JPH0652273B2 - 周回積分型光ｃｔ - Google Patents
周回積分型光ｃｔInfo
- Publication number
- JPH0652273B2 JPH0652273B2 JP1053462A JP5346289A JPH0652273B2 JP H0652273 B2 JPH0652273 B2 JP H0652273B2 JP 1053462 A JP1053462 A JP 1053462A JP 5346289 A JP5346289 A JP 5346289A JP H0652273 B2 JPH0652273 B2 JP H0652273B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circular
- faraday
- optical path
- current
- optical
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 《産業上の利用分野》 この発明は、周回積分型光ＣＴに関し、特に、その測定
精度を改良したものに関する。
精度を改良したものに関する。
《従来の技術》 光ＣＴは、ファラデー効果を示す物質で構成したセンサ
ーを電流が流れている導体の近傍に配置すると、電流の
周囲に発生する磁界により、センサー中を通過する光の
偏波面が回転する現象を利用して電流の大きさを測定す
る電力用の電流計測装置である。
ーを電流が流れている導体の近傍に配置すると、電流の
周囲に発生する磁界により、センサー中を通過する光の
偏波面が回転する現象を利用して電流の大きさを測定す
る電力用の電流計測装置である。
この種の電流計測装置では、被測定電流の外周に発生す
る磁界を介して電流に変換することを測定原理としてい
るので、例えば、一つのポイント型センサーで電流を測
定するとすれば、導体とセンサーとの相対的な位置関係
の精度が測定精度に影響を与えるだけでなく、測定対象
とする導体の近傍に位置する他相の電流による磁界が測
定誤差の大きな原因となる。
る磁界を介して電流に変換することを測定原理としてい
るので、例えば、一つのポイント型センサーで電流を測
定するとすれば、導体とセンサーとの相対的な位置関係
の精度が測定精度に影響を与えるだけでなく、測定対象
とする導体の近傍に位置する他相の電流による磁界が測
定誤差の大きな原因となる。
そこで、このような誤差を補償し、測定精度を向上させ
る手段として、センサー内の光路が導体を一周するよう
に構成し、被測定電流の周囲の磁界の周回積分に近似的
に比例した偏波面の回転角（ファラデー回転角）が得ら
れる周回積分型の光ＣＴが提供されている。
る手段として、センサー内の光路が導体を一周するよう
に構成し、被測定電流の周囲の磁界の周回積分に近似的
に比例した偏波面の回転角（ファラデー回転角）が得ら
れる周回積分型の光ＣＴが提供されている。
第３図は、周回積分型光ＣＴの代表的な構造例を示して
いる。
いる。
同図に示す周回積分型光ＣＴは、４本のファラデーロッ
ドＦ１〜Ｆ４と、プリズムＰとから構成されている。
ドＦ１〜Ｆ４と、プリズムＰとから構成されている。
４本のファラデーロッドＦ１〜Ｆ４は、例えば、鉛ガラ
スなどのファラデー効果を有する部材から構成され、プ
リズムＰは光を９０度偏向するように直角プリズムが２
個組み合わされている。
スなどのファラデー効果を有する部材から構成され、プ
リズムＰは光を９０度偏向するように直角プリズムが２
個組み合わされている。
４本のファラデーロッドＦ１〜Ｆ４は、平面的にみて正
方形となる各辺上に配置され、かつ、対向する一対のフ
ァラデーロッドＦ１，Ｆ３に対して、他方の一対のファ
ラデーロッドＦ２，Ｆ４がその厚みの分だけ上方に配置
されている。
方形となる各辺上に配置され、かつ、対向する一対のフ
ァラデーロッドＦ１，Ｆ３に対して、他方の一対のファ
ラデーロッドＦ２，Ｆ４がその厚みの分だけ上方に配置
されている。
そして、正方形の３つの隅部には、それぞれプリズムＰ
が配置され、ファラデーロッドＦ１の一端の入射面１か
ら導入された入射光Ｓｉが、ファラデーロッドＦ１の他
端側でプリズムＰにより上方に偏向されてファラデーロ
ッド２の一端に入射し、他端側で再び下方に偏向されて
フラデ−ロッドＦ３に入射し、最終的に出射光ＳＯがフ
ラデ−ロッドＦ４の一端の出射面２から取り出され、正
方形のほぼ中心に挿通された導体３の外周に平面的に閉
鎖された周回光路Ｓが形成される。
が配置され、ファラデーロッドＦ１の一端の入射面１か
ら導入された入射光Ｓｉが、ファラデーロッドＦ１の他
端側でプリズムＰにより上方に偏向されてファラデーロ
ッド２の一端に入射し、他端側で再び下方に偏向されて
フラデ−ロッドＦ３に入射し、最終的に出射光ＳＯがフ
ラデ−ロッドＦ４の一端の出射面２から取り出され、正
方形のほぼ中心に挿通された導体３の外周に平面的に閉
鎖された周回光路Ｓが形成される。
以上のように構成された周回積分型光ＣＴでは、入射光
Ｓｉと、周回光路Ｓを回った出射光ＳＯとが相互に直交
する方向に位置しており、これらが周回光路Ｓの入，出
射部分で立体的に交差するように工夫されているが、こ
のような構造には以下に説明する技術的課題があった。
Ｓｉと、周回光路Ｓを回った出射光ＳＯとが相互に直交
する方向に位置しており、これらが周回光路Ｓの入，出
射部分で立体的に交差するように工夫されているが、こ
のような構造には以下に説明する技術的課題があった。
《発明が解決しようとする課題》 第４図は、第３図に示した従来の周回積分型光ＣＴの
入，出射部分を被測定電流Ｉの方向から見た平面拡大図
である。
入，出射部分を被測定電流Ｉの方向から見た平面拡大図
である。
第４図から明らかなように、従来の周回積分型光ＣＴで
は、周回光路Ｓの平面上の交点Ｏが入射面１および出射
面２の内方に位置している。
は、周回光路Ｓの平面上の交点Ｏが入射面１および出射
面２の内方に位置している。
このため、周回積分の閉路から外れた部分Ａ，Ａが生
じ、これらの部分Ａがファラデー効果を有しているの
で、特に、他相電流の磁界の影響がこの部分Ａに及ん
で、測定誤差が大きくなるという問題があった。
じ、これらの部分Ａがファラデー効果を有しているの
で、特に、他相電流の磁界の影響がこの部分Ａに及ん
で、測定誤差が大きくなるという問題があった。
この発明はこのような従来の問題点に鑑みてなされたも
のであって、その目的とするところは、他相磁界の影響
を排除することにより測定精度を向上させることができ
る周回積分型光ＣＴを提供することにある。
のであって、その目的とするところは、他相磁界の影響
を排除することにより測定精度を向上させることができ
る周回積分型光ＣＴを提供することにある。
《課題を解決するための手段》 上記目的を達成するために、本発明は、被測定電流が流
れている導体の外周にファラデー効果を有する物質で
入，出射部において立体的に交差し、かつ、平面的に閉
鎖された周回光路を形成し、この周回光路の一端から入
射光を導入し、前記周回光路を通ってその他端から前記
入射光と直交する方向に取出された出射光のファラデー
回転角から前記電流の大きさを測定する光ＣＴであっ
て、前記周回光路が平面上で交差する交点上にその入射
面と出射面とを位置させたことを特徴とする。
れている導体の外周にファラデー効果を有する物質で
入，出射部において立体的に交差し、かつ、平面的に閉
鎖された周回光路を形成し、この周回光路の一端から入
射光を導入し、前記周回光路を通ってその他端から前記
入射光と直交する方向に取出された出射光のファラデー
回転角から前記電流の大きさを測定する光ＣＴであっ
て、前記周回光路が平面上で交差する交点上にその入射
面と出射面とを位置させたことを特徴とする。
《作用》 上記構成の周回積分型光ＣＴによれば、被測定電流が流
れている導体の外周に形成される周回光路の入射面と出
射面とが、入，出射部で立体的に交差し、かつ、平面的
に閉鎖された周回光路の平面上の交点上に位置させられ
るので、周回積分の閉路から外れた部分がなくなり、他
相電流の磁界による影響が排除される。
れている導体の外周に形成される周回光路の入射面と出
射面とが、入，出射部で立体的に交差し、かつ、平面的
に閉鎖された周回光路の平面上の交点上に位置させられ
るので、周回積分の閉路から外れた部分がなくなり、他
相電流の磁界による影響が排除される。
《実施例》 以下、この発明の好適な実施例について添付図面を参照
にして詳細に説明する。
にして詳細に説明する。
第１図および第２図は、この発明にかかる周回積分型光
ＣＴの一実施例を示している。
ＣＴの一実施例を示している。
なお、同図に示す光ＣＴでは、前述した従来の周回積分
型光ＣＴと同一もしくは相当する部分に同一符号を用い
ている。
型光ＣＴと同一もしくは相当する部分に同一符号を用い
ている。
第１図および第２図は、この発明にかかる光ＣＴの周回
光路Ｓの入，出射部の拡大図であって、光ＣＴの全体構
造は、第３図に示すようになっていて、４本のファラデ
ーロッドＦ１〜Ｆ４と、３組のプリズムＰを有してい
る。
光路Ｓの入，出射部の拡大図であって、光ＣＴの全体構
造は、第３図に示すようになっていて、４本のファラデ
ーロッドＦ１〜Ｆ４と、３組のプリズムＰを有してい
る。
上記ファラデーロッドＦ１〜Ｆ４は、平面的にみて正方
形となる各辺上に配置され、対向する辺上に位置する一
対のファラデーロッドＦ１，Ｆ３が、他方の対向する辺
上に位置する一対Ｆ２，Ｆ４に対してその厚み分だけ下
方に配置されており、正方形の３つの隅部には、それぞ
れプリズムＰが配置され、ファラデーロッドＦ１の一端
の入射面１から導入された入射光Ｓｉが、ファラデーロ
ッドＦ１の他端側でプリズムＰにより上方に偏向されて
ファラデーロッド２の一端に入射し、他端側で再び下方
に偏向されてフラデ−ロッドＦ３に入射し、最終的に出
射光ＳＯがフラデ−ロッドＦ４の一端の出射面２から取
り出され、正方形のほぼ中心に挿通された導体３の外周
に、入，出射部で立体的に交差し、かつ、平面的に閉鎖
された周回光路Ｓが形成されている。
形となる各辺上に配置され、対向する辺上に位置する一
対のファラデーロッドＦ１，Ｆ３が、他方の対向する辺
上に位置する一対Ｆ２，Ｆ４に対してその厚み分だけ下
方に配置されており、正方形の３つの隅部には、それぞ
れプリズムＰが配置され、ファラデーロッドＦ１の一端
の入射面１から導入された入射光Ｓｉが、ファラデーロ
ッドＦ１の他端側でプリズムＰにより上方に偏向されて
ファラデーロッド２の一端に入射し、他端側で再び下方
に偏向されてフラデ−ロッドＦ３に入射し、最終的に出
射光ＳＯがフラデ−ロッドＦ４の一端の出射面２から取
り出され、正方形のほぼ中心に挿通された導体３の外周
に、入，出射部で立体的に交差し、かつ、平面的に閉鎖
された周回光路Ｓが形成されている。
以上のような周回積分型光ＣＴとしての基本的な構成
は、従来のこの種の装置と同じである。
は、従来のこの種の装置と同じである。
しかし、このような構造の光ＣＴでは、周回光路Ｓから
外れた部分にファラデーロッドＦ１，Ｆ４の一部が存在
しており、この部分が他相磁界の影響を受けて光ＣＴの
測定精度を低下させていた。
外れた部分にファラデーロッドＦ１，Ｆ４の一部が存在
しており、この部分が他相磁界の影響を受けて光ＣＴの
測定精度を低下させていた。
そこで、この発明では、入，出射部で立体的に交差する
周回光路Ｓの平面上の交点Ｃ上に、周回光路Ｓの入射面
１０と出射面１２とをそれぞれ位置させた。
周回光路Ｓの平面上の交点Ｃ上に、周回光路Ｓの入射面
１０と出射面１２とをそれぞれ位置させた。
つまり、周回光路Ｓの入，出射部を被測定電流Ｉが流れ
ている方向から見ると、立体的に交差している周回光路
Ｓの交点Ｏが平面上に現れるので、この交点Ｏ上に入射
面１０となっているファラデーロッドＦ１の一端面を位
置させるとともに、出射面１２となっているファラデー
ロッドＦ４の一端面を位置させている。
ている方向から見ると、立体的に交差している周回光路
Ｓの交点Ｏが平面上に現れるので、この交点Ｏ上に入射
面１０となっているファラデーロッドＦ１の一端面を位
置させるとともに、出射面１２となっているファラデー
ロッドＦ４の一端面を位置させている。
以上のように構成された周回積分型光ＣＴによれば、被
測定電流Ｉが流れている導体３の外周に形成される周回
光路Ｓの入射面１０と出射面１２とが、入，出射部で立
体的に交差し、かつ、平面的に閉鎖された周回光路Ｓの
交点Ｏ上に位置させられるので、周回積分の閉路から外
れた部分がなくなり、他相電流の磁界による影響が排除
され、これにより、光ＣＴの測定精度を大幅に向上させ
る。
測定電流Ｉが流れている導体３の外周に形成される周回
光路Ｓの入射面１０と出射面１２とが、入，出射部で立
体的に交差し、かつ、平面的に閉鎖された周回光路Ｓの
交点Ｏ上に位置させられるので、周回積分の閉路から外
れた部分がなくなり、他相電流の磁界による影響が排除
され、これにより、光ＣＴの測定精度を大幅に向上させ
る。
なお、上記実施例では、周回光路Ｓを形成するファラデ
ーロッドＦ１〜Ｆ４とプリズムＰとが分離された状態の
ものを例示したが、これらの各部品が一体として形成さ
れたものであっても良い。
ーロッドＦ１〜Ｆ４とプリズムＰとが分離された状態の
ものを例示したが、これらの各部品が一体として形成さ
れたものであっても良い。
《発明の効果》 以上実施例で説明したように、この発明にかかる周回積
分型光ＣＴにおいては、被測定電流の外周に形成される
周回光路の入，出射面の位置を変更するという簡単な構
成によって、光ＣＴに対する多層磁界の影響が排除さ
れ、これにより測定精度が大きく向上するという格別の
効果が得られる。
分型光ＣＴにおいては、被測定電流の外周に形成される
周回光路の入，出射面の位置を変更するという簡単な構
成によって、光ＣＴに対する多層磁界の影響が排除さ
れ、これにより測定精度が大きく向上するという格別の
効果が得られる。
第１図は本発明にかかる周回積分型光ＣＴの一実施例を
示す要部拡大平面図、第２図は第１図の側面図、第３図
は従来の周回積分型光ＣＴの全体斜視図、第４図は第３
図の要部拡大平面図である。 ３……導体 １０……入射面 １２……出射面 Ｆ１〜Ｆ４……ファラデーロッド Ｉ……被測定電流 Ｐ……プリズム Ｓ……周回光路 Ｓｉ……入射光 ＳＯ……出射光
示す要部拡大平面図、第２図は第１図の側面図、第３図
は従来の周回積分型光ＣＴの全体斜視図、第４図は第３
図の要部拡大平面図である。 ３……導体 １０……入射面 １２……出射面 Ｆ１〜Ｆ４……ファラデーロッド Ｉ……被測定電流 Ｐ……プリズム Ｓ……周回光路 Ｓｉ……入射光 ＳＯ……出射光
Claims (1)
- 【請求項１】被測定電流が流れている導体の外周にファ
ラデー効果を有する物質で入，出射部において立体的に
交差し、かつ、平面的に閉鎖された周回光路を形成し、
この周回光路の一端から入射光を導入し、前記周回光路
を通ってその他端から前記入射光と直交する方向に取出
された出射光のファラデー回転角から前記電流の大きさ
を測定する光ＣＴであって、前記周回光路が平面上で交
差する交点上にその入射面と出射面とを位置させたこと
を特徴とする周回積分型光ＣＴ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1053462A JPH0652273B2 (ja) | 1989-03-06 | 1989-03-06 | 周回積分型光ｃｔ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1053462A JPH0652273B2 (ja) | 1989-03-06 | 1989-03-06 | 周回積分型光ｃｔ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02232566A JPH02232566A (ja) | 1990-09-14 |
| JPH0652273B2 true JPH0652273B2 (ja) | 1994-07-06 |
Family
ID=12943526
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1053462A Expired - Lifetime JPH0652273B2 (ja) | 1989-03-06 | 1989-03-06 | 周回積分型光ｃｔ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0652273B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0650066B1 (en) * | 1993-10-21 | 2000-05-17 | Fuji Electric Co. Ltd. | Optical current transducer |
-
1989
- 1989-03-06 JP JP1053462A patent/JPH0652273B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02232566A (ja) | 1990-09-14 |
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