JPH0651812U - 画像処理型測定機 - Google Patents
画像処理型測定機Info
- Publication number
- JPH0651812U JPH0651812U JP8737292U JP8737292U JPH0651812U JP H0651812 U JPH0651812 U JP H0651812U JP 8737292 U JP8737292 U JP 8737292U JP 8737292 U JP8737292 U JP 8737292U JP H0651812 U JPH0651812 U JP H0651812U
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- annular
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 可動部を含むことなくかつ安価な構造で被測
定物に対する照明光の角度を変化させることができる画
像処理型測定機を提供する。 【構成】 光学系37の光軸を中心とする円環状でかつ
光軸上の一点に光軸に対して異なる角度で集光する複数
の円環状光束発生手段53,54を光軸と同心状に配置
するとともに、これらの複数の円環状光束発生手段の光
ファイバ58,59に光を選択的に入射させるマスク板
61をスライド自在に設ける。マスク板61のスライド
によって円環状光束発生手段を選択すれば、光軸上の一
点に集光する照明光の角度が光軸に対して変化するの
で、集光点位置を定位置に保ったまま照明光の入射角度
を変化させることができる。
定物に対する照明光の角度を変化させることができる画
像処理型測定機を提供する。 【構成】 光学系37の光軸を中心とする円環状でかつ
光軸上の一点に光軸に対して異なる角度で集光する複数
の円環状光束発生手段53,54を光軸と同心状に配置
するとともに、これらの複数の円環状光束発生手段の光
ファイバ58,59に光を選択的に入射させるマスク板
61をスライド自在に設ける。マスク板61のスライド
によって円環状光束発生手段を選択すれば、光軸上の一
点に集光する照明光の角度が光軸に対して変化するの
で、集光点位置を定位置に保ったまま照明光の入射角度
を変化させることができる。
Description
【0001】
本考案は、光学系によって得られた被測定物の画像から被測定物の寸法や形状 などを測定する画像処理型測定機に関する。詳しくは、光学系の光軸に対して傾 斜した方向から照明光を被測定物に照射し、特に、被測定物の端部(エッジ部) などの影を鮮明に描写可能とする照明装置の改良に関する。
【0002】
拡大光学系によって被測定物の測定部位を光学的に拡大し、その拡大画像から 被測定物の寸法や形状などを測定する画像処理型測定機、例えば、工具顕微鏡、 投影機、視認型三次元測定機などでは、被測定物の拡大画像を得る上で被測定物 に対する照明がきわめて重要な役割を果たす。
【0003】 従来、画像処理型測定機における照明方式として、被測定物に対してほぼ真上 から照明光を被測定物に照射する垂直落射照明方式が知られている。しかし、垂 直落射照明方式は、形状が比較的簡単な被測定物を測定するときに用いられる場 合が多く、複雑な形状を呈する被測定物、例えば、エッジ部を数多く有する被測 定物(階段状の物)の測定では、そのエッジ部の影を表示装置などに鮮明に描写 できない場合がある。
【0004】 そこで、これを解決するものとして、拡大光学系の光軸に対して所定の角度で 傾斜した方向から照明光を被測定物に照射することで、エッジ部の影を鮮明に検 出できるようにした方式が提案されている。例えば、米国特許第4567551 号にその技術思想が開示されている。これは、光源から照明光を略水平方向へ出 力し、その照明光を固定ミラーで斜め下方へ反射させた後、ガラス板などで屈折 させて被測定物に照射する方法である。
【0005】 しかし、これにしても、被測定物に対する照明光の照射角度が一定であるため 、エッジ部の形状によってはそのエッジ部の画像を表示装置に鮮明に描写できな い。例えば、被測定物がコインなどのように比較的浅い円筒状エッジ部を有する ものでは、エッジ部の深さと照明光の照射角度との関係によって、そのエッジ部 の影を全周に亘って鮮明に描写できない。このため、表示装置などに描写される 画像は立体感が損なわれる結果、被測定物の寸法や形状を正確に測定することが 困難になる。
【0006】 そこで、本出願人は、このような問題を解消するものとして、先に、特開平2 −236405号を提案している。これは、支持台に被測定物の形状を認識する 形状認識手段を設けるとともに、傾斜可能に支持された可動ミラーを含み、その 可動ミラーを介して被測定物に対して所定角度傾斜した方向から照明光を照射す る照明手段を前記形状認識手段に対して昇降可能に設け、この照明手段の昇降に 連動して可動ミラーの傾斜角度を変更する角度変更手段を設けた構造である。
【0007】
上記特開平2−236405号のものは、角度変更手段によって可動ミラーの 傾斜角度が変更されるため、被測定物に対する照明光の照射角度を変えることが できる。しかし、照明側に可動ミラーがあるため、つまり、可動部があるため、 その可動ミラーの傾斜動に伴う振動が光学系に影響を及ぼし、測定精度を低下さ せるという問題がある。
【0008】 また、例えば、被測定物の浅い円筒状エッジ部の影を強調するためにその円筒 状エッジ部の周囲から照明光を照射させようとした場合、形状認識手段の光軸を 中心とする同一円周上に複数の可動ミラーを配置しなければならないから、部品 点数が増え、組立て工数の増大を招くという欠点がある。しかも、可動ミラーの 傾斜角度を変化させる角度変更手段についても、これらの複数の可動ミラーの傾 斜角度を照明手段の昇降に連動してかつ同時に制御しなければならないから、構 造的にも複雑化し、装置の大型化を招く上、コストアップにつながるという欠点 がある。
【0009】 ここに、本考案の目的は、このような従来の問題を解消し、可動部を含むこと なく、かつ、簡単な構造で被測定物に対する照明光の照明角度を変化させること ができる画像処理型測定機を提供することにある。
【0010】
そのため、本考案の画像処理型測定機は、光学系によって得られた被測定物の 画像から被測定物の寸法や形状などを測定する画像処理型測定機であって、 前記光学系の光軸を中心とする円環状でかつ光軸上の一点に光軸に対して異な る角度で集光する複数の円環状光束発生手段を光軸と同心状に配置するとともに 、これらの複数の円環状光束発生手段を選択的に有効とする切換手段を設けた、 ことを特徴とする。
【0011】
光軸と同心状に配置された複数の円環状光束発生手段のうち、切換手段によっ ていずれかを選択的に有効とすると、その選択された円環状光束発生手段からの 照明光のみが円環状にかつ光軸上の一点に集光される。このとき、複数の円環状 光束発生手段からの照明光は光軸上の一点に光軸に対して異なる角度で集光する ように構成されているから、切換手段によって有効とする円環状光束発生手段の を選択すれば、照明光の集光点が光軸上の定位置に保たれたまま、その集光点定 位置における照明光の入射角度が変化される。よって、被測定物のエッジ部の形 状などに応じて適正な角度で照明光を照射することができるから、被測定物のエ ッジ部などの画像も立体感を損なうことなく鮮明に描写できる。
【0012】
以下、本考案の画像処理型測定機について好適な実施例を挙げ、添付図面を参 照しながら詳細に説明する。 図1は本実施例の画像処理型測定機を示している。同画像処理型測定機10は 、大きく分けて、工具顕微鏡からなる顕微鏡20と、画像表示装置90とから構 成されている。
【0013】 前記顕微鏡20は、側面L字形の支持台21を含む。支持台21の前面下部か ら前方へ向かって突出した基部21A上には、上面に被測定物25を載置する載 物台22が設置されている。載物台22は、水平面内における直交二軸方向、つ まり、左右方向(X軸方向)および前後方向(Y軸方向)へそれぞれ移動可能な X−Yテーブルから構成され、かつ、各軸方向の移動量がX軸マイクロメータヘ ッド23およびY軸マイクロメータヘッド24により設定または計測できるよう になっている。
【0014】 前記支持台21の前面上部には、上下動つまみ26を有する上下動ガイド27 が設けられている。上下動ガイド27には、上下動つまみ26の回動操作によっ て、図示しないラックやピニオンなどを介して上下動する側面コ字形の支持枠3 1が上下動可能に支持されている。支持枠31の前面開放端において、その左右 両端には円柱体32がそれぞれ介装されて支持枠31の補強がなされているとと もに、支持枠31の開放側には平面コ字形のカバー33が取り付けられるように なっている。
【0015】 前記支持枠31の中心部には、拡大光学系37が設けられている。拡大光学系 37は、支持枠31の下方に突出した対物レンズ34と、この対物レンズ34と 同軸上に設けられた結像レンズ35と、この結像レンズ35と同軸上に設けられ かつ支持枠31上に突出したCCDカメラ36とから構成されている。CCDカ メラ36には、配線コード38を介して前記画像表示装置90が接続されている 。
【0016】 前記支持枠31の内部には、図2にも示すように、支持枠31内に設けられた 保持ブロック41を介して昇降軸42が上下方向へ摺動自在に支持されている。 保持ブロック41の内部には、前記昇降軸42の長手方向に沿って形成されたラ ック43に噛合するピニオン44が回転自在に支持されている。ピニオン44の 軸45には、モータ46が連結されている。これにより、モータ46が駆動する と、ピニオン44およびラック43を介して昇降軸42が上下方向へ摺動される 。昇降軸42の下端には、L形ブラケット51を介してリング状の保持リング5 2が前記光学系37の光軸と同軸上に取り付けられている。
【0017】 前記保持リング52には、その内部に前記光軸を中心とする円環状でかつ光軸 上の一点Pに光軸に対して異なる角度θ1,θ2 で集光する2つの円環状光束発生 手段53,54が光軸と同心状に配置されているとともに、それより上部一側に 貫通孔55が形成されている。各円環状光束発生手段53,54は、図3および 図4に示す如く、内部に環状空間を有するリング状部材56,57と、このリン グ状部材56,57の環状空間内に束ねた状態で収納され複数本の光ファイバ5 8,59とから構成されている。各光ファイバ58,59の先端は、1本ずつリ ング状部材56,57の下面に沿って円環状に整列配列され、かつ、そこからの 照明光が前記光軸上の一点に集光するような角度で配置されている。
【0018】 前記両光ファイバ58,59は、共に同心状に束ねられて1本のチューブ60 とされている。そのチューブ60の先端には光源62が対向配置され、その間に はファイバ58,59の双方およびいずれか一方を選択的に有効とする(つまり 、光源62からの光を入射させて有効とする)切換手段としてのマスク板61が スライド可能に介在されている。チューブ60の先端は、図5に示す如く、外側 に光ファイバ58が、内側に光ファイバ59がくるように束ねられている。
【0019】 前記マスク板61には、図6に示す如く、第1の切換位置Aに前記両光ファイ バ58,59で構成される円と対応する大きさの円形の光透過部61Aが、第2 の切換位置Bに前記光ファイバ59で構成される円と対応する大きさの円形の光 透過部61Bが、第3の切換位置Cに外径が光ファイバ58で構成される円と対 応する大きさでかつ内径が前記光ファイバ59で構成される円と対応する大きさ の環状帯の光透過部61Cがそれぞれ形成されている。なお、これ以外の部分は 遮光されている。
【0020】 前記画像表示装置90は、CRT91と、前記モータ46の駆動制御を行うと ともに、前記円環状光束発生手段53,54の切換を行い、かつ、前記CCDカ メラ36からの信号をCRT91に表示させる制御装置92とから構成されてい る。制御装置92は、前記各制御を行うためのつまみ、スイッチなどからなる操 作部93をその前部に備えている。
【0021】 次に、本実施例の作用を説明する。 測定に当たっては、載物台22の上に載置された被測定物25が対物レンズ3 4に対向位置するように載物台22のX軸およびY軸マイクロメータヘッド23 ,24を回して設定しておく。また、上下動つまみ26を回して対物レンズ34 の焦点位置に被測定物25の測定部位が位置するように設定しておく。
【0022】 円環状光束発生手段53,54から出力された照明光は、光軸上の被測定物2 5で反射されたのち、対物レンズ34、結像レンズ35を介してCCDカメラ3 6に入射される。ここで、電気信号に変換された後、画像表示装置90の制御装 置92に入力される。その結果、被測定物25の画像がCRT91に表示される 。
【0023】 例えば、いま、円環状光束発生手段54を使用し、照明光が光軸に対してθ2 の角度で被測定物25に対して照射されている状態のときに、被測定物25のエ ッジ部の影がCRT91に鮮明に表示されなかった場合、マスク板61を第3の 切換位置Cまでスライドさせる。すると、円環状光束発生手段53の光ファイバ 58のみに光源62からの光が入射されるから、今度は、照明光が光軸に対して θ1 の角度で被測定物25に対して照射される。
【0024】 その結果、照明光の集光点が定位置に保たれたまま、被測定物25に対しては より傾いた角度で照明光が照射されることになるから、被測定物25のエッジ部 などの画像も立体感を損なうことなく鮮明に描写できる。例えば、被測定物25 のエッジ部が浅いものでは、照明光の光軸に対する傾斜角度θを大きくすれば、 被測定物25に対する照明光の入射角度も浅くなるから、CRT91に被測定物 25のエッジ部の影を鮮明に描写させることができる。
【0025】 従って、本実施例によれば、光軸を中心とする円環状でかつ光軸上の一点に光 軸に対して異なる角度で集光する光ファイバ58,59からなる複数の円環状光 束発生手段53,54を光軸と同心状に配置するとともに、これらの複数の円環 状光束発生手段53,54の光ファイバ58,59に対して光を選択的に入射さ せるマスク板61をスライド可能に設けたので、マスク板61をスライドさせる だけで光ファイバ58,59に対して光を選択的に入射させることができる。
【0026】 すると、集光点が光軸上の定位置に保たれたまま、その集光点位置における照 明光の入射角度が変化されるから、被測定物25の対する照明光の光量を変化さ せることなく、被測定物25に対する照明光の角度を変化させることができる。 よって、被測定物25のエッジ部の形状などに応じて適正な角度で照明光を照射 することができるから、被測定物25のエッジ部などの画像も立体感を損なうこ となく鮮明に描画できる。
【0027】 また、被測定物25の測定部位に対して周囲から照明光を照射できる構造を、 円環状光束発生手段53,54、マスク板61および光源62だけで構成するこ とができるから、部品点数も少なくでき、組立て工数の削減に寄与できる。しか も、照明側には可動部がないから、可動部の可動に伴う振動が光学系に与えられ ることがなく、高精度測定を保証できる。
【0028】 なお、本考案は、上記実施例の構成に限定されるものでなく、本考案の要旨を 逸脱しない範囲において種々の改良並びに設計変更できる。 例えば、円環状光束発生手段53,54の光ファイバ58,59を1本のチュ ーブ60とするのではなく、図7に示すように、それぞれ別々にし、これらに光 を選択的に入射するようにしてもよい。
【0029】 また、円環状光束発生手段53,54としては、図8に示すように、複数の光 ファイバ58,59を複数の区画に分割し、例えば、90度の角度範囲を1区画 とする4区画に分割し、各区画内の光ファイバへ光を導入する光源の点灯、消灯 を独立的に制御するようにすれば、光量の調整が容易にできる。更に、光ファイ バ58,59に代えて、発光ダイオードなどの発光素子をリング状部材56,5 7の下面に沿って一列または複数列に配列するようにしてもよい。このようにす れば、各発光素子の点灯、消灯を容易にできるから円環状光束発生手段53,5 4の光量を細かく調整できる利点がある。
【0030】 また、本考案に係る画像処理型測定機としては、上記実施例のように工具顕微 鏡に適用したものに限らず、投影機、三次元測定機などの他の形式の光学式測定 機にも適用できるものである。
【0031】
以上の通り、本考案の画像処理型測定機によれば、可動部を含むことなく、か つ、簡単な構造で被測定物に対する照明光の照明角度を変化させることができる 。
【図1】本考案の一実施例を示す斜視図である。
【図2】図1の要部を示す断面図である。
【図3】円環状光束発生手段を示す斜視図である。
【図4】図3の円環状光束発生手段を下方から見上げた
図である。
図である。
【図5】光ファイバの先端を示す図である。
【図6】図3のマスク板を示す図である。
【図7】円環状光束発生手段の他の例を示す斜視図であ
る。
る。
【図8】円環状光束発生手段の更に他の例を示す斜視図
である。
である。
10 画像処理型測定機 25 被測定物 37 光学系 53,54 円環状光束発生手段 58,59 光ファイバ 61 マスク板(切換手段)
Claims (1)
- 【請求項1】光学系によって得られた被測定物の画像か
ら被測定物の寸法や形状などを測定する画像処理型測定
機であって、 前記光学系の光軸を中心とする円環状でかつ光軸上の一
点に光軸に対して異なる角度で集光する複数の円環状光
束発生手段を光軸と同心状に配置するとともに、これら
の複数の円環状光束発生手段を選択的に有効とする切換
手段を設けた、ことを特徴とする画像処理型測定機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8737292U JPH0651812U (ja) | 1992-12-21 | 1992-12-21 | 画像処理型測定機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8737292U JPH0651812U (ja) | 1992-12-21 | 1992-12-21 | 画像処理型測定機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0651812U true JPH0651812U (ja) | 1994-07-15 |
Family
ID=13913070
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8737292U Withdrawn JPH0651812U (ja) | 1992-12-21 | 1992-12-21 | 画像処理型測定機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0651812U (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006153575A (ja) * | 2004-11-26 | 2006-06-15 | Olympus Corp | 3次元計測装置 |
| WO2011074261A1 (ja) * | 2009-12-17 | 2011-06-23 | 住友金属工業株式会社 | 管状品の検査装置およびその検査方法 |
-
1992
- 1992-12-21 JP JP8737292U patent/JPH0651812U/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006153575A (ja) * | 2004-11-26 | 2006-06-15 | Olympus Corp | 3次元計測装置 |
| WO2011074261A1 (ja) * | 2009-12-17 | 2011-06-23 | 住友金属工業株式会社 | 管状品の検査装置およびその検査方法 |
| CN102713506A (zh) * | 2009-12-17 | 2012-10-03 | 住友金属工业株式会社 | 管状物的检查装置及其检查方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19970306 |