまず第7図以下を参照して説明す
る。
FIG. 1 is a system diagram showing an example of a picture tube convergence measuring method 10 according to the present invention.
The measurement principle of the present invention will be described first with reference to FIG.

第7図Aにおいて、R,G,Bは所定のピッチをもって
水平方向に配されたストライプ状の螢光体を示し、これ
らのうちの任意の螢光体、この例ではGの螢光体に対応
した位置にデータサンプリングライン2Gを仮想的に設
定する。このデータサンプリングライン2Gは垂直方向
に所定の間隔をもって、複数のサンプリング点が設定さ
れ、データサンプリングライン2G上で発光する輝度デ
ータのみが各サンプリング点ごとにメモリに記憶され
る。
In FIG. 7A, R, G, and B represent stripe-shaped phosphors arranged in a horizontal direction with a predetermined pitch, and any of these phosphors, G phosphors in this example, are shown. The data sampling line 2G is virtually set at the corresponding position. A plurality of sampling points are set in the data sampling line 2G at predetermined intervals in the vertical direction, and only the luminance data emitted on the data sampling line 2G is stored in the memory for each sampling point.

データ転送ラインと画像メモリ(後述する)との関係を
第7図Bに示す。
The relationship between the data transfer line and the image memory (described later) is shown in FIG. 7B.

電子ビーム到達位置決定用電極を通過した電子ビームス
ポット1は螢光体に到達することによって、Gの螢光体
のみ注目すれば斜線図示のように発光し、電子ビームス
ポット1を矢印a方向(水平方向)に所定のピッチをも
って順次移動させれば、データサンプリングライン2G
上での発光領域が、そのビーム中心Oに近づくにした
がって増大し、中心を過ぎれば次第にその領域が減少す
る。
When the electron beam spot 1 that has passed through the electron beam arrival position determining electrode reaches the fluorescent body, if only the G fluorescent body is focused, it emits light as shown by the hatched lines, and the electron beam spot 1 is emitted in the direction of arrow a ( Data sampling line 2G can be
Emitting region in above, the increased toward the beam center O G, gradually its area decreases if Sugire center.

このことから、データサンプリングライン2G上での輝
度分布を測定すると、第8図に示すような単峰状のデー
タ曲線となる。この図において、Kをビームスポット1
の移動ピッチとし、K=0をビームの発光領域がデータ
サンプリングライン2G上にかからないときのピッチと
し、Kが大きくなるにしたがって、ビームスポット1が
左側に移動するものとすれば、輝度分布はビームの中心
で最大となり、その周辺で最小となる。
From this fact, when the luminance distribution on the data sampling line 2G is measured, a unimodal data curve as shown in FIG. 8 is obtained. In this figure, K is beam spot 1
If the light emitting area of the beam does not lie on the data sampling line 2G and K becomes larger, and the beam spot 1 moves to the left as K increases, the luminance distribution becomes The maximum is at the center of the and the minimum is around it.

ビームスポット1の移動ピッチをX軸とし、データサン
プリングライン2G上のデータサンプリング点をY軸と
し、夫々の点での輝度データをZ軸として、ビームスポ
ット1の移動に伴う輝度データの分布を測定すると、第
9図に示すような3次元のデータ曲線になることが判
る。従って、この輝度分布からその最大のデータを示す
点がビームスポット1の中心Oとみなすことができ、
この中心Oが求められれば、同様の手段でR及びBの
各ビームの中心を夫々算出することができる。
The movement pitch of the beam spot 1 is taken as the X axis, the data sampling points on the data sampling line 2G are taken as the Y axis, and the luminance data at each point is taken as the Z axis, and the distribution of the luminance data accompanying the movement of the beam spot 1 is measured. Then, it is understood that a three-dimensional data curve as shown in FIG. 9 is obtained. Therefore, it is possible to point indicating the maximum data from the luminance distribution regarded as the center O G of the beam spot 1,
As long the center O G is determined, it is possible to respectively calculate the center of each beam of the R and B in the same unit.

この発明では、R〜Bの各電子ビームスポット1R〜1
Bの移動ピッチごとに夫々の輝度データを同時に計測
し、夫々のデータから各ビームの中心を算出する。
In the present invention, the R-B electron beam spots 1R-1
The respective brightness data are simultaneously measured for each moving pitch of B, and the center of each beam is calculated from the respective data.

そのため、第3図に示すように、互いに隣接するR,
G,Bの各螢光体の夫々に対応して、少なくとも3本の
データサンプリングライン2R〜2Bが設定され、その
状態で3本の電子ビームを同時に励起する。そうする
と、第4図に示すように3本のビームに対応したビーム
スポット1R〜1Bが得られる。
Therefore, as shown in FIG.
At least three data sampling lines 2R to 2B are set corresponding to the respective G and B phosphors, and in this state, three electron beams are excited simultaneously. Then, as shown in FIG. 4, beam spots 1R to 1B corresponding to the three beams are obtained.

ビームスポット1Rについては、Rの螢光体上に設けら
れた仮想のデータサンプリングライン2R上で発光する
輝度データのみが画像メモリにストアされ、ビームスポ
ット1Gについては、Gの螢光体上に設けられた仮想の
データサンプリングライン2G上で発光する輝度データ
のみが画像メモリにストアされ、ビームスポット1Bに
ついては、Bの螢光体上に設けられた仮想のデータサン
プリングライン2B上で発光する輝度データのみが画像
メモリにストアされる。
For the beam spot 1R, only the brightness data emitted on the virtual data sampling line 2R provided on the R fluorescent body is stored in the image memory, and for the beam spot 1G, provided on the G fluorescent body. Only the brightness data emitted on the virtual data sampling line 2G is stored in the image memory, and for the beam spot 1B, the brightness data emitted on the virtual data sampling line 2B provided on the B phosphor. Only stored in image memory.

従って、3本のビームスポット1R〜1Bを同時に矢印
a方向に所定のピッチで移動させながら、夫々の移動点
での輝度データを測定すれば、各ビームスポット1R〜
1Bの3次元の輝度分布は第5図に示すものとなり、こ
れより各輝度分布の中心が算出される。
Therefore, by measuring the brightness data at each moving point while moving the three beam spots 1R to 1B at the same time in the direction of arrow a at a predetermined pitch,
The three-dimensional luminance distribution of 1B is as shown in FIG. 5, and the center of each luminance distribution is calculated from this.

コンバージェンスがとれていないときには、例えば、第
4図のようにビームスポット1R〜1Bが夫々異なる螢
光体の位置に到達するから、夫々の中心(X,Y)が相
違する。従って、3本のデータサンプリングライン2R
〜2Bで測定された輝度データから、X,Y軸上のビー
ムスポット1R〜1Bを作図すると、第6図に示すよう
になる。
When the convergence is not achieved, for example, the beam spots 1R to 1B reach different positions of the fluorescent bodies as shown in FIG. 4, so that the respective centers (X, Y) are different. Therefore, 3 data sampling lines 2R
When the beam spots 1R to 1B on the X and Y axes are plotted from the luminance data measured at .about.2B, the results are shown in FIG.

そして、例えば電子ビーム1Gの中心O(X
)を基準とすれば、これに対するビームスポット1
R,1Bの中心O,Oは夫々(X,Y)、(X
,Y)となって、中心Oに対するビームスポット
1R,1BのずれrRG,rBGはこれら中心を表すデータ
から容易に算出することができる。このような基準とな
る中心Oからのずれの大きさから、コンパージェンス
の良否を的確に判断できる。
Then, for example, the center O G (X G ,
Y G ), the beam spot 1
R, 1B of the center O R, O B are each (X R, Y R), (X
B , Y B ), the deviations r RG , r BG of the beam spots 1R, 1B with respect to the center O G can be easily calculated from the data representing these centers. The magnitude of the deviation from the center O G to be such a reference, it accurately determine the quality of Compur Jens.

この場合、ビームスポット1R〜1Bは各データサンプ
リングライン2R〜2B上を最初から最後まで完全に走
査されるので、各ビームスポット1R〜1Bの中心O
〜Oはビームスポットの全形状をサンプリングして輝
度データが算出されるので、非常に正確であり、従っ
て、これら中心O〜Oよりコンバージェンスを正確
に求めることができる。
In this case, the beam spot 1R~1B is fully scanned over the data sampling line 2R~2B from beginning to end, the center O R of each beam spot 1R~1B
Since ~ O B luminance data by sampling the entire shape of the beam spot is calculated, it is very accurate, therefore, it is possible to obtain the convergence from these center O R ~ O B accurately.

第1図は第3図に示す輝度分布測定を実現するための一
例を示す系統図である。
FIG. 1 is a system diagram showing an example for realizing the luminance distribution measurement shown in FIG.

第1図において、11はコンバージェンス測定に供する
被測定装置で、これには3本のビームスポット1R〜1
Bを同時に励起するために所定の測定パターン信号SC
が供給され、これによって、その受像管面上に第3図に
示すようなドットパターンが表示される。
In FIG. 1, reference numeral 11 denotes a device to be measured for convergence measurement, which has three beam spots 1R to 1R.
Predetermined measurement pattern signal SC for exciting B simultaneously
Is supplied, whereby a dot pattern as shown in FIG. 3 is displayed on the picture tube surface.

複数のドットは白黒用のテレビカメラ12でそのドット
が撮像され、撮像出力はA/D変換器13でデジタルデ
ータに変換される。デジタルデータは画像メモリ14に
供給されて、各電子ビームごとに対応するエリアにスト
アされる。ストアすべき輝度データは、データサンプリ
ングライン2R〜2B上の輝度データだけでもよく、ビ
ームスポット全体のR,G,Bの各輝度データでもよい
が、この例では前者の場合を示す。
The plurality of dots are imaged by the monochrome television camera 12, and the imaged output is converted into digital data by the A / D converter 13. The digital data is supplied to the image memory 14 and stored in the area corresponding to each electron beam. The luminance data to be stored may be only the luminance data on the data sampling lines 2R to 2B, or the R, G, and B luminance data of the entire beam spot, but this example shows the former case.

画像メモリ14にストアされた各電子ビームの輝度デー
タ、すなわち、夫々のデータサンプリングライン2R〜
2BにおけるR〜Bに夫々対応した輝度データのみがビ
ームスポット1R〜1Bの移動ピッチごとに、コンピュ
ータで構成されたデータ処理装置15に供給されて、上
述した各電子ビーム1R〜1Bの中心O〜Oが算出
されると共に、このデータ処理装置15から、画像メモ
リ14へのデータストア終了の都度、ドット移動指令信
号が送出される。
The brightness data of each electron beam stored in the image memory 14, that is, each data sampling line 2R-
Only the luminance data respectively corresponding to R~B within each movement pitch of the beam spot 1R~1B in 2B, is supplied to the data processing apparatus 15 which is constituted by a computer, the center O G of the electron beam 1R~1B described above with ~ O B is calculated, from this data processor 15, each time the data store completion of the image memory 14, the dot move command signal is sent.

この例では、測定パターン信号そのものを所定のピッチ
だけ順次矢印a方向に移動させるようにした例であるの
で、ドット移動指令信号は同期発生回路16に供給さ
れ、このドット移動指令信号に同期してパターン発生器
17が動作して測定パターン信号SCが出力される。
In this example, the measurement pattern signal itself is sequentially moved in the direction of the arrow a by a predetermined pitch. Therefore, the dot movement command signal is supplied to the synchronization generation circuit 16 and is synchronized with the dot movement command signal. The pattern generator 17 operates to output the measurement pattern signal SC.

第2図は測定パターン信号の一例を示すもので、測定パ
ターン信号SCはドット移動ピッチだけ順次ずらされて
出力される(同図A、B)。データ処理装置15では、
第6図に示すように電子ビーム1R〜1Bにおける夫々
の輝度データからその中心点O〜Oが算出されると
共に、これら中心点O〜Oを決めるX,Yデータか
ら、基準となる中心点Oに対する中心点O,O
ずれrRG,rBGが算出される。すなわち、これらのずれ
RG,rBGは次のようにして算出される。
FIG. 2 shows an example of the measurement pattern signal, and the measurement pattern signal SC is sequentially shifted by the dot movement pitch and output (A and B in the same figure). In the data processing device 15,
Along with its center point from the luminance data of respective O R ~ O B it is calculated in the electron beam 1R~1B as shown in FIG. 6, X, from the Y data to determine these center points O R ~ O B, criteria and center point O R with respect to the center point O G consisting, displacement r RG of O B, r BG is calculated. That is, these deviations r RG and r BG are calculated as follows.

ドットの移動はドット信号SCの水平方向の位置をずら
すことによって求めるのではなく、被測定用の受像機1
1に対する水平偏向信号をずらすようにしてもよい。
The movement of the dot is not obtained by shifting the position of the dot signal SC in the horizontal direction, but the receiver 1 for measurement is used.
The horizontal deflection signal for 1 may be shifted.

第10図はその一例を示すもので、データ処理装置15
から送出されるドット移動信号でD/A変換器21が制
御されて、のこぎり波状の水平偏向信号が形成され、こ
れがパターン発生器17に供給されると共に、水平偏向
回路22に供給される。そして、このドット移動指令信
号が供給される都度、水平偏向回路22より送出される
水平偏向信号に重畳されるDCレベルが制御される。
FIG. 10 shows an example of the data processing device 15.
The D / A converter 21 is controlled by the dot movement signal sent from the device to form a sawtooth-shaped horizontal deflection signal, which is supplied to the pattern generator 17 and the horizontal deflection circuit 22. Each time the dot movement command signal is supplied, the DC level superimposed on the horizontal deflection signal sent from the horizontal deflection circuit 22 is controlled.

これによりパターン発生器17より出力される測定パタ
ーン信号の位相が同一であっても、水平偏向信号のDC
レベルが順次シフトされる結果、受像管面上のドットは
順次左側にシフトされるため、第1図の場合と同様にビ
ームスポット1R〜1Bを所定のピッチをもって移動さ
せることができる。
As a result, even if the phase of the measurement pattern signal output from the pattern generator 17 is the same, the DC of the horizontal deflection signal is
As a result of the level being sequentially shifted, the dots on the surface of the picture tube are sequentially shifted to the left, so that the beam spots 1R to 1B can be moved at a predetermined pitch as in the case of FIG.

この構成は水平偏向信号に所定のDC電圧を順次変更す
るだけであるから、測定装置が簡単となり、従って受像
管の検査ラインなどに適用して好適である。
Since this configuration only changes a predetermined DC voltage to the horizontal deflection signal sequentially, the measuring device is simple and therefore suitable for application to a picture tube inspection line or the like.

また、上述の例では3本のデータサンプリングライン2
R〜2Bを設定して輝度データを測定したが、第11図
に示すように各螢光体に対して、複数のデータサンプリ
ングラインを設定することもでき、このようにする場合
には輝度データの測定時間をそれだけ短縮できる。
In the above example, three data sampling lines 2
Although the brightness data was measured by setting R to 2B, it is also possible to set a plurality of data sampling lines for each phosphor as shown in FIG. The measurement time can be reduced by that much.

輝度データの測定はY方向のみならず、X方向も行って
もよい。この場合に、例えば水平方向にビームを移動さ
せたのち、垂直方向に移動させて、上述したと同様の操
作で、夫々の輝度データを測定すればよい。
The luminance data may be measured not only in the Y direction but also in the X direction. In this case, for example, the beam may be moved in the horizontal direction and then in the vertical direction, and the respective brightness data may be measured by the same operation as described above.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したようにこの発明によれば、受像管面の水平
方向に所定のピッチをもって順次配されR,G,Bの各
螢光体ストライプに対応させて夫々その垂直方向に、少
なくとも3本のデータサンプリングラインを設定し、
R,G,Bの各測定パターンを同時に水平方向に所定の
ピッチをもって移動させ、水平方向の移動ピッチごとに
上記各データサンプリングラインでのR,G,Bに関す
る各測定パターン領域の垂直方向における夫々の輝度デ
ータを順次メモして、これら輝度データに基づきR,
G,Bの各測定パターンの中心点を算出し、これら中心
点のデータに基づいてコンバージェンス状態を測定する
ようにしたものである。
As described above, according to the present invention, at least three of the R, G, and B phosphor stripes are sequentially arranged in the horizontal direction of the picture tube surface at a predetermined pitch in the vertical direction, respectively. Set the data sampling line,
The R, G and B measurement patterns are simultaneously moved in the horizontal direction at a predetermined pitch, and the R, G and B measurement pattern regions in the respective data sampling lines in the vertical direction are moved at the respective horizontal movement pitches. Of the brightness data of R,
The center point of each of the G and B measurement patterns is calculated, and the convergence state is measured based on the data of these center points.

この場合、メモリされる輝度データはデータサンプリン
グラインを横切る電子ビームスポットの全ての領域に対
して求められるものであるから、ビーム中心の算出が正
確となり、それに伴って基準となるビーム中心に対する
他のビーム中心のずれを正確に算出することができ、コ
ンバージェンス状態の良否を的確に判断することができ
る特徴を有する。
In this case, the brightness data to be stored is obtained for the entire area of the electron beam spot that crosses the data sampling line, and therefore the calculation of the beam center becomes accurate, and accordingly, the other beam center for the reference beam center is calculated. The deviation of the beam center can be accurately calculated, and the quality of the convergence state can be accurately judged.

また、少なくとも3本のデータサンプリングラインから
の輝度データを同時に測定しているので、コンバージェ
ンス測定時間を大幅に短縮することができると共に、ビ
ームパターンは測定パターン信号の位相などを所定のピ
ッチだけ順次ずらすようにしているから、画面のコーナ
ー部分のコンバージェンス状態も正確に測定することが
でき、画面全体のコンバージェンスを簡単、かつ正確に
測定できるなどの特徴を有する。
Further, since the brightness data from at least three data sampling lines are measured at the same time, the convergence measurement time can be significantly shortened and the beam pattern sequentially shifts the phase of the measurement pattern signal by a predetermined pitch. Therefore, the convergence state of the corner portion of the screen can be accurately measured, and the convergence of the entire screen can be easily and accurately measured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの発明に係るコンバージェンス測定装置の一
例を示す系統図、第2図はドット信号の一例を示す図、
第3図は螢光体とデータサンプリングラインとの関係を
示す図、第4図はデータサンプリングラインと電子ビー
ムとの関係を示す図、第5図は電子ビームの輝度データ
の分布状態を示す図、第6図は電子ビームの中心のずれ
を示す図、第7図はこの発明の説明に供する第4図と同
様な図、第8図はその輝度分布図、第9図は3次元の輝
度分布状態を示す図、第10図はこの発明の他の例を示
す系統図、第11図は第3図のさらに他の例を示す螢光
体とデータサンプリングラインとの関係を示す図、第1
2図及び第13図は夫々受像管のコンバージェンス測定
の従来例を説明するための図である。 1R〜1Bは電子ビームスポット、R〜Bは螢光体、2
R〜2Bはデータサンプリングライン、11は被測定用
受像機、12はテレビカメラ、14は輝度データのメモ
リ、15はデータ処理装置、SCは測定パターン信号で
ある。
FIG. 1 is a system diagram showing an example of the convergence measuring device according to the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing an example of a dot signal.
FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the fluorescent substance and the data sampling line, FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the data sampling line and the electron beam, and FIG. 5 is a diagram showing the distribution state of the brightness data of the electron beam. FIG. 6 is a diagram showing the deviation of the center of the electron beam, FIG. 7 is a diagram similar to FIG. 4 used to explain the present invention, FIG. 8 is its luminance distribution diagram, and FIG. 9 is three-dimensional luminance. FIG. 10 is a diagram showing a distribution state, FIG. 10 is a system diagram showing another example of the present invention, and FIG. 11 is a diagram showing still another example of FIG. 3, showing the relationship between fluorescent substances and data sampling lines. 1
2 and 13 are diagrams for explaining a conventional example of the convergence measurement of the picture tube, respectively. 1R to 1B are electron beam spots, RB are fluorescent bodies, 2
R to 2B are data sampling lines, 11 is a receiver for measurement, 12 is a television camera, 14 is a memory of luminance data, 15 is a data processing device, and SC is a measurement pattern signal.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】R,G,Bの各ビームスポットの映出され
た受像管の管面を撮像し、この撮像された画面上で水平
方向に所定のピッチをもって順次配されたR,G,Bの
各螢光体ストライプの少なくとも3本にに対応させて、
夫々その垂直方向に所定の間隔で複数のサンプリング点
の設けられたデータサンプリングラインが設定され、 上記R,G,Bの各ビームスポットを同時に水平方向に
所定の移動ピッチをもって移動させ、この水平方向の移
動ピッチごとに上記各データサンプリングラインでの上
記R,G,Bの各ビームスポットの上記複数のサンプリ
ング点における夫々の輝度データを順次メモリし、 これらの輝度データに基づき上記R,G,Bの各ビーム
スポットの中心点を算出し、これらの中心点のデータに
基づいてコンバージェンスの状態を測定するようにした
受像管のコンバージェンス測定方法。
1. An image of a tube surface of a picture tube on which respective R, G, B beam spots are projected is imaged, and R, G, which are sequentially arranged at a predetermined pitch in the horizontal direction on the imaged screen. Corresponding to at least 3 of each fluorescent stripe of B,
Data sampling lines each having a plurality of sampling points are set at predetermined intervals in the vertical direction, and the R, G, and B beam spots are simultaneously moved in the horizontal direction at a predetermined movement pitch, Luminance data at the plurality of sampling points of the R, G, and B beam spots on the data sampling lines at each of the moving pitches are sequentially stored, and based on these luminance data, the R, G, B The method for measuring the convergence of a picture tube, in which the center points of the respective beam spots are calculated and the state of convergence is measured based on the data of these center points.
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