JPH065008A - 磁気ディスク装置の試験方法 - Google Patents
磁気ディスク装置の試験方法Info
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- JPH065008A JPH065008A JP15717192A JP15717192A JPH065008A JP H065008 A JPH065008 A JP H065008A JP 15717192 A JP15717192 A JP 15717192A JP 15717192 A JP15717192 A JP 15717192A JP H065008 A JPH065008 A JP H065008A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁気ディスク装置において、制御装置からの
制御を受けることなく、磁気ディスク装置自体のＣＰＵ
により試験するためのプログラムを容易に磁気ディスク
装置に提供する。 【構成】 磁気ディスク装置のデータ領域４を０からＭ
ブロックまで、およびＬからＮブロックまでのシステム
領域５と、ＭからＬブロックまでのユーザー使用領域６
とに分割する。そして、ユーザー使用領域６のうちＭか
らＫブロックまでを試験プログラム領域７として確保
し、この試験プログラム領域７に制御装置から転送され
る試験プログラムを書き込む。これにより、磁気ディス
ク装置は制御装置から切り放しても、それ自体が備える
ＣＰＵにより試験プログラムを読み出して試験を実行す
る。また、試験終了後は、この試験プログラムを消去
し、ユーザー使用領域６をＭからＬブロックまでの状態
に復帰させてもよい。
制御を受けることなく、磁気ディスク装置自体のＣＰＵ
により試験するためのプログラムを容易に磁気ディスク
装置に提供する。 【構成】 磁気ディスク装置のデータ領域４を０からＭ
ブロックまで、およびＬからＮブロックまでのシステム
領域５と、ＭからＬブロックまでのユーザー使用領域６
とに分割する。そして、ユーザー使用領域６のうちＭか
らＫブロックまでを試験プログラム領域７として確保
し、この試験プログラム領域７に制御装置から転送され
る試験プログラムを書き込む。これにより、磁気ディス
ク装置は制御装置から切り放しても、それ自体が備える
ＣＰＵにより試験プログラムを読み出して試験を実行す
る。また、試験終了後は、この試験プログラムを消去
し、ユーザー使用領域６をＭからＬブロックまでの状態
に復帰させてもよい。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は磁気ディスク装置の試験
方法に関し、特に磁気ディスク装置自体が備える制御部
により、単独で試験を行う方法に関する。
方法に関し、特に磁気ディスク装置自体が備える制御部
により、単独で試験を行う方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、磁気ディスク装置の試験方法は、
磁気ディスク装置の制御装置が試験プログラムを備え、
この試験プログラムに従って磁気ディスク装置を制御し
試験を行っていた。しかしながら、最近では磁気ディス
ク装置の制御装置からの制御を受けることなく、磁気デ
ィスク装置はそれ自体が備える制御部（以下ＣＰＵとい
う）により、単独で試験を行う方法が行われている。こ
こで、磁気ディスク装置がそれ自体のＣＰＵにより単独
で試験を行う方法を、以降セルフテストと呼ぶ。
磁気ディスク装置の制御装置が試験プログラムを備え、
この試験プログラムに従って磁気ディスク装置を制御し
試験を行っていた。しかしながら、最近では磁気ディス
ク装置の制御装置からの制御を受けることなく、磁気デ
ィスク装置はそれ自体が備える制御部（以下ＣＰＵとい
う）により、単独で試験を行う方法が行われている。こ
こで、磁気ディスク装置がそれ自体のＣＰＵにより単独
で試験を行う方法を、以降セルフテストと呼ぶ。
【０００３】従来、このセルフテストは、磁気ディスク
装置の電子回路ボード上に搭載されているリード・オン
リー・メモリ（以下ＲＯＭという）の中に、磁気ディス
ク装置を制御するファームウェアとともに試験プログラ
ムも格納し、磁気ディスク装置のＣＰＵがＲＯＭより試
験プログラムを読み込むことにより試験が実行される。
装置の電子回路ボード上に搭載されているリード・オン
リー・メモリ（以下ＲＯＭという）の中に、磁気ディス
ク装置を制御するファームウェアとともに試験プログラ
ムも格納し、磁気ディスク装置のＣＰＵがＲＯＭより試
験プログラムを読み込むことにより試験が実行される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の磁気デ
ィスク装置の試験方法は、セルフテストを実行するため
の試験プログラムがＲＯＭにより供給されるため、試験
内容の変更、例えば、試験規格や試験項目に変更があっ
た場合や、プログラムの不具合、あるいは改善などによ
りプログラムを変更する場合などには、ＲＯＭを一旦磁
気ディスク装置の電子回路ボード上から外し、消去，再
書き込みを行った後、再び電子回路ボードに搭載する必
要があり、これらの行為を行うためには多大の労力を要
するという欠点がある。
ィスク装置の試験方法は、セルフテストを実行するため
の試験プログラムがＲＯＭにより供給されるため、試験
内容の変更、例えば、試験規格や試験項目に変更があっ
た場合や、プログラムの不具合、あるいは改善などによ
りプログラムを変更する場合などには、ＲＯＭを一旦磁
気ディスク装置の電子回路ボード上から外し、消去，再
書き込みを行った後、再び電子回路ボードに搭載する必
要があり、これらの行為を行うためには多大の労力を要
するという欠点がある。
【０００５】本発明の目的はこのような欠点を解消し、
セルフテストを行うための試験プログラムを容易に磁気
ディスク装置に供給することにある。
セルフテストを行うための試験プログラムを容易に磁気
ディスク装置に供給することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、磁気ディスク
装置がＲＯＭと同じように記憶装置の１つであるという
ことに着目し、ＲＯＭに試験プログラムを格納する代わ
りに、磁気ディクス装置のユーザーが使用できないデー
タ領域上に、磁気ディスク装置を試験するプログラムを
格納するための専用領域を設定し、その領域上に試験プ
ログラムを書き込んだ後、磁気ディスク装置自体のＣＰ
Ｕにより、専用領域上に書かれた試験プログラムを読み
込み、そのプログラムに基づいてセルフテストを行うこ
とを特徴とする。また、試験終了後には専用領域上に書
かれた試験プログラムを消去し、この領域をユーザーの
使用領域に復帰させてもよい。
装置がＲＯＭと同じように記憶装置の１つであるという
ことに着目し、ＲＯＭに試験プログラムを格納する代わ
りに、磁気ディクス装置のユーザーが使用できないデー
タ領域上に、磁気ディスク装置を試験するプログラムを
格納するための専用領域を設定し、その領域上に試験プ
ログラムを書き込んだ後、磁気ディスク装置自体のＣＰ
Ｕにより、専用領域上に書かれた試験プログラムを読み
込み、そのプログラムに基づいてセルフテストを行うこ
とを特徴とする。また、試験終了後には専用領域上に書
かれた試験プログラムを消去し、この領域をユーザーの
使用領域に復帰させてもよい。
【０００７】
【実施例】次に、本発明の一実施例について、磁気ディ
スク装置の代表的なインターフェースの１つであるスモ
ール・コンピュータ・システム・インターフェース（以
下ＳＣＳＩという）を備える磁気ディスク装置を例に挙
げ図面を参照して説明する。
スク装置の代表的なインターフェースの１つであるスモ
ール・コンピュータ・システム・インターフェース（以
下ＳＣＳＩという）を備える磁気ディスク装置を例に挙
げ図面を参照して説明する。
【０００８】図１はセルフテスト用試験プログラムを磁
気ディスク装置に書き込むための構成を示すブロック図
である。
気ディスク装置に書き込むための構成を示すブロック図
である。
【０００９】まず、セルフテスト用試験プログラムを、
磁気ディスク装置３に媒体上のデータ領域上に書き込む
ために、磁気ディスク装置３は制御装置１が持つＳＣＳ
Ｉバス２を通して制御装置１に接続する。制御装置１
は、セルフテスト用試験プログラムをＳＣＳＩバス２を
介して磁気ディスク装置３に送り出すと、磁気ディスク
装置３は内部のＣＰＵの制御により、試験プログラムを
媒体上のデータ領域に書き込む。
磁気ディスク装置３に媒体上のデータ領域上に書き込む
ために、磁気ディスク装置３は制御装置１が持つＳＣＳ
Ｉバス２を通して制御装置１に接続する。制御装置１
は、セルフテスト用試験プログラムをＳＣＳＩバス２を
介して磁気ディスク装置３に送り出すと、磁気ディスク
装置３は内部のＣＰＵの制御により、試験プログラムを
媒体上のデータ領域に書き込む。
【００１０】磁気ディスク装置３のデータ領域に試験プ
ログラムを書き込んだ後は、磁気ディスク装置３は制御
装置１から切り放す。以降、磁気ディスク装置３は制御
装置１からの制御を受けずにセルフテストを行うことが
可能となる。
ログラムを書き込んだ後は、磁気ディスク装置３は制御
装置１から切り放す。以降、磁気ディスク装置３は制御
装置１からの制御を受けずにセルフテストを行うことが
可能となる。
【００１１】図２は従来の磁気ディスク装置のデータ領
域のマップと本発明によるデータ領域のマップとを比較
して示す図である。
域のマップと本発明によるデータ領域のマップとを比較
して示す図である。
【００１２】図２（ａ）は従来の磁気ディスク装置のデ
ータ領域４のマップを示す図であって、ＳＣＳＩを持つ
磁気ディスク装置においては、通常、データ領域４はい
くつかの区画に分割し、１つの区画をブロックと呼ぶ。
この区画が０からＮブロックまであると仮定すると、磁
気ディスク装置は０からＭブロックまでの数ブロック
と、ＬからＮブロックまでの数ブロックトを磁気ディス
ク装置の内部で使用するシステム領域５として使用し、
ユーザーがこれらのブロックを使用することはできな
い。従って、ユーザーが使用できる領域はＭからＬブロ
ックまでであり、これをユーザー使用領域６と呼ぶ。
ータ領域４のマップを示す図であって、ＳＣＳＩを持つ
磁気ディスク装置においては、通常、データ領域４はい
くつかの区画に分割し、１つの区画をブロックと呼ぶ。
この区画が０からＮブロックまであると仮定すると、磁
気ディスク装置は０からＭブロックまでの数ブロック
と、ＬからＮブロックまでの数ブロックトを磁気ディス
ク装置の内部で使用するシステム領域５として使用し、
ユーザーがこれらのブロックを使用することはできな
い。従って、ユーザーが使用できる領域はＭからＬブロ
ックまでであり、これをユーザー使用領域６と呼ぶ。
【００１３】図２（ｂ）は本発明を実施する場合におけ
るデータ領域のマップを示す図であって、本発明におい
ては、システム領域５の他に、ユーザーが使用すること
のできない試験プログラム領域（ＭからＫブロックま
で）７を用意し、この領域に試験プログラムを書き込
む。この試験プログラム領域７はユーザーでは使用でき
ない領域であるため、一度試験プログラムを書き込め
ば、例えば、ユーザーから戻ってきた場合においても、
もう一度試験プログラムを書き込む必要はなく、直ちに
セルフテストを再実行することができる。
るデータ領域のマップを示す図であって、本発明におい
ては、システム領域５の他に、ユーザーが使用すること
のできない試験プログラム領域（ＭからＫブロックま
で）７を用意し、この領域に試験プログラムを書き込
む。この試験プログラム領域７はユーザーでは使用でき
ない領域であるため、一度試験プログラムを書き込め
ば、例えば、ユーザーから戻ってきた場合においても、
もう一度試験プログラムを書き込む必要はなく、直ちに
セルフテストを再実行することができる。
【００１４】図３は本発明により、実際に磁気ディスク
装置を試験する場合の一例を示すフローチャートであ
る。
装置を試験する場合の一例を示すフローチャートであ
る。
【００１５】磁気ディスク装置３を試験するに当たって
は、まず、制御装置１からの試験であるか、またはセル
フテストであるかを磁気ディスク装置３のＣＰＵに判断
させる選択スイッチを磁気ディスク装置３の電子回路ボ
ード上に搭載しておく。
は、まず、制御装置１からの試験であるか、またはセル
フテストであるかを磁気ディスク装置３のＣＰＵに判断
させる選択スイッチを磁気ディスク装置３の電子回路ボ
ード上に搭載しておく。
【００１６】そして、磁気ディスク装置３に搭載された
この選択スイッチを制御装置１から試験する方に設定す
る（ステップ１０）。次に、図１に示したように、磁気
ディスク装置３を制御装置１に接続し（ステップ１
１）、制御装置５からの制御により磁気ディスク装置３
の初期動作確認と試験を行い、磁気ディスク装置３が正
常に動作し、その機能が満足いくものであることを確認
する（ステップ１２）。その後、図２（ｂ）に示すよう
なデータ領域４のマッピングを行う（ステップ１３）。
これにより、データ領域４は磁気ディスク装置内部で使
用するシステム領域５と、試験プログラムを書き込む試
験プログラム領域７と、ユーザーが使用できるユーザー
使用領域６とにそれぞれ割り付けられる。
この選択スイッチを制御装置１から試験する方に設定す
る（ステップ１０）。次に、図１に示したように、磁気
ディスク装置３を制御装置１に接続し（ステップ１
１）、制御装置５からの制御により磁気ディスク装置３
の初期動作確認と試験を行い、磁気ディスク装置３が正
常に動作し、その機能が満足いくものであることを確認
する（ステップ１２）。その後、図２（ｂ）に示すよう
なデータ領域４のマッピングを行う（ステップ１３）。
これにより、データ領域４は磁気ディスク装置内部で使
用するシステム領域５と、試験プログラムを書き込む試
験プログラム領域７と、ユーザーが使用できるユーザー
使用領域６とにそれぞれ割り付けられる。
【００１７】次に、試験プログラム領域７について、デ
ータの書き込み及び読み出し試験を行い（ステップ１
４）、試験終了後、セルフテスト用試験プログラムをこ
の領域に書き込む（ステップ１５）。試験プログラム領
域７に試験プログラムを書き込んだ後は、制御装置１よ
り磁気ディスク装置３を取り外し、（ステップ１６）、
磁気ディスク装置３に搭載された選択スイッチの設定を
セルフテストの方に変更する（ステップ１７）。
ータの書き込み及び読み出し試験を行い（ステップ１
４）、試験終了後、セルフテスト用試験プログラムをこ
の領域に書き込む（ステップ１５）。試験プログラム領
域７に試験プログラムを書き込んだ後は、制御装置１よ
り磁気ディスク装置３を取り外し、（ステップ１６）、
磁気ディスク装置３に搭載された選択スイッチの設定を
セルフテストの方に変更する（ステップ１７）。
【００１８】ここまで行った後は、磁気ディスク装置３
に通電するだけで、磁気ディクス装置３は、それ自信が
持つＣＰＵにより、試験プログラム領域７上に書かれた
試験プログラムを読み込み、そのプログラムに基づいて
セルフテストを行う（ステップ１８）。
に通電するだけで、磁気ディクス装置３は、それ自信が
持つＣＰＵにより、試験プログラム領域７上に書かれた
試験プログラムを読み込み、そのプログラムに基づいて
セルフテストを行う（ステップ１８）。
【００１９】なお、データの書き込み及び読み出し試験
はユーザー使用領域６についてのみ行う。そして、セル
フテストをすべて終了した後は、再び磁気ディスク装置
３に搭載された選択スイッチの設定を制御装置１から試
験する方に変更することによい、磁気ディスク装置３を
通常の使用状態に戻す。
はユーザー使用領域６についてのみ行う。そして、セル
フテストをすべて終了した後は、再び磁気ディスク装置
３に搭載された選択スイッチの設定を制御装置１から試
験する方に変更することによい、磁気ディスク装置３を
通常の使用状態に戻す。
【００２０】図４は本発明により、実際に磁気ディスク
装置を試験する場合の他の実施例を示すフローチャート
である。図４に示すフローチャートは、図３のフローチ
ャートに、試験プログラム領域解放（ステップ１９）を
追加してものであって、試験プログラム領域７に書き込
まれた試験プログラムを消去し、この領域を解放してユ
ーザー使用領域６をＭからＬブロックまでの状態に復帰
させる。これによって、セルフテストをすべて終了した
後は、再び磁気ディスク装置３に搭載された選択スイッ
チの設定を制御装置１から試験する側に変更することに
より、磁気ディスク装置３を通常の使用状態に戻すよう
にしたものである。
装置を試験する場合の他の実施例を示すフローチャート
である。図４に示すフローチャートは、図３のフローチ
ャートに、試験プログラム領域解放（ステップ１９）を
追加してものであって、試験プログラム領域７に書き込
まれた試験プログラムを消去し、この領域を解放してユ
ーザー使用領域６をＭからＬブロックまでの状態に復帰
させる。これによって、セルフテストをすべて終了した
後は、再び磁気ディスク装置３に搭載された選択スイッ
チの設定を制御装置１から試験する側に変更することに
より、磁気ディスク装置３を通常の使用状態に戻すよう
にしたものである。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の磁気ディ
スク装置の試験方法は、磁気ディスク装置の試験プログ
ラムを磁気ディスク装置のデータ面上に書き込むため
に、試験内容の変更、例えば、試験規格や試験項目に変
更があった場合や、プログラムの不具合、あるいは改善
などによりプログラムを変更する場合などにおいて、Ｒ
ＯＭのように一旦電子回路ボードから取り外して、再書
き込みした後再び搭載するといった行為を行う必要がな
く、磁気ディスク装置を制御装置に接続するのみで、容
易に試験プログラムを書き換えることが可能となる。
スク装置の試験方法は、磁気ディスク装置の試験プログ
ラムを磁気ディスク装置のデータ面上に書き込むため
に、試験内容の変更、例えば、試験規格や試験項目に変
更があった場合や、プログラムの不具合、あるいは改善
などによりプログラムを変更する場合などにおいて、Ｒ
ＯＭのように一旦電子回路ボードから取り外して、再書
き込みした後再び搭載するといった行為を行う必要がな
く、磁気ディスク装置を制御装置に接続するのみで、容
易に試験プログラムを書き換えることが可能となる。
【００２２】また、試験プログラムは磁気ディスク装置
のデータ面上に記録されているので、停電などで電源が
切れた場合でも試験プログラムは消えることなく、再び
セルフテストを実行することができる。
のデータ面上に記録されているので、停電などで電源が
切れた場合でも試験プログラムは消えることなく、再び
セルフテストを実行することができる。
【００２３】さらに、試験プログラムのための専用領域
は試験終了後、ユーザー使用領域に復帰させることによ
り、ユーザーには、ユーザー使用領域を縮小せずに最大
限に提供することができる。
は試験終了後、ユーザー使用領域に復帰させることによ
り、ユーザーには、ユーザー使用領域を縮小せずに最大
限に提供することができる。
【図１】本発明の一実施例を実現するセルフテスト用試
験プログラムを磁気ディスク装置に書き込むための構成
を示すブロック図である。
験プログラムを磁気ディスク装置に書き込むための構成
を示すブロック図である。
【図２】分図（ａ）は通常の磁気ディスク装置のデータ
領域を示す図であり、分図（ｂ）は本発明を実施する場
合のデータ領域を示す図である。
領域を示す図であり、分図（ｂ）は本発明を実施する場
合のデータ領域を示す図である。
【図３】本発明による磁気ディスク装置を試験する場合
の一例を示すフローチャートである。
の一例を示すフローチャートである。
【図４】本発明による磁気ディスク装置を試験する場合
の他の例を示すフローチャートである。
の他の例を示すフローチャートである。
１ 制御装置 ２ ＳＣＳＩバス ３ 磁気ディスク装置 ４ データ領域 ５ システム領域 ６ ユーザー使用領域 ７ 試験プログラム領域
Claims (2)
- 【請求項１】 磁気ディスク装置のユーザーで使用する
データ領域の一部に前記磁気ディスク装置を試験するプ
ログラムを格納するための専用領域を設定し、前記磁気
ディスク装置を制御する制御装置により前記専用領域上
に試験プログラムを書き込んだ後、前記制御装置からの
制御を受けることなく、前記磁気ディスク装置自体が備
える制御部により前記専用領域上の試験プログラムに基
づいて試験することを特徴とする磁気ディスク装置の試
験方法。 - 【請求項２】 請求項１記載の磁気ディスク装置の試験
終了後、前記専用領域上に書き込まれた試験プログラム
を消去し、かつ消去した領域を前記ユーザーが使用する
領域に復帰させることを特徴とする磁気ディスク装置の
試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15717192A JPH065008A (ja) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | 磁気ディスク装置の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15717192A JPH065008A (ja) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | 磁気ディスク装置の試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH065008A true JPH065008A (ja) | 1994-01-14 |
Family
ID=15643746
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15717192A Withdrawn JPH065008A (ja) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | 磁気ディスク装置の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH065008A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100496167B1 (ko) * | 1997-12-31 | 2005-09-02 | 삼성전자주식회사 | 정보 저장용 디스크의 메인터넌스영역 사용 방법 |
| KR100496178B1 (ko) * | 1997-12-29 | 2005-09-13 | 삼성전자주식회사 | 정보 저장용 디스크 드라이브의 정보 저장용 디스크내 시스템영역의 정보 검색방법 |
| US7457065B2 (en) | 2002-11-28 | 2008-11-25 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Systems and methods for hard disk drive optimization and manufacturing |
-
1992
- 1992-06-17 JP JP15717192A patent/JPH065008A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100496178B1 (ko) * | 1997-12-29 | 2005-09-13 | 삼성전자주식회사 | 정보 저장용 디스크 드라이브의 정보 저장용 디스크내 시스템영역의 정보 검색방법 |
| KR100496167B1 (ko) * | 1997-12-31 | 2005-09-02 | 삼성전자주식회사 | 정보 저장용 디스크의 메인터넌스영역 사용 방법 |
| US7457065B2 (en) | 2002-11-28 | 2008-11-25 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Systems and methods for hard disk drive optimization and manufacturing |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990831 |