JPH065340A - X線断層像撮影装置 - Google Patents
X線断層像撮影装置Info
- Publication number
- JPH065340A JPH065340A JP4160964A JP16096492A JPH065340A JP H065340 A JPH065340 A JP H065340A JP 4160964 A JP4160964 A JP 4160964A JP 16096492 A JP16096492 A JP 16096492A JP H065340 A JPH065340 A JP H065340A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- slip ring
- brush
- ray
- abrasion powder
- contact portion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 スリップリングの回転によってスリップリン
グとブラシとの接触部から発生した摩耗粉が除去可能で
あり、摩耗粉の飛散防止が可能なX線CT装置を提供す
ること。 【構成】 スリップリングを用いた連続回転型X線CT
装置において、スリップリング1の回転によってスリッ
プリング1とブラシ3との接触部4から発生する摩耗粉
を除去する手段5及び/又はスリップリングの回転によ
ってスリップリング1とブラシ3との接触部4から発生
する摩耗粉がスリップリング1とブラシ3との接触部4
以外の部分に飛散することを防止する手段(8、13)
を備えた。
グとブラシとの接触部から発生した摩耗粉が除去可能で
あり、摩耗粉の飛散防止が可能なX線CT装置を提供す
ること。 【構成】 スリップリングを用いた連続回転型X線CT
装置において、スリップリング1の回転によってスリッ
プリング1とブラシ3との接触部4から発生する摩耗粉
を除去する手段5及び/又はスリップリングの回転によ
ってスリップリング1とブラシ3との接触部4から発生
する摩耗粉がスリップリング1とブラシ3との接触部4
以外の部分に飛散することを防止する手段(8、13)
を備えた。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、スリップリングを用い
たX線断層像撮影装置(以下、X線CT装置と称する)
に関する。
たX線断層像撮影装置(以下、X線CT装置と称する)
に関する。
【0002】
【従来の技術】スリップリングを用いた連続回転型のX
線CT装置では、スリップリングの回転によってスリッ
プリングとブラシとの接触部から摩耗粉が発生する。こ
の摩耗粉はX線CT装置内の他の部分、例えば、電気部
品等、に対し悪影響を与える恐れがある。例えば、摩耗
粉による電気部品の電気的な絶縁の破壊、或いは、モー
ター等のスリ合わせ部分に摩耗粉が入り込むことによる
軸等の機械的な摩耗等がある。更には、スリップリング
とブラシとの間に摩耗粉が入り込むことによってスリッ
プリングとブラシとの電気的な接触が不良になることも
ある。
線CT装置では、スリップリングの回転によってスリッ
プリングとブラシとの接触部から摩耗粉が発生する。こ
の摩耗粉はX線CT装置内の他の部分、例えば、電気部
品等、に対し悪影響を与える恐れがある。例えば、摩耗
粉による電気部品の電気的な絶縁の破壊、或いは、モー
ター等のスリ合わせ部分に摩耗粉が入り込むことによる
軸等の機械的な摩耗等がある。更には、スリップリング
とブラシとの間に摩耗粉が入り込むことによってスリッ
プリングとブラシとの電気的な接触が不良になることも
ある。
【0003】上記の問題を解決するためにスリップリン
グ部に簡易的なカバーを設けることによって外部に摩耗
粉が飛散しない構造とすることが考えられているが、カ
バーが完全ではないことから、摩耗粉の飛散が防止でき
ず、故障の原因となっていた。
グ部に簡易的なカバーを設けることによって外部に摩耗
粉が飛散しない構造とすることが考えられているが、カ
バーが完全ではないことから、摩耗粉の飛散が防止でき
ず、故障の原因となっていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来の
X線CT装置では、摩耗粉が飛散しないようにスリップ
リング部にカバーを取り付けた場合では、そのカバーに
よる摩耗粉の飛散の防止が完全ではないので、摩耗粉の
飛散が防止できない。また、スリップリングとブラシと
の間に摩耗粉が入り込むことによって、スリップリング
とブラシとの間の接触不良を招く等の問題があった。
X線CT装置では、摩耗粉が飛散しないようにスリップ
リング部にカバーを取り付けた場合では、そのカバーに
よる摩耗粉の飛散の防止が完全ではないので、摩耗粉の
飛散が防止できない。また、スリップリングとブラシと
の間に摩耗粉が入り込むことによって、スリップリング
とブラシとの間の接触不良を招く等の問題があった。
【0005】従って、スリップリングを使用した従来の
X線CT装置では、容易に摩耗粉の除去又は摩耗粉の飛
散防止ができないことから、スリップリングの回転によ
ってスリップリングとブラシとの接触部で発生する摩耗
粉の清掃を頻繁に行わなければならなかった。
X線CT装置では、容易に摩耗粉の除去又は摩耗粉の飛
散防止ができないことから、スリップリングの回転によ
ってスリップリングとブラシとの接触部で発生する摩耗
粉の清掃を頻繁に行わなければならなかった。
【0006】本発明は、上記の事情に基づいてなされた
もので、スリップリングの回転によってスリップリング
とブラシとの接触部から発生した摩耗粉が容易に除去可
能であり、加えて、摩耗粉の飛散防止が可能なX線CT
装置を提供することを目的とする。
もので、スリップリングの回転によってスリップリング
とブラシとの接触部から発生した摩耗粉が容易に除去可
能であり、加えて、摩耗粉の飛散防止が可能なX線CT
装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の課題を
解決するために次のような手段を講じた。
解決するために次のような手段を講じた。
【0008】本発明の第1のX線CT装置は、スリップ
リングを用いた連続回転型X線CT装置において、スリ
ップリングの回転によってスリップリングとブラシとの
接触部から発生する摩耗粉の除去手段を備えるようにし
た。
リングを用いた連続回転型X線CT装置において、スリ
ップリングの回転によってスリップリングとブラシとの
接触部から発生する摩耗粉の除去手段を備えるようにし
た。
【0009】本発明の第2のX線CT装置は、スリップ
リングを用いた連続回転型X線CT装置において、スリ
ップリングの回転によってスリップリングとブラシとの
接触部から発生する摩耗粉のスリップリングとブラシと
の接触部以外の部分への飛散防止手段を備えるようにし
た。
リングを用いた連続回転型X線CT装置において、スリ
ップリングの回転によってスリップリングとブラシとの
接触部から発生する摩耗粉のスリップリングとブラシと
の接触部以外の部分への飛散防止手段を備えるようにし
た。
【0010】更に、上記の本発明の第1及び第2のX線
CT装置を組み合わせて使用することにより、スリップ
リングとブラシとの間で発生する摩耗粉を外部へ飛散さ
せることなく、かつ、容易に除去することが可能であ
る。
CT装置を組み合わせて使用することにより、スリップ
リングとブラシとの間で発生する摩耗粉を外部へ飛散さ
せることなく、かつ、容易に除去することが可能であ
る。
【0011】
【作用】上記手段を講じた結果、次のような作用が生じ
る。
る。
【0012】本発明の第1のX線CT装置はスリップリ
ングとブラシとの間で発生した摩耗粉を除去する手段を
備えたので、発生した摩耗粉がスリップリングとブラシ
との間に蓄積することはなく、かつ、外部へ飛散するこ
ともないので、スリップリングとブラシとの電気的な接
触不良等が回避でき、他の電気部品等に悪影響を与える
ことを回避できる。
ングとブラシとの間で発生した摩耗粉を除去する手段を
備えたので、発生した摩耗粉がスリップリングとブラシ
との間に蓄積することはなく、かつ、外部へ飛散するこ
ともないので、スリップリングとブラシとの電気的な接
触不良等が回避でき、他の電気部品等に悪影響を与える
ことを回避できる。
【0013】本発明の第2のX線CT装置はスリップリ
ングとブラシとの間で発生する摩耗粉を外部に飛散しな
いように摩耗粉の飛散を防止する手段を備えたので、外
部へ摩耗粉が飛散することがなく、他の部分に悪影響を
及ぼさない。
ングとブラシとの間で発生する摩耗粉を外部に飛散しな
いように摩耗粉の飛散を防止する手段を備えたので、外
部へ摩耗粉が飛散することがなく、他の部分に悪影響を
及ぼさない。
【0014】更に、本発明の第1及び第2のX線CT装
置を組み合わせて使用することにより、摩耗粉が外部へ
飛散することなく、かつ、内部の摩耗粉は効果的に除去
されるので、更に、装置の安全性、信頼性が向上する。
置を組み合わせて使用することにより、摩耗粉が外部へ
飛散することなく、かつ、内部の摩耗粉は効果的に除去
されるので、更に、装置の安全性、信頼性が向上する。
【0015】
【実施例】図1は本発明の第1実施例に係るX線CT装
置の塵挨除去手段の概略を示す断面図である。図1にお
いて、(a)は塵挨除去手段を取り付けた様子を示す図
であり、(b)は(a)の塵挨除去手段の拡大図を示
す。また、図示しないが、リング(回転部)には、X線
管及び検出器が取り付けられている。
置の塵挨除去手段の概略を示す断面図である。図1にお
いて、(a)は塵挨除去手段を取り付けた様子を示す図
であり、(b)は(a)の塵挨除去手段の拡大図を示
す。また、図示しないが、リング(回転部)には、X線
管及び検出器が取り付けられている。
【0016】図1の(a)及び(b)において、図中矢
印方向に回転するスリップリング1は、固定部2に取り
付けられたブラシ3を介して接続され固定部側からから
電源及び制御信号を供給され、固定部側に信号を送出す
る。この時、スリップリング1とブラシ3とは接触して
いるので、スリップリング1が図中の矢印方向に回転す
ることによりスリップリング1とブラシ3との双方の摩
耗による摩耗粉が接触部4で発生する。この摩耗粉はス
リップリング1とブラシ3との接触部4の付近で固定部
2に取り付けられた除去装置5により除去される。除去
装置5は、集塵部6及びチューブ7からなり、チューブ
7は図示しない吸引装置、例えば、真空掃除機、に接続
され、集塵される。ここで、集塵部6にはチューブ内に
摩耗粉が蓄積するのを防ぐ等の目的でフィルターを設け
ても良い。
印方向に回転するスリップリング1は、固定部2に取り
付けられたブラシ3を介して接続され固定部側からから
電源及び制御信号を供給され、固定部側に信号を送出す
る。この時、スリップリング1とブラシ3とは接触して
いるので、スリップリング1が図中の矢印方向に回転す
ることによりスリップリング1とブラシ3との双方の摩
耗による摩耗粉が接触部4で発生する。この摩耗粉はス
リップリング1とブラシ3との接触部4の付近で固定部
2に取り付けられた除去装置5により除去される。除去
装置5は、集塵部6及びチューブ7からなり、チューブ
7は図示しない吸引装置、例えば、真空掃除機、に接続
され、集塵される。ここで、集塵部6にはチューブ内に
摩耗粉が蓄積するのを防ぐ等の目的でフィルターを設け
ても良い。
【0017】本除去装置5は集塵の例を示したが、送風
によりスリップリング1とブラシ3との間の塵挨を除去
することもできる。更に、集塵部6は単に吸引するのみ
でなく、刷毛のようなもので構成されていても良い。除
去装置5は図1ではブラシ3よりもスリップリング1の
回転方向の後方に配置したが、有効に塵挨の除去が可能
であれば、どの位置でも構わない。
によりスリップリング1とブラシ3との間の塵挨を除去
することもできる。更に、集塵部6は単に吸引するのみ
でなく、刷毛のようなもので構成されていても良い。除
去装置5は図1ではブラシ3よりもスリップリング1の
回転方向の後方に配置したが、有効に塵挨の除去が可能
であれば、どの位置でも構わない。
【0018】また、上記の構成により、摩耗粉の清掃を
頻繁に行う必要がなくなると共に、摩耗粉による伝送エ
ラー或いは放電等による故障の原因になることを防ぐこ
とが可能となる。
頻繁に行う必要がなくなると共に、摩耗粉による伝送エ
ラー或いは放電等による故障の原因になることを防ぐこ
とが可能となる。
【0019】上記の除去手段は常時動作するようにして
も良いし、スリップリングの作動時のみに動作するよう
にしても良いし、更には、メンテナンス等の必要なタイ
ミングに動作されるようにしても良い。図2を参照して
本発明の第2実施例を説明する。図2は摩耗粉の飛散防
止手段を示す図、図3は図2の飛散防止手段を別の例と
した図である。
も良いし、スリップリングの作動時のみに動作するよう
にしても良いし、更には、メンテナンス等の必要なタイ
ミングに動作されるようにしても良い。図2を参照して
本発明の第2実施例を説明する。図2は摩耗粉の飛散防
止手段を示す図、図3は図2の飛散防止手段を別の例と
した図である。
【0020】図2の(a)は、摩耗粉の飛散防止手段と
してダストシール8を取り付けた場合のスリップリング
1とブラシ3との接触部4を示す断面図である。図2の
(b)は、図2の(a)の飛散防止手段を拡大して示す
図である。
してダストシール8を取り付けた場合のスリップリング
1とブラシ3との接触部4を示す断面図である。図2の
(b)は、図2の(a)の飛散防止手段を拡大して示す
図である。
【0021】スリップリング1の回転によって、スリッ
プリング1とブラシ3との接触により発生した摩耗粉は
ダストシール8がない場合にはロータフランジ9とカバ
ー10との間に落下する。しかし、図2によれば、本発
明のX線CT装置は、スリップリング1とブラシ3との
接触部4と他の部分11との間にダストシール8が設け
られている。従って、本発明のX線CT装置は、スリッ
プリング1とブラシ3との接触部4と他の部分11がダ
ストシール8、例えば、不織布等、によって遮断されて
いるので、他の部分11、例えば、回転電気部品12に
スリップリング1とブラシ3との接触部4から発生した
摩耗粉が達することはない。図3は図2のダストシール
8をラビリンスシール13に置き換えて構成した例を示
す図である。
プリング1とブラシ3との接触により発生した摩耗粉は
ダストシール8がない場合にはロータフランジ9とカバ
ー10との間に落下する。しかし、図2によれば、本発
明のX線CT装置は、スリップリング1とブラシ3との
接触部4と他の部分11との間にダストシール8が設け
られている。従って、本発明のX線CT装置は、スリッ
プリング1とブラシ3との接触部4と他の部分11がダ
ストシール8、例えば、不織布等、によって遮断されて
いるので、他の部分11、例えば、回転電気部品12に
スリップリング1とブラシ3との接触部4から発生した
摩耗粉が達することはない。図3は図2のダストシール
8をラビリンスシール13に置き換えて構成した例を示
す図である。
【0022】本構成においても、図2と同様にスリップ
リング1とブラシ3との接触部4から発生した摩耗粉が
回転電気部品12に達することがないので、信頼性が向
上する。
リング1とブラシ3との接触部4から発生した摩耗粉が
回転電気部品12に達することがないので、信頼性が向
上する。
【0023】本発明は、上記実施例に限定されない。本
発明の第1実施例と第2実施例の装置を組み合わせるこ
とにより、発生した摩耗粉の除去及び飛散防止がより効
果的に実現できる。その他本発明の要旨を変更しない範
囲で種々変形して実施できるのは勿論である。
発明の第1実施例と第2実施例の装置を組み合わせるこ
とにより、発生した摩耗粉の除去及び飛散防止がより効
果的に実現できる。その他本発明の要旨を変更しない範
囲で種々変形して実施できるのは勿論である。
【0024】
【発明の効果】本発明によれば次のような効果が得られ
る。
る。
【0025】スリップリングとブラシとの接触部から発
生する摩耗粉の飛散を完全に止めることが可能なので、
他ユニットへの悪影響がなくなり、装置の信頼性が向上
する。摩耗粉の飛散を除去し、防止できるので、定期的
な清掃及びメンテナンスが不要であるか、又は、その周
期を延ばすことができる。
生する摩耗粉の飛散を完全に止めることが可能なので、
他ユニットへの悪影響がなくなり、装置の信頼性が向上
する。摩耗粉の飛散を除去し、防止できるので、定期的
な清掃及びメンテナンスが不要であるか、又は、その周
期を延ばすことができる。
【図1】本発明のX線CT装置の第1実施例に係る概略
構成を示す図。
構成を示す図。
【図2】本発明のX線CT装置の第2実施例に係る概略
構成を示す図。
構成を示す図。
【図3】本発明のX線CT装置の第2実施例の変形例を
示す図。
示す図。
1…スリップリング、2…固定部、3…ブラシ、4…接
触部、5…除去装置、6…集塵部、7…チューブ、8…
ダストシール、9…ロータフランジ、10…カバー、1
1…他の部分、12…回転電気部品、13…ラビリンス
シール。
触部、5…除去装置、6…集塵部、7…チューブ、8…
ダストシール、9…ロータフランジ、10…カバー、1
1…他の部分、12…回転電気部品、13…ラビリンス
シール。
Claims (2)
- 【請求項1】スリップリングを用いた連続回転型X線C
T装置において、スリップリングの回転によってスリッ
プリングとブラシとの接触部から発生する摩耗粉の除去
手段を備えたことを特徴とするX線断層像撮影装置。 - 【請求項2】スリップリングを用いた連続回転型X線C
T装置において、スリップリングの回転によってスリッ
プリングとブラシとの接触部から発生する摩耗粉のスリ
ップリングとブラシとの接触部以外の部分への飛散防止
手段を備えたことを特徴とするX線断層像撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4160964A JPH065340A (ja) | 1992-06-19 | 1992-06-19 | X線断層像撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4160964A JPH065340A (ja) | 1992-06-19 | 1992-06-19 | X線断層像撮影装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH065340A true JPH065340A (ja) | 1994-01-14 |
Family
ID=15725987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4160964A Pending JPH065340A (ja) | 1992-06-19 | 1992-06-19 | X線断層像撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH065340A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19543383B4 (de) * | 1995-11-21 | 2005-10-27 | Schleifring Und Apparatebau Gmbh | Schleifkontaktvorrichtung |
| DE102006058911A1 (de) * | 2006-12-13 | 2008-06-19 | Siemens Ag | Schleifringanordnung |
| JP2010005319A (ja) * | 2008-06-30 | 2010-01-14 | Toshiba Corp | X線断層像撮影装置 |
| JP2011115325A (ja) * | 2009-12-02 | 2011-06-16 | Toshiba Corp | X線ct装置 |
| US8829761B2 (en) | 2006-11-14 | 2014-09-09 | Schleifring Und Apparatebau Gmbh | Sliding contact assembly with dust removal |
| WO2025009347A1 (ja) * | 2023-07-06 | 2025-01-09 | テルモ株式会社 | 画像診断装置 |
-
1992
- 1992-06-19 JP JP4160964A patent/JPH065340A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19543383B4 (de) * | 1995-11-21 | 2005-10-27 | Schleifring Und Apparatebau Gmbh | Schleifkontaktvorrichtung |
| US8829761B2 (en) | 2006-11-14 | 2014-09-09 | Schleifring Und Apparatebau Gmbh | Sliding contact assembly with dust removal |
| DE102006058911A1 (de) * | 2006-12-13 | 2008-06-19 | Siemens Ag | Schleifringanordnung |
| DE102006058911B4 (de) * | 2006-12-13 | 2008-10-30 | Siemens Ag | Schleifringanordnung |
| JP2010005319A (ja) * | 2008-06-30 | 2010-01-14 | Toshiba Corp | X線断層像撮影装置 |
| US8021044B2 (en) | 2008-06-30 | 2011-09-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray tomography apparatus |
| JP2011115325A (ja) * | 2009-12-02 | 2011-06-16 | Toshiba Corp | X線ct装置 |
| WO2025009347A1 (ja) * | 2023-07-06 | 2025-01-09 | テルモ株式会社 | 画像診断装置 |
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