JPH0652194B2 - 光電流測定回路 - Google Patents
光電流測定回路Info
- Publication number
- JPH0652194B2 JPH0652194B2 JP60213842A JP21384285A JPH0652194B2 JP H0652194 B2 JPH0652194 B2 JP H0652194B2 JP 60213842 A JP60213842 A JP 60213842A JP 21384285 A JP21384285 A JP 21384285A JP H0652194 B2 JPH0652194 B2 JP H0652194B2
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- Japan
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- circuit
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、カメラの自動露出等に利用される光電流増幅
回路の動作初期の動作不安定の問題を解決した光電流測
定回路に関する。
回路の動作初期の動作不安定の問題を解決した光電流測
定回路に関する。
（従来の技術） ホトダイオードを用いた光電流増幅回路に電源を投入し
たときからその回路が定常状態に達するまでにはある程
度の時間がかかる。
たときからその回路が定常状態に達するまでにはある程
度の時間がかかる。
特公昭６０−３４８４８号（発明の名称 光電流増幅回
路）は、この時間を短くするための回路構成を示してい
る。
路）は、この時間を短くするための回路構成を示してい
る。
この光電流増幅回路は、電源投入時に前記ホトダイオー
ドに蓄積された余剰電荷を電源投入の初期に放電または
中和を開始し、まだ少し余剰電荷が残っている時点で前
記充電または中和を中止するように構成されている。
ドに蓄積された余剰電荷を電源投入の初期に放電または
中和を開始し、まだ少し余剰電荷が残っている時点で前
記充電または中和を中止するように構成されている。
このような構成にすることにより安定状態に達する時間
を短くすることができる。
を短くすることができる。
しかし、安定状態に達するまでの時間はやはり入射光量
に依存し、入射光量が小さいときは入射光量が大きいと
きに比較して安定するまでの時間が長くなる。
に依存し、入射光量が小さいときは入射光量が大きいと
きに比較して安定するまでの時間が長くなる。
（発明が解決しようとする問題点） 入射光量が小さいときの安定状態に達するまでの時間を
予め設定しておいて、その時間経過後のデータを利用す
ると正確な露出制御が可能となるが、シャッタチャンス
を逃すおそれがある。
予め設定しておいて、その時間経過後のデータを利用す
ると正確な露出制御が可能となるが、シャッタチャンス
を逃すおそれがある。
本発明の目的は安定状態に達したデータを素早く取り込
むことができる光電流測定回路を提供することにある。
むことができる光電流測定回路を提供することにある。
（問題点を解決するための手段） 前記目的を達成するために本発明による光電流測定回路
は、ホトダイオードの光電流を増幅するもので、電源投
入時、前記ホトダイオードに入射する光量の大小に応答
性が依存し、前記ホトダイオードに入射する光量が小さ
いとき入射光量が大きいときより応答が遅くその出力の
安定に時間を要する光電流増幅回路を用いた光電流測定
回路において、前記光電流増幅回路の出力をＡ／Ｄ変換
した測光出力値を基準レベルと１回以上比較するように
し、比較回数が増加するにつれて入射光量が大の場合に
対応するレベル値から入射光量が小の場合に対応するレ
ベル値になるように前記基準レベルを変えていき、前記
測光出力値がその基準レベルを越えた比較段階でその測
光出力値を有効とし制御データとするように構成されて
いる。
は、ホトダイオードの光電流を増幅するもので、電源投
入時、前記ホトダイオードに入射する光量の大小に応答
性が依存し、前記ホトダイオードに入射する光量が小さ
いとき入射光量が大きいときより応答が遅くその出力の
安定に時間を要する光電流増幅回路を用いた光電流測定
回路において、前記光電流増幅回路の出力をＡ／Ｄ変換
した測光出力値を基準レベルと１回以上比較するように
し、比較回数が増加するにつれて入射光量が大の場合に
対応するレベル値から入射光量が小の場合に対応するレ
ベル値になるように前記基準レベルを変えていき、前記
測光出力値がその基準レベルを越えた比較段階でその測
光出力値を有効とし制御データとするように構成されて
いる。
（実施例） 以下、図面等を参照して本発明をさらに詳しく説明す
る。
る。
第１図は本発明による光電流測定回路を利用したカメラ
の回路の実施例を示すブロック図である。測光回路１は
ディジタルＩＣ回路２を介してＣＰＵ３に接続されてい
る。
の回路の実施例を示すブロック図である。測光回路１は
ディジタルＩＣ回路２を介してＣＰＵ３に接続されてい
る。
制御対象カメラ４はＣＰＵ３に各部のデータを供給する
とともに、ＣＰＵ３からの制御データにより制御され
る。
とともに、ＣＰＵ３からの制御データにより制御され
る。
第２図は主として測光回路部分の構成を示す回路図であ
る。
る。
測光回路１の光電流増幅用の増幅器Ａ１の入力端子に
は、ホトダイオードＰｄが接続されており、光電流増幅
用の増幅器Ａ１の入出力端子間に対数圧縮ダイオードＤ
が接続されている。
は、ホトダイオードＰｄが接続されており、光電流増幅
用の増幅器Ａ１の入出力端子間に対数圧縮ダイオードＤ
が接続されている。
光電流増幅用の増幅器Ａ１の入力端子の一方にフィルム
感度等の情報を挿入するバイアス回路Ｂが接続されてい
る。
感度等の情報を挿入するバイアス回路Ｂが接続されてい
る。
なお、この光電流増幅回路Ａ１について、電源投入時に
前記ホトダイオードＰｄに蓄積された余剰電荷を電源投
入の初期に放電または中和を開始し、まだ少し余剰電荷
が残っている時点で前記充電または中和を中止する回路
を施していない。
前記ホトダイオードＰｄに蓄積された余剰電荷を電源投
入の初期に放電または中和を開始し、まだ少し余剰電荷
が残っている時点で前記充電または中和を中止する回路
を施していない。
いずれにしても回路が安定するまでは入力光量に依存す
るという点において異ならないから、この回路を例にし
て説明する。
るという点において異ならないから、この回路を例にし
て説明する。
この光電流増幅回路Ａ１の出力はスイッチＳＷを介して
積分用の増幅器Ａ２の入力端子に接続されている。この
スイッチＳＷはディジタルＩＣ２を介して接続されるサ
ンプリング信号ＳＰにより動作させられ、当初光電流増
幅回路Ａ１を積分用の増幅器Ａ２の入力端子に接続し、
ついで基準電圧源（２重積分用）Ｖｒを接続し、その後
これを繰り返す。
積分用の増幅器Ａ２の入力端子に接続されている。この
スイッチＳＷはディジタルＩＣ２を介して接続されるサ
ンプリング信号ＳＰにより動作させられ、当初光電流増
幅回路Ａ１を積分用の増幅器Ａ２の入力端子に接続し、
ついで基準電圧源（２重積分用）Ｖｒを接続し、その後
これを繰り返す。
積分用の増幅器Ａ２の入出力端子には積分コンデンサＣ
が接続されており、積分用の増幅器Ａ２の出力端子は、
比較器Ａ３の入力端子に接続されている。
が接続されており、積分用の増幅器Ａ２の出力端子は、
比較器Ａ３の入力端子に接続されている。
その結果、サンプリング信号の１サイクル毎に、光電流
増幅回路Ａ１の出力レベルに対応する長さのパルスが得
られる。
増幅回路Ａ１の出力レベルに対応する長さのパルスが得
られる。
このパルスをＡ／Ｄ変換することにより入射光の情報を
得てカメラの露出等の制御情報とする。
得てカメラの露出等の制御情報とする。
前述したように光電流増幅回路Ａ１の出力レベルが安定
するまでの時間はホトダイオードＰｄへの入射光量に依
存する。
するまでの時間はホトダイオードＰｄへの入射光量に依
存する。
第４図は光電流増幅用の増幅器の出力電圧の変化を示す
グラフである。
グラフである。
曲線Ｌ３，Ｌ２，Ｌ１，Ｌ０は、入射光量（Ｌ３＜Ｌ２
＜Ｌ１＜Ｌ０）に対する応答特性をそれぞれ示してい
る。
＜Ｌ１＜Ｌ０）に対する応答特性をそれぞれ示してい
る。
前述したようにホトダイオードＰｄを用いた光電流増幅
用の増幅器の出力電圧は当初不安定であり、入射光量が
大きいと速く安定状態になるが、入射光量が少ない場合
は安定に達する時間が長くなる。電源投入から短時間で
測光データが得られることが理想であるが、第４図に示
すように、ｔ０の時点では、Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３に対応す
る出力はまだその明るさに対する回路出力が一定レベル
（定常状態）に達していない。
用の増幅器の出力電圧は当初不安定であり、入射光量が
大きいと速く安定状態になるが、入射光量が少ない場合
は安定に達する時間が長くなる。電源投入から短時間で
測光データが得られることが理想であるが、第４図に示
すように、ｔ０の時点では、Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３に対応す
る出力はまだその明るさに対する回路出力が一定レベル
（定常状態）に達していない。
またｔ１のタイミングではＬ０，Ｌ１は安定レベルに達
しているが、Ｌ２，Ｌ３はまだ安定レベルに達していな
い。
しているが、Ｌ２，Ｌ３はまだ安定レベルに達していな
い。
次に第５図を参照して、測光信号取り込みに関連するＣ
ＰＵの動作を説明する。
ＰＵの動作を説明する。
（ステップ）測光回数（比較回数）Ｎとｎを初期設定
する。
する。
測光回数Ｎとは、光電流増幅回路Ａ１の出力レベルをチ
ェックする回数であって、当初の出力評価時点に光電流
増幅用の増幅器の出力電圧が安定したレベルに到達して
いないときでも、その回数だけチェックを行う。Ｎ＝３
に設定された場合を例にして説明する。
ェックする回数であって、当初の出力評価時点に光電流
増幅用の増幅器の出力電圧が安定したレベルに到達して
いないときでも、その回数だけチェックを行う。Ｎ＝３
に設定された場合を例にして説明する。
（ステップ）測光データを読み取る。
第２図に示す光電流増幅用の増幅器Ａ１の出力電圧Ｖou
t をディジタルＩＣ２を介して読み取り、Ａ／Ｄ変換し
て比較のデータとする。
t をディジタルＩＣ２を介して読み取り、Ａ／Ｄ変換し
て比較のデータとする。
（ステップ）このステップで前記出力電圧Ｖout に対
応するディジタルデータＬＶを基準レベルＬＶ０と比較
する。
応するディジタルデータＬＶを基準レベルＬＶ０と比較
する。
基準レベルＬＶ０は第４図に示すＶＴ０に対応するディ
ジタルデータである。
ジタルデータである。
ここで基準レベルよりも大きい場合（第４図に示すＬ０
に対応する場合）はＹｅｓでのステップへ飛んで、そ
の時点直後の２重積分で得られたデータを有効としてデ
ィジタルＩＣ回路２でＡ／Ｄ変換して制御のデータとし
て利用する。
に対応する場合）はＹｅｓでのステップへ飛んで、そ
の時点直後の２重積分で得られたデータを有効としてデ
ィジタルＩＣ回路２でＡ／Ｄ変換して制御のデータとし
て利用する。
このステップで基準レベルに達していなければ（第４図
に示すＬ１〜Ｌ３に対応する場合）次ののステップへ
進む。
に示すＬ１〜Ｌ３に対応する場合）次ののステップへ
進む。
（ステップ）このステップでは測光回数ｎを＋１し、
次ぎにあらかじめ決めておいた測光回数Ｎを−１する。
次ぎにあらかじめ決めておいた測光回数Ｎを−１する。
（ステップ）先ののステップにおいて−１したＮの
値をチェックする。その値が０になる（あらかじめ決め
ておいた測光回数をすぎた場合）はステップに進む。
値をチェックする。その値が０になる（あらかじめ決め
ておいた測光回数をすぎた場合）はステップに進む。
Ｎの値が零でないときはステップに進む。
（ステップ）一定時間待期した後、再びのステップ
へ進んで再度測光を行い、での比較へとステップを進
めていく。
へ進んで再度測光を行い、での比較へとステップを進
めていく。
（ステップ）基準レベルよりも低い場合はＮＯで次の
のステップへ進む。
のステップへ進む。
基準レベルに達していたらステップに進む。
（ステップ）あらかじめ決めておいた測光回数を経過
し、その都度レベルの比較を行っても、基準レベルに達
しないということになり、この場合は測光範囲外として
その時点での測光値は無効、測光範囲外すなわちアンダ
ーであると判定し、カメラの表示部においてはアンダー
警告を表示して撮影者に警告することになる。
し、その都度レベルの比較を行っても、基準レベルに達
しないということになり、この場合は測光範囲外として
その時点での測光値は無効、測光範囲外すなわちアンダ
ーであると判定し、カメラの表示部においてはアンダー
警告を表示して撮影者に警告することになる。
（ステップ）その時点直後の２重積分で得られたデー
タを有効としてディジタルＩＣ回路２でＡ／Ｄ変換して
制御のデータとして利用する。
タを有効としてディジタルＩＣ回路２でＡ／Ｄ変換して
制御のデータとして利用する。
以上の説明から容易に理解できるように、光電流増幅回
路Ａ１が第４図に示す曲線Ｌ０に対応する出力を発生し
ているときはＶout ０＞ＶＴ０（ＬＶ＞ＬＶ０）である
から第１回の比較によりデータが取り出される。
路Ａ１が第４図に示す曲線Ｌ０に対応する出力を発生し
ているときはＶout ０＞ＶＴ０（ＬＶ＞ＬＶ０）である
から第１回の比較によりデータが取り出される。
光電流増幅回路Ａ１が曲線Ｌ１に対応する出力を発生し
ているときは、第１回の比較ではＶout １＜ＶＴ０（Ｌ
Ｖ＜ＬＶ０）であり、第２回の比較ではＶout １＞ＶＴ
１（ＬＶ＞ＬＶ０−ΔＬＶ）となるから、第２回の比較
によりデータが取り出される。
ているときは、第１回の比較ではＶout １＜ＶＴ０（Ｌ
Ｖ＜ＬＶ０）であり、第２回の比較ではＶout １＞ＶＴ
１（ＬＶ＞ＬＶ０−ΔＬＶ）となるから、第２回の比較
によりデータが取り出される。
光電流増幅回路Ａ１が曲線Ｌ２に対応する出力を発生し
ているときは、第１回の比較ではＶout ２＜ＶＴ０（Ｌ
Ｖ＜ＬＶ０）であり、第２回の比較ではＶout ２＜ＶＴ
１（ＬＶ＜ＬＶ０−ΔＬＶ）となり、第３回の比較では
Ｖout ２＞ＶＴ２（ＬＶ＞ＬＶ０−２ΔＬＶ）となるか
ら第３回の比較によりデータが取り出される。
ているときは、第１回の比較ではＶout ２＜ＶＴ０（Ｌ
Ｖ＜ＬＶ０）であり、第２回の比較ではＶout ２＜ＶＴ
１（ＬＶ＜ＬＶ０−ΔＬＶ）となり、第３回の比較では
Ｖout ２＞ＶＴ２（ＬＶ＞ＬＶ０−２ΔＬＶ）となるか
ら第３回の比較によりデータが取り出される。
光電流増幅回路Ａ１が曲線Ｌ３に対応する出力を発生し
ているときは、第３回の比較ではＶout ３＜ＶＴ２（Ｌ
Ｖ＜ＬＶ０−２ΔＬＶ）であるから、第３回の比較によ
ってもデータは有効とされず、測光範囲外としてその時
点での測光値は無効、測光範囲外すなわちアンダーであ
ると判定し、カメラの表示部においてはアンダー警告を
表示して撮影者に警告することになる。
ているときは、第３回の比較ではＶout ３＜ＶＴ２（Ｌ
Ｖ＜ＬＶ０−２ΔＬＶ）であるから、第３回の比較によ
ってもデータは有効とされず、測光範囲外としてその時
点での測光値は無効、測光範囲外すなわちアンダーであ
ると判定し、カメラの表示部においてはアンダー警告を
表示して撮影者に警告することになる。
（発明の効果） 以上説明したように、本発明による光電流測定回路は、
ホトダイオードの光電流を増幅するもので、電源投入
時、前記ホトダイオードに入射する光量の大小に応答性
が依存し、前記ホトダイオードに入射する光量が小さい
とき入射光量が大きいときより応答が遅くその出力の安
定に時間を要する光電流増幅回路を用いた光電流測定回
路において、前記光電流増幅回路の出力をＡ／Ｄ変換し
た測光出力値を基準レベルと１回以上比較するように
し、比較回数が増加するにつれて入射光量が大の場合に
対応するレベル値から入射光量が小の場合に対応するレ
ベル値になるように前記基準レベルを変えていき、前記
測光出力値がその基準レベルを越えた比較段階でその測
光出力値を有効とし制御データとするように構成されて
いる。
ホトダイオードの光電流を増幅するもので、電源投入
時、前記ホトダイオードに入射する光量の大小に応答性
が依存し、前記ホトダイオードに入射する光量が小さい
とき入射光量が大きいときより応答が遅くその出力の安
定に時間を要する光電流増幅回路を用いた光電流測定回
路において、前記光電流増幅回路の出力をＡ／Ｄ変換し
た測光出力値を基準レベルと１回以上比較するように
し、比較回数が増加するにつれて入射光量が大の場合に
対応するレベル値から入射光量が小の場合に対応するレ
ベル値になるように前記基準レベルを変えていき、前記
測光出力値がその基準レベルを越えた比較段階でその測
光出力値を有効とし制御データとするように構成されて
いる。
したがって、光電流増幅回路の出力が安定した時点でデ
ータを取り込むことができる。
ータを取り込むことができる。
また前記比較の回数は複数回にすることができ、前記基
準レベルは順次そのレベルを低下させるようにすること
ができるから、十分な入射光があるときは、早くデータ
を取り込むことができる。
準レベルは順次そのレベルを低下させるようにすること
ができるから、十分な入射光があるときは、早くデータ
を取り込むことができる。
このように測光する際に非常に明るい場合、すでに回路
の出力レベルが安定しているにもかかわらず、測光のた
めに暗い場合のことを考慮するための待期をすることが
不用となる。
の出力レベルが安定しているにもかかわらず、測光のた
めに暗い場合のことを考慮するための待期をすることが
不用となる。
そして上述のように一回目の測光では測光値とＶＴを比
較し演算を行い、そのレベルよりも小さい場合、再度測
光することになるが、測光して比較演算する回数は一回
に限らず２回，３回行い、その比較値を順次変更（この
場合は次第に小さくする）していくと明るい場合の測光
値は速やかに得られる。
較し演算を行い、そのレベルよりも小さい場合、再度測
光することになるが、測光して比較演算する回数は一回
に限らず２回，３回行い、その比較値を順次変更（この
場合は次第に小さくする）していくと明るい場合の測光
値は速やかに得られる。
このことは電源ＯＮの立ち上がり時に限らず、平均測
光，部分測光など測光モードの切り換えで測光素子を切
り換える場合にも同様の現象が起こるので、この方式は
非常に有効なものとなる。
光，部分測光など測光モードの切り換えで測光素子を切
り換える場合にも同様の現象が起こるので、この方式は
非常に有効なものとなる。
例として、平均測光（ＡＶ），部分測光（ＳＰＯＴ）の
場合その測光回数をあらかじめ設定しておいてその回数
をＯＶＥＲした場合には、そのときの設光値を有効とす
るか、あるいは測光範囲外として判定して表示すること
ができる。
場合その測光回数をあらかじめ設定しておいてその回数
をＯＶＥＲした場合には、そのときの設光値を有効とす
るか、あるいは測光範囲外として判定して表示すること
ができる。
第１図は本発明による光電流測定回路を利用したカメラ
の回路の実施例を示すブロック図である。 第２図は主として測光回路部分の構成を示す回路図であ
る。 第３図は測光回路の動作を説明するためのグラフであ
る。 第４図は光電流増幅用の増幅器の出力電圧の変化を示す
グラフである。 第５図はＣＰＵの機能を定義する流れ図である。 １……測光回路 Ａ１……光電流増幅用の増幅器 Ａ２……積分用の増幅器 Ａ３……比較器 Ｐｄ……ホトダイオード Ｄ……対数圧縮ダイオード Ｃ……積分コンデンサ Ｂ……バイアス電源 Ｖｒ……基準電圧源（２重積分用） ２……ディジタルＩＣ回路 ３……ＣＰＵ ４……制御対象カメラ
の回路の実施例を示すブロック図である。 第２図は主として測光回路部分の構成を示す回路図であ
る。 第３図は測光回路の動作を説明するためのグラフであ
る。 第４図は光電流増幅用の増幅器の出力電圧の変化を示す
グラフである。 第５図はＣＰＵの機能を定義する流れ図である。 １……測光回路 Ａ１……光電流増幅用の増幅器 Ａ２……積分用の増幅器 Ａ３……比較器 Ｐｄ……ホトダイオード Ｄ……対数圧縮ダイオード Ｃ……積分コンデンサ Ｂ……バイアス電源 Ｖｒ……基準電圧源（２重積分用） ２……ディジタルＩＣ回路 ３……ＣＰＵ ４……制御対象カメラ
Claims (2)
- 【請求項１】ホトダイオードの光電流を増幅するもの
で、電源投入時、前記ホトダイオードに入射する光量の
大小に応答性が依存し、前記ホトダイオードに入射する
光量が小さいとき入射光量が大きいときより応答が遅く
その出力の安定に時間を要する光電流増幅回路を用いた
光電流測定回路において、 前記光電流増幅回路の出力をＡ／Ｄ変換した測光出力値
を基準レベルと１回以上比較するようにし、 比較回数が増加するにつれて入射光量が大の場合に対応
するレベル値から入射光量が小の場合に対応するレベル
値になるように前記基準レベルを変えていき、 前記測光出力値がその基準レベルを越えた比較段階でそ
の測光出力値を有効とし制御データとするように構成し
た光電流測定回路。 - 【請求項２】前記変化させる基準レベルは比較回数が増
加するにつれて小さくなるようにした特許請求の範囲第
１項記載の光電流測定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60213842A JPH0652194B2 (ja) | 1985-09-27 | 1985-09-27 | 光電流測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60213842A JPH0652194B2 (ja) | 1985-09-27 | 1985-09-27 | 光電流測定回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6273126A JPS6273126A (ja) | 1987-04-03 |
| JPH0652194B2 true JPH0652194B2 (ja) | 1994-07-06 |
Family
ID=16645924
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60213842A Expired - Fee Related JPH0652194B2 (ja) | 1985-09-27 | 1985-09-27 | 光電流測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0652194B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5653484A (en) * | 1979-10-05 | 1981-05-13 | Olympus Optical Co Ltd | Detecting device for integrated time |
| JPS5655821A (en) * | 1979-10-15 | 1981-05-16 | Masataka Murahara | Single-unit exposure meter with led indication |
-
1985
- 1985-09-27 JP JP60213842A patent/JPH0652194B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6273126A (ja) | 1987-04-03 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |